試験・計測機器
- 風合い計測システム
- 1000BASE-T コンプライアンステスト装置
- 微小部X線応力測定装置
- スクラッチ試験機
- ゼータ電位・粒径分布測定システム
- トライボ試験機
- ビッカース硬度計
- プラスチック用熱伝導率計
- ボロメータ評価システム用赤外線光源システム
- 万能測定顕微鏡
- 万能試験機（最大荷重100kN）
- 万能試験機（最大荷重1000kN）
- 三次元測定システム（接触式）
- 光学式三次元座標測定機
- 光干渉式膜厚測定装置
- 制振性能測定装置
- 吸音率測定システム
- マイクロビッカース硬さ試験機
- 微小部品強度試験機（ボンドテスター）
- 振動試験システム
- 振動試験機
- 材料強度試験機
- 材料試験機（5kN）
- 熱処理再現試験装置
- 熱間加工再現試験装置
- 燃料電池スタック
- 疲労試験機
- 疲労試験機（大型構造物用）
- 紫外線物質鑑識器
- 膜厚計（小坂研究所・ET4000AKR）
- 露点測定装置
- 非接触ミクロン厚さ測定機
- 音質評価システム
- 音響インテンシティ測定装置
- 高速度カメラ（ハイスピードカメラ：High Speed Camera）
- 画像解析式粒度分布計
- 比表面積・細孔分布測定装置
- ガス透過率測定装置
- 動的粘弾性測定装置レオメーター
- 燃料電池評価装置
- カー効果観察測定装置
- 交流磁化特性測定装置
- 振動試料型磁力計
- 直流磁化特性自動記録装置(硬質磁性材料用)
- 直流磁化特性自動記録装置(軟質磁性材料用)
- 磁気抵抗効果測定装置
- 薄膜磁歪測定装置
- 磁気特性測定装置
- LCRメータ
- ガウスメーター
- スペクトラムアナライザ（システム）
- ホール測定装置
- マイクロ波ネットワークアナライザ測定システム
- マイクロ波信号発生器
- 半導体パラメータアナライザ
- 耐電圧試験機
- 電子デバイスパラメータ測定システム
- ネットワークアナライザ（回路定数・測定解析システム）
- パワー半導体特性評価装置（半導体カーブトレーサ）
- 複合疲労試験機
- ロックウェル硬さ試験機
- ブリネル硬さ試験機
- テーバー式摩耗試験機
- 高速疲労試験機
- 万能試験機（250kN）
- ACミリオームハイテスター
- 超絶縁計
- 交流耐電圧試験器
- ロックウェル硬さ試験機
- ブリネル硬さ試験機
- ビッカース硬度計
- マイクロビッカース硬さ試験機
- オシロスコープ
- 表面粗さ･輪郭形状測定機
- マイクロ波ネットワークアナライザ測定装置
- 動的粘弾性測定装置DMA
- ボロメータ評価システム用高温電気測定用チャンバ
- 薄膜屈折率測定装置
- Ｃ－Ｖ測定器
- ボロメータ評価システム用 微小信号測定システム
- Ｑメータ
- マルチフリケンシＬＣＲメータ
- デジタルパワーメータ
- ハイレジスタンスメータ
- 材料試験機（50kN）