試験・計測機器
- 風合い計測システム
- 1000BASE-T コンプライアンステスト装置
- 微小部X線応力測定装置
- スクラッチ試験機
- ゼータ電位・粒径分布測定システム
- トライボ試験機
- ビッカース硬度計
- プラスチック用熱伝導率計
- ボロメータ評価システム用赤外線光源システム
- 万能測定顕微鏡
- 万能試験機（最大荷重100kN）
- 万能試験機（最大荷重1000kN）
- 三次元測定システム（接触式）
- 位相差測定装置
- 光学式三次元座標測定機
- 光干渉式膜厚測定装置
- 制振性能測定装置
- 吸音率測定システム
- マイクロビッカース硬さ試験機
- 微小部品強度試験機（ボンドテスター）
- 振動試験システム
- 振動試験機
- 材料強度試験機
- 材料試験機
- 熱処理再現試験装置
- 熱間加工再現試験装置
- 燃料電池スタック
- 疲労試験機
- 疲労試験機（大型構造物用）
- 紫外線物質鑑識器
- 膜厚計（日本真空技術・Dektak-3030ST）
- 膜厚計（小坂研究所・ET4000AKR）
- 露点測定装置
- 非接触ミクロン厚さ測定機
- 音質評価システム
- 音響インテンシティ測定装置
- 高速度カメラ（ハイスピードカメラ：High Speed Camera）
- 多目的X線回折装置
- 画像解析式粒度分布計
- ICP発光分光分析装置（シーケンシャル型）
- 比表面積・細孔分布測定装置
- 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）
- 精密表面形状測定装置
- 動的粘弾性測定装置
- マクロ撮影イメージングシステム
- 電界放出型透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）
- 金属顕微鏡・光学顕微鏡
- 切削動力計
- パワー半導体特性評価装置（半導体カーブトレーサ）
- 複合疲労試験機
- 分光測色計
- ロックウェル硬さ試験機
- ブリネル硬さ試験機
- 高速疲労試験機
- 万能試験機（250kN）
- 赤外放射顕微温度計
- パルスイミュニティ試験器