機械装置、電気・電子部品等の性能評価試験
- 電子線リソグラフィ
- 電子線リソグラフィ 試料調整
- ネットワークアナライザ測定(マルチポート）
- ネットワークアナライザ測定(4ポートまで）
- 小型恒温槽 (温度のみ）
- 小型恒温恒湿槽（SH）
- マイクロ波電磁波シールド効果測定 (1GHz～8.5GHz、2焦点型扁平空洞)
- 電磁波シールド効果測定 (100kHz～1GHz、KEC法)
- マイクロ波誘電率・透磁率測定(ハーモニック共振器法)
- 三次元アンテナ指向性測定
- 三次元造形（小型インクジェット式3Dプリンター）
- 三次元造形（インクジェット式3Dプリンター）
- 三次元造形後処理
- 三次元造形前処理
- 1000BASE-Tコンプライアンステスト
- 冷熱サイクル試験
- 冷熱衝撃試験(大)
- 非破壊超音波映像撮影
- 高速度カメラ撮影（アナログ波形データ収集装置併用）
- 高速度カメラ撮影
- 構造解析
- 三次元モデリング（簡易なもの)
- デジタル画像解析
- 機械設計・解析
- 吸音率測定
- 音質評価解析
- 音圧分布測定
- 音響パワーレベル測定
- 周波数分析(音)
- 時間波形分析(音)
- オクターブ分析
- 騒音測定
- 損失係数測定
- 振動試験
- 周波数分析(振動)
- 時間波形分析(振動)
- エージング試験
- 組み合わせ試験
- ソフトウェア試験
- ハードウェア試験
- ノイズ試験
- 相互接続性試験
- 適合性試験
- 走査型プローブ顕微鏡観察
- アンテナ指向性測定
- 電波吸収率測定(簡易アンテナ法)
- インパルスノイズ試験
- 伝導電磁界イミュニティ試験
- 雷サージイミュニティ試験
- 電気的ファーストトランジェント/バーストイミュニティ試験
- 静電気放電イミュニティ試験
- 放射電磁界イミュニティ試験
- 雑音電力測定
- 電源・通信ポート伝導妨害波測定
- 車載機器の放射・伝導妨害波測定
- 放射妨害波測定
- 冷熱衝撃試験(中)
- プレッシャークッカー試験
- 高温槽
- 恒温恒湿槽（中）サイクル
- 恒温恒湿槽（中）
- 高精度リソグラフィ
- ECRプラズマエッチング
- アッシャーによるプラズマ処理
- イオンプレーティング成膜
- スパッタ成膜
- 真空蒸着
- ダイシング加工(半導体基板精密加工)
- 超音波ボールボンダ試験
- 超音波ウェッジボンダ試験
- ホール効果測定
- 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定
- 光干渉式膜厚測定
- 酸化拡散試験
- 位相差測定
- 低温光特性評価
- 高分解能(１nm以下)フォトルミネッセンス測定
- フォトルミネッセンス測定
- 三次元微細形状測定
- 膜厚測定
- 定エネルギー分光測定
- 薄膜屈折率測定
- Ｘ線ＣＴスキャン（容易なもの）
- X線透過試験
- 交流磁化特性測定
- 磁化温度特性測定
- 磁化特性測定（BH積分方式）
- 磁化特性測定（VSM方式）
- マイクロ波誘電率・透磁率測定(Sパラメータ法)
- マイクロ波誘電率測定(共振器法・誘電体プローブ法)
- 高周波伝送特性測定(Sパラメータ・TDR測定)
- 電気機器・電力測定
- 電源変動及び瞬停試験
- ダイシェア試験
- ワイヤーボンディング強度試験
- 電気機器・温度試験
- 絶縁抵抗試験
- LCR測定
- 電気機器・接地回路の抵抗測定
- 電気機器・耐電圧試験
- 電気機器・漏れ電流測定
- 電気抵抗測定
- 電流電圧測定（1mA以上、1mV以上）
- 表面粗さ測定（B) 複雑な形状
- 表面粗さ測定（A) 簡単な形状
- 三次元座標測定
- インタオペラビリティ試験
- 振動試験（大型の試験機によるもの）