機器分析
XPSやFT-IR、光学顕微鏡などを用いた機器分析を行っています。
測定機器一覧
| 機器名 | メーカー・型式 | 概要 |
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アルバック・ファイ社 Quantera SXM |
試料表面の極薄い層（数nm）の元素分析（水素、ヘリウム以外）、半定量分析（検出限界～0.1at%程度）および化学結合状態分析ができます。 |
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フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR） |
日本分光 FT/IR-6300FV、IRT-7000 |
フーリエ変換赤外分光光度計は樹脂やゴム，油，接着剤などの有機化合物の構造を解析する分析装置の一つで、異物混入や構成部材の材質違いなど製品トラブルの初期段階で目星をつけるために利用されます。 |
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微小部蛍光X線分析装置（XRF） |
SIIナノテクノロジー SEA6000VX HSFinder |
蛍光Ｘ線(XRF)分析装置は、試料にＸ線を照射し発生する蛍光Ｘ線を測定することで元素の確認（定性）や、検出された各元素のピーク強度を理論計算(FP法)することで大まかな含有量（半定量）を得ることができる装置です。 |