Auめっき上の極薄いシミの分析事例

観察例 極薄いシミの分析ができます。   使用機器 X線光電子分光分析装置(XPS)

測定例

・ワイドスキャンによる元素分析および簡易定量

納期予定

試料お預かりから概ね1週間程度で結果のご報告をいたします。
お急ぎの場合はご相談下さい。

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