ゼータ電位・粒径分布測定システム

この装置について


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用途・特徴について

レーザードップラー法によるゼータ電位測定と、動的光散乱(DLS)法による湿式粒径分布測定を、1台で行える装置です。ただし、ゼータ電位と粒径分布を同時に測定することはできません。ゼータ電位は、溶液に分散した微粒子と平板形状試料の2種類に対応できます。pHタイトレーションを使用した測定も可能です。粒径分布は、数マイクロ~シングルナノ領域のサイズにおいて、平均粒径値を求めることができます。

ご利用方法

試験計測(依頼試験) で利用できます。

 *試験計測(依頼試験)の詳細についてはこちらをご確認ください。

 *技術開発受託(受託研究) の詳細についてはこちらをご確認ください。

手数料または使用料NO.

この機器を使用した料金表の項目は以下の通りです。

■ 料金表 (試験計測料金)

項目番号項目単位手数料(円)
E4160ゼータ電位測定(A)(微粒子分散溶液)1試料につき10,120
E4170ゼータ電位測定(B)(平板形状試料)1試料につき12,320
E4180粒径分布測定(動的光散乱法)1試料につき8,800

メーカー

大塚電子株式会社

型番

ELSZ-2

仕様

ゼータ電位 : レーザードップラー法/ゼータ電位範囲 -200~200 mV/対象 微粒子および平板・フィルム ; 粒径分布 : 動的光散乱法(光子相関法)/粒子径範囲 0.6 nm~7μm/対象 微粒子 ; 共通仕様 : 温度 10~90℃/対応濃度 0.001~40 %

導入年度

2008

 

  • この装置に関連するお問い合わせ
  • 担当:機械・材料技術部 ナノ材料グループ
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