X線光電子分光分析装置(XPS)

この装置について


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用途・特徴について

金属、セラミックス、有機材料の表面を形成する原子の組成、結合状態の解析、深さ方向分析、表面局所分析

ご利用方法

試験計測(依頼試験) で利用できます。

 *試験計測(依頼試験)の詳細についてはこちらをご確認ください。

 *技術開発受託(受託研究) の詳細についてはこちらをご確認ください。

手数料または使用料NO.

この機器を使用した料金表の項目は以下の通りです。

■ 料金表 (試験計測料金)

項目番号項目単位手数料(円)
E1882X線光電子分光分析(簡単なもの)1試料1ヶ所につき17,600
E1884X線光電子分光分析(簡単なもの) 条件増1条件増すごとに8,030

メーカー

アルバック・ファイ株式会社

型番

model5500

仕様

通常X線源Mg、Al/モノクロX線源Al/広域スキャン分析/狭域スキャン20連続分析/アルゴンエッチングによる深さ方向分析/電子銃による中和機構

導入年度

1990

 

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  • 担当:機械・材料技術部 解析評価グループ
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