蛍光Ｘ線分析装置（エネルギー分散方式）

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金属・セラミック・その他材料の元素定性分析装置です。スポット（点）測定及び面分析が可能です。異物の分析や、RoHS対応のスクリーニングに利用できます。

定性分析（ＲｏＨＳ対応可）、マッピング分析

試験計測（依頼試験）で利用できます。

　*試験計測（依頼試験）の詳細についてはこちらをご確認ください。

　*技術開発受託（受託研究）の詳細についてはこちらをご確認ください。

この機器を使用した料金表の項目は以下の通りです。

■ 料金表 (試験計測料金)

項目番号	項目	単位	手数料（円）
E1841	蛍光Ｘ線法による微小部定性分析	１試料，１カ所につき	9,350
E1842	蛍光Ｘ線法による微小部定性分析　１条件増	１条件増すごとに	3,410

株式会社堀場製作所

ＸＧＴ−５０００ＷＲ

エネルギー分散型X線分析顕微鏡測定元素Ｎａ～Ｕ　スポット測定範囲100μｍφ、1.2mmφ　面分析測定範囲　100mm×100mm最大試料サイズ　350(W)×400(D)×40(H)mm透過像測定可X線管球(Rh50W)

平成17年度