X線透視装置


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様々な機械部品・電子基板・電子部品等のサンプルにX線を照射し、そのX線透過像から内部の構造や欠陥を観察する装置です。

【用途・特徴】
外観から判断できない機械部品の組立状況や構造、内部に存在する欠陥(割れ、空隙)、実装基板内層のパターンやスルーホール、はんだ接合部、電子部品内部などを非破壊で観察できます。

X線源の焦点寸法が、1μmと小さいので微細な部分まで観察できます。

観察可能なサンプルサイズは、最大で幅460 ×奥行410 ×高さ100mm、重量は最大5kg までです。

観察部位は外観画像により指定でき、ひずみの無いフラットパネル検出器が回転・傾動することにより着目部分を様々な方向から観察できます。

部品内部の観察や実装関係の品質確認や故障解析にお役立てください。

用途・特徴について

外観から判断できない機械部品の組立状況や構造、内部に存在する欠陥(割れ、空隙)、実装基板内層のパターンやスルーホール、はんだ接合部、電子部品内部などを非破壊で観察できます。

X線源の焦点寸法が、1μmと小さいので微細な部分まで観察できます。

観察可能なサンプルサイズは、最大で幅460 ×奥行410 ×高さ100mm、重量は最大5kg までです。

観察部位は外観画像により指定でき、ひずみの無いフラットパネル検出器が回転・傾動することにより着目部分を様々な方向から観察できます。

部品内部の観察や実装関係の品質確認や故障解析にお役立てください。

ご利用方法

試験計測(依頼試験) , 機器使用 , 技術開発受託(受託研究) で利用できます。

 *試験計測(依頼試験)の詳細についてはこちらをご確認ください。

 *機器使用の詳細についてはこちらをご確認ください。

 *技術開発受託(受託研究) の詳細についてはこちらをご確認ください。

料金について

この機器を使用した依頼試験の料金は以下の通りです。

X線透過試験

メーカー

株式会社島津製作所

型番

SMX-2000

導入年度

平成24年度
  • この装置に関連するお問い合わせ
  • 担当:機械・材料技術部 解析評価グループ
  • その他の技術相談はこちらから
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