微小部X線光電子分光分析装置
この装置について
用途・特徴について
ロボットの関節に使う摩擦摩耗特性に優れた摺動材、効率の良い燃料電池やリチウム電池電極、生体適合性の高い材料の開発を支援します。プラスチック材料・セラミック材料・金属製品の表面の変色、腐食などの不具合を分析することにより、故障解析を行います。
・最小ビーム径: 10μm以下
・最高エネルギー分解能: 0.5eV以下 (Ag3d 5/2)
・最大感度: 1000000cps (Ag3d 5/2 の半値幅 1.0eVのとき)
・到達圧力: 6.7×10-8Pa以下
・オプション: 加熱冷却ステージ
ご利用方法
試験計測(依頼試験) , 技術開発受託(受託研究) で利用できます。*試験計測(依頼試験)の詳細についてはこちらをご確認ください。
*技術開発受託(受託研究) の詳細についてはこちらをご確認ください。
手数料または使用料NO.
この機器を使用した料金表の項目は以下の通りです。■ 料金表 (試験計測料金)
項目番号 | 項目 | 単位 | 手数料(円) |
---|---|---|---|
E1980 | 微小部X線光電子分光分析 (ワイドスキャンのみ) | 1試料1ヶ所につき | 14,410 |
E1982 | 微小部X線光電子分光分析 (ワイドおよびナロースキャン) | 1試料1ヶ所につき(6元素まで) | 21,450 |
E1984 | 微小部X線光電子分光分析(面分析,線分析) | 1試料1ヶ所につき(5元素まで) | 22,440 |
E1986 | 微小部X線光電子分光分析(深さ方向分析) | 1試料1ヶ所につき(6元素まで) | 33,770 |
E1990 | 微小部X線光電子分光分析 条件増 | 1条件増すごとに | 5,280 |
E1992 | 微小部X線光電子分光分析 元素増(1) | 1元素増すごとに(E1982,E1984に適用) | 4,510 |
E1994 | 微小部X線光電子分光分析 元素増(2) | 1元素増すごとに(E1986に適用) | 6,710 |
メーカー
アルバック・ファイ株式会社型番
VersaProbeⅡ導入年度
平成25年度補助金等
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- 担当:機械・材料技術部 解析評価グループ
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