X線光電子分光分析装置（XPS）

この装置について

用途・特徴について

金属、セラミックス、有機材料の表面を形成する原子の組成、結合状態の解析、深さ方向分析、表面局所分析

ご利用方法

試験計測（依頼試験） で利用できます。

　*試験計測（依頼試験）の詳細についてはこちらをご確認ください。

　*技術開発受託（受託研究） の詳細についてはこちらをご確認ください。

手数料または使用料NO.

この機器を使用した料金表の項目は以下の通りです。

■ 料金表 (試験計測料金)

項目番号	項目	単位	手数料（円）
E1882	X線光電子分光分析（簡単なもの)	１試料１ヶ所につき	18,150
E1884	X線光電子分光分析（簡単なもの)　条件増	１条件増すごとに	8,250

メーカー

アルバック・ファイ株式会社

型番

model5500

仕様

通常X線源Mg、Al／モノクロX線源Al／広域スキャン分析／狭域スキャン20連続分析／アルゴンエッチングによる深さ方向分析／電子銃による中和機構

導入年度

平成2年度