X線光電子分光分析装置(XPS)
この装置について
用途・特徴について
金属、セラミックス、有機材料の表面を形成する原子の組成、結合状態の解析、深さ方向分析、表面局所分析ご利用方法
試験計測(依頼試験) で利用できます。*試験計測(依頼試験)の詳細についてはこちらをご確認ください。
*技術開発受託(受託研究) の詳細についてはこちらをご確認ください。
手数料または使用料NO.
この機器を使用した料金表の項目は以下の通りです。■ 料金表 (試験計測料金)
項目番号 | 項目 | 単位 | 手数料(円) |
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E1882 | X線光電子分光分析(簡単なもの) | 1試料1ヶ所につき | 18,150 |
E1884 | X線光電子分光分析(簡単なもの) 条件増 | 1条件増すごとに | 8,250 |
メーカー
アルバック・ファイ株式会社型番
model5500仕様
通常X線源Mg、Al/モノクロX線源Al/広域スキャン分析/狭域スキャン20連続分析/アルゴンエッチングによる深さ方向分析/電子銃による中和機構
導入年度
平成2年度- この装置に関連するお問い合わせ
- 担当:機械・材料技術部 解析評価グループ
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