電子線後方散乱回折(EBSD)法による結晶方位測定

走査電子顕微鏡に付属された電子線後方散乱回折(EBSD)図形を観測する装置を用いて、観察視野内での結晶方位分布を知ることができます。

【試験対象】
 金属材料、無機材料など

走査電子顕微鏡:日本電子製 JSM-7800F Prime
電子線後方散乱回折観測装置:オックスフォードインストゥルメンツ社製 AZtec HKL

料金について

令和6年4月1日に試験計測等料金が改訂されました。新料金表示の対応が完了するまではPDFファイル(試験計測等料金表(1MB))をご確認ください。
料金表番号試験名単位料金
E1790電子線後方散乱回折(EBSD)法による結晶方位測定1視野測定につき46,750円
E1791電子線後方散乱回折(EBSD)法による結晶方位測定 1視野追加1視野追加測定につき11,660円
E0021エネルギー分散型X線分析(EDX)(E0011~E0018、E1790に適用)1ヶ所につき7,040円

使用する機器について

この試験に使用する機器は以下の通りです。

担当部署

機械・材料技術部 材料物性グループ

分類

海老名本部 試験計測 | 材料や異物等の材質、成分、元素、物性の分析  | 観察
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  • 担当:機械・材料技術部 材料物性グループ