分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）

分析透過電子顕微鏡（FE-TEM／EDS）は、多次元に渡る高速組成分析に特化した走査・透過型電子顕微鏡（S/TEM）システムです。最先端のEDS と高いSTEM、TEM 分解能を備えており、ナノ領域での様々な研究・解析に最適です。

■用途
・マクロからナノレベルの観察、元素分析
・電子線回折を用いた結晶情報取得
・電子線耐性が低いソフトマテリアルへの対応
・トモグラフィーシステムを用いた観察画像、元素マッピング画像の三次元化

・加速電圧：200kV（標準）、120kV、80kV
・分解能：TEM 0.12nm（200kV）、STEM 0.16nm（200kV）
・プローブ電流：1.5nm＠1nm
・TEMボトムマウントカメラ：4,096×4,096 CMOS
・STEM検出器：BF,DF,HAADF（同時取得可）
・EDS検出器：X型配置4SDD
・分析対象元素：B～U

料金について

料金表番号	試験名	単位	料金
K1740	分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察　10万倍以下	観察倍率10万倍以下　１視野につき	19,690円
K1741	分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察　10万倍以下　１視野追加	観察倍率10万倍以下　同条件１視野追加につき	9,900円
K1745	分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察　10万倍を超えて50万倍以下	観察倍率10万倍を超えて50万倍以下　１視野につき	26,840円
K1746	分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察　10万倍を超えて50万倍以下　１視野追加	観察倍率10万倍を超えて50万倍以下　同条件１視野追加につき	14,850円
K1750	分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察　50万倍を超えて200万倍以下	観察倍率50万倍を超えて200万倍以下　１視野につき	35,530円
K1751	分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察　50万倍を超えて200万倍以下　１視野追加	観察倍率50万倍を超えて200万倍以下　同条件１視野追加につき	19,690円
K1755	分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察　200万倍を超えるもの	観察倍率200万倍を超えるもの　１視野につき	51,370円
K1756	分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察　200万倍を超えるもの　１視野追加	観察倍率200万倍を超えるもの　同条件１視野追加につき	30,690円
K1760	分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察　試料傾斜調整	試料傾斜調整　１条件につき	13,530円
K1761	分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）　観察 　制限視野回折	制限視野回折　１視野につき	17,160円
K1768	分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）　観察 　条件追加	１条件追加につき	12,210円
K1770	FE-TEM　エネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS）面分析	面分析　１視野５元素ごとに、または２時間につき	108,900円

※観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。
ご要望に応じて見積書を作成いたします。

使用する機器について

この試験に使用する機器は以下の通りです。

担当部署

川崎技術支援部　微細構造解析グループ

分類

溝の口支所　試験計測　|　微細構造解析分野　|　分析透過電子顕微鏡（FE-TEM／EDS）