走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍以下 1視野追加
項目 | 内容 |
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項目番号 | E0012 |
単位 | 1視野追加観察につき |
手数料 | 4,400円 |
担当部署 | 機械・材料技術部 、K1315 (川崎技術支援部) |
分類 | 材料や異物の材質、成分、元素、物性の分析 |
内容 | 材料および機械部品の表面ならびに破壊面の観察 |
補足説明 | |
該当する機器名 | 高分解能走査電子顕微鏡 |
試験対象 | 各種材料および機械部品 |
備考 | 1視野追加観察につき |
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