イオンミリング法による試料調製(1)(標準的なもの)

項目 内容
項目番号 E0022
単位 1試料1ヶ所につき
手数料 44,330円
担当部署 機械・材料技術部 
分類 材料や異物の材質、成分、元素、物性の分析
内容 イオンビームを用いた断面試料作製
補足説明 クロスセクションポリシャ(Arイオンビーム研磨)による試料加工
該当する機器名 高分解能走査電子顕微鏡 電子線マイクロアナライザ(FE−EPMA)
試験対象 金属、セラミックス、めっき、塗膜等
備考
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