E1150

項目 内容
試験名 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定
単位 1測定1解析につき
手数料 8030円
担当部署 電子技術部 
 
分類 Array
内容 微小部品の三次元形状観察、測定
補足説明 例:プリント基板の銅配線幅・厚さ測定、他 非接触(光学式)で三次元形状を測定。
機器番号
試験対象 機械部品、電子部品、電子材料、半導体 等
備考 機械部品、電子部品、電子材料、半導体 等
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