超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定

項目 内容
項目番号 E1150
単位 1測定1解析につき
手数料 8,800円
担当部署 電子技術部 
分類 機械装置、電気・電子部品等の性能評価試験
内容 微小部品の三次元形状観察、測定
補足説明 例:プリント基板の銅配線幅・厚さ測定、他 非接触(光学式)で三次元形状を測定。
該当する機器名 超深度形状測定顕微鏡(カラーレーザ顕微鏡)
試験対象 機械部品、電子部品、電子材料、半導体 等
備考 1測定点1解析につき
  • この試験に関連するお問い合わせ
  • 担当:電子技術部 
  • その他の技術相談はこちらから
  •