E1781

項目 内容
試験名 走査型プローブ顕微鏡観察 1視野追加
単位 1視野追加につき
手数料 10340円
担当部署 電子技術部 
 
分類 Array
内容 走査プローブ顕微鏡(SPM)は先端サイズがナノスケール程度のプローブを試料表面に接近させ、プローブ先端と試料間との相互作用を制御することにより形状、その他の特性を計測します。
補足説明
機器番号
試験対象 電子材料
備考 電子材料
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