X線回折試験 (III)高度な薄膜X線回折

項目 内容
項目番号 E2530
単位 1試料につき
手数料 52910円
担当部署 電子技術部 
分類 材料や異物の材質、成分、元素、物性の分析
内容 X線回折法による試料の結晶構造解析、スペクトル検索同定が可能です。薄膜X線装置では逆格子マッピングや薄膜法、反射率測定が可能です。
補足説明 試料形態等により分析装置を選択します。
該当する機器名
試験対象 粉末又は薄膜試料、無機材料・化合物、有機材料、複合素材
備考

試験計測料金

NO.項目単位料金担当部名
KTEM データ処理各種データ処理 1条件につき11000川崎技術支援部
1TEM データ処理各種データ処理 1条件につき11000川崎技術支援部
5TEM データ処理各種データ処理 1条件につき11000川崎技術支援部
5TEM データ処理各種データ処理 1条件につき11000川崎技術支援部
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  • 担当:電子技術部 
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