K1030

項目 内容
試験名 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)   10万倍を超えるもの
単位 観察倍率10万倍を超えるもの 1条件につき
手数料 50600円
担当部署 川崎技術支援部 
 
分類 Array
内容
補足説明
機器番号
試験対象
備考
  • この試験に関連するお問い合わせ
  • 担当:川崎技術支援部 
  • その他の技術相談はこちらから
  •