K1052

項目 内容
試験名 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM) SEM観察 16~30視野
単位 1試料の観察視野が16~30視野につき(観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る)
手数料 165000円
担当部署 川崎技術支援部 
 
分類 Array
内容
補足説明
機器番号
試験対象
備考
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