電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)50万倍を超えて200万倍以下

項目 内容
項目番号 K1450
単位 倍率  50万倍を超えて200万倍以下 1視野につき
手数料 32,340円
担当部署 川崎技術支援部 
分類
内容
補足説明
該当する機器名
試験対象
備考
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