K1732

項目 内容
試験名 FIB-SEMによる 微小試験片の作製 複雑
単位 複雑な作製(SEM観察含む) 5本につき
手数料 264000円
担当部署 川崎技術支援部 
 
分類 Array
内容
補足説明
機器番号
試験対象
備考
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