K1760

項目 内容
試験名 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察　試料傾斜調整
単位 観察　試料傾斜調整　１条件につき
手数料 12100円
担当部署 川崎技術支援部　
　
分類 Array
内容
補足説明
機器番号
試験対象
備考
  • この試験に関連するお問い合わせ
  • 担当：川崎技術支援部　
  • その他の技術相談はこちらから
  •