分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）観察　試料傾斜調整

項目 内容
項目番号 K1760
単位 試料傾斜調整　１条件につき
手数料 12,430円
担当部署 川崎技術支援部　
分類
内容
補足説明
該当する機器名
試験対象
備考
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