K1760
項目 | 内容 |
---|---|
試験名 | 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)観察 試料傾斜調整 |
単位 | 観察 試料傾斜調整 1条件につき |
手数料 | 12100円 |
担当部署 |
川崎技術支援部
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分類 | Array |
内容 | |
補足説明 | |
機器番号 | |
試験対象 | |
備考 |
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項目 | 内容 |
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試験名 | 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)観察 試料傾斜調整 |
単位 | 観察 試料傾斜調整 1条件につき |
手数料 | 12100円 |
担当部署 |
川崎技術支援部
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分類 | Array |
内容 | |
補足説明 | |
機器番号 | |
試験対象 | |
備考 |