マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製 複雑

項目 内容
項目番号 K1932
単位 複雑な作製(SEM観察含む) 5本につき
手数料 265,760円
担当部署 川崎技術支援部 
分類
内容
補足説明
該当する機器名
試験対象
備考
  • この試験に関連するお問い合わせ
  • 担当:川崎技術支援部 
  • その他の技術相談はこちらから
  •