マルチ解析用集束イオンビーム装置（FIB）（連続自動加工）

項目 内容
項目番号 K1942
単位 追加１時間あたり （ただし、設定可能なものに限る）
手数料 16,500円
担当部署 川崎技術支援部　
分類
内容
補足説明
該当する機器名
試験対象
備考
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