K1942

項目 内容
試験名 マルチ解析用集束イオンビーム装置（FIB）（連続自動加工）
単位 追加１時間あたり （ただし、設定可能なものに限る）
手数料 16500円
担当部署 川崎技術支援部　
　
分類 Array
内容
補足説明
機器番号
試験対象
備考
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