K1942
項目 | 内容 |
---|---|
試験名 | マルチ解析用集束イオンビーム装置(FIB)(連続自動加工) |
単位 | 追加1時間あたり (ただし、設定可能なものに限る) |
手数料 | 16500円 |
担当部署 |
川崎技術支援部
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分類 | Array |
内容 | |
補足説明 | |
機器番号 | |
試験対象 | |
備考 |
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項目 | 内容 |
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試験名 | マルチ解析用集束イオンビーム装置(FIB)(連続自動加工) |
単位 | 追加1時間あたり (ただし、設定可能なものに限る) |
手数料 | 16500円 |
担当部署 |
川崎技術支援部
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分類 | Array |
内容 | |
補足説明 | |
機器番号 | |
試験対象 | |
備考 |