K1942

項目 内容
試験名 マルチ解析用集束イオンビーム装置(FIB)(連続自動加工)
単位 追加1時間あたり (ただし、設定可能なものに限る)
手数料 16500円
担当部署 川崎技術支援部 
 
分類 Array
内容
補足説明
機器番号
試験対象
備考
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