K1970

項目 内容
試験名 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 点分析
単位 点分析1視野1箇所につき
手数料 16500円
担当部署 川崎技術支援部 
 
分類 Array
内容
補足説明
機器番号
試験対象
備考
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