K4244

項目 内容
試験名 平面イオンミリング法 (小さい試料用)  C:複雑な試料
単位 1試料につき
手数料 33000円
担当部署 川崎技術支援部 
 
分類 Array
内容
補足説明
機器番号
試験対象
備考
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