K5015

項目 内容
試験名 X線光電子分光分析(XPS) 深さ方向分析 条件増
単位 1条件増すごとに
手数料 11000円
担当部署 川崎技術支援部 
 
分類 Array
内容
補足説明
機器番号
試験対象
備考
  • この試験に関連するお問い合わせ
  • 担当:川崎技術支援部 
  • その他の技術相談はこちらから
  •