電子技術部

• 電子線リソグラフィ
• 【開催中止】2020年3月17日（火）「エレクトロニクスフォーラム（非破壊な材料評価～Ｘ線回折とレーザ顕微鏡を中心に～）」開催のご案内
• 【開催中止】2020年3月13日（金）「エレクトロニクスフォーラム（クリーンルーム使えます～電子線リソとフォトリソのご紹介～）」開催のご案内
• 【開催中止】エレクトロニクスフォーラム「信頼性セミナー～信頼性試験基礎から最新トピックス紹介～」のご案内 　3月6日(金)開催
• 電子線リソグラフィ　試料調整
• 【募集終了】2019年7月18日（木）「エレクトロニクスフォーラム（磁気測定技術）」開催のご案内
• 【募集終了】表面技術協会関東支部／神奈川県立産業技術総合研究所 合同講演会　エレクトロニクス・表面技術フォーラム
• ネットワークアナライザ測定(マルチポート）
• ネットワークアナライザ測定(4ポートまで）
• 小型恒温槽 (温度のみ）
• 小型恒温恒湿槽（SH）
• マイクロ波誘電率・透磁率測定(ハーモニック共振器法)
• 1000BASE-Tコンプライアンステスト
• 冷熱サイクル試験
• 冷熱衝撃試験(大)
• 非破壊超音波映像撮影
• 高速度カメラ撮影
• 恒温恒湿槽（中）サイクル
• 恒温恒湿槽（中）
• 薄膜屈折率測定
• 冷熱衝撃試験
• 磁化温度特性測定
• 磁化特性測定（BH積分方式）
• 磁化特性測定（VSM方式）
• マイクロ波誘電率・透磁率測定(Sパラメータ法)
• マイクロ波誘電率測定(共振器法・誘電体プローブ法)
• 高周波伝送特性測定(Sパラメータ・TDR測定)
• 電気機器・電力測定
• 電源変動及び瞬停試験
• ダイシェア試験
• ワイヤーボンディング強度試験
• 電気機器・温度試験
• 絶縁抵抗試験
• LCR測定
• 電気機器・接地回路の抵抗測定
• 電気機器・耐電圧試験
• 電気機器・漏れ電流測定
• 電気抵抗測定
• 電流電圧測定（1mA以上、1mV以上）
• はんだ継手強度試験
• 絶縁抵抗計
• Ｘ線回折試験
• スピンコーター
• 電子基板用印刷機
• 金属ナノペースト接合装置
• フォトルミネッセンス測定装置
• 両面マスクアライナ（手動式マスクアライナ／紫外線露光装置）
• イオンプレーティング装置
• 磁性薄膜用三元スパッタ装置
• 電子線描画装置 （電子ビーム描画装置／EB描画装置／EB露光装置）