電子デバイスパラメータ測定システム

お客様ご自身が使用して、試作・分析を行える機器は 『利用の仕方』欄にご利用OKがつけてあります。

電子デバイスパラメータ測定システム、半導体デバイスC-V測定(1MHz)

項目 内容
機器名 電子デバイスパラメータ測定システム
利用の仕方
使用料No
分類 電気測定機器、電気器具
担当 電子技術部
仕様 直流微小電流測定ユニット(分解能1fA)/直流微小電流測定用電源ユニット/直流電源測定ユニット/直流電圧源ユニット/直流高分解能電圧測定ユニット(分解能10mV)/1MHz容量測定ユニット(分解能1fF)/温度測定ユニット(分解能0.1℃)
用途 半導体デバイスの電気パラメータの測定/半導体デバイスのC-V測定(1MHz)
手数料No
/試験名
製造社名 (株)横河ヒューレット・パッカード
規格 YHP 4063A
導入年度 昭和63年度

  • 「使用料」とはご利用OKのついた機器をご使用いただいたときの料金です。ご利用OKのある機器でも、使用条件によって料金が変わる場合は空欄となっています。そのような機器の使用料は、お問い合わせ下さい。
  • 「手数料」とは当研究所職員がお客様のご依頼を受けて試験等を実施する場合の料金です。この他にオーダーメードでもお受けできます。
  • 「試験名」とは当機器を利用して行う試験等の名称で、クリックすると詳細説明がご覧になれます。