膜厚計

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膜厚計、薄膜、film thickness、coating thickness

項目 内容
機器名 膜厚計
利用の仕方
使用料No E8150
分類 試験・計測機器
担当 電子技術部
仕様 走査距離50μm-50mm/触針半径2.5μm/最大サンプル厚み45mm/サンプリング時間1~50秒/触針圧1~40mgf
用途 膜厚測定/表面形状測定
手数料No
/試験名
E1050/膜厚測定
製造社名 アルバックファイ東日本(株)
規格 日本真空技術(株)製Dektak-3030ST
導入年度 平成04年度

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