ゼータ電位・粒径分布測定システム

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ゼータ電位・粒径分布測定システム、大塚電子 ELS Z-2、レーザードップラー法、動的光散乱法 (DLS)

 

項目 内容
機器名 ゼータ電位・粒径分布測定システム
利用の仕方
使用料No
分類 試験・計測機器
担当 機械・材料技術部
仕様 ゼータ電位 : レーザードップラー法/ゼータ電位範囲 -200~200 mV/対象 微粒子および平板・フィルム ; 粒径分布 : 動的光散乱法(光子相関法)/粒子径範囲 0.6 nm~7μm/対象 微粒子 ; 共通仕様 : 温度 10~90℃/対応濃度 0.001~40 %
用途 レーザードップラー法によるゼータ電位測定と、動的光散乱(DLS)法による湿式粒径分布測定を、1台で行える装置です。ただし、ゼータ電位と粒径分布を同時に測定することはできません。ゼータ電位は、溶液に分散した微粒子と平板形状試料の2種類に対応できます。pHタイトレーションを使用した測定も可能です。粒径分布は、数マイクロ~シングルナノ領域のサイズにおいて、平均粒径値を求めることができます。
手数料No
/試験名
E4160ゼータ電位測定(A)(微粒子分散溶液)
E4170ゼータ電位測定(B)(平板形状試料) 
E4180粒径分布測定(動的光散乱法)
製造社名 大塚電子(株)
規格 ELSZ-2
導入年度 平成20年度

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  • 「試験名」とは当機器を利用して行う試験等の名称で、クリックすると詳細説明がご覧になれます。