FE-TEM（電界放出型透過電子顕微鏡）による金属ナノ粒子の観察

金属ナノ粒子の形状やサイズをTEM観察で明らかにしました。

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＜使用機器＞　FE-TEM（電界放出型透過電子顕微鏡）
＜作業工程＞　試料前処理（分散懸濁法）　　→　　TEM観察
＜納　　期＞　担当職員にお問い合わせください。

同様の事例については、 試験計測（依頼試験） でご利用いただけます。

参考料金は以下の通りです。

観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。ご要望に応じて見積書を作成いたします。

詳細はお問い合わせください。