FE-TEM(電界放出型透過電子顕微鏡)による金属ナノ粒子の観察
金属ナノ粒子の形状やサイズをTEM観察で明らかにしました。
<使用機器> FE-TEM(電界放出型透過電子顕微鏡)
<作業工程> 試料前処理(分散懸濁法) → TEM観察
<納 期> 担当職員にお問い合わせください。
測定例
ご利用を希望される方へ
同様の事例については、 試験計測(依頼試験) でご利用いただけます。
参考料金は以下の通りです。
料金表 (試験計測料金)
項目番号 | 項目 | 単位 | 手数料 |
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K1411 | TEM試料調製 分散法 懸濁法 | 懸濁法 1試料につき | 11,000 |
K1441 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)10万倍を超えて50万倍以下 | 倍率 10万倍を超えて50万倍以下 1視野につき | 23,100 |
K1451 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)200万倍を超えるもの | 倍率 200万倍を超えるもの 1視野につき | 46,200 |
観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。ご要望に応じて見積書を作成いたします。
詳細はお問い合わせください。- この分析事例に関連するお問い合わせ
- 担当:川崎技術支援部
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