FE-TEM（電界放出型透過電子顕微鏡）による金属ナノ粒子の観察

金属ナノ粒子の形状やサイズをTEM観察で明らかにしました。

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＜使用機器＞　FE-TEM（電界放出型透過電子顕微鏡）
＜作業工程＞　試料前処理（分散懸濁法）　　→　　TEM観察
＜納　　期＞　担当職員にお問い合わせください。

同様の事例については、 試験計測（依頼試験） でご利用いただけます。

参考料金は以下の通りです。

料金表 (試験計測料金)

項目番号	項目	単位	手数料
K1411	TEM試料調製　分散法　懸濁法	懸濁法　１試料につき	11,000
K1441	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）10万倍を超えて50万倍以下	倍率　10万倍を超えて50万倍以下　１視野につき	23,100
K1451	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）200万倍を超えるもの	倍率　200万倍を超えるもの　１視野につき	46,200

観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。ご要望に応じて見積書を作成いたします。

詳細はお問い合わせください。