FE-TEM(電界放出型透過電子顕微鏡)による金属ナノ粒子の観察

金属ナノ粒子の形状やサイズをTEM観察で明らかにしました。

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<使用機器> FE-TEM(電界放出型透過電子顕微鏡)
<作業工程> 試料前処理(分散懸濁法)  →  TEM観察
<納  期> 担当職員にお問い合わせください。

測定例


ご利用を希望される方へ

同様の事例については、 試験計測(依頼試験) でご利用いただけます。

参考料金は以下の通りです。

料金表 (試験計測料金)

項目番号項目単位手数料
K1411TEM試料調製 分散法 懸濁法懸濁法 1試料につき11,000
K1441電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)10万倍を超えて50万倍以下倍率 10万倍を超えて50万倍以下 1視野につき23,100
K1451電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)200万倍を超えるもの倍率 200万倍を超えるもの 1視野につき46,200

観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。 ご要望に応じて見積書を作成いたします。

詳細はお問い合わせください。
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  • 担当:川崎技術支援部 
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