「試験計測等料金表」令和2年4月1日改定のお知らせ
「試験計測等料金表」が令和2年4月1日（水）から改定されます。
●新規に追加される試験項目は以下の28件です。
手数料
| No. | 項 目 | 単 位 | 手数料 | 担当部名 |
| E1376 | 恒温恒湿槽 （低湿度対応) | 24時間まで | 24,750 | 電子技術部 |
| E1377 | 恒温恒湿槽 （低湿度対応)・24時間増 | 24時間増すごとに | 11,000 | 〃 |
| E1821 | 炭素・硫黄分析装置による定量分析（Ａ） | 1試料，1成分につき（容易なもの） | 7,810 | 化学技術部 |
| E1822 | 炭素・硫黄分析装置による定量分析（Ｂ） | 1試料，1成分につき（複雑なもの） | 11,550 | 〃 |
| E1823 | 酸素・窒素分析装置による定量分析 | 1試料，1成分につき | 12,540 | 〃 |
| E1831 | 原子吸光分析法による定量分析（Ａ） | 1試料，1成分につき（容易なもの） | 7,920 | 〃 |
| E1832 | 原子吸光分析法による定量分析（Ｂ） | 1試料，1成分につき（複雑なもの） | 11,770 | 〃 |
| E1891 | ＩＣＰ発光分光分析法による定量分析（Ａ） | 1試料，1成分につき（容易なもの） | 7,700 | 〃 |
| E1892 | ＩＣＰ発光分光分析法による定量分析（Ｂ） | 1試料，1成分につき（複雑なもの） | 11,440 | 〃 |
| E1930 | カールフィッシャー水分測定（直接法） | １条件，１試料につき | 11,110 | 〃 |
| E1931 | カールフィッシャー水分測定（直接法） | １試料増すごとに | 6,490 | 〃 |
| E1932 | カールフィッシャー水分測定（加熱気化法） | １条件，１試料につき | 13,970 | 〃 |
| E1933 | カールフィッシャー水分測定（加熱気化法） | １試料増すごとに | 9,350 | 〃 |
| E2540 | X線回折試験 (IV) | １試料につき | 85,200 | 電子技術部 化学技術部 |
| E3051 | 浸せき試験 ２４時間増 | 24時間増すごとに | 660 | 化学技術部 |
| E5041 | 抗酸化性測定（２）（ORAC法による） | １試料につき | 10,890 | 〃 |
| E5062 | 抗糖化性測定（１）（複雑なもの） | １試料につき | 6,160 | 〃 |
| E5063 | 抗糖化性測定（２）（容易なもの） | １試料につき | 4,730 | 〃 |
| K1740 | 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM) 観察 10万倍以下 | 観察倍率10万倍以下 1視野につき | 17,600 | 川崎技術支援部 |
| K1741 | 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM) 観察 10万倍以下 1視野追加 | 観察倍率10万倍以下 同条件1視野追加につき | 8,800 | 〃 |
| K1745 | 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM) 観察 50万倍以下 | 観察倍率50万倍以下 1視野につき | 23,100 | 〃 |
| K1746 | 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM) 観察 50万倍以下 1視野追加 | 観察倍率50万倍以下 同条件1視野追加につき | 13,200 | 〃 |
| K1750 | 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM) 観察 200万倍以下 | 観察倍率200万倍以下 1視野につき | 31,900 | 〃 |
| K1751 | 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM) 観察 200万倍以下 1視野追加 | 観察倍率200万倍以下 同条件1視野追加につき | 17,600 | 〃 |
| K1755 | 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM) 観察 201万倍以上 | 観察倍率201万倍以上 1視野につき | 46,200 | 〃 |
| K1756 | 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM) 観察 201万倍以上 1視野追加 | 観察倍率201万倍以上 同条件1視野追加につき | 27,500 | 〃 |
| K1760 | 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM) 観察 試料傾斜調整 | 観察 試料傾斜調整 1条件につき | 12,100 | 〃 |
使用料
| No. | 設 備 機 器 名 | メーカー・型式 | 手数料 | 担当部名 |
| E9061 | マルチ検出モードプレートリーダー | テカンジャパン㈱ Infinite200Pro | 1,320 | 化学技術部 |
●料金が変更になる試験項目は以下の17件です。
手数料
| No. | 項 目 | 単 位 | 手数料 | 担当部名 |
| E1050 | 膜厚測定 | １試料１測定点につき | 5,390 | 電子技術部 |
| E1810 | 定量分析（Ａ） | 1試料，1成分につき（容易なもの） | 8,690 | 化学技術部 |
| E1820 | 定量分析（Ｂ） | 1試料，1成分につき（複雑なもの） | 10,450 | 〃 |
| E1842 | 蛍光Ｘ線法による微小部定性分析（２） | 1条件増すごとに | 3,190 | 〃 |
| E1911 | ＩＣＰ発光分光分析法による定性分析（１） | 1試料につき，基本10元素につき | 17,820 | 〃 |
| E1921 | ＩＣＰ発光分光分析法による定性分析（２） | 1試料につき，1元素増すごとに | 1,760 | 〃 |
| E2510 | X線回折試験 (I) | 1試料につき | 22,770 | 電子技術部 化学技術部 |
| E2520 | X線回折試験 (II) | 1試料につき | 34,210 | 〃 |
| E2530 | X線回折試験 (III) | 1試料につき | 52,910 | 〃 |
| E2610 | ＣＨＮ元素分析装置による定量分析 | 1試料につき | 16,390 | 化学技術部 |
| E3050 | 浸せき試験 | 室温で実施の場合 1試料24時間まで | 4,180 | 〃 |
| E3210 | 金属の電位測定（１） | １試料につき２４時間まで | 15,180 | 〃 |
| E3220 | 金属の電位測定（２） | ２４時間増すごとに | 6,270 | 〃 |
| E3270 | 金属の分極測定 | １試料につき | 17,820 | 〃 |
| E5060 | 酵素阻害活性測定（１）（複雑なもの） | １試料につき | 6,490 | 〃 |
| E5061 | 酵素阻害活性測定（２）（容易なもの） | １試料につき | 4,730 | 〃 |
使用料
| No. | 項 目 | 単 位 | 手数料 | 担当部名 |
| E8150 | 膜厚計 | 小坂研究所 ET4000AKR | 2,860 | 電子技術部 |
●名称等が変更になる試験項目は以下の9件です。
手数料
| No. | 項 目 | 単 位 | 手数料 | 担当部名 |
| E1841 | 蛍光Ｘ線法による微小部定性分析（１） | 1試料，1カ所につき | 8,690 | 化学技術部 |
| E1940 | 試料調製（１） |
No.E1810,E1820,E1821,E1822,E1823, E1831,E1832,E1860,E1932,E1933, E2021,E2211,E2212,E2220,E2230, E2260,E2281,E2282,E2290,E2294, E2295,E2310,E2320,E2330,E2340, E2410,E2420,E2430,E2441,E2442, E2450,E2460,E3460,E4010,E4020, E4140に適用 |
1,760 | 〃 |
| E1950 | 試料調製（２） |
No.E1810,E1820,E1831,E1832,E1860, E1891,E1892,E1911,E2021,E2211, E2212,E2220,E2230,E2260,E2281, E2282,E2290,E2294,E2295,E2310, E2320,E2330,E2340,E2410,E2420, E2430,E2441,E2442,E2450,E2460, E3460,E4010,E4020,E4140に適用 |
8,910 | 〃 |
| E1960 | 試料調製（３） |
No.E1810,E1820,E1831,E1832,E1891, E1892,E1911,E2021,E2211,E2212, E2220,E2230,E2260,E2281,E2282, E2290,E2294,E2295,E2310,E2320, E2330,E2340,E3460,E4010,E4020, E4140に適用 |
14,850 | 〃 |
| E1970 | 試料調製（４） |
No.E1810,E1820,E1831,E1832,E1891, E1892,E1841,E1860,E1911,E2211, E2212,E2220,E2230,E2260,E2281, E2282,E2290,E2294,E2295,E2310, E2320,E2330,E2340,E3460,E4010, E4020,E4140,E4530に適用 |
4,730 | 〃 |
| E2840 | 引張試験 | １試料につき | 6,600 | 〃 |
| E2860 | 曲げ試験 | １試料につき | 6,600 | 〃 |
| E2870 | 圧縮試験 | １試料につき | 6,600 | 〃 |
| E2880 | 衝撃試験（アイゾット・シャルピー） | １試料につき | 5,830 | 〃 |
●削除される試験項目は以下の11件です。
手数料
| No. | 項 目 | 単 位 | 手数料 | 担当部名 |
| E0360 | アルゴンアーク溶解試験 | １時間当たり | 6,710 | 機械・材料技術部 |
| E0361 | 真空溶解試験 | １時間当たり | 8,360 | 〃 |
| E1830 | 定量分析（特殊Ｂ） | １試料１成分につき | 16,390 | 化学技術部 |
| E2740 | 荷重たわみ温度試験（エッジワイズ） | １試料につき | 3,740 | 〃 |
| E2850 | 接着・剥離試験 | １試料６試片につき | 6,600 | 〃 |
| E3243 | アルコールの濃度測定 | １試料につき | 3,630 | 〃 |
使用料
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 使用料 | 担当部名 |
| E6320 | 汎用フライス盤 | 日立精工 2MW-V | 1,210 | 機械・材料技術部 |
| E6330 | 旋盤 | 滝沢 TSL 550-D | 330 | 〃 |
| E8360 | 電子回路測定・解析システム用ネットワークアナライザー | YHP HP8753C | 2,200 | 電子技術部 |
| E8990 | アルゴンアーク溶解炉 | 大亜真空 ACM-7A | 3,630 | 機械・材料技術部 |
| E8991 | 真空溶解炉 | 富士電波工機 FV-5 | 5,390 | 〃 |
詳細は担当部にお問い合わせください。
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| 試験名 | |
| 手数料No. | |
| 分類 | |
| 内容 | |
| 補足説明 | |
| 使用機器例 | |
| 試験対象 | |
| 単位 | |
| 手数料 | |
| 担当 | |
| 備考 |
- 「使用機器例」とは当試験のために使用する機器の名称で、クリックすると詳細説明がご覧になれます。
- 「手数料」とは当せんたー研究所職員がお客様のご依頼を受けて試験等を実施する場合の料金です。
- この他にオーダーメードでもお受けできます。