海老名本部:試験計測等料金表
〔利用上の注意〕
1 料金は全て消費税を含んでいます。
2 この料金表に掲げる以外に実施可能な項目及び使用可能な設備機器もあります。
詳細は担当各部へお問い合わせください。
3 機器の更新等により項目及び設備機器名並びに料金の額を変更する場合が
あります。
4 担当部名欄のE及びKの表示は、同一試験項目の各拠点の該当する料金番号を
示しています。 E 海老名本部、K 溝の口支所
令和2年度版
(試験計測等料金表(PDF版)はこちら)
(減免についてはこちら)
↓試験計測料金
(1)金属材料・部品の試験
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E0011 | 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍以下 | 1試料1視野観察につき | 19,800 | 機械・材料技術部 K1310 |
E0012 | 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍以下 1視野追加 | 1視野追加観察につき | 4,400 | 〃 K1315 |
E0013 | 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍を超えて10万倍以下 | 1試料1視野観察につき | 28,600 | 〃 K1320 |
E0014 | 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍を超えて10万倍以下 1視野追加 | 1視野追加観察につき | 8,800 | 〃 K1325 |
E0015 | 走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの | 1試料1視野観察につき | 50,600 | 〃 K1330 |
E0016 | 走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの 1視野追加 | 1視野追加観察につき | 14,300 | 〃 K1335 |
E0017 | 走査電子顕微鏡写真撮影 10~15視野 | 110,000 | 〃 K1392 |
|
E0018 | 走査電子顕微鏡写真撮影 16~30視野 | 165,000 | 〃 K1395 |
|
E0021 | 元素分析(E0011~E0018に適用) | 1ヶ所につき | 6,710 | 機械・材料技術部 |
E1790 | 電子線後方散乱回折(EBSD)法による結晶方位測定 | 1視野測定につき | 45,210 | 〃 |
E1791 | 電子線後方散乱回折(EBSD)法による結晶方位測定 1視野追加 | 1視野追加測定につき | 11,220 | 〃 |
E0022 | 走査電子顕微鏡試料調整(イオンミリング法)(1)(標準的なもの) | 44,330 | 〃 | |
E0023 | 走査電子顕微鏡試料調整(イオンミリング法)(2)(複雑なもの) | 66,110 | 〃 | |
E0031 | 金属組織写真撮影 | 写真1枚につき | 9,680 | 〃 K5110 |
E0040 | 写真焼増し | 写真1枚につき | 330 | 〃 K5111 |
E0050 | 外観写真撮影 | 写真1枚につき | 4,840 | 〃 K5112 |
E0060 | マクロ組織写真 | 写真1枚につき | 7,260 | 〃 K5113 |
E0070 | 写真撮影箇所増し(E0031,E0050,E0060に適用) | 同一試料で1ヶ所増すごとに | 2,750 | 〃 K5114 |
E0080 | 顕微鏡試料調整(1) (容易なもの) | 1試料につき | 1,760 | 〃 K5120 |
E0090 | 顕微鏡試料調整(2) (標準的なもの) | 1試料につき | 3,300 | 〃 K5121 |
E0091 | 顕微鏡試料調整(3) (比較的複雑なもの) | 1試料につき | 6,600 | 〃 K5122 |
E0092 | 顕微鏡試料調整(4) (非常に複雑なもの) | 1試料につき | 9,680 | 〃 K5123 |
E0110 | 引張・圧縮・曲げ試験(1) (簡単な試験) | 1試料1条件につき | 2,310 | 機械・材料技術部 |
E0120 | 引張・圧縮・曲げ試験(2) (比較的簡単な試験) | 1試料1条件につき | 3,850 | 〃 |
E0130 | 引張・圧縮・曲げ試験(3) (標準的な試験) | 1試料1条件につき | 5,060 | 〃 |
E0140 | 引張・圧縮・曲げ試験(4) (やや複雑な試験) | 1試料1条件につき | 6,600 | 〃 |
E0150 | 引張・圧縮・曲げ試験(5) (複雑な試験) | 1試料1条件につき | 9,900 | 〃 |
E0160 | 大型構造物強度試験(1) (簡単な試験) | 1試料1条件につき | 8,140 | 〃 |
E0165 | 大型構造物強度試験(2) (標準的な試験) | 1試料1条件につき | 13,530 | 〃 |
E0170 | 大型構造物強度試験(3) (複雑な試験) | 1試料1条件につき | 20,680 | 〃 |
E0175 | 常温シャルピー衝撃試験 | 1試料につき | 1,320 | 〃 |
E0176 | 低温シャルピー衝撃試験 | 1試料につき | 2,970 | 〃 |
E0180 | 硬さ試験 | 1点につき | 990 | 情報・生産技術部 K5330 |
E0191 | 薄膜・微小部硬さ試験 | 1試料1ヶ所につき | 20,680 | 機械・材料技術部 |
E0192 | 薄膜・微小部硬さ試験 1ヶ所増 | 1ヶ所増すごとに | 9,460 | 〃 |
E0211 | トライボ試験 | 1試料1条件につき | 7,260 | 〃 |
E0212 | トライボ試験 1件増 | 1条件増すごとに | 3,300 | 〃 |
E0220 | 三次元座標測定(接触式) | 1時間当たり | 15,290 | 情報・生産技術部 |
E0230 | 三次元座標測定(光学式) | 1時間当たり | 7,700 | 〃 |
E0240 | 表面粗さ測定(A)(簡単な形状) | 1試料1ヶ所につき | 1,210 | 〃 |
E0250 | 表面粗さ測定(B)(複雑な形状) | 1試料1ヶ所につき | 2,750 | 〃 |
E0270 | 工具寿命試験 | 1項目につき | 14,960 | 〃 |
E0290 | X線残留応力測定 | 1試料1方向につき | 5,390 | 機械・材料技術部 |
E0310 | 切削抵抗測定 | 1項目につき | 11,000 | 情報・生産技術部 |
E0415 | 疲労試験 1時間以内 | 1試料1条件につき | 5,720 | 機械・材料技術部 |
E0420 | 疲労試験 8時間以内 | 1試料1条件につき | 16,280 | 〃 |
E0431 | 疲労試験 大型構造物 8時間以内 | 1試料1条件につき | 20,900 | 〃 |
E0435 | 疲労試験 8時間増(E0420,E0431に適用) | 8時間を超えて8時間増すごとに | 6,820 | 〃 |
E0440 | 熱間加工性試験 | 1試料につき | 7,370 | 〃 |
E0450 | NC放電加工試験 | 1時間当たり | 2,310 | 情報・生産技術部 |
E0460 | ホットプレス処理 | 1時間当たり | 7,810 | 機械・材料技術部 |
E0470 | HIP処理 | 1時間当たり | 18,040 | 〃 |
E0480 | 熱処理特性試験 | 1時間当たり | 12,100 | 〃 |
E0490 | 立形マシニングセンターによる加工 | 1時間当たり | 6,050 | 情報・生産技術部 |
E0495 | 5軸制御マシニングセンタによる加工 | 1時間当たり | 6,380 | 〃 |
E4620 | ワイヤ放電加工 | 1時間当たり | 3,740 | 〃 |
(2)電気・電子の試験
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E0510 | 電流電圧測定(1mA以上,1mV以上) | 1試料1条件につき | 2,970 | 電子技術部 |
E0570 | 電気抵抗測定 | 1試料1条件につき | 3,630 | 〃 |
E0591 | 四探針法による抵抗率測定 | 1試料1測定につき | 9,350 | 〃 |
E0660 | 電気機器・漏れ電流測定 | 1条件1測定につき | 4,400 | 〃 |
E0670 | 電気機器・耐電圧試験 | 1試料1測定につき | 3,740 | 〃 |
E0680 | 電気機器・接地回路の抵抗測定 | 1条件1測定につき | 4,510 | 〃 |
E0690 | LCR測定 | 1試料1条件につき | 8,800 | 〃 |
E0710 | LCR測定 1ヶ所増 | 1試料につき測定点1ヶ所増すごとに | 2,860 | 〃 |
E0750 | 絶縁抵抗試験 | 1条件1測定につき | 4,620 | 〃 |
E0760 | 電気機器・温度試験 | 1測定点につき | 2,750 | 〃 |
E0761 | はんだ継手強度試験 | 1測定条件につき(10測定点まで) | 17,820 | 〃 |
E0762 | はんだ継手強度試験 5測定点増 | 5測定点増すごとに | 8,030 | 〃 |
E0770 | マイクロ波スペクトラムアナライザ測定 | 1条件1測定につき | 8,030 | 〃 |
E0771 | マイクロ波スペクトラムアナライザ測定 1件増 | 1測定増すごとに | 3,410 | 〃 |
E0780 | ネットワークアナライザ測定(マルチポート) | 1測定につき | 9,680 | 〃 |
E0791 | ネットワークアナライザ測定(4ポートまで) | 1試料1条件につき | 7,040 | 〃 |
E0792 | ネットワークアナライザ測定(4ポートまで) 1件増 | 1条件増すごとに | 2,750 | 〃 |
E0813 | 電源変動および瞬停試験 | 2時間まで | 11,330 | 〃 |
E0814 | 電源変動および瞬停試験 1時間増 | 1時間増すごとに | 5,610 | 〃 |
E0820 | 電気機器・電力測定 | 1試料1条件につき | 4,950 | 〃 |
E0830 | 高周波伝送特性測定(Sパラメータ・TDR測定) | 1条件1測定につき | 14,740 | 〃 |
E0840 | 高周波伝送特性測定(Sパラメータ・TDR測定) 1件増 | 1測定増すごとに | 3,850 | 〃 |
E0850 | マイクロ波誘電率測定(共振器法・誘電体プローブ法) | 1条件1測定につき | 17,050 | 〃 |
E0860 | マイクロ波誘電率測定(共振器法・誘電体プローブ法) 1件増 | 1測定増すごとに | 5,720 | 〃 |
E0870 | マイクロ波誘電率・透磁率測定(Sパラメータ法) | 1条件1測定につき | 15,620 | 〃 |
E0880 | マイクロ波誘電率・透磁率測定(Sパラメータ法) 1件増 | 1測定増すごとに | 4,290 | 〃 |
E0881 | マイクロ波誘電率・透磁率測定(ハーモニック共振器法) | 1測定につき | 17,600 | 〃 |
E0890 | イーサネットコンプライアンステスト | 1時間につき | 4,400 | 情報・生産技術部 |
(3)磁気関係
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E0910 | 磁化特性測定(VSM方式) | 1試料1測定につき | 6,160 | 電子技術部 |
E0920 | 磁化特性測定(積分方式) | 1試料1測定につき | 4,290 | 〃 |
E0930 | 磁歪測定 | 1試料1測定につき | 17,820 | 〃 |
E0931 | 磁歪測定 1条件増 | 1条件増すごとに | 11,330 | 〃 |
E0940 | 磁化温度特性測定 | 1試料1測定につき | 19,360 | 〃 |
E0950 | 薄膜交流透磁率測定 | 1試料1測定につき | 5,060 | 〃 |
E0951 | 交流磁化特性測定(B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス) | 1試料1測定につき | 9,460 | 〃 |
E0952 | 交流磁化特性測定(B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス) 1条件増 | 1条件増すごとに | 6,270 | 〃 |
E0953 | 交流磁化特性測定(B-H曲線無しの連続測定、可変条件は1) | 1試料5測定まで | 15,950 | 〃 |
E0954 | 交流磁化特性測定(B-H曲線無しの連続測定、可変条件は1) 1測定増 | 1測定増すごとに | 2,420 | 〃 |
E0958 | 試料調整 | 1時間当たり | 2,970 | 〃 |
E0959 | データ処理 | 1時間当たり | 2,970 | 〃 |
(4)非破壊検査試験
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E0960 | X線透過試験 | 1時間当たり | 7,260 | 機械・材料技術部 |
E0981 | X線CT撮影(容易なもの) | 1測定につき | 32,670 | 〃 |
E0982 | X線CT撮影(標準的なもの) | 1測定につき | 49,060 | 〃 |
E0983 | X線CT撮影(複雑なもの) | 1測定につき | 65,340 | 〃 |
E0990 | 非破壊超音波映像撮影 | 1時間当たり | 9,240 | 電子技術部 |
E0991 | 非破壊超音波映像撮影(データ解析のみ) | 1解析当たり | 3,630 | 〃 |
(5)半導体関係
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E1030 | 薄膜屈折率測定 | 1試料につき | 23,100 | 電子技術部 |
E1040 | 定エネルギー分光測定 | 1条件につき | 34,760 | 〃 |
E1050 | 膜厚測定 | 1試料1測定点につき | 5,390 | 〃 |
E1051 | 三次元微細形状測定 | 標準1測定当たり | 11,660 | 〃 |
E1060 | フォトルミネッセンス測定 | 1試料1条件につき | 41,360 | 〃 |
E1070 | 高分解能(1nm以下)フォトルミネッセンス測定 | 1試料1条件につき | 81,730 | 〃 |
E1080 | 低温光特性評価 | 1試料1条件につき | 33,550 | 〃 |
E1090 | 位相差測定 | 1試料1条件につき | 10,890 | 〃 |
E1120 | 酸化拡散試験 | 1時間当たり | 24,310 | 〃 |
E1130 | 光干渉式膜厚測定 | 1試料1測定点につき | 2,970 | 〃 |
E1140 | 光干渉式膜厚測定 1測定点増 | 1試料につき1測定点増すごとに | 1,430 | 〃 |
E1145 | ハイブリッドレーザー顕微鏡 | 1測定1解析につき | 8,360 | 〃 |
E1146 | ハイブリッドレーザー顕微鏡 1視野追加 | 1視野追加につき | 4,180 | 〃 |
E1150 | 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 | 1測定1解析につき | 8,030 | 〃 |
E1151 | 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 1解析増 | 1解析増すごとに | 2,090 | 〃 |
E1152 | ホール効果測定 | 1試料1条件につき | 20,240 | 〃 |
E0767 | 熱抵抗測定 | 1時間当たり | 9,020 | 〃 |
E1153 | 超音波ウェッジボンダ試験 | 1時間当たり | 8,470 | 〃 |
E1154 | 超音波ボールボンダ試験 | 1時間当たり | 10,010 | 〃 |
E0763 | ワイヤーボンディング強度試験 | 1測定条件につき(10測定点まで) | 20,570 | 〃 |
E0764 | ワイヤーボンディング強度試験 5測定点増 | 5測定点増すごとに | 9,460 | 〃 |
E0765 | ダイシェア試験 | 1測定条件につき(10測定点まで) | 21,890 | 〃 |
E0766 | ダイシェア試験 5測定点増 | 5測定点増すごとに | 10,120 | 〃 |
E1155 | ダイシング加工(半導体基板精密加工) | 1時間当たり | 16,280 | 〃 |
E1156 | 真空蒸着 | 標準1試料当たり | 36,190 | 〃 |
E1157 | 真空蒸着 1条件増 | 1条件増すごとに | 17,600 | 〃 |
E1158 | スパッタ成膜 | 標準1試料当たり | 47,410 | 〃 |
E1160 | イオンプレーティング成膜 | 標準1試料当たり | 48,510 | 〃 |
E1170 | イオンプレーティング成膜 1条件増 | 1条件増すごとに | 18,810 | 〃 |
E1180 | アッシャーによるプラズマ処理 | 1条件1時間につき | 17,270 | 〃 |
E1190 | ECRプラズマエッチング | 標準1試料当たり | 46,640 | 〃 |
E1191 | 高精度フォトリソグラフィ | 1枚につき | 24,310 | 〃 |
E1192 | 高精度フォトリソグラフィ 1枚増 | 1枚増すごとに | 8,690 | 〃 |
E1200 | 電子線リソグラフィ | 1時間当たり | 9,680 | 〃 |
E1201 | 電子線リソグラフィ試料調製 | 1試料につき | 8,910 | 〃 |
E1211 | クリーン雰囲気試験 | 1時間当たり | 5,940 | 〃 |
(6)環境試験
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E1230 | 恒温恒湿槽(中) | 24時間まで | 18,150 | 電子技術部 K5410 |
E1240 | 恒温恒湿槽(中) 24時間増 | 24時間増すごとに | 7,370 | 〃 K5411 |
E1270 | 恒温恒湿槽(中)サイクル | 24時間まで | 23,100 | 〃 K5415 |
E1280 | 恒温恒湿槽(中)サイクル 24時間増 | 24時間増すごとに | 8,360 | 〃 K5416 |
E1290 | 高温槽 | 24時間まで | 11,220 | 電子技術部 |
E1310 | 高温槽 24時間増 | 24時間増すごとに | 5,720 | 〃 |
E1320 | プレッシャークッカー試験 | 24時間まで | 18,150 | 〃 K5440 |
E1330 | プレッシャークッカー試験 24時間増 | 24時間増すごとに | 11,660 | 〃 K5441 |
E1350 | 冷熱衝撃試験(中) | 8時間まで | 9,680 | 〃 K1810 |
E1360 | 冷熱衝撃試験(中) 8時間増 | 8時間増すごとに | 5,060 | 〃 K1811 |
E1361 | ハイパワー恒温恒湿槽 (ARSF) | 24時間まで | 25,610 | 電子技術部 |
E1362 | ハイパワー恒温恒湿槽 (ARSF) 24時間増 | 24時間増すごとに | 13,750 | 〃 |
E1363 | 冷熱衝撃試験(中・TSA) | 8時間まで | 11,550 | 〃 |
E1364 | 冷熱衝撃試験(中・TSA) 8時間増 | 8時間増すごとに | 5,720 | 〃 |
E1365 | HAST試験 | 24時間まで | 18,920 | 〃 |
E1366 | HAST試験 24時間増 | 24時間増すごとに | 12,980 | 〃 |
E1370 | 恒温恒湿槽(大、150℃対応) | 24時間まで | 29,260 | 〃 |
E1375 | 恒温恒湿槽(大、150℃対応) 24時間増 | 24時間増すごとに | 16,060 | 〃 |
E1376 | 恒温恒湿槽 (低湿度対応) | 24時間まで | 24,750 | 〃 |
E1377 | 恒温恒湿槽 (低湿度対応) 24時間増 | 24時間増すごとに | 11,000 | 〃 |
E1380 | 冷熱衝撃試験(大) | 8時間まで | 12,870 | 〃 |
E1385 | 冷熱衝撃試験(大) 8時間増 | 8時間増すごとに | 6,600 | 〃 |
E1390 | 小型恒温恒湿槽(SH) | 24時間まで | 15,730 | 〃 |
E1391 | 小型恒温恒湿槽(SH) 24時間増 | 24時間増すごとに | 6,710 | 〃 |
E1392 | 小型恒温槽 (温度のみ) | 24時間まで | 12,540 | 〃 |
E1393 | 小型恒温槽 (温度のみ) 24時間増 | 24時間増すごとに | 5,060 | 〃 |
E1386 | パワーサイクル試験 | 8時間まで | 20,350 | 〃 |
E1387 | パワーサイクル試験 8時間増 | 8時間増すごとに | 9,900 | 〃 |
E1394 | 人工気象室(小型) | 1時間ごとに | 5,170 | 化学技術部 |
E1395 | 人工気象室(大型) | 1時間ごとに | 7,590 | 〃 |
E1396 | 日射装置 | 1時間ごとに(人工気象室(大型)の料金に加算) | 6,380 | 〃 |
E1397 | 促進耐候性試験(キセノン) | 標準条件(放射照度60W/㎡、BPT63℃、スプレー18分/120分)の場合 1試料50時間につき | 19,690 | 〃 |
E1398 | 試料取付費 | 1ホルダーにつき (E1397に適用) | 2,970 | 〃 |
E1399 | 試料抜取り費 | 1ホルダーにつき (E1397に適用) | 1,430 | 〃 |
E3520 | 耐光試験(カーボンアーク) | 1試料につき20時間 | 1,540 | 〃 |
(7)電磁波ノイズ試験
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E1410 | 放射妨害波測定 | 2時間まで | 37,400 | 電子技術部 |
E1420 | 放射妨害波測定 1時間増 | 1時間増すごとに | 14,410 | 〃 |
E1425 | 車載機器の放射・伝導妨害波測定 | 2時間まで | 37,400 | 〃 |
E1426 | 車載機器の放射・伝導妨害波測定 1時間増 | 1時間増すごとに | 14,410 | 〃 |
E1430 | 電源・通信ポート伝導妨害波測定 | 1時間まで | 22,990 | 〃 |
E1440 | 電源・通信ポート伝導妨害波測定 1時間増 | 1時間増すごとに | 14,410 | 〃 |
E1450 | 雑音電力測定 | 1時間まで | 23,100 | 〃 |
E1460 | 雑音電力測定 1時間増 | 1時間増すごとに | 14,410 | 〃 |
E1471 | 放射電磁界イミュニティ試験 | 2時間まで | 29,150 | 〃 |
E1481 | 放射電磁界イミュニティ試験 1時間増 | 1時間増すごとに | 11,110 | 〃 |
E1490 | 静電気放電イミュニティ試験 | 1時間まで | 11,440 | 〃 |
E1510 | 静電気放電イミュニティ試験 1時間増 | 1時間増すごとに | 6,710 | 〃 |
E1520 | 電気的ファーストトランジェント/バーストイミュニティ試験 | 1時間まで | 11,440 | 〃 |
E1530 | 電気的ファーストトランジェント/バーストイミュニティ試験 1時間増 | 1時間増すごとに | 6,710 | 〃 |
E1540 | 雷サージイミュニティ試験 | 1時間まで | 11,440 | 〃 |
E1550 | 雷サージイミュニティ試験 1時間増 | 1時間増すごとに | 6,710 | 〃 |
E1551 | 伝導電磁界イミュニティ試験 | 1時間まで | 17,930 | 〃 |
E1552 | 伝導電磁界イミュニティ試験 1時間増 | 1時間増すごとに | 10,890 | 〃 |
E1560 | インパルスノイズ試験 | 1時間まで | 11,440 | 〃 |
E1570 | インパルスノイズ試験 1時間増 | 1時間増すごとに | 6,710 | 〃 |
E1581 | 電磁波シールド効果測定 (100kHz~1GHz、KEC法) | 1試料1測定(電界または磁界)につき | 5,940 | 〃 |
E1600 | マイクロ波電磁波シールド効果測定(1GHz~8.5GHz、2焦点型扁平空洞) | 1試料1測定につき | 6,600 | 〃 |
E1605 | 電波透過特性測定(マイクロ波帯) | 1条件1測定につき | 14,850 | 〃 |
E1606 | 電波透過特性測定(マイクロ波帯) 1件増 | 1測定増すごとに | 6,820 | 〃 |
E1610 | 電波吸収率測定(簡易アンテナ法) | 1条件1測定につき | 12,540 | 〃 |
E1620 | 電波吸収率測定(簡易アンテナ法) 1件増 | 1測定増すごとに | 3,410 | 〃 |
E1630 | アンテナ指向性測定 | 2時間まで | 39,160 | 〃 |
E1640 | アンテナ指向性測定 1時間増 | 1時間増すごとに | 15,400 | 〃 |
E1650 | 三次元アンテナ指向性測定 | 2時間まで | 44,110 | 〃 |
E1660 | 三次元アンテナ指向性測定 1時間増 | 1時間増すごとに | 20,460 | 〃 |
(8)その他の試験(1)
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E1780 | 走査型プローブ顕微鏡観察 | 標準1条件1測定につき | 22,220 | 電子技術部 |
E1781 | 走査型プローブ顕微鏡観察 1視野追加 | 1視野追加につき | 10,340 | 〃 |
(9)無機定性・定量分析
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E1810 | 定量分析(A)(容易なもの) | 1試料,1成分につき(容易なもの) | 8,690 | 化学技術部 |
E1820 | 定量分析(B)(複雑なもの) | 1試料,1成分につき(複雑なもの) | 10,450 | 〃 |
E1821 | 炭素・硫黄分析装置による定量分析(A)(容易なもの) | 1試料,1成分につき(容易なもの) | 7,810 | 〃 |
E1822 | 炭素・硫黄分析装置による定量分析(B)(複雑なもの) | 1試料,1成分につき(複雑なもの) | 11,550 | 〃 |
E1831 | 原子吸光分析法による定量分析(A)(容易なもの) | 1試料,1成分につき(容易なもの) | 7,920 | 〃 |
E1832 | 原子吸光分析法による定量分析(B)(複雑なもの) | 1試料,1成分につき(複雑なもの) | 11,770 | 〃 |
E1841 | 蛍光X線法による微小部定性分析 | 1試料,1ヶ所につき | 8,690 | 〃 |
E1842 | 蛍光X線法による微小部定性分析 1条件増 | 1条件増すごとに | 3,190 | 〃 |
E1860 | 蛍光X線定性分析(波長分散方式) | 1試料につき | 19,250 | 〃 |
E1891 | ICP発光分光分析法による定量分析(A)(容易なもの) | 1試料,1成分につき(容易なもの) | 7,700 | 〃 |
E1892 | ICP発光分光分析法による定量分析(B)(複雑なもの) | 1試料,1成分につき(複雑なもの) | 11,440 | 〃 |
E1911 | ICP発光分光分析法による定性分析 | 1試料につき,基本10元素まで | 17,820 | 〃 |
E1921 | ICP発光分光分析法による定性分析 1元素増 | 1試料につき,1元素増すごとに | 1,760 | 〃 |
E1930 | カールフィッシャー水分測定(直接法) | 1条件,1試料につき | 11,110 | 〃 |
E1931 | カールフィッシャー水分測定(直接法) 1試料増 | 1試料増すごとに | 6,490 | 〃 |
E1932 | カールフィッシャー水分測定(加熱気化法) | 1条件,1試料につき | 13,970 | 〃 |
E1933 | カールフィッシャー水分測定(加熱気化法) 1試料増 | 1試料増すごとに | 9,350 | 〃 |
E1940 | 試料調製(1)(切粉作製等簡易な前処理) |
E1810,E1820,E1821,E1822,E1831,E1832, |
1,760 | 〃 |
E1950 | 試料調製(2)(難分解性試料等複雑な前処理) |
E1810,E1820,E1831,E1832,E1860,E1891, |
8,910 | 〃 |
E1960 | 試料調製(3)(極微量物質の分離濃縮等困難な前処理) |
E1810,E1820,E1831,E1832,E1891,E1892,E1911, |
14,850 | 〃 |
E1970 | 試料調製(4)(抽出、濃縮等標準的な前処理) | E1810,E1820,E1831,E1832,E1891,E1892,E1841, E1860,E1911,E2211,E2212,E2220,E2230,E2260, E2281,E2282,E2290,E2294,E2295,E2310,E2320, E2330,E2340,E4010,E4020に適用 |
4,730 | 〃 |
(10)表面分析
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E1882 | X線光電子分光分析 (簡単なもの) | 1試料1ヶ所につき | 17,600 | 機械・材料技術部 |
E1884 | X線光電子分光分析 (簡単なもの) 条件増 | 1条件増すごとに | 8,030 | 〃 |
E1980 | 微小部X線光電子分光分析 (ワイドスキャンのみ) | 1試料1ヶ所につき | 13,750 | 〃 |
E1982 | 微小部X線光電子分光分析(ワイドおよびナロースキャン) | 1試料1ヶ所につき(6元素まで) | 20,350 | 〃 |
E1984 | 微小部X線光電子分光分析(面分析,線分析) | 1試料1ヶ所につき(5元素まで) | 21,230 | 〃 |
E1986 | 微小部X線光電子分光分析(深さ方向分析) | 1試料1ヶ所につき(6元素まで) | 32,120 | 〃 |
E1990 | 微小部X線光電子分光分析 条件増 | 1条件増すごとに | 4,950 | 〃 |
E1992 | 微小部X線光電子分光分析 元素増(1) | 1元素増すごとに(E1982,E1984に適用) | 4,180 | 〃 |
E1994 | 微小部X線光電子分光分析 元素増(2) | 1元素増すごとに(E1986に適用) | 6,380 | 〃 |
E2541 | 電子線マイクロアナライザ観測 | 1試料につき | 27,830 | 〃 |
E2542 | 写真撮影 (二次電子像、反射電子像) | 1試料につき | 23,650 | 〃 |
E2543 | 写真撮影 (二次電子像、反射電子像) 1ヶ所増 | 同一試料で1ヶ所増すごとに | 5,500 | 〃 |
E2550 | 電子線マイクロアナライザ観測 追加分析 | 同一箇所での測定につき(E2541に適用) | 8,580 | 〃 |
E2551 | 電子線マイクロアナライザ観測 1成分増 | 1成分増すごとに | 2,860 | 〃 |
E2560 | 電子線マイクロアナライザ観測 試料調整 | 1試料につき | 61,160 | 〃 |
(11)分光分析
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E2010 | 紫外・可視分光光度計試験分析 | 1スペクトルにつき | 7,920 | 機械・材料技術部 |
E2021 | フーリエ変換赤外分光分析 | 1スペクトルにつき | 19,030 | 機械・材料技術部 化学技術部 K5055 |
E2023 | フーリエ変換赤外分光分析用微小試料調製 | 1試料につき | 2,970 | 機械・材料技術部 化学技術部 |
E2080 | 顕微レーザーラマン分光分析 | 1試料1ヶ所につき | 56,540 | 〃 |
E2090 | 顕微レーザーラマン分光分析 1条件増 | 1条件増すごとに | 29,150 | 〃 |
E2091 | 顕微レーザーラマン分光分析 (簡単なもの) | 1試料1ヶ所につき | 19,470 | 〃 |
E2110 | 分光蛍光光度計試験 | 1スペクトルにつき | 8,910 | 化学技術部 |
(12)クロマトグラフ分析
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E2211 | イオンクロマトグラフ分析(1)(一般的なもの) | 1測定につき | 16,280 | 化学技術部 |
E2212 | イオンクロマトグラフ分析(2)(特殊なもの) | 1測定につき | 21,120 | 〃 |
E2220 | ガスクロマトグラフ定性分析 | 1試料1成分につき | 7,150 | 〃 |
E2230 | ガスクロマトグラフ定量分析 | 1試料1成分につき | 6,160 | 〃 |
E2240 | ガスクロマトグラフ定量分析 1成分増 | 1成分増すごとに | 3,520 | 〃 |
E2250 | ガスクロマトグラフ(前処理を必要とする試料) | 1試料1成分につき | 11,550 | 〃 |
E2260 | ガスクロマトグラフ(ヘッドスペースサンプラ分析) | 1試料1成分につき | 13,310 | 〃 |
E2270 | ガスクロマトグラフ(ヘッドスペースサンプラ分析) 1成分増 | 1成分増すごとに | 5,170 | 〃 |
E2281 | 高速液体クロマトグラフ分析(分析条件検討を含まない) | 1試料1成分につき | 10,780 | 〃 |
E2282 | 高速液体クロマトグラフ分析(簡単な分析条件を含む) | 1試料1成分につき | 27,390 | 〃 |
E2290 | 液体クロマトグラフ-質量分析 (飛行時間型)(分析条件検討を含まない) | 1試料1成分につき | 41,360 | 〃 |
E2291 | 液体クロマトグラフ-質量分析 (飛行時間型)(簡単な分析条件の検討) | 1試料につき(E2290に適用) | 21,780 | 〃 |
E2292 | 液体クロマトグラフ-質量分析 (飛行時間型)定性分析1成分増 | 1成分増すごとに | 3,850 | 〃 |
E2294 | 液体クロマトグラフ-質量分析 (四重極型)(分析条件検討を含む) | 1試料1成分につき | 34,760 | 〃 |
E2295 | 液体クロマトグラフ-質量分析 (四重極型)(分析条件検討を含まない) | 1試料1成分につき | 17,930 | 〃 |
E2030 | 試料調製(5)分取用 液体クロマトグラフ使用 | 1試料1成分につき | 28,050 | 〃 |
E2040 | 試料調製(6)分取用 液体クロマトグラフ使用 1成分増 | 同試料1成分増すごとに | 3,520 | 〃 |
E2310 | ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS) | 1試料1成分につき | 39,380 | 〃 |
E2311 | ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS) 定性分析 1成分増 | 1成分増すごとに | 5,060 | 〃 |
E2312 | ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS) 定量分析 1成分増 | 1成分増すごとに | 5,940 | 〃 |
E2320 | パージアンドトラップGCMS分析 | 1試料1成分につき | 53,240 | 〃 |
E2321 | パージアンドトラップGCMS分析 定性分析 1成分増 | 1成分増すごとに | 5,060 | 〃 |
E2322 | パージアンドトラップGCMS分析 定量分析 1成分増 | 1成分増すごとに | 5,940 | 〃 |
E2330 | ヘッドスペースGCMS分析 | 1試料1成分につき | 50,820 | 〃 |
E2331 | ヘッドスペースGCMS分析 定性分析 1成分増 | 1成分増すごとに | 5,060 | 〃 |
E2332 | ヘッドスペースGCMS分析 定量分析 1成分増 | 1成分増すごとに | 5,940 | 〃 |
E2340 | サーマルデソープションGCMS分析 | 1試料1成分につき | 54,670 | 〃 |
E2341 | サーマルデソープションGCMS分析 定性分析 1成分増 | 1成分増すごとに | 5,060 | 〃 |
E2342 | サーマルデソープションGCMS分析 定量分析 1成分増 | 1成分増すごとに | 5,940 | 〃 |
E2350 | 化学イオン化(CI)法によるGCMS分析 | 1試料につき (E2310,E2320,E2330,E2340に適用) |
11,440 | 〃 |
E2360 | 熱分解GCMS分析 | 1試料1成分につき | 54,340 | 〃 |
E2361 | 熱分解GCMS分析 定性分析 1成分増 | 1成分増すごとに | 5,060 | 〃 |
(13)熱分折
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E2410 | 示差熱熱重量分析 室温~ 600℃ | 1測定につき | 11,550 | 化学技術部 |
E2420 | 示差熱熱重量分析 室温~1000℃ | 1測定につき | 16,830 | 〃 |
E2430 | 示差走査熱量分析 | 1測定につき | 14,850 | 〃 |
E2431 | 熱機械分析 | 1測定につき | 14,850 | 〃 |
E2441 | 高圧示差熱・熱重量測定 | 1測定につき | 22,550 | 〃 |
E2442 | 発火温度測定(HP-TG法) | 1測定につき | 19,690 | 〃 |
E2450 | 複合熱分析 | 1測定につき | 68,310 | 〃 |
E2460 | 高圧示差走査熱量測定 | 1測定につき | 22,110 | 〃 |
(14)X線回析
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E2510 | X線回折試験 (I) 粉末X線回折 | 1試料につき | 22,770 | 電子技術部 化学技術部 |
E2520 | X線回折試験 (II) 高度な粉末X線回折・薄膜X線回折 | 1試料につき | 34,210 | 〃 |
E2530 | X線回折試験 (III) 高度な薄膜X線回折 | 1試料につき | 52,910 | 〃 |
E2540 | X線回折試験 (IV) 特殊なX線回折 | 1試料につき(広範囲な逆格子マッピングなど) | 85,200 | 〃 |
(15)有機物分析
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E2610 | CHN元素分析装置による定量分析 | 1試料につき | 16,390 | 化学技術部 |
E2631 | 飛行時間型質量分析 | 1試料1測定につき | 28,820 | 〃 |
E2641 | 核磁気共鳴(NMR)分析 (プロトンのみ) |
1試料,1Hの一次元スペクトルにつき | 13,310 | 機械・材料技術部 |
E2642 | 核磁気共鳴(NMR)分析 (基本測定) |
1試料,1Hおよび13Cの一次元スペクトルにつき | 21,120 | 〃 |
E2643 | 核磁気共鳴(NMR)分析(多核など特殊測定) | 1試料,1条件につき | 32,010 | 〃 |
E2644 | 核磁気共鳴(NMR)分析(二次元測定) | 1試料,1Hおよび13Cの一次元スペクトル並びに相関スペクトル(DQF-COSY, HMQC, HMBC)につき | 46,640 | 〃 |
E2651 | 電子スピン共鳴分析(A)(基本測定) | 1試料1スペクトルにつき | 21,560 | 〃 |
E2652 | 電子スピン共鳴分析(B)(特殊測定・定量) | 1試料1スペクトルにつき | 37,620 | 〃 |
(16)合成樹脂(プラスチック)
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E2720 | 比重試験(水中置換法)(室温) | 1試料につき | 7,260 | 化学技術部 |
E2730 | 吸水試験(室温) | 1試料につき | 6,490 | 〃 |
E2750 | 動的粘弾性測定(開始温度40℃以上かつ1走査1時間未満) | 1走査(温度変化または振動数変化)につき | 18,260 | 〃 |
E2760 | 動的粘弾性測定(開始温度-50℃以上または1走査1時間超) | 1走査(温度変化または振動数変化)につき | 29,370 | 〃 |
E2770 | 動的粘弾性測定(液体窒素使用) | 1走査(温度変化または振動数変化)につき | 41,800 | 〃 |
E2771 | ペルチェシステム使用(10~150℃) | E2750, E2760に適用 | 5,940 | 〃 |
E2772 | 試料調整(取り付け困難なもの) | E2750, E2760, E2770に適用 | 2,640 | 〃 |
E2773 | 測定前温度調整 | 1試料につき1時間毎 (E2750,E2760,E2770に適用) |
2,970 | 〃 |
E2820 | 変形量測定(伸び計を使用しない場合) | 1試料につき | 2,090 | 〃 |
E2830 | 変形量測定(伸び計を使用する場合) | 1試料につき | 5,390 | 〃 |
E2840 | 引張試験(5kN以下)(室温) | 1試料につき | 6,600 | 〃 |
E2860 | 曲げ試験(5kN以下)(室温) | 1試料につき | 6,600 | 〃 |
E2870 | 圧縮試験(5kN以下)(室温) | 1試料につき | 6,600 | 〃 |
E2880 | 衝撃試験(アイゾット・シャルピー)(室温) | 1試料につき | 5,830 | 〃 |
E2920 | 硬さ試験(ロックウェル・デュロメータ)(室温) | 1試料につき | 3,190 | 〃 |
E2930 | 熱伝導率測定(プローブ法)(室温) | 1試料につき | 9,460 | 〃 |
(17)塗料・塗膜試験
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E3010 | 塗膜物性試験 | 1試料につき | 1,650 | 化学技術部 |
E3030 | 光沢度測定 | 1試料につき | 3,080 | 〃 |
E3040 | 色彩測定 | 1試料につき | 3,080 | 〃 |
E3050 | 浸せき試験 | 室温で実施の場合 1試料24時間まで | 4,180 | 〃 |
E3051 | 浸せき試験 24時間増 | 24時間増すごとに | 660 | 〃 |
E3060 | 塩水噴霧試験 | 1試料24時間まで | 2,200 | 〃 |
E3070 | 耐沸騰水性試験 | 1試料8時間につき | 2,310 | 〃 |
E3080 | 耐熱性試験 | 1試料500℃まで8時間につき | 1,980 | 〃 |
E3090 | 外観撮影 | 1枚につき | 440 | 〃 |
(18)電気化学試験
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E3211 | 金属・合金の電極電位測定(1) | 1試料につき4時間まで | 13,420 | 化学技術部 |
E3212 | 金属・合金の電極電位測定(2) 1時間増 | 1時間増すごとに | 220 | 〃 |
E3221 | 金属・合金の腐食減量測定(1) | 1試料につき24時間まで | 12,430 | 〃 |
E3222 | 金属・合金の腐食減量測定(2) 24時間増 | 24時間増すごとに | 3,520 | 〃 |
E3223 | 異種金属接触腐食電流測定(1) | 1試料につき4時間まで | 13,420 | 〃 |
E3224 | 異種金属接触腐食電流測定(2) 1時間増 | 1時間増すごとに | 220 | 〃 |
E3241 | 燃料電池の発電試験 | 1時間当たり | 7,260 | 〃 |
E3242 | ガス透過率測定 | 1試料につき(1時間当たり) | 5,720 | 〃 |
E3251 | 高露点測定(1) | 24時間まで(1時間当たり) | 3,850 | 〃 |
E3252 | 高露点測定(2) 24時間増 | 24時間増すごとに | 25,080 | 〃 |
E3253 | 燃料電池スタック試験(1) | 24時間まで(8時間当たり) | 4,180 | 〃 |
E3254 | 燃料電池スタック試験(2) 24時間増 | 24時間増すごとに | 6,710 | 〃 |
E3255 | スプレー塗工試験 | 1時間当たり | 4,400 | 〃 |
E3261 | 電池充放電試験(1) | 1試料につき6時間まで | 22,220 | 〃 |
E3262 | 電池充放電試験(2) 6時間増 | 6時間増すごとに | 10,560 | 〃 |
E3263 | 電極の熱ロールプレス処理 | 1試料1時間につき | 3,740 | 〃 |
E3265 | 大型電池充放電試験(2kW以下)(1) | 1試料につき6時間まで | 8,580 | 〃 |
E3266 | 大型電池充放電試験(2kW以下)(2) 6時間増 | 6時間増すごとに | 5,830 | 〃 |
E3270 | 金属の分極測定 | 1試料につき | 17,820 | 〃 |
E3280 | 試料調製(1)(比較的容易) | E3211,E3212,E3221,E3222,E3223,E3224,E3261,E3262,E3270に適用 | 2,970 | 〃 |
E3290 | 試料調製(2)(比較的複雑) | E3211,E3212,E3221,E3222,E3223,E3224,E3261,E3262,E3270に適用 | 5,940 | 〃 |
E3295 | 電極の研磨 | 1試料につき | 1,430 | 〃 |
E3290 | 腐食液・電解液作製 | 1試料につき | 1,430 | 〃 |
(19)その他の試験(2)
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E3310 | 超臨界炭酸ガス抽出 | 1試料につき | 13,200 | 化学技術部 |
E3311 | 超臨界水反応装置試験 | 1試料につき | 39,160 | 〃 |
E3320 | 高速冷却遠心分離 | 1試料につき | 4,620 | 〃 |
(20)繊維関連試験
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E3450 | 繊維熱物性試験 | 1試料1測定につき | 4,950 | 化学技術部 |
E3460 | 重量測定 | 1試料につき | 550 | 〃 |
E3620 | 編織物厚さ測定 | 1試料につき | 2,090 | 〃 |
E3650 | 編織物通気度試験 | 1試料につき | 2,530 | 〃 |
E3661 | 編織物強伸度測定 | 1試料1方向につき | 2,860 | 〃 |
E3710 | 剛軟度試験 | 1試料1方向につき | 1,100 | 〃 |
E3730 | はっ水度試験 | 1試料につき | 2,420 | 〃 |
E3770 | 赤外線放射温度計による表面温度測定 | 1試料1測定につき | 20,570 | 〃 |
E3820 | 糸強伸度測定(容易なもの) | 1試料につき | 1,100 | 〃 |
E3930 | 赤外線放射計による放射率測定 | 1試料1測定につき | 40,480 | 〃 |
(21)水・廃棄物・廃ガス
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E4010 | 水質試験(A)(容易なもの) | 1項目につき(容易なもの) | 5,830 | 化学技術部 |
E4020 | 水質試験(B)(複雑なもの) | 1項目につき(複雑なもの) | 9,680 | 〃 |
E4030 | 溶出検液作成(A) (6成分以下) | 1試料につき (6成分以下) | 4,070 | 〃 |
E4040 | 溶出検液作成(B)(7成分以上) | 1試料につき(7成分以上) | 7,370 | 〃 |
(22)その他の試験(3)
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E4150 | 接触角測定試験 | 1試料につき | 2,200 | 機械・材料技術部 |
E4160 | ゼータ電位測定(A)(微粒子分散溶液) | 1試料につき | 10,120 | 〃 |
E4170 | ゼータ電位測定(B)(平板形状試料) | 1試料につき | 12,320 | 〃 |
E4180 | 粒径分布測定(動的光散乱法) | 1試料につき | 8,800 | 〃 |
E4181 | 粒径分布測定(光顕微鏡による画像解析式) | 1試料、合成画像1視野につき | 4,400 | 〃 |
E4182 | 粒径分布測定(光顕微鏡による画像解析式) 1視野追加 | 合成画像1視野追加につき | 2,200 | 〃 |
E4190 | 比表面積測定(窒素ガス吸着法)(1)(容易なもの) | 1試料につき | 20,900 | 〃 |
E4191 | 比表面積測定(窒素ガス吸着法)(2)(複雑なもの) | 1試料につき | 34,980 | 〃 |
E4192 | 細孔分布解析 | 1試料につき | 3,300 | 〃 |
(23)木質材料・製品
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E4210 | 圧縮試験 | 1試料につき | 2,640 | 情報・生産技術部 |
E4220 | 引張試験 | 1試料につき | 2,970 | 〃 |
E4240 | 曲げ試験(50kN以下) | 1試料につき | 2,310 | 〃 |
E4241 | 曲げ試験(50kN以下) (曲げ強さ及び曲げヤング係数の算出を必要とするもの) |
1試料につき | 3,410 | 〃 |
E4250 | 摩耗試験 | 1試料につき | 3,960 | 〃 |
E4260 | 局所構造試験 | 1試料1測定につき | 2,750 | 〃 |
E4270 | 密度測定 | 1試料につき | 1,430 | 〃 |
E4280 | 含水率測定 | 1試料につき | 5,720 | 〃 |
E4281 | 含水率測定 1増 | 一緒の工程で1試料増すごとに | 2,200 | 〃 |
E4310 | いす繰返し衝撃試験(1) | 1試料1条件につき(4,000回まで) | 8,250 | 〃 |
E4320 | いす繰返し衝撃試験(2) 4,000回増 | 同一試料に連続し4,000回増すごとに | 4,730 | 〃 |
E4350 | いす繰返し耐久性試験(1) | 1試料1条件につき(5,000回まで) | 9,130 | 〃 |
E4360 | いす繰返し耐久性試験(2) 5,000回増 | 同一試料に連続し5,000回増すごとに | 4,730 | 〃 |
E4370 | 垂直過重下の強度試験 | 1試料1条件につき | 3,410 | 〃 |
E4380 | 背もたれの静的強度試験 | 1試料1条件につき | 3,410 | 〃 |
E4390 | 脚部の静的強度試験 | 1試料1条件につき | 3,410 | 〃 |
E4480 | 煮沸繰返し試験 | 1試料につき | 2,420 | 〃 |
E4490 | 温冷水浸せき試験 | 1試料につき | 1,540 | 〃 |
E4510 | 試料調整(1) (鋸盤鉋盤などによる試験片作製) |
1試料につき | 1,540 | 〃 |
E4520 | 試料調整(2) (接着 調湿等の前処理を伴うもの) |
1試料につき | 2,310 | 〃 |
E4540 | デジタルマイクロスコープ写真 | 1試料1ヶ所につき(写真1枚につき) | 330 | 〃 |
(24)FL-net(OPCN-2)ネットワーク認証試験
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E4820 | 適合性試験 | 1試料6時間まで | 46,640 | 情報・生産技術部 |
E4821 | 相互接続性試験 | 1試料2時間まで | 31,130 | 〃 |
(25)CC-Link適合性評価試験
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E4910 | ノイズ試験 | 1試料8時間まで | 28,710 | 情報・生産技術部 |
E4920 | ハードウェア試験 | 1試料4時間まで | 14,300 | 〃 |
E4930 | ソフトウェア試験 | 1試料10時間まで | 35,860 | 〃 |
E4940 | 組み合わせ試験 | 1試料6時間まで | 21,560 | 〃 |
E4950 | インタオぺラビリティ試験 | 1試料5時間まで | 17,930 | 〃 |
E4960 | エージング試験 | 1試料12時間まで | 13,310 | 〃 |
(26)振動騒音関係
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E4974 | 時間波形分析(振動) | 1分析につき | 3,080 | 機械・材料技術部 |
E4975 | 周波数分析(振動) | 1分析につき | 4,730 | 〃 |
E4976 | 振動試験 | 1時間当たり | 7,920 | 〃 |
E4977 | 損失係数測定(A) | 1試料1測定温度につき | 11,660 | 〃 |
E4978 | 損失係数測定(B) 1測定温度増 | 1測定温度増すごとに | 1,210 | 〃 |
E4979 | 振動試験(大型の試験機によるもの) | 1時間当たり | 9,020 | 〃 |
E4980 | 騒音測定 | 1測定につき | 2,310 | 〃 |
E4981 | オクターブ分析 | 1分析につき | 3,190 | 〃 |
E4982 | 時間波形分析(音) | 1分析につき | 3,080 | 〃 |
E4983 | 周波数分析(音) | 1分析につき | 4,620 | 〃 |
E4984 | 音響パワーレベル測定 | 1測定につき | 9,350 | 〃 |
E4985 | 音圧分布測定 | 1測定面につき | 14,850 | 〃 |
E4986 | 音質評価解析 | 1測定につき | 5,280 | 〃 |
E4987 | 吸音率測定 | 1測定につき | 3,960 | 〃 |
(27)機械設計・解析・造形
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E4990 | 機械設計・解析 | 1時間当たり | 5,170 | 情報・生産技術部 |
E4994 | 構造解析 | 1時間当たり | 8,360 | 機械・材料技術部 |
E4995 | 高速度カメラ撮影 | 1時間当たり | 5,390 | 情報・生産技術部 |
E4996 | 高速度カメラ撮影(アナログ波形データ収集装置併用) | 1時間当たり | 5,940 | 〃 |
E4993 | 三次元モデリング(簡易なもの) | 1時間当たり | 4,400 | 〃 |
E4997 | 三次元造形前処理 | 1時間当たり | 2,970 | 〃 |
E4991 | 三次元造形(小型インクジェット式3Dプリンター) | 1時間当たり | 660 | 〃 |
E4998 | 三次元造形(インクジェット式3Dプリンター) | 1時間当たり | 2,750 | 〃 |
E5000 | 三次元造形(光造形式3Dプリンター) | 1時間当たり | 1,430 | 〃 |
E4999 | 三次元造形後処理 | 1時間当たり | 3,300 | 〃 |
(28)微生物・生化学・食品試験
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E5010 | 一般細菌数試験 | 1試料につき | 3,850 | 化学技術部 |
E5020 | 大腸菌数試験 | 1試料につき | 3,960 | 〃 |
E5030 | 嫌気性菌数試験 | 1試料につき | 5,060 | 〃 |
E5040 | 抗酸化性測定(1) | 1試料につき | 3,300 | 〃 |
E5041 | 抗酸化性測定(2)(ORAC法による) | 1試料につき | 10,890 | 〃 |
E5060 | 酵素阻害活性測定(1)(複雑なもの) | 1試料につき | 6,490 | 〃 |
E5061 | 酵素阻害活性測定(2)(容易なもの) | 1試料につき | 4,730 | 〃 |
E5062 | 抗糖化性測定(1)(複雑なもの) | 1試料につき | 6,160 | 〃 |
E5063 | 抗糖化性測定(2)(容易なもの) | 1試料につき | 4,730 | 〃 |
E5090 | 水分定量(常圧乾燥法による) | 1試料につき | 4,180 | 〃 |
E5091 | 遊離アミノ酸組成分析 | 1試料につき | 36,520 | 〃 |
E5100 | タンパク質定量(Bradford法、Lowry法、BCA法による) | 1試料につき | 3,850 | 〃 |
E5110 | 脂質定量(ソックスレー抽出法による) | 1試料につき | 4,840 | 〃 |
E5120 | 灰分定量(直接灰化法による) | 1試料につき | 4,840 | 〃 |
E5130 | 総ポリフェノール定量(Folin-Ciocalteu法による) | 1試料につき | 3,960 | 〃 |
E5140 | 炭水化物定量(フェノール-硫酸法による) | 1試料につき | 9,570 | 〃 |
E5150 | リグニン定量(硫酸法による) | 1試料につき | 8,470 | 〃 |
E5160 | サフラン試験 | 1試料につき | 26,510 | 〃 |
E5170 | 凍結乾燥(24時間まで) | 24時間まで | 5,500 | 〃 |
E5171 | 凍結乾燥(24時間増すごとに) | 24時間増すごとに | 2,530 | 〃 |
E5180 | 試料調製(1) (簡易なもの) | E5010~E5171に適用 | 1,540 | 〃 |
E5181 | 試料調製(2) (基本的なもの) | E5010~E5171に適用 | 3,300 | 〃 |
E5182 | 試料調製(3) (複雑なもの) | E5010~E5171に適用 | 6,380 | 〃 |
E5183 | 試料調製(4) (困難なもの) | E5010~E5171に適用 | 9,900 | 〃 |
(29)デザイン・企画
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 担当部名 |
E5280 | デザイン・企画 | 1時間につき | 3,080 | 情報・生産技術部 |
(30)研究生の指導
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 備 考 |
E5310 | 研究生の指導 | 1人1日につき | 1,100 | |
E5320 | 研究生の指導 1人増 | 研究生1人増すごとに | 550 |
(31)成績書の複本の交付
№ | 項 目 | 単 位 | 料金(円) | 備 考 |
E5350 | 成績書の複本・データ等の交付 | 1通につき(写真を含む場合は別に加算することができる) | 300 |
↓ 機器使用料金(PDFはこちらから)
※金額は1時間当たりの額
※料金は消費税を含んでいます。
(1)材料試験機 | (2)金属加工 | (3)電子関連装置 | (4)分析・評価機器 |
(5)環境試験装置 | (6)木工加工 | (7)形状測定機器 | (8)測定計測装置 |
(9)温度熱量測定装置 | (10)その他の機器 | (11)設備 | (12)ファブラボ |
(1)材料試験機
№ | 設 備 機 器 名 | メーカー・型式 | 料金(円) | 担当部名 |
E6050 | 材料試験機(5kN) | インストロンジャパン 5565型 | 1,210 | 化学技術部 |
E6080 | 万能材料試験機 | オリエンテック UTA-5T | 990 | 情報・生産技術部 |
(2)金属加工
№ | 設 備 機 器 名 | メーカー・型式 | 料金(円) | 担当部名 |
E6210 | コンターマシン | アマダ VA-500 | 330 | 機械・材料技術部 |
E6230 | 平面研削盤 | 岡本 PSG-52DX | 1,540 | 〃 |
E6240 | ボール盤 | ヤマモト YSDT-550 | 110 | 〃 |
E6270 | 切断機 | Hストルアス社 ディスコトム | 1,320 | 〃 |
E6290 | 超精密正面切削装置 | 東芝機械 ULC-100A(H) | 6,820 | 情報・生産技術部 |
E6310 | 帯鋸盤 | アマダ HA300 | 880 | 機械・材料技術部 |
E6340 | 旋盤 | 昌運 ST-5 | 1,100 | 〃 |
E6350 | CNC旋盤 | オークマ LS-30N | 5,170 | 情報・生産技術部 |
E6360 | 旋盤 | シャブリン SV-150A | 1,980 | 機械・材料技術部 |
E6370 | フライス盤 | デッケル FP1 | 2,310 | 〃 |
E6380 | 立形マシニングセンター | 牧野フライス製作所 V33 | 3,080 | 情報・生産技術部 |
(3)電子関連装置
№ | 設 備 機 器 名 | メーカー・型式 | 料金(円) | 担当部名 |
E6620 | 電極形成装置の本体システム | KHエレクトロニクス 特別仕様 | 18,370 | 電子技術部 |
E6650 | 定エネルギー分光器 | 日本分光 YQ-250CW-GT | 11,990 | 〃 |
E6660 | ボロメータ評価システム用高温電気測定用チャンバ | テクノロ工業 特別仕様 | 4,510 | 〃 |
E6670 | ボロメータ評価システム用光源システム | 日本分光 SS-25GT | 12,100 | 〃 |
E6680 | 陽極接合装置 | アユミ工業 AB-40特注品 | 12,430 | 〃 |
E6690 | マスクアライナ | ミカサ MA-20 | 7,590 | 〃 |
E6730 | 研磨機 | ムサシノ電子 MA-200 | 2,640 | 〃 |
E6740 | 酸化拡散装置 | KHエレクトロニクス 特別仕様 | 18,920 | 〃 |
E6760 | 高温小型真空雰囲気炉 | ナガノ NEWTONIAN PASCAL40 | 6,600 | 〃 |
E6770 | 超音波ボールボンダ | ウエストボンド 7700A | 7,040 | 〃 |
E6780 | ボンディング装置 | 日本アビオニクス NA-90 | 2,200 | 〃 |
E6790 | チップ付け装置 | ウェストボンド 7200A | 2,530 | 〃 |
E6810 | 超音波ウェッジボンダ | ウェストボンド 7400A | 5,500 | 〃 |
E6840 | ダイシング装置 | ディスコ DAD-2H/6T | 13,090 | 〃 |
E6880 | アッシャー装置 | 東京応化工業 OPM-EM600 | 12,540 | 〃 |
E6950 | 光干渉式膜厚測定装置 | 大日本スクリーン VM-8000J | 2,970 | 〃 |
E6960 | 超深度形状測定顕微鏡(レーザー顕微鏡) | キーエンス VK8500 | 1,980 | 〃 |
E6965 | ハイブリッドレーザー顕微鏡 データ解析 | レーザーテック OPTELICS HYBRID | 990 | 〃 |
E6980 | 焼き付け装置 | デルタデザイン(米国)9023型 | 880 | 〃 |
(4)分析・評価機器
№ | 設 備 機 器 名 | メーカー・型式 | 料金(円) | 担当部名 |
E7020 | 金属顕微鏡 | ニコン X2-T1-NR | 550 | 機械・材料技術部 |
E7151 | デジタルマイクロスコープシステム | スカラ DG-3 | 110 | 情報・生産技術部 |
E7160 | 顕微鏡 | オリンパス CKX41N-31PHP | 330 | 化学技術部 |
E7170 | 分光蛍光光度計 | 日立 F-4010 | 4,400 | 〃 |
E7230 | マイクロフォーカスX線テレビ装置 | 島津製作所 SMX-160ET | 4,290 | 機械・材料技術部 |
E7240 | X線CTスキャン装置 | ユニハイトシステム XVA-160 Noix+Presto | 12,100 | 〃 |
E7280 | 透明プラスチック残留応力観察装置 | 理光研 ポラリスコープPS-5 | 1,540 | 化学技術部 |
(5)環境試験装置
№ | 設 備 機 器 名 | メーカー・型式 | 料金(円) | 担当部名 |
E7310 | 人工気象室 | タバイエスぺック TBL-9W4YPX | 22,990 | 化学技術部 |
E7360 | 断熱反応装置 | コロンビアサイエンティフィック ARC | 8,360 | 〃 |
E7370 | 熱流束型熱量計 | セタラム C-80 | 19,030 | 〃 |
E7470 | 簡易半無響室 | 小野測器 | 1,540 | 機械・材料技術部 |
(6)木工加工
№ | 設 備 機 器 名 | メーカー・型式 | 料金(円) | 担当部名 |
E7720 | ツールチェンジNC加工機 | 平安コーポレーション NC-151MC-1508 | 1,980 | 情報・生産技術部 |
E7730 | ルータ | 平安鉄工 NC-131P-1008 | 660 | 〃 |
E7740 | 油圧プレス | 小林機械工業 KU-CPP3366 | 110 | 〃 |
E7750 | 油圧プレス(ホットプレス) | セイブ HP-2 | 220 | 〃 |
E7760 | マイクロ波加熱装置 | 新日本無線 NTA-2010 | 220 | 〃 |
(7)形状測定機器
№ | 設 備 機 器 名 | メーカー・型式 | 料金(円) | 担当部名 |
E7810 | 万能測定顕微鏡 | カールツァイス UMM300/100 | 2,200 | 情報・生産技術部 |
E7820 | 精密表面形状測定装置 | 東京精密 サーフコム700B サーフライザ2000A |
1,540 | 〃 |
(8)測定計測装置
№ | 設 備 機 器 名 | メーカー・型式 | 料金(円) | 担当部名 |
E7980 | 精密変位測定装置 | キーエンス LD-2500/LD-2510 | 550 | 情報・生産技術部 |
E8010 | 薄膜屈折率測定装置 | 溝尻光学 DHA-XA型 | 8,800 | 電子技術部 |
E8020 | 位相差測定装置 | ニコン NPDM-1000 | 7,920 | 〃 |
E8040 | C-V測定装置 | YHP 4280A | 5,830 | 〃 |
E8090 | ボロメータ測定システム微小信号測定システム | セイコー 5302 | 4,950 | 〃 |
E8150 | 膜厚計 | 小坂研究所 ET4000AKR | 2,860 | 〃 |
E8190 | マルチフリケンシャルLCRメータ | YHP YHP4274A/YHP4275A | 2,860 | 〃 |
E8200 | 絶縁抵抗計 | キーサイト・テクノロジー 4339B | 3,080 | 〃 |
E8220 | Qメータ | YHP YHP4285A | 2,970 | 〃 |
E8250 | 分光測色計 | ミノルタカメラ CM-1000 | 440 | 化学技術部 |
E8251 | 光沢計 | 日本電色工業 VGS-300A | 220 | 〃 |
E8260 | 音響インテンシティ測定装置 | 小野測器 CF6400INT/MOD | 10,120 | 機械・材料技術部 |
E8261 | 音質評価システム | 小野測器 WS-5160 | 660 | 〃 |
E8262 | 吸音率測定システム | 小野測器 SR-4100 | 990 | 〃 |
E8270 | 伝導イミュニティ測定システム | ノイズ研究所 ESS-B3011 | 3,630 | 電子技術部 |
E8370 | EMI予備測定システム | HP EMI簡易測定システム | 3,520 | 〃 |
E8430 | ガウスメータ(最小測定レンジ:2mT、最大測定レンジ:2T) | ベル 9200型 | 880 | 〃 |
E8431 | ガウスメータ(最小測定レンジ:0.35mT、最大測定レンジ:3.5T) | Lake shore Inc 455型 | 1,320 | 〃 |
E8470 | PCベース計測器 | 横河電機 WE700システム | 660 | 情報・生産技術部 |
E8480 | レーザ寸法測定器 | キーエンス LS-5000 | 220 | 〃 |
E8495 | USB2.0バスアナライザ | ヒロテック HUSB 200 128MB | 550 | 〃 |
E8500 | ロジックアナライザー | 日本テクトロニクス TLA5201 | 1,540 | 機械・材料技術部 |
(9)温度熱量測定装置
№ | 設 備 機 器 名 | メーカー・型式 | 料金(円) | 担当部名 |
E8530 | 赤外線温度分布測定機 | 日本バ-ンズ モデル600L | 6,710 | 化学技術部 |
E8550 | 風合い計測システム | カトーテック KES-F7サーモラボⅡ | 3,190 | 〃 |
E8580 | プラスチック用熱伝導率計 | 京都電子工業 QTM-D3型 | 4,730 | 〃 |
E8610 | 熱機械試験機 | マックサイエンス TMA-400 | 5,610 | 〃 |
E8620 | 赤外線放射計 | 日本バーンズ SA-200 | 8,140 | 〃 |
(10)その他の機器
№ | 設 備 機 器 名 | メーカー・型式 | 料金(円) | 担当部名 |
E8711 | 振動試験機 | IMV VS-2000A-140T | 4,950 | 機械・材料技術部 |
E8712 | 振動試験システム | IMV i250/SA5M | 6,050 | 〃 |
E8713 | 制振性能測定装置 | ブリュエルケアー PULSE/MS-18143型 | 4,290 | 〃 |
E8720 | 高速冷却遠心機 | クボタ 6800 | 1,760 | 化学技術部 |
E8790 | 脱脂炉 | ネムス MT-400 | 990 | 機械・材料技術部 |
E8810 | 混練機 | 森山 DSI-5GHH-E | 2,640 | 〃 |
E8820 | 金属粉末射出成形装置 | 東芝機械 IS30EPN-1A | 2,090 | 〃 |
E8840 | 電気炉 | 炉研工業 マッフル型加熱炉 HI | 1,210 | 〃 |
E8841 | 卓上型電気炉 | 柴田科学器械工業 スーパーファーネスSF-17L | 1,100 | 〃 |
E8870 | ラバープレス(CIP) | 日機装 CL4-22-60 | 2,310 | 〃 |
E8910 | 乾式塗装ブース | サンエス工業 DS-CSS-1200 | 1,760 | 化学技術部 |
E8960 | 制御雰囲気炉 | 同和工業 TMA | 1,760 | 機械・材料技術部 |
E8970 | 熱間加工再現試験装置 | 富士電波工機 サーメックマスターZ | 11,330 | 〃 |
E8975 | 熱処理再現試験装置 | 富士電波工機 特注品FTA-153VTほか | 9,130 | 〃 |
E8980 | シリコニット箱型炉 | シリコニット高熱工業 SFB-2040 | 880 | 〃 |
E9016 | 摩耗試験機(研磨紙使用無し) | 東洋精機 NO410 GS10付 | 110 | 情報・生産技術部 |
E9040 | 濃縮機(遠心式濃縮機) | タイテック VC-96N | 110 | 化学技術部 |
E9060 | フレンチプレス細胞破砕機 | アミンコ FA078 | 440 | 〃 |
E9061 | マルチ検出モードプレートリーダー | テカンジャパン Infinite200Pro | 1,320 | 〃 |
E9090 | 電磁界解析装置 | 独国CST社 MW-Studio Transient Solver |
1,760 | 電子技術部 |
(11)設備
№ | 設 備 機 器 名 | メーカー・型式 | 料金(円) | 担当部名 |
E9210 | 製品開発室 | 実験棟 1・2・4階 | 81 | 事業化支援部 |
E9220 | ドラフトチャンバー(製品開発室) | 実験棟 1階 | 234 | 〃 |
(12)ファブラボ
№ | 設 備 機 器 名 | メーカー・型式 | 料金(円) | 担当部名 |
E9610 | ファブラボ(Ⅰ) | 3Dプリンタ使用可、装置類取扱い指導有 | 3,300 | 電子技術部 |
E9620 | ファブラボ(Ⅱ) | 3Dプリンタ使用可、装置類取扱い指導無 | 550 | 〃 |
E9630 | ファブラボ(Ⅲ) | 3Dプリンタ使用不可、装置類取扱い指導無 | 220 | 〃 |
試験計測等料金表 PDF版
※ 試験計測(依頼試験)、機器使用は、機器・設備の故障でやむを得ずサービスを停止しているものがありますので、事前にお問い合わせください。