海老名本部：試験計測等料金表
〔利用上の注意〕
１ 料金は全て消費税を含んでいます。
２ この料金表に掲げる以外に実施可能な項目及び使用可能な設備機器もあります。
詳細は担当各部へお問い合わせください。
３ 機器の更新等により項目及び設備機器名並びに料金の額を変更する場合が
あります。
４ 担当部名欄のＥ及びＫの表示は、同一試験項目の各拠点の該当する料金番号を
示しています。 Ｅ 海老名本部、Ｋ 溝の口支所
料金表を選択してください
試験計測料金
試験計測料金：（1）金属材料・部品の試験
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0011 | 走査電子顕微鏡写真撮影 ５万倍以下 | １試料１視野観察につき | 19,800 | 機械・材料技術部 K1310 |
| E0012 | 走査電子顕微鏡写真撮影 ５万倍以下 1視野追加 | １視野追加観察につき | 4,400 | 機械・材料技術部 K1315 |
| E0013 | 走査電子顕微鏡写真撮影 ５万倍を超えて10万倍以下 | １試料１視野観察につき | 28,600 | 機械・材料技術部 K1320 |
| E0014 | 走査電子顕微鏡写真撮影 ５万倍を超えて10万倍以下 １視野追加 | １視野追加観察につき | 8,800 | 機械・材料技術部 K1325 |
| E0015 | 走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの | １試料１視野観察につき | 50,600 | 機械・材料技術部 K1330 |
| E0016 | 走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの １視野追加 | １視野追加観察につき | 14,300 | 機械・材料技術部 K1335 |
| E0017 | 走査電子顕微鏡写真撮影 10～15視野 | 110,000 | 機械・材料技術部 K1392 | |
| E0018 | 走査電子顕微鏡写真撮影 16～30視野 | 165,000 | 機械・材料技術部 K1395 | |
| E0021 | 元素分析（E0011～E0018に適用） | １ヶ所につき | 6,710 | 機械・材料技術部 |
| E1790 | 電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定 | １視野測定につき | 45,210 | 機械・材料技術部 |
| E1791 | 電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定 １視野追加 | １視野追加測定につき | 11,220 | 機械・材料技術部 |
| E0022 | 走査電子顕微鏡試料調整(イオンミリング法)(1)(標準的なもの) | 44,330 | 機械・材料技術部 | |
| E0023 | 走査電子顕微鏡試料調整(イオンミリング法)(2)(複雑なもの) | 66,110 | 機械・材料技術部 | |
| E0031 | 金属組織写真撮影 | 写真１枚につき | 9,680 | 機械・材料技術部 K5110 |
| E0040 | 写真焼増し | 写真１枚につき | 330 | 機械・材料技術部 K5111 |
| E0050 | 外観写真撮影 | 写真１枚につき | 4,840 | 機械・材料技術部 K5112 |
| E0060 | マクロ組織写真 | 写真１枚につき | 7,260 | 機械・材料技術部 K5113 |
| E0070 | 写真撮影箇所増し（E0031,E0050,E0060に適用） | 同一試料で１ヶ所増すごとに | 2,750 | 機械・材料技術部 K5114 |
| E0080 | 顕微鏡試料調整（１） （容易なもの） | １試料につき | 1,760 | 機械・材料技術部 K5120 |
| E0090 | 顕微鏡試料調整（２） （標準的なもの） | １試料につき | 3,300 | 機械・材料技術部 K5121 |
| E0091 | 顕微鏡試料調整（３） （比較的複雑なもの） | 1試料につき | 6,600 | 機械・材料技術部 K5122 |
| E0092 | 顕微鏡試料調整（４） （非常に複雑なもの） | 1試料につき | 9,680 | 機械・材料技術部 K5123 |
| E0110 | 引張･圧縮･曲げ試験（１） （簡単な試験） | １試料１条件につき | 2,310 | 機械・材料技術部 |
| E0120 | 引張･圧縮･曲げ試験（２） （比較的簡単な試験） | １試料１条件につき | 3,850 | 機械・材料技術部 |
| E0130 | 引張･圧縮･曲げ試験（３） （標準的な試験） | １試料１条件につき | 5,060 | 機械・材料技術部 |
| E0140 | 引張･圧縮･曲げ試験（４） （やや複雑な試験） | １試料１条件につき | 6,600 | 機械・材料技術部 |
| E0150 | 引張･圧縮･曲げ試験（５） （複雑な試験） | １試料１条件につき | 9,900 | 機械・材料技術部 |
| E0160 | 大型構造物強度試験（１） （簡単な試験） | １試料１条件につき | 8,140 | 機械・材料技術部 |
| E0165 | 大型構造物強度試験（２） （標準的な試験） | １試料１条件につき | 13,530 | 機械・材料技術部 |
| E0170 | 大型構造物強度試験（３） （複雑な試験） | １試料１条件につき | 20,680 | 機械・材料技術部 |
| E0175 | 常温シャルピー衝撃試験 | １試料につき | 1,320 | 機械・材料技術部 |
| E0176 | 低温シャルピー衝撃試験 | １試料につき | 2,970 | 機械・材料技術部 |
| E0180 | 硬さ試験 | １点につき | 990 | 情報・生産技術部 K5330 |
| E0191 | 薄膜・微小部硬さ試験 | １試料１ヶ所につき | 20,680 | 機械・材料技術部 |
| E0192 | 薄膜・微小部硬さ試験 １ヶ所増 | １ヶ所増すごとに | 9,460 | 機械・材料技術部 |
| E0211 | トライボ試験 | １試料１条件につき | 7,260 | 機械・材料技術部 |
| E0212 | トライボ試験 １件増 | １条件増すごとに | 3,300 | 機械・材料技術部 |
| E0220 | 三次元座標測定（接触式） | １時間当たり | 15,290 | 情報・生産技術部 |
| E0230 | 三次元座標測定（光学式） | １時間当たり | 7,700 | 情報・生産技術部 |
| E0240 | 表面粗さ測定（Ａ）（簡単な形状） | １試料１ヶ所につき | 1,210 | 情報・生産技術部 |
| E0250 | 表面粗さ測定（Ｂ）（複雑な形状） | １試料１ヶ所につき | 2,750 | 情報・生産技術部 |
| E0270 | 工具寿命試験 | １項目につき | 14,960 | 情報・生産技術部 |
| E0295 | Ｘ線応力測定 | １試料１方向につき | 5,830 | 機械・材料技術部 |
| E0310 | 切削抵抗測定 | １項目につき | 11,000 | 情報・生産技術部 |
| E0415 | 疲労試験 １時間以内 | １試料１条件につき | 5,720 | 機械・材料技術部 |
| E0420 | 疲労試験 ８時間以内 | １試料１条件につき | 16,280 | 機械・材料技術部 |
| E0431 | 疲労試験 大型構造物 ８時間以内 | １試料１条件につき | 20,900 | 機械・材料技術部 |
| E0435 | 疲労試験 ８時間増（E0420,E0431に適用） | ８時間を超えて８時間増すごとに | 6,820 | 機械・材料技術部 |
| E0440 | 熱間加工性試験 | １試料につき | 7,370 | 機械・材料技術部 |
| E0450 | ＮＣ放電加工試験 | １時間当たり | 2,310 | 情報・生産技術部 |
| E0460 | ホットプレス処理 | １時間当たり | 7,810 | 機械・材料技術部 |
| E0470 | ＨＩＰ処理 | １時間当たり | 18,040 | 機械・材料技術部 |
| E0480 | 熱処理特性試験 | １時間当たり | 12,100 | 機械・材料技術部 |
| E0490 | 立形マシニングセンターによる加工 | １時間当たり | 6,050 | 情報・生産技術部 |
| E0495 | ５軸制御マシニングセンタによる加工 | １時間当たり | 6,380 | 情報・生産技術部 |
| E4620 | ワイヤ放電加工 | １時間当たり | 3,740 | 情報・生産技術部 |
試験計測料金：（2）電気・電子の試験
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0510 | 電流電圧測定（１ｍＡ以上，１ｍＶ以上） | １試料１条件につき | 2,970 | 電子技術部 |
| E0570 | 電気抵抗測定 | １試料１条件につき | 3,630 | 電子技術部 |
| E0591 | 四探針法による抵抗率測定 | １試料１測定につき | 9,350 | 電子技術部 |
| E0660 | 電気機器・漏れ電流測定 | １条件１測定につき | 4,400 | 電子技術部 |
| E0670 | 電気機器・耐電圧試験 | １試料１測定につき | 3,740 | 電子技術部 |
| E0680 | 電気機器・接地回路の抵抗測定 | １条件１測定につき | 4,510 | 電子技術部 |
| E0690 | ＬＣＲ測定 | １試料１条件につき | 8,800 | 電子技術部 |
| E0710 | ＬＣＲ測定 １ヶ所増 | １試料につき測定点１ヶ所増すごとに | 2,860 | 電子技術部 |
| E0750 | 絶縁抵抗試験 | １条件１測定につき | 4,620 | 電子技術部 |
| E0760 | 電気機器・温度試験 | １測定点につき | 2,750 | 電子技術部 |
| E0761 | はんだ継手強度試験 | １測定条件につき（１０測定点まで） | 17,820 | 電子技術部 |
| E0762 | はんだ継手強度試験 ５測定点増 | ５測定点増すごとに | 8,030 | 電子技術部 |
| E0770 | マイクロ波スペクトラムアナライザ測定 | １条件１測定につき | 8,030 | 電子技術部 |
| E0771 | マイクロ波スペクトラムアナライザ測定 １件増 | １測定増すごとに | 3,410 | 電子技術部 |
| E0780 | ネットワークアナライザ測定（マルチポート） | １測定につき | 9,680 | 電子技術部 |
| E0791 | ネットワークアナライザ測定（４ポートまで） | １試料１条件につき | 7,040 | 電子技術部 |
| E0792 | ネットワークアナライザ測定（４ポートまで） １件増 | １条件増すごとに | 2,750 | 電子技術部 |
| E0813 | 電源変動および瞬停試験 | ２時間まで | 11,330 | 電子技術部 |
| E0814 | 電源変動および瞬停試験 １時間増 | １時間増すごとに | 5,610 | 電子技術部 |
| E0820 | 電気機器・電力測定 | １試料１条件につき | 4,950 | 電子技術部 |
| E0830 | 高周波伝送特性測定（Ｓパラメータ・ＴＤＲ測定） | １条件１測定につき | 14,740 | 電子技術部 |
| E0840 | 高周波伝送特性測定（Ｓパラメータ・ＴＤＲ測定） １件増 | １測定増すごとに | 3,850 | 電子技術部 |
| E0850 | マイクロ波誘電率測定（共振器法・誘電体プローブ法） | １条件１測定につき | 17,050 | 電子技術部 |
| E0860 | マイクロ波誘電率測定（共振器法・誘電体プローブ法） １件増 | １測定増すごとに | 5,720 | 電子技術部 |
| E0870 | マイクロ波誘電率・透磁率測定（Ｓパラメータ法） | １条件１測定につき | 15,620 | 電子技術部 |
| E0880 | マイクロ波誘電率・透磁率測定（Ｓパラメータ法） １件増 | １測定増すごとに | 4,290 | 電子技術部 |
| E0881 | マイクロ波誘電率・透磁率測定（ハーモニック共振器法） | １測定につき | 17,600 | 電子技術部 |
| E0890 | イーサネットコンプライアンステスト | １時間につき | 4,400 | 情報・生産技術部 |
試験計測料金：（3）磁気関係
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0910 | 磁化特性測定（ＶＳＭ方式） | １試料１測定につき | 6,160 | 電子技術部 |
| E0920 | 磁化特性測定（積分方式） | １試料１測定につき | 4,290 | 電子技術部 |
| E0930 | 磁歪測定 | １試料１測定につき | 17,820 | 電子技術部 |
| E0931 | 磁歪測定 １条件増 | １条件増すごとに | 11,330 | 電子技術部 |
| E0940 | 磁化温度特性測定 | １試料１測定につき | 19,360 | 電子技術部 |
| E0950 | 薄膜交流透磁率測定 | １試料１測定につき | 5,060 | 電子技術部 |
| E0951 | 交流磁化特性測定（B-H曲線、鉄損、透磁率、 インダクタンス） | １試料１測定につき | 9,460 | 電子技術部 |
| E0952 | 交流磁化特性測定（B-H曲線、鉄損、透磁率、 インダクタンス）１条件増 | １条件増すごとに | 6,270 | 電子技術部 |
| E0953 | 交流磁化特性測定（B-H曲線無しの連続測定、 可変条件は１） | １試料５測定まで | 15,950 | 電子技術部 |
| E0954 | 交流磁化特性測定（B-H曲線無しの連続測定、 可変条件は１）１測定増 | １測定増すごとに | 2,420 | 電子技術部 |
| E0958 | 試料調整 | １時間当たり | 2,970 | 電子技術部 |
| E0959 | データ処理 | １時間当たり | 2,970 | 電子技術部 |
試験計測料金：（4）非破壊検査試験
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0960 | Ｘ線透過試験 | １時間当たり | 7,260 | 機械・材料技術部 |
| E0981 | Ｘ線ＣＴ撮影（容易なもの） | １測定につき | 32,670 | 機械・材料技術部 |
| E0982 | Ｘ線ＣＴ撮影（標準的なもの） | １測定につき | 49,060 | 機械・材料技術部 |
| E0983 | Ｘ線ＣＴ撮影（複雑なもの） | １測定につき | 65,340 | 機械・材料技術部 |
| E0990 | 非破壊超音波映像撮影 | １時間当たり | 9,240 | 電子技術部 |
| E0991 | 非破壊超音波映像撮影（データ解析のみ） | １解析当たり | 3,630 | 電子技術部 |
試験計測料金：（5）半導体関係
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1030 | 薄膜屈折率測定 | １試料につき | 23,100 | 電子技術部 |
| E1040 | 定エネルギー分光測定 | １条件につき | 34,760 | 電子技術部 |
| E1050 | 膜厚測定 | １試料１測定点につき | 5,390 | 電子技術部 |
| E1051 | 三次元微細形状測定 | 標準１測定当たり | 11,660 | 電子技術部 |
| E1060 | フォトルミネッセンス測定 | １試料１条件につき | 41,360 | 電子技術部 |
| E1070 | 高分解能（１nm以下）フォトルミネッセンス測定 | １試料１条件につき | 81,730 | 電子技術部 |
| E1080 | 低温光特性評価 | １試料１条件につき | 33,550 | 電子技術部 |
| E1090 | 位相差測定 | １試料１条件につき | 10,890 | 電子技術部 |
| E1130 | 光干渉式膜厚測定 | １試料１測定点につき | 2,970 | 電子技術部 |
| E1140 | 光干渉式膜厚測定 １測定点増 | １試料につき１測定点増すごとに | 1,430 | 電子技術部 |
| E1145 | ハイブリッドレーザー顕微鏡 | １測定１解析につき | 8,360 | 電子技術部 |
| E1146 | ハイブリッドレーザー顕微鏡 １視野追加 | １視野追加につき | 4,180 | 電子技術部 |
| E1150 | 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 | １測定１解析につき | 8,030 | 電子技術部 |
| E1151 | 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 １解析増 | １解析増すごとに | 2,090 | 電子技術部 |
| E1152 | ホール効果測定 | １試料１条件につき | 20,240 | 電子技術部 |
| E0767 | 熱抵抗測定 | １時間当たり | 9,020 | 電子技術部 |
| E0768 | パワー半導体静特性試験 | １時間当たり | 6,600 | 電子技術部 |
| E0769 | 半導体パラメータ測定 | １時間当たり | 6,600 | 電子技術部 |
| E1153 | 超音波ウェッジボンダ試験 | １時間当たり | 8,470 | 電子技術部 |
| E1154 | 超音波ボールボンダ試験 | １時間当たり | 10,010 | 電子技術部 |
| E0763 | ワイヤーボンディング強度試験 | １測定条件につき（１０測定点まで） | 20,570 | 電子技術部 |
| E0764 | ワイヤーボンディング強度試験 ５測定点増 | ５測定点増すごとに | 9,460 | 電子技術部 |
| E0765 | ダイシェア試験 | １測定条件につき（１０測定点まで） | 21,890 | 電子技術部 |
| E0766 | ダイシェア試験 ５測定点増 | ５測定点増すごとに | 10,120 | 電子技術部 |
| E1155 | ダイシング加工（半導体基板精密加工） | １時間当たり | 16,280 | 電子技術部 |
| E1156 | 真空蒸着 | 標準１試料当たり | 36,190 | 電子技術部 |
| E1157 | 真空蒸着 １条件増 | １条件増すごとに | 17,600 | 電子技術部 |
| E1158 | スパッタ成膜 | 標準１試料当たり | 47,410 | 電子技術部 |
| E1160 | イオンプレーティング成膜 | 標準１試料当たり | 48,510 | 電子技術部 |
| E1170 | イオンプレーティング成膜 １条件増 | １条件増すごとに | 18,810 | 電子技術部 |
| E1180 | アッシャーによるプラズマ処理 | １条件１時間につき | 17,270 | 電子技術部 |
| E1190 | ＥＣＲプラズマエッチング | 標準１試料当たり | 46,640 | 電子技術部 |
| E1191 | 高精度フォトリソグラフィ | １枚につき | 24,310 | 電子技術部 |
| E1192 | 高精度フォトリソグラフィ １枚増 | １枚増すごとに | 8,690 | 電子技術部 |
| E1200 | 電子線リソグラフィ | １時間当たり | 9,680 | 電子技術部 |
| E1201 | 電子線リソグラフィ試料調製 | １試料につき | 8,910 | 電子技術部 |
| E1211 | クリーン雰囲気試験 | １時間当たり | 5,940 | 電子技術部 |
| E1120 | 酸化拡散試験 | １時間当たり | 24,310 | 電子技術部 |
試験計測料金：（6）環境試験
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1230 | 恒温恒湿槽（中） | ２４時間まで | 18,150 | 電子技術部 K5410 |
| E1240 | 恒温恒湿槽（中）２４時間増 | ２４時間増すごとに | 7,370 | 電子技術部 K5411 |
| E1270 | 恒温恒湿槽（中）サイクル | ２４時間まで | 23,100 | 電子技術部 K5415 |
| E1280 | 恒温恒湿槽（中）サイクル２４時間増 | ２４時間増すごとに | 8,360 | 電子技術部 K5416 |
| E1290 | 高温槽 | ２４時間まで | 11,220 | 電子技術部 |
| E1310 | 高温槽 ２４時間増 | ２４時間増すごとに | 5,720 | 電子技術部 |
| E1320 | プレッシャークッカー試験 | ２４時間まで | 18,150 | 電子技術部 K5440 |
| E1330 | プレッシャークッカー試験 ２４時間増 | ２４時間増すごとに | 11,660 | 電子技術部 K5441 |
| E1350 | 冷熱衝撃試験(中) | ８時間まで | 9,680 | 電子技術部 |
| E1360 | 冷熱衝撃試験(中) ８時間増 | ８時間増すごとに | 5,060 | 電子技術部 |
| E1361 | ハイパワー恒温恒湿槽 （ARSF) | ２４時間まで | 25,610 | 電子技術部 |
| E1362 | ハイパワー恒温恒湿槽 （ARSF) ２４時間増 | ２４時間増すごとに | 13,750 | 電子技術部 |
| E1363 | 冷熱衝撃試験(中・TSA） | ８時間まで | 11,550 | 電子技術部 |
| E1364 | 冷熱衝撃試験(中・TSA） ８時間増 | ８時間増すごとに | 5,720 | 電子技術部 |
| E1365 | HAST試験 | ２４時間まで | 18,920 | 電子技術部 |
| E1366 | HAST試験 ２４時間増 | ２４時間増すごとに | 12,980 | 電子技術部 |
| E1370 | 恒温恒湿槽（大、１５０℃対応） | ２４時間まで | 29,260 | 電子技術部 |
| E1375 | 恒温恒湿槽（大、１５０℃対応） ２４時間増 | ２４時間増すごとに | 16,060 | 電子技術部 |
| E1376 | 恒温恒湿槽 （低湿度対応) | ２４時間まで | 24,750 | 電子技術部 |
| E1377 | 恒温恒湿槽 （低湿度対応) ２４時間増 | ２４時間増すごとに | 11,000 | 電子技術部 |
| E1380 | 冷熱衝撃試験(大) | ８時間まで | 12,870 | 電子技術部 |
| E1385 | 冷熱衝撃試験(大) ８時間増 | ８時間増すごとに | 6,600 | 電子技術部 |
| E1390 | 小型恒温恒湿槽（SH） | ２４時間まで | 15,730 | 電子技術部 |
| E1391 | 小型恒温恒湿槽（SH） ２４時間増 | ２４時間増すごとに | 6,710 | 電子技術部 |
| E1392 | 小型恒温槽 (温度のみ） | ２４時間まで | 12,540 | 電子技術部 |
| E1393 | 小型恒温槽 (温度のみ） ２４時間増 | ２４時間増すごとに | 5,060 | 電子技術部 |
| E1386 | パワーサイクル試験 | ８時間まで | 20,350 | 電子技術部 |
| E1387 | パワーサイクル試験 ８時間増 | ８時間増すごとに | 9,900 | 電子技術部 |
| E1394 | 人工気象室（小型） | １時間ごとに | 5,170 | 化学技術部 |
| E1395 | 人工気象室（大型） | １時間ごとに | 7,590 | 化学技術部 |
| E1396 | 日射装置 | １時間ごとに（人工気象室（大型）の料金に加算） | 6,380 | 化学技術部 |
| E1397 | 促進耐候性試験(キセノン) | 標準条件(放射照度60W/m2、 BPT63℃、スプレー18分/120分)の場合 1試料50時間につき | 19,690 | 化学技術部 |
| E1398 | 試料取付費 | １ホルダーにつき （E1397に適用） | 2,970 | 化学技術部 |
| E1399 | 試料抜取り費 | １ホルダーにつき （E1397に適用） | 1,430 | 化学技術部 |
| E3520 | 耐光試験（カーボンアーク） | １試料につき２０時間 | 1,540 | 化学技術部 |
試験計測料金：（7）電磁波ノイズ試験
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1410 | 放射妨害波測定 | ２時間まで | 37,400 | 電子技術部 |
| E1420 | 放射妨害波測定 １時間増 | １時間増すごとに | 14,410 | 電子技術部 |
| E1425 | 車載機器の放射・伝導妨害波測定 | ２時間まで | 37,400 | 電子技術部 |
| E1426 | 車載機器の放射・伝導妨害波測定 １時間増 | １時間増すごとに | 14,410 | 電子技術部 |
| E1430 | 電源・通信ポート伝導妨害波測定 | １時間まで | 22,990 | 電子技術部 |
| E1440 | 電源・通信ポート伝導妨害波測定 １時間増 | １時間増すごとに | 14,410 | 電子技術部 |
| E1450 | 雑音電力測定 | １時間まで | 23,100 | 電子技術部 |
| E1460 | 雑音電力測定 １時間増 | １時間増すごとに | 14,410 | 電子技術部 |
| E1472 | 放射無線周波電磁界イミュニティ試験 | ２時間まで | 32,450 | 電子技術部 |
| E1482 | 放射無線周波電磁界イミュニティ試験 １時間増 | １時間増すごとに | 12,980 | 電子技術部 |
| E1490 | 静電気放電イミュニティ試験 | １時間まで | 11,440 | 電子技術部 |
| E1510 | 静電気放電イミュニティ試験 １時間増 | １時間増すごとに | 6,710 | 電子技術部 |
| E1520 | 電気的ファーストトランジェント/ バーストイミュニティ試験 | １時間まで | 11,440 | 電子技術部 |
| E1530 | 電気的ファーストトランジェント/ バーストイミュニティ試験 １時間増 | １時間増すごとに | 6,710 | 電子技術部 |
| E1540 | 雷サージイミュニティ試験 | １時間まで | 11,440 | 電子技術部 |
| E1550 | 雷サージイミュニティ試験 １時間増 | １時間増すごとに | 6,710 | 電子技術部 |
| E1553 | 誘導伝導電磁界イミュニティ試験 | １時間まで | 18,920 | 電子技術部 |
| E1554 | 誘導伝導電磁界イミュニティ試験 １時間増 | １時間増すごとに | 12,650 | 電子技術部 |
| E1560 | インパルスノイズ試験 | １時間まで | 11,440 | 電子技術部 |
| E1570 | インパルスノイズ試験 １時間増 | １時間増すごとに | 6,710 | 電子技術部 |
| E1581 | 電磁波シールド効果測定 (100kHz～1GHz、 KEC法) | １試料１測定（電界または磁界）につき | 5,940 | 電子技術部 |
| E1600 | マイクロ波電磁波シールド効果測定 (1GHz～ 8.5GHz、2焦点型扁平空洞) | １試料１測定につき | 6,600 | 電子技術部 |
| E1605 | 電波透過特性測定（マイクロ波帯） | １条件１測定につき | 14,850 | 電子技術部 |
| E1606 | 電波透過特性測定（マイクロ波帯） １件増 | １測定増すごとに | 6,820 | 電子技術部 |
| E1610 | 電波吸収率測定（簡易アンテナ法） | １条件１測定につき | 12,540 | 電子技術部 |
| E1620 | 電波吸収率測定（簡易アンテナ法） １件増 | １測定増すごとに | 3,410 | 電子技術部 |
| E1630 | アンテナ指向性測定 | ２時間まで | 39,160 | 電子技術部 |
| E1640 | アンテナ指向性測定 １時間増 | １時間増すごとに | 15,400 | 電子技術部 |
| E1650 | 三次元アンテナ指向性測定 | ２時間まで | 44,110 | 電子技術部 |
| E1660 | 三次元アンテナ指向性測定 １時間増 | １時間増すごとに | 20,460 | 電子技術部 |
試験計測料金：（8）その他の試験（１）
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1780 | 走査型プローブ顕微鏡観察 | 標準１条件１測定につき | 22,220 | 電子技術部 |
| E1781 | 走査型プローブ顕微鏡観察 １視野追加 | １視野追加につき | 10,340 | 電子技術部 |
試験計測料金：（9）無機定性・定量分析
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1810 | 定量分析（Ａ） （容易なもの） | １試料，１成分につき（容易なもの） | 8,690 | 化学技術部 |
| E1820 | 定量分析（Ｂ）（複雑なもの） | １試料，１成分につき（複雑なもの） | 10,450 | 化学技術部 |
| E1821 | 炭素・硫黄分析装置による定量分析（Ａ）（容易なもの） | １試料，１成分につき（容易なもの） | 7,810 | 化学技術部 |
| E1822 | 炭素・硫黄分析装置による定量分析（Ｂ）（複雑なもの） | １試料，１成分につき（複雑なもの） | 11,550 | 化学技術部 |
| E1831 | 原子吸光分析法による定量分析（Ａ）（容易なもの） | １試料，１成分につき（容易なもの） | 7,920 | 化学技術部 |
| E1832 | 原子吸光分析法による定量分析（Ｂ）（複雑なもの） | １試料，１成分につき（複雑なもの） | 11,770 | 化学技術部 |
| E1841 | 蛍光Ｘ線法による微小部定性分析 | １試料，１カ所につき | 8,690 | 化学技術部 |
| E1842 | 蛍光Ｘ線法による微小部定性分析 １条件増 | １条件増すごとに | 3,190 | 化学技術部 |
| E1860 | 蛍光Ｘ線定性分析(波長分散方式) | １試料につき | 19,250 | 化学技術部 |
| E1891 | ＩＣＰ発光分光分析法による定量分析（Ａ）（容易なもの） | １試料，１成分につき（容易なもの） | 7,700 | 化学技術部 |
| E1892 | ＩＣＰ発光分光分析法による定量分析（Ｂ）（複雑なもの） | １試料，１成分につき（複雑なもの） | 11,440 | 化学技術部 |
| E1911 | ＩＣＰ発光分光分析法による定性分析 | １試料につき，基本１０元素まで | 17,820 | 化学技術部 |
| E1921 | ＩＣＰ発光分光分析法による定性分析 １元素増 | １試料につき，１元素増すごとに | 1,760 | 化学技術部 |
| E1930 | カールフィッシャー水分測定（直接法） | １条件，１試料につき | 11,110 | 化学技術部 |
| E1931 | カールフィッシャー水分測定（直接法）１試料増 | １試料増すごとに | 6,490 | 化学技術部 |
| E1932 | カールフィッシャー水分測定（加熱気化法） | １条件，１試料につき | 13,970 | 化学技術部 |
| E1933 | カールフィッシャー水分測定（加熱気化法）１試料増 | １試料増すごとに | 9,350 | 化学技術部 |
| E1940 | 試料調製（１）（切粉作製等簡易な前処理） | E1810,E1820,E1821,E1822,E1831,E1832,E1860,E1932,E1933,E2021,E2211,E2212,E2225,E2235,E2265,E2275,E2281,E2282,E2290,E2294,E2295,E2310,E2320,E2330,E2340,E2410,E2420,E2430,E2441,E2442,E2450,E2460,E4010,E4020に適用 | 1,760 | 化学技術部 |
| E1950 | 試料調製（２）（難分解性試料等複雑な前処理） | E1810,E1820,E1831,E1832,E1860,E1891,E1892,E1911,E2021,E2211,E2212,E2225,E2235,E2265,E2275,E2281,E2282,E2290,E2294,E2295,E2310,E2320,E2330,E2340,E2410,E2420,E2430,E2441,E2442,E2450,E2460,E4010,E4020に適用 | 8,910 | 化学技術部 |
| E1960 | 試料調製（３）（極微量物質の分離濃縮等困難な前処理） | E1810,E1820,E1831,E1832,E1891,E1892,E1911,E2021,E2211,E2212,E2225,E2235,E2265,E2275,E2281,E2282,E2290,E2294,E2295,E2310,E2320,E2330,E2340,E4010,E4020に適用 | 14,850 | 化学技術部 |
| E1970 | 試料調製（４）（抽出、濃縮等標準的な前処理） | E1810,E1820,E1831,E1832,E1891,E1892,E1841,E1860,E1911,E2211,E2212,E2225,E2235,E2265,E2275,E2281,E2282,E2290,E2294,E2295,E2310,E2320,E2330,E2340,E4010,E4020に適用 | 4,730 | 化学技術部 |
試験計測料金：（10）表面分析
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1882 | X線光電子分光分析（簡単なもの) | １試料１ヶ所につき | 17,600 | 機械・材料技術部 |
| E1884 | X線光電子分光分析（簡単なもの) 条件増 | １条件増すごとに | 8,030 | 機械・材料技術部 |
| E1980 | 微小部X線光電子分光分析 （ワイドスキャンのみ） | １試料１ヶ所につき | 13,750 | 機械・材料技術部 |
| E1982 | 微小部X線光電子分光分析 （ワイドおよびナロースキャン） | １試料１ヶ所につき（６元素まで） | 20,350 | 機械・材料技術部 |
| E1984 | 微小部X線光電子分光分析（面分析，線分析） | １試料１ヶ所につき（５元素まで） | 21,230 | 機械・材料技術部 |
| E1986 | 微小部X線光電子分光分析（深さ方向分析） | １試料１ヶ所につき（６元素まで） | 32,120 | 機械・材料技術部 |
| E1990 | 微小部X線光電子分光分析 条件増 | １条件増すごとに | 4,950 | 機械・材料技術部 |
| E1992 | 微小部X線光電子分光分析 元素増（１） | １元素増すごとに（No1982,1984に適用） | 4,180 | 機械・材料技術部 |
| E1994 | 微小部X線光電子分光分析 元素増（２） | １元素増すごとに（E1986に適用） | 6,380 | 機械・材料技術部 |
| E2541 | 電子線マイクロアナライザ観測 | １試料につき | 27,830 | 機械・材料技術部 |
| E2542 | 写真撮影 （二次電子像、反射電子像） | １試料につき | 23,650 | 機械・材料技術部 |
| E2543 | 写真撮影 （二次電子像、反射電子像） １ヶ所増 | 同一試料で１ヶ所増すごとに | 5,500 | 機械・材料技術部 |
| E2550 | 電子線マイクロアナライザ観測 追加分析 | 同一箇所での測定につき（E2541に適用） | 8,580 | 機械・材料技術部 |
| E2551 | 電子線マイクロアナライザ観測 １成分増 | １成分増すごとに | 2,860 | 機械・材料技術部 |
| E2560 | 電子線マイクロアナライザ観測 試料調整 | １試料につき | 61,160 | 機械・材料技術部 |
試験計測料金：（11）分光分析
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2010 | 紫外・可視分光光度計試験分析 | １スペクトルにつき | 7,920 | 機械・材料技術部 |
| E2021 | フーリエ変換赤外分光分析 | １スペクトルにつき | 19,030 | 機械・材料技術部 化学技術部 K5055 |
| E2023 | フーリエ変換赤外分光分析用微小試料調製 | １試料につき | 2,970 | 機械・材料技術部 化学技術部 |
| E2080 | 顕微レーザーラマン分光分析 | １試料１ヶ所につき | 56,540 | 機械・材料技術部 化学技術部 |
| E2090 | 顕微レーザーラマン分光分析 １条件増 | １条件増すごとに | 29,150 | 機械・材料技術部 化学技術部 |
| E2091 | 顕微レーザーラマン分光分析（簡単なもの） | １試料１ヶ所につき | 19,470 | 機械・材料技術部 化学技術部 |
| E2110 | 分光蛍光光度計試験 | １スペクトルにつき | 8,910 | 化学技術部 |
試験計測料金：（12）クロマトグラフ分析
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2211 | イオンクロマトグラフ分析（１） （一般的なもの） | １測定につき | 16,280 | 化学技術部 |
| E2212 | イオンクロマトグラフ分析（２） （特殊なもの） | １測定につき | 21,120 | 化学技術部 |
| E2225 | ガスクロマトグラフによる分析 | １試料につき | 9,460 | 化学技術部 |
| E2235 | ガスクロマトグラフ定量分析 | １試料１成分につき | 13,530 | 化学技術部 |
| E2236 | ガスクロマトグラフ定量分析 １成分増 | １成分増すごとに | 5,390 | 化学技術部 |
| E2265 | ヘッドスペースガスクロマトグラフによる分析 | １試料につき | 13,860 | 化学技術部 |
| E2275 | ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析 | １試料１成分につき | 19,250 | 化学技術部 |
| E2276 | ヘッドスペースがガスクロマトグラフ定量分析 １成分増 | １成分増すごとに | 5,390 | 化学技術部 |
| E2281 | 高速液体クロマトグラフ分析 （分析条件検討を含まない） | １試料１成分につき | 10,780 | 化学技術部 |
| E2282 | 高速液体クロマトグラフ分析 （簡単な分析条件を含む） | １試料１成分につき | 27,390 | 化学技術部 |
| E2290 | 液体クロマトグラフ－質量分析（飛行時間型） （分析条件検討を含まない） | １試料１成分につき | 41,360 | 化学技術部 |
| E2291 | 液体クロマトグラフ－質量分析（飛行時間型） （簡単な分析条件の検討） | １試料につき(E2290に適用) | 21,780 | 化学技術部 |
| E2292 | 液体クロマトグラフ－質量分析（飛行時間型） 定性分析１成分増 | １成分増すごとに | 3,850 | 化学技術部 |
| E2294 | 液体クロマトグラフ－質量分析（四重極型） （分析条件検討を含む） | １試料１成分につき | 34,760 | 化学技術部 |
| E2295 | 液体クロマトグラフ－質量分析（四重極型） （分析条件検討を含まない） | １試料１成分につき | 17,930 | 化学技術部 |
| E2030 | 試料調製（５）分取用 液体クロマトグラフ使用 | １試料１成分につき | 28,050 | 化学技術部 |
| E2040 | 試料調製（６）分取用 液体クロマトグラフ使用 １成分増 | 同試料１成分増すごとに | 3,520 | 化学技術部 |
| E2310 | ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ） | １試料１成分につき | 39,380 | 化学技術部 |
| E2311 | ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ） 定性分析 １成分増 | １成分増すごとに | 5,060 | 化学技術部 |
| E2312 | ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ） 定量分析 １成分増 | １成分増すごとに | 5,940 | 化学技術部 |
| E2320 | パージアンドトラップＧＣＭＳ分析 | １試料１成分につき | 53,240 | 化学技術部 |
| E2321 | パージアンドトラップＧＣＭＳ分析 定性分析 １成分増 | １成分増すごとに | 5,060 | 化学技術部 |
| E2322 | パージアンドトラップＧＣＭＳ分析 定量分析 １成分増 | １成分増すごとに | 5,940 | 化学技術部 |
| E2330 | ヘッドスペースＧＣＭＳ分析 | １試料１成分につき | 50,820 | 化学技術部 |
| E2331 | ヘッドスペースＧＣＭＳ分析 定性分析 １成分増 | １成分増すごとに | 5,060 | 化学技術部 |
| E2332 | ヘッドスペースＧＣＭＳ分析 定量分析 １成分増 | １成分増すごとに | 5,940 | 化学技術部 |
| E2340 | サーマルデソープションＧＣＭＳ分析 | １試料１成分につき | 54,670 | 化学技術部 |
| E2341 | サーマルデソープションＧＣＭＳ分析 定性分析 １成分増 | １成分増すごとに | 5,060 | 化学技術部 |
| E2342 | サーマルデソープションＧＣＭＳ分析 定量分析 １成分増 | １成分増すごとに | 5,940 | 化学技術部 |
| E2350 | 化学イオン化（ＣＩ）法によるＧＣＭＳ分析 | １試料につき （E2310,E2320,E2330,E2340に適用） | 11,440 | 化学技術部 |
| E2360 | 熱分解GCMS分析 | １試料１成分につき | 54,340 | 化学技術部 |
| E2361 | 熱分解GCMS分析 定性分析 １成分増 | １成分増すごとに | 5,060 | 化学技術部 |
試験計測料金：（13）熱分折
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2410 | 示差熱熱重量分析 室温～ 600℃ | １測定につき | 11,550 | 化学技術部 |
| E2420 | 示差熱熱重量分析 600℃をこえるもの | １測定につき | 16,830 | 化学技術部 |
| E2430 | 示差走査熱量分析 | １測定につき | 14,850 | 化学技術部 |
| E2431 | 熱機械分析 | １測定につき | 14,850 | 化学技術部 |
| E2441 | 高圧示差熱・熱重量測定 | １測定につき | 22,550 | 化学技術部 |
| E2442 | 発火温度測定（ＨＰ-ＴＧ法） | １測定につき | 19,690 | 化学技術部 |
| E2450 | 複合熱分析 | １測定につき | 68,310 | 化学技術部 |
| E2460 | 高圧示差走査熱量測定 | １測定につき | 22,110 | 化学技術部 |
試験計測料金：（14）Ｘ線回折
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2510 | X線回折試験 (I) 粉末X線回折 | １試料につき | 22,770 | 電子技術部 化学技術部 |
| E2520 | X線回折試験 (II)高度な粉末X回折・薄膜X線回折 | １試料につき | 34,210 | 電子技術部 化学技術部 |
| E2530 | X線回折試験 (III)高度な薄膜X線回折 | １試料につき | 52,910 | 電子技術部 化学技術部 |
| E2540 | X線回折試験 (IV)特殊なX線回折 | １試料につき （広範囲な逆格子マッピングなど） | 85,200 | 電子技術部 化学技術部 |
試験計測料金：（15）有機物分析
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2610 | ＣＨＮ元素分析装置による定量分析 | １試料につき | 16,390 | 化学技術部 |
| E2631 | 飛行時間型質量分析 | １試料１測定につき | 28,820 | 化学技術部 |
| E2641 | 核磁気共鳴（NMR）分析 （プロトンのみ） | １試料，1Hの一次元スペクトルにつき | 13,310 | 機械・材料技術部 |
| E2642 | 核磁気共鳴（NMR）分析 （基本測定） | １試料，1Hおよび13Cの一次元スペクトル につき | 21,120 | 機械・材料技術部 |
| E2643 | 核磁気共鳴（NMR）分析（多核など特殊測定） | １試料，１条件につき | 32,010 | 機械・材料技術部 |
| E2644 | 核磁気共鳴（NMR）分析（二次元測定） | １試料，１Hおよび13Cの一次元スペクトル並びに相関スペクトル（DQF-COSY, HMQC, HMBC）につき | 46,640 | 機械・材料技術部 |
| E2651 | 電子スピン共鳴分析（Ａ）（基本測定） | １試料１スペクトルにつき | 21,560 | 機械・材料技術部 |
| E2652 | 電子スピン共鳴分析（Ｂ）（特殊測定・定量） | １試料１スペクトルにつき | 37,620 | 機械・材料技術部 |
試験計測料金：（16）合成樹脂（プラスチック）
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2720 | 比重試験（水中置換法）（室温） | １試料につき | 7,260 | 化学技術部 |
| E2730 | 吸水試験（室温） | １試料につき | 6,490 | 化学技術部 |
| E2750 | 動的粘弾性測定（開始温度４０℃以上かつ１走査１時間未満） | １走査（温度変化または振動数変化）につき | 18,260 | 化学技術部 |
| E2760 | 動的粘弾性測定（開始温度－５０℃以上または１走査１時間超） | １走査（温度変化または振動数変化）につき | 29,370 | 化学技術部 |
| E2770 | 動的粘弾性測定（液体窒素使用） | １走査（温度変化または振動数変化）につき | 41,800 | 化学技術部 |
| E2771 | ペルチェシステム使用（１０～１５０℃） | E2750, E2760に適用 | 5,940 | 化学技術部 |
| E2772 | 試料調整（取り付け困難なもの） | E2750, E2760, E2770に適用 | 2,640 | 化学技術部 |
| E2773 | 測定前温度調整 | １試料につき１時間毎 （E2750,E2760,E2770に適用) | 2,970 | 化学技術部 |
| E2820 | 変形量測定 （伸び計を使用しない場合） | １試料につき | 2,090 | 化学技術部 |
| E2830 | 変形量測定（伸び計を使用する場合） | １試料につき | 5,390 | 化学技術部 |
| E2840 | 引張試験（5kN以下）（室温） | １試料につき | 6,600 | 化学技術部 |
| E2860 | 曲げ試験 （5kN以下）（室温） | １試料につき | 6,600 | 化学技術部 |
| E2870 | 圧縮試験（5kN以下）（室温） | １試料につき | 6,600 | 化学技術部 |
| E2880 | 衝撃試験（アイゾット・シャルピー）（室温） | １試料につき | 5,830 | 化学技術部 |
| E2920 | 硬さ試験（ロックウェル・デュロメータ）（室温） | １試料につき | 3,190 | 化学技術部 |
| E2930 | 熱伝導率測定（プローブ法）（室温） | １試料につき | 9,460 | 化学技術部 |
試験計測料金：（17）塗料・塗膜試験
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3010 | 塗膜物性試験 | １試料につき | 1,650 | 化学技術部 |
| E3030 | 光沢度測定 | １試料につき | 3,080 | 化学技術部 |
| E3040 | 色彩測定 | １試料につき | 3,080 | 化学技術部 |
| E3050 | 浸せき試験 | 室温で実施の場合 １試料２４時間まで | 4,180 | 化学技術部 |
| E3051 | 浸せき試験 ２４時間増 | ２４時間増すごとに | 660 | 化学技術部 |
| E3060 | 塩水噴霧試験 | １試料２４時間まで | 2,200 | 化学技術部 |
| E3070 | 耐沸騰水性試験 | １試料８時間につき | 2,310 | 化学技術部 |
| E3080 | 耐熱性試験 | １試料500℃まで８時間につき | 1,980 | 化学技術部 |
| E3090 | 外観撮影 | １枚につき | 440 | 化学技術部 |
試験計測料金：（18）電気化学試験
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3211 | 金属・合金の電極電位測定（１） | １試料につき４時間まで | 13,420 | 化学技術部 |
| E3212 | 金属・合金の電極電位測定（２） 1時間増 | 1時間増すごとに | 220 | 化学技術部 |
| E3221 | 金属・合金の腐食減量測定（１） | １試料につき２４時間まで | 12,430 | 化学技術部 |
| E3222 | 金属・合金の腐食減量測定（２） ２４時間増 | ２４時間増すごとに | 3,520 | 化学技術部 |
| E3223 | 異種金属接触腐食電流測定（１） | １試料につき４時間まで | 13,420 | 化学技術部 |
| E3224 | 異種金属接触腐食電流測定（２） 1時間増 | 1時間増すごとに | 220 | 化学技術部 |
| E3241 | 燃料電池の発電試験 | １時間当たり | 7,260 | 化学技術部 |
| E3242 | ガス透過率測定 | １試料につき（１時間当たり） | 5,720 | 化学技術部 |
| E3251 | 高露点測定（１） | ２４時間まで（１時間当たり） | 3,850 | 化学技術部 |
| E3252 | 高露点測定（２）２４時間増 | ２４時間増すごとに | 25,080 | 化学技術部 |
| E3253 | 燃料電池スタック試験（１） | ２４時間まで（８時間当たり） | 4,180 | 化学技術部 |
| E3254 | 燃料電池スタック試験（２）２４時間増 | ２４時間増すごとに | 6,710 | 化学技術部 |
| E3255 | スプレー塗工試験 | １時間当たり | 4,400 | 化学技術部 |
| E3261 | 電池充放電試験（１） | １試料につき６時間まで | 22,220 | 化学技術部 |
| E3262 | 電池充放電試験（２）６時間増 | ６時間増すごとに | 10,560 | 化学技術部 |
| E3263 | 電極の熱ロールプレス処理 | １試料１時間につき | 3,740 | 化学技術部 |
| E3265 | 大型電池充放電試験（２kW以下）（１） | １試料につき６時間まで | 8,580 | 化学技術部 |
| E3266 | 大型電池充放電試験（２kW以下）（２）６時間増 | ６時間増すごとに | 5,830 | 化学技術部 |
| E3270 | 金属の分極測定 | １試料につき | 17,820 | 化学技術部 |
| E3280 | 試料調製（１）（比較的容易） | E3211,E3212,E3221,E3222,E3223,E3224,E3261,E3262,E3270に適用 | 2,970 | 化学技術部 |
| E3290 | 試料調製（２）（比較的複雑） | E3211,E3212,E3221,E3222,E3223,E3224,E3261,E3262,E3270に適用 | 5,940 | 化学技術部 |
| E3295 | 電極の研磨 | １試料につき | 1,430 | 化学技術部 |
| E3296 | 腐食液・電解液作製 | １試料につき | 1,430 | 化学技術部 |
試験計測料金：（19）その他の試験（２）
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3310 | 超臨界炭酸ガス抽出 | １試料につき | 13,200 | 化学技術部 |
| E3311 | 超臨界水反応装置試験 | １試料につき | 39,160 | 化学技術部 |
| E3320 | 高速冷却遠心分離 | １試料につき | 4,620 | 化学技術部 |
試験計測料金：（20）繊維関連試験
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3450 | 繊維熱物性試験 | １試料１測定につき | 4,950 | 化学技術部 |
| E3460 | 重量測定 | １試料につき | 550 | 化学技術部 |
| E3620 | 編織物厚さ測定 | １試料につき | 2,090 | 化学技術部 |
| E3650 | 編織物通気度試験 | １試料につき | 2,530 | 化学技術部 |
| E3661 | 編織物強伸度測定 | １試料１方向につき | 2,860 | 化学技術部 |
| E3710 | 剛軟度試験 | １試料１方向につき | 1,100 | 化学技術部 |
| E3730 | はっ水度試験 | １試料につき | 2,420 | 化学技術部 |
| E3770 | 赤外線放射温度計による表面温度測定 | １試料１測定につき | 20,570 | 化学技術部 |
| E3820 | 糸強伸度測定（容易なもの） | １試料につき | 1,100 | 化学技術部 |
| E3930 | 赤外線放射計による放射率測定 | １試料１測定につき | 40,480 | 化学技術部 |
試験計測料金：（21）水・廃棄物・廃ガス
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4010 | 水質試験（Ａ）（容易なもの） | １項目につき（容易なもの） | 5,830 | 化学技術部 |
| E4020 | 水質試験（Ｂ）（複雑なもの） | １項目につき（複雑なもの） | 9,680 | 化学技術部 |
| E4030 | 溶出検液作成（Ａ）（６成分以下） | １試料につき (６成分以下) | 4,070 | 化学技術部 |
| E4040 | 溶出検液作成（Ｂ）（７成分以上） | １試料につき（７成分以上） | 7,370 | 化学技術部 |
試験計測料金：（22）その他の試験（３）
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4150 | 接触角測定試験 | １試料につき | 2,200 | 機械・材料技術部 |
| E4160 | ゼータ電位測定（Ａ）（微粒子分散溶液） | １試料につき | 10,120 | 機械・材料技術部 |
| E4170 | ゼータ電位測定（Ｂ）（平板形状試料） | １試料につき | 12,320 | 機械・材料技術部 |
| E4180 | 粒径分布測定（動的光散乱法） | １試料につき | 8,800 | 機械・材料技術部 |
| E4181 | 粒径分布測定（光顕微鏡による画像解析式） | １試料、合成画像１視野につき | 4,400 | 機械・材料技術部 |
| E4182 | 粒径分布測定（光顕微鏡による画像解析式） １視野追加 | 合成画像１視野追加につき | 2,200 | 機械・材料技術部 |
| E4190 | 比表面積測定（窒素ガス吸着法）（１）（容易なもの） | １試料につき | 20,900 | 機械・材料技術部 |
| E4191 | 比表面積測定（窒素ガス吸着法）（２）（複雑なもの） | １試料につき | 34,980 | 機械・材料技術部 |
| E4192 | 細孔分布解析 | １試料につき | 3,300 | 機械・材料技術部 |
試験計測料金：（23）木質材料・製品
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4210 | 圧縮試験 | １試料につき | 2,640 | 情報・生産技術部 |
| E4220 | 引張試験 | １試料につき | 2,970 | 情報・生産技術部 |
| E4240 | 曲げ試験（50kN以下） | １試料につき | 2,310 | 情報・生産技術部 |
| E4241 | 曲げ試験（50kN以下） （曲げ強さ及び曲げヤング係数等の算出を必要とするもの） | １試料につき | 3,410 | 情報・生産技術部 |
| E4250 | 摩耗試験 | １試料につき | 3,960 | 情報・生産技術部 |
| E4260 | 局所構造試験 | １試料１測定につき | 2,750 | 情報・生産技術部 |
| E4270 | 密度測定 | １試料につき | 1,430 | 情報・生産技術部 |
| E4280 | 含水率測定 | １試料につき | 5,720 | 情報・生産技術部 |
| E4281 | 含水率測定 １増 | 一緒の工程で１試料増すごとに | 2,200 | 情報・生産技術部 |
| E4310 | いす繰返し衝撃試験（１） | １試料１条件につき（4,000回まで） | 8,250 | 情報・生産技術部 |
| E4320 | いす繰返し衝撃試験（２） 4,000回増 | 同一試料に連続し4,000回増すごとに | 4,730 | 情報・生産技術部 |
| E4350 | いす繰返し耐久性試験（１） | １試料１条件につき（5,000回まで） | 9,130 | 情報・生産技術部 |
| E4360 | いす繰返し耐久性試験（２） 5,000回増 | 同一試料に連続し5,000回増すごとに | 4,730 | 情報・生産技術部 |
| E4370 | 垂直過重下の強度試験 | １試料１条件につき | 3,410 | 情報・生産技術部 |
| E4380 | 背もたれの静的強度試験 | １試料１条件につき | 3,410 | 情報・生産技術部 |
| E4390 | 脚部の静的強度試験 | １試料１条件につき | 3,410 | 情報・生産技術部 |
| E4480 | 煮沸繰返し試験 | １試料につき | 2,420 | 情報・生産技術部 |
| E4490 | 温冷水浸せき試験 | １試料につき | 1,540 | 情報・生産技術部 |
| E4510 | 試料調整（１） （鋸盤鉋盤などによる試験片作製） | １試料につき | 1,540 | 情報・生産技術部 |
| E4520 | 試料調整（２） （接着 調湿等の前処理を伴うもの） | １試料につき | 2,310 | 情報・生産技術部 |
| E4540 | デジタルマイクロスコープ写真 | １試料１ヶ所につき（写真１枚につき） | 330 | 情報・生産技術部 |
試験計測料金：（24）ＦＬ－net（ＯＰＣＮ－２）ネットワーク認証試験
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4820 | 適合性試験 | １試料６時間まで | 46,640 | 情報・生産技術部 |
| E4821 | 相互接続性試験 | １試料２時間まで | 31,130 | 情報・生産技術部 |
試験計測料金：（25）ＣＣ－Link適合性評価試験
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4910 | ノイズ試験 | １試料８時間まで | 28,710 | 情報・生産技術部 |
| E4920 | ハードウェア試験 | １試料４時間まで | 14,300 | 情報・生産技術部 |
| E4930 | ソフトウェア試験 | １試料１０時間まで | 35,860 | 情報・生産技術部 |
| E4940 | 組み合わせ試験 | １試料６時間まで | 21,560 | 情報・生産技術部 |
| E4950 | インタオぺラビリティ試験 | １試料５時間まで | 17,930 | 情報・生産技術部 |
| E4960 | エージング試験 | １試料１２時間まで | 13,310 | 情報・生産技術部 |
試験計測料金：（26）振動騒音関係
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4974 | 時間波形分析（振動） | １分析につき | 3,080 | 機械・材料技術部 |
| E4975 | 周波数分析（振動） | １分析につき | 4,730 | 機械・材料技術部 |
| E4976 | 振動試験 | １時間当たり | 7,920 | 機械・材料技術部 |
| E4977 | 損失係数測定（Ａ） | １試料１測定温度につき | 11,660 | 機械・材料技術部 |
| E4978 | 損失係数測定（Ｂ） １測定温度増 | １測定温度増すごとに | 1,210 | 機械・材料技術部 |
| E4979 | 振動試験（大型の試験機によるもの） | １時間当たり | 9,020 | 機械・材料技術部 |
| E4980 | 騒音測定 | １測定につき | 2,310 | 機械・材料技術部 |
| E4981 | オクターブ分析 | １分析につき | 3,190 | 機械・材料技術部 |
| E4982 | 時間波形分析（音） | １分析につき | 3,080 | 機械・材料技術部 |
| E4983 | 周波数分析（音） | １分析につき | 4,620 | 機械・材料技術部 |
| E4984 | 音響パワーレベル測定 | １測定につき | 9,350 | 機械・材料技術部 |
| E4985 | 音圧分布測定 | １測定面につき | 14,850 | 機械・材料技術部 |
| E4986 | 音質評価解析 | １測定につき | 5,280 | 機械・材料技術部 |
| E4987 | 吸音率測定 | １測定につき | 3,960 | 機械・材料技術部 |
試験計測料金：（27）機械設計・解析・造形
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4990 | 機械設計・解析 | １時間当たり | 5,170 | 情報・生産技術部 |
| E4994 | 構造解析 | １時間当たり | 8,360 | 機械・材料技術部 |
| E4995 | 高速度カメラ撮影 | １時間当たり | 5,390 | 情報・生産技術部 |
| E4996 | 高速度カメラ撮影（アナログ波形データ収集装置併用） | １時間当たり | 5,940 | 情報・生産技術部 |
| E4993 | 三次元モデリング（簡易なもの） | １時間当たり | 4,400 | 情報・生産技術部 |
| E4997 | 三次元造形前処理 | １時間当たり | 2,970 | 情報・生産技術部 |
| E4991 | 三次元造形（小型インクジェット式３Ｄプリンター） | １時間当たり | 660 | 情報・生産技術部 |
| E4998 | 三次元造形（インクジェット式３Dプリンター） | １時間当たり | 2,750 | 情報・生産技術部 |
| E5000 | 三次元造形（光造形式３Dプリンター） | １時間当たり | 1,430 | 情報・生産技術部 |
| E4999 | 三次元造形後処理 | １時間当たり | 3,300 | 情報・生産技術部 |
試験計測料金：（28）微生物・生化学・食品試験
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5010 | 一般細菌数試験 | １試料につき | 3,850 | 化学技術部 |
| E5020 | 大腸菌数試験 | １試料につき | 3,960 | 化学技術部 |
| E5030 | 嫌気性菌数試験 | １試料につき | 5,060 | 化学技術部 |
| E5035 | 抗菌力評価試験 | １試料１測定につき | 5,610 | 化学技術部 |
| E5040 | 抗酸化性測定（１） | １試料につき | 3,300 | 化学技術部 |
| E5041 | 抗酸化性測定（２）（ORAC法による） | １試料につき | 10,890 | 化学技術部 |
| E5060 | 酵素阻害活性測定（１）（複雑なもの） | １試料につき | 6,490 | 化学技術部 |
| E5061 | 酵素阻害活性測定（２）（容易なもの） | １試料につき | 4,730 | 化学技術部 |
| E5062 | 抗糖化性測定（１）（複雑なもの） | １試料につき | 6,160 | 化学技術部 |
| E5063 | 抗糖化性測定（２）（容易なもの） | １試料につき | 4,730 | 化学技術部 |
| E5090 | 水分定量（常圧乾燥法による） | １試料につき | 4,180 | 化学技術部 |
| E5091 | 遊離アミノ酸組成分析 | １試料につき | 36,520 | 化学技術部 |
| E5100 | タンパク質定量（Bradford法、Lowry法、BCA法による） | １試料につき | 3,850 | 化学技術部 |
| E5110 | 脂質定量（ソックスレー抽出法による） | １試料につき | 4,840 | 化学技術部 |
| E5120 | 灰分定量（直接灰化法による） | １試料につき | 4,840 | 化学技術部 |
| E5130 | 総ポリフェノール定量（Folin-Ciocalteu法による） | １試料につき | 3,960 | 化学技術部 |
| E5140 | 炭水化物定量（フェノール-硫酸法による） | １試料につき | 9,570 | 化学技術部 |
| E5150 | リグニン定量（硫酸法による） | １試料につき | 8,470 | 化学技術部 |
| E5160 | サフラン試験 | １試料につき | 26,510 | 化学技術部 |
| E5170 | 凍結乾燥（24時間まで） | 24時間まで | 5,500 | 化学技術部 |
| E5171 | 凍結乾燥（24時間増すごとに） | 24時間増すごとに | 2,530 | 化学技術部 |
| E5180 | 試料調製（１）（簡易なもの） | E5010～E5171に適用 | 1,540 | 化学技術部 |
| E5181 | 試料調製（２）（基本的なもの） | E5010～E5171に適用 | 3,300 | 化学技術部 |
| E5182 | 試料調製（３）（複雑なもの） | E5010～E5171に適用 | 6,380 | 化学技術部 |
| E5183 | 試料調製（４）（困難なもの） | E5010～E5171に適用 | 9,900 | 化学技術部 |
試験計測料金：（29）デザイン・企画
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5280 | デザイン・企画 | １時間につき | 3,080 | 情報・生産技術部 |
試験計測料金：（30）研究生の指導
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5310 | 研究生の指導 | １人１日につき | 1,100 | |
| E5320 | 研究生の指導 １人増 | 研究生１人増すごとに | 550 |
試験計測料金：（31）成績書の複本の交付
単位：円
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5350 | 成績書の複本・データ等の交付 | １通につき（写真を含む場合は別に加算することができる） | 300 |
機器使用料金
| （1）材料試験機 | （2）金属加工 | （3）電子関連装置 | （4）分析・評価機器 | （5）環境試験装置 |
| （6）木工加工 | （7）形状測定機器 | （8）測定計測装置 | （9）温度熱量測定装置 | （10）その他の機器 |
| （11）設備 | （12）ファブラボ |
機器使用料金：（1）材料試験機
単位：円 （１時間当たり）
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E6050 | 材料試験機（５kN） | インストロンジャパン 5565型 | 1,210 | 化学技術部 |
| E6080 | 万能材料試験機 | オリエンテック UTA-5T | 990 | 情報・生産技術部 |
機器使用料金：（2）金属加工
単位：円 （１時間当たり）
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E6210 | コンターマシン | アマダ VA-500 | 330 | 情報・生産技術部 |
| E6230 | 平面研削盤 | 岡本 PSG-52DX | 1,540 | 機械・材料技術部 |
| E6240 | ボール盤 | ヤマモト YSDT-550 | 110 | 機械・材料技術部 |
| E6270 | 切断機 | Hストルアス社 ディスコトム | 1,320 | 機械・材料技術部 |
| E6290 | 超精密正面切削装置 | 東芝機械 ULC-100A(H) | 6,820 | 機械・材料技術部 |
| E6310 | 帯鋸盤 | アマダ HA300 | 880 | 情報・生産技術部 |
| E6340 | 旋盤 | 昌運 ST-5 | 1,100 | 機械・材料技術部 |
| E6350 | ＣＮＣ旋盤 | オークマ LS-30N | 5,170 | 機械・材料技術部 |
| E6360 | 旋盤 | シャブリン SV-150A | 1,980 | 機械・材料技術部 |
| E6370 | フライス盤 | デッケル FP1 | 2,310 | 機械・材料技術部 |
| E6380 | 立形マシニングセンター | 牧野フライス製作所 V33 | 3,080 | 情報・生産技術部 |
機器使用料金：（3）電子関連装置
単位：円 （１時間当たり）
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E6620 | 電極形成装置の本体システム | ＫＨエレクトロニクス 特別仕様 | 18,370 | 電子技術部 |
| E6650 | 定エネルギー分光器 | 日本分光 YQ-250CW-GT | 11,990 | 電子技術部 |
| E6660 | ボロメータ評価システム用高温電気測定用チャンバ | テクノロ工業 特別仕様 | 4,510 | 電子技術部 |
| E6670 | ボロメータ評価システム用光源システム | 日本分光 SS-25GT | 12,100 | 電子技術部 |
| E6680 | 陽極接合装置 | アユミ工業 AB-40特注品 | 12,430 | 電子技術部 |
| E6690 | マスクアライナ | ミカサ MA-20 | 7,590 | 電子技術部 |
| E6730 | 研磨機 | ムサシノ電子 MA-200 | 2,640 | 電子技術部 |
| E6740 | 酸化拡散装置 | ＫＨエレクトロニクス 特別仕様 | 18,920 | 電子技術部 |
| E6760 | 高温小型真空雰囲気炉 | ナガノ NEWTONIAN PASCAL40 | 6,600 | 電子技術部 |
| E6770 | 超音波ボールボンダ | ウエストボンド 7700A | 7,040 | 電子技術部 |
| E6780 | ボンディング装置 | 日本アビオニクス NA-90 | 2,200 | 電子技術部 |
| E6790 | チップ付け装置 | ウェストボンド 7200A | 2,530 | 電子技術部 |
| E6810 | 超音波ウェッジボンダ | ウェストボンド 7400A | 5,500 | 電子技術部 |
| E6840 | ダイシング装置 | ディスコ DAD-2H/6T | 13,090 | 電子技術部 |
| E6880 | アッシャー装置 | 東京応化工業 OPM-EM600 | 12,540 | 電子技術部 |
| E6950 | 光干渉式膜厚測定装置 | 大日本スクリーン VM-8000J | 2,970 | 電子技術部 |
| E6960 | 超深度形状測定顕微鏡(レーザー顕微鏡) | キーエンス VK8500 | 1,980 | 電子技術部 |
| E6965 | ハイブリッドレーザー顕微鏡 データ解析 | レーザーテック OPTELICS HYBRID | 990 | 電子技術部 |
| E6980 | 焼き付け装置 | デルタデザイン（米国） 9023型 | 880 | 電子技術部 |
機器使用料金：（4）分析・評価機器
単位：円 （１時間当たり）
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E7020 | 金属顕微鏡 | ニコン X2-T1-NR | 550 | 機械・材料技術部 |
| E7151 | デジタルマイクロスコープシステム | スカラ DG-3 | 110 | 情報・生産技術部 |
| E7160 | 顕微鏡 | オリンパス CKX41N-31PHP | 330 | 化学技術部 |
| E7170 | 分光蛍光光度計 | 日立 F-4010 | 4,400 | 化学技術部 |
| E7230 | マイクロフォーカスＸ線テレビ装置 | 島津製作所 SMX-160ET | 4,290 | 機械・材料技術部 |
| E7240 | Ｘ線ＣＴスキャン装置 | ユニハイトシステム XVA-160 Noix+Presto | 12,100 | 機械・材料技術部 |
| E7280 | 透明プラスチック残留応力観察装置 | 理光研 ポラリスコープPS-5 | 1,540 | 化学技術部 |
機器使用料金：（5）環境試験装置
単位：円 （１時間当たり）
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E7310 | 人工気象室 | タバイエスぺック TBL-9W4YPX | 22,990 | 化学技術部 |
| E7360 | 断熱反応装置 | コロンビアサイエンティフィック ARC | 8,360 | 化学技術部 |
| E7370 | 熱流束型熱量計 | セタラム C-80 | 19,030 | 化学技術部 |
| E7470 | 簡易半無響室 | 小野測器 | 1,540 | 機械・材料技術部 |
機器使用料金：（6）木工加工
単位：円 （１時間当たり）
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E7720 | ツールチェンジＮＣ加工機 | 平安コーポレーション NC-151MC-1508 | 1,980 | 情報・生産技術部 |
| E7730 | ルータ | 平安鉄工 NC-131P-1008 | 660 | 情報・生産技術部 |
| E7740 | 油圧プレス | 小林機械工業 KU-CPP3366 | 110 | 情報・生産技術部 |
| E7750 | 油圧プレス（ホットプレス） | セイブ HP-2 | 220 | 情報・生産技術部 |
| E7760 | マイクロ波加熱装置 | 新日本無線 NTA-2010 | 220 | 情報・生産技術部 |
機器使用料金：（7）形状測定機器
単位：円 （１時間当たり）
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E7810 | 万能測定顕微鏡 | カールツァイス UMM300/100 | 2,200 | 情報・生産技術部 |
| E7820 | 精密表面形状測定装置 | 東京精密 ｻｰﾌｺﾑ700B ｻｰﾌﾗｲｻﾞ2000A | 1,540 | 情報・生産技術部 |
機器使用料金：（8）測定計測装置
単位：円 （１時間当たり）
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E7980 | 精密変位測定装置 | キーエンス LD-2500/LD-2510 | 550 | 情報・生産技術部 |
| E8010 | 薄膜屈折率測定装置 | 溝尻光学 DHA-XA型 | 8,800 | 電子技術部 |
| E8020 | 位相差測定装置 | ニコン NPDM-1000 | 7,920 | 電子技術部 |
| E8040 | Ｃ－Ｖ測定装置 | YHP 4280A | 5,830 | 電子技術部 |
| E8090 | ボロメータ測定システム微小信号測定システム | セイコー 5302 | 4,950 | 電子技術部 |
| E8150 | 膜厚計 | 小坂研究所 ET4000AKR | 2,860 | 電子技術部 |
| E8190 | マルチフリケンシャルＬＣＲメータ | YHP YHP4274A/YHP4275A | 2,860 | 電子技術部 |
| E8200 | 絶縁抵抗計 | キーサイト・テクノロジー 4339B | 3,080 | 電子技術部 |
| E8220 | Ｑメータ | YHP YHP4285A | 2,970 | 電子技術部 |
| E8250 | 分光測色計 | ミノルタカメラ CM-1000 | 440 | 化学技術部 |
| E8251 | 光沢計 | 日本電色工業 VGS-300A | 220 | 化学技術部 |
| E8260 | 音響インテンシティ測定装置 | 小野測器 CF6400INT/MOD | 10,120 | 機械・材料技術部 |
| E8261 | 音質評価システム | 小野測器 WS-5160 | 660 | 機械・材料技術部 |
| E8262 | 吸音率測定システム | 小野測器 SR-4100 | 990 | 機械・材料技術部 |
| E8270 | 伝導イミュニティ測定システム | ノイズ研究所 ESS-B3011 | 3,630 | 電子技術部 |
| E8370 | EMI予備測定システム | HP EMI簡易測定ｼｽﾃﾑ | 3,520 | 電子技術部 |
| E8430 | ガウスメータ（最小測定レンジ:2mT、最大測定レンジ:2T） | ベル 9200型 | 880 | 電子技術部 |
| E8431 | ガウスメータ（最小測定レンジ:0.35mT、最大測定レンジ:3.5T） | Lake shore Inc 455型 | 1,320 | 電子技術部 |
| E8470 | ＰＣベース計測器 | 横河電機 WE700ｼｽﾃﾑ | 660 | 情報・生産技術部 |
| E8480 | レーザ寸法測定器 | キーエンス LS-5000 | 220 | 情報・生産技術部 |
| E8495 | USB2.0バスアナライザ | ヒロテック HUSB 200 128MB | 550 | 情報・生産技術部 |
| E8500 | ロジックアナライザー | 日本テクトロニクス TLA5201 | 1,540 | 機械・材料技術部 |
機器使用料金：（9）温度熱量測定装置
単位：円 （１時間当たり）
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E8530 | 赤外線温度分布測定機 | 日本バ－ンズ ﾓﾃﾞﾙ600L | 6,710 | 化学技術部 |
| E8550 | 風合い計測システム | カトーテック KES-F7ｻｰﾓﾗﾎﾞⅡ | 3,190 | 化学技術部 |
| E8580 | プラスチック用熱伝導率計 | 京都電子工業 QTM-D3型 | 4,730 | 化学技術部 |
| E8610 | 熱機械試験機 | マックサイエンス TMA-400 | 5,610 | 化学技術部 |
| E8620 | 赤外線放射計 | 日本バーンズ SA-200 | 8,140 | 化学技術部 |
機器使用料金：（10）その他の機器
単位：円 （１時間当たり）
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E8711 | 振動試験機 | IMV VS-2000A-140T | 4,950 | 機械・材料技術部 |
| E8712 | 振動試験システム | IMV i250/SA5M | 6,050 | 機械・材料技術部 |
| E8713 | 制振性能測定装置 | ブリュエルケアー PULSE/MS-18143型 | 4,290 | 機械・材料技術部 |
| E8720 | 高速冷却遠心機 | クボタ 6800 | 1,760 | 化学技術部 |
| E8790 | 脱脂炉 | ネムス MT-400 | 990 | 機械・材料技術部 |
| E8810 | 混練機 | 森山 DSI-5GHH-E | 2,640 | 機械・材料技術部 |
| E8820 | 金属粉末射出成形装置 | 東芝機械 IS30EPN-1A | 2,090 | 機械・材料技術部 |
| E8840 | 電気炉 | 炉研工業 ﾏｯﾌﾙ型加熱炉 HI | 1,210 | 機械・材料技術部 |
| E8841 | 卓上型電気炉 | 柴田科学器械工業 ｽｰﾊﾟｰﾌｧｰﾈｽSF-17L | 1,100 | 機械・材料技術部 |
| E8870 | ラバープレス（CIP) | 日機装 CL4-22-60 | 2,310 | 機械・材料技術部 |
| E8910 | 乾式塗装ブース | サンエス工業 DS-CSS-1200 | 1,760 | 化学技術部 |
| E8960 | 制御雰囲気炉 | 同和工業 TMA | 1,760 | 機械・材料技術部 |
| E8970 | 熱間加工再現試験装置 | 富士電波工機 ｻｰﾒｯｸﾏｽﾀｰZ | 11,330 | 機械・材料技術部 |
| E8975 | 熱処理再現試験装置 | 富士電波工機 特注品FTA-153VTほか | 9,130 | 機械・材料技術部 |
| E8980 | シリコニット箱型炉 | シリコニット高熱工業 SFB-2040 | 880 | 機械・材料技術部 |
| E9016 | 摩耗試験機（研磨紙使用無し） | 東洋精機 NO410 GS10付 | 110 | 情報・生産技術部 |
| E9040 | 濃縮機（遠心式濃縮機） | タイテック VC-96N | 110 | 化学技術部 |
| E9060 | フレンチプレス細胞破砕機 | アミンコ FA078 | 440 | 化学技術部 |
| E9061 | マルチ検出モードプレートリーダー | テカンジャパン Infinite200Pro | 1,320 | 化学技術部 |
| E9090 | 電磁界解析装置 | 独国ＣＳＴ社 MW-Studio Transient Solver | 1,760 | 電子技術部 |
機器使用料金：（11）設備
単位：円 （１時間当たり）
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E9210 | 製品開発室 | 実験棟 １･２･４階 | 81 | 事業化支援部 |
| E9220 | ドラフトチャンバー（製品開発室） | 実験棟 １階 | 234 | 事業化支援部 |
機器使用料金：（12）ファブラボ
単位：円 （１時間当たり）
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E9610 | ファブラボ（Ⅰ） | ３Dプリンタ使用可、装置類取扱い指導有 | 3,300 | 電子技術部 |
| E9620 | ファブラボ（Ⅱ） | ３Dプリンタ使用可、装置類取扱い指導無 | 550 | 電子技術部 |
| E9630 | ファブラボ（Ⅲ） | ３Dプリンタ使用不可、装置類取扱い指導無 | 220 | 電子技術部 |