海老名本部：手数料及び使用料表

平成31年度版

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※手数料、使用料とも消費税を含んでいます。　

金属材料・部品の試験 電気・電子の試験 磁気関係 非破壊検査試験 半導体関係
環境試験 電磁波ノイズ試験 その他の試験（１） 無機定性・定量分析 表面分析
分光分析 クロマトグラフ分析 熱分析 Ｘ線解析 有機物分析
合成樹脂（プラスチック） 塗料・塗膜試験 その他の試験（２） 繊維関連試験 水・廃棄物・廃ガス
その他の試験（３） 木質材料・製品 加工（金属加工） FL-net（OPCN-2）ネットワーク認証試験 ＣＣ－Ｌｉｎｋ適合性評価試験
振動騒音関係 機械設計・解析・三次元造形 微生物・生化学・食品試験 デザイン・企画 研究生の指導
成績書の複本の交付 認定試験

金属材料・部品の試験

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E0011 走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍以下 １試料１視野観察につき 19,800 機械・材料技術部
K1310
E0012 走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍以下 １視野追加観察につき 4,400 〃
K1315
E0013 走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍を超えて１０万倍以下 １試料１視野観察につき 28,600 〃
K1320
E0014 走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍を超えて１０万倍以下 １視野追加観察につき 8,800 〃
K1325
E0015 走査電子顕微鏡写真撮影　１０万倍を超えるもの １試料１視野観察につき 50,600 〃
K1330
E0016 走査電子顕微鏡写真撮影　１０万倍を超えるもの １視野追加観察につき 14,300 〃
K1335
E0017 走査電子顕微鏡写真撮影　１０～１５視野 110,000 〃
K1392
E0018 走査電子顕微鏡写真撮影　１６～３０視野 165,000 〃
K1395
E0021 元素分析（No.E0011～0018に適用） １ヶ所につき 6,710 機械・材料技術部
E1790 電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位解析 １試料当たり 45,210 〃
E1791 電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位解析　１ヶ所増 １ヶ所増すごとに 11,220 〃
E0022 走査電子顕微鏡試料調整（イオンミリング法）（１）（標準的なもの） 44,330 〃
E0023 走査電子顕微鏡試料調整（イオンミリング法）（２）（複雑なもの） 66,110 〃
E0031 金属組織写真撮影 写真１枚につき 9,680 〃
K5100
E0040 写真焼増し 写真１枚につき 330 〃
K5111
E0050 外観写真撮影 写真１枚につき 4,840 〃
K5112
E0060 マクロ組織写真 写真１枚につき 7,260 〃
K5113
E0070 写真撮影箇所増し（No.E0031,E0050,E0060に適用） 同一試料で１ヶ所増すごとに 2,750 〃
K5114
E0080 顕微鏡試料調整（１） （容易なもの） １試料につき 1,760 〃
K5120
E0090 顕微鏡試料調整（２）（標準的なもの） １試料につき 3,300 〃
K5121
E0091 顕微鏡試料調整（３）（比較的複雑なもの） １試料につき 6,600 〃
K5122
E0092 顕微鏡試料調整（４）（非常に複雑なもの） １試料につき 9,680 〃
K5123
E0110 引張・圧縮・曲げ試験（１）（簡単な試験） １試料１条件につき 2,310 機械・材料技術部
E0120 引張・圧縮・曲げ試験（２）（比較的簡単な試験） １試料１条件につき 3,850 〃
E0130 引張・圧縮・曲げ試験（３）（標準的な試験） １試料１条件につき 5,060 〃
E0140 引張・圧縮・曲げ試験（４）（やや複雑な試験） １試料１条件につき 6,600 〃
E0150 引張・圧縮・曲げ試験（５）（複雑な試験） １試料１条件につき 9,900 〃
E0160 大型構造物強度試験（１）（簡単な試験） １試料１条件につき 8,140 〃
E0165 大型構造物強度試験（２）（標準的な試験） １試料１条件につき 13,530 〃
E0170 大型構造物強度試験（３）（複雑な試験） １試料１条件につき 20,680 〃
E0175 常温シャルピー衝撃試験 １試料につき 1,320 〃
E0176 低温シャルピー衝撃試験 １試料につき 2,970 〃
E0180 硬さ試験 １点につき 990 情報・生産技術部
K5330
E0191 薄膜・微小部硬さ試験 １試料１ヶ所につき 20,680 機械・材料技術部
E0192 薄膜・微小部硬さ試験　１ヶ所増 １ヶ所増すごとに 9,460 〃
E0211 トライボ試験 １試料１条件につき 7,260 〃
E0212 トライボ試験　１件増 １条件増すごとに 3,300 〃
E0220 三次元座標測定 １試料１時間につき 15,290 情報・生産技術部
E0230 三次元座標測定（光学式） １時間当たり 7,700 〃
E0240 表面粗さ測定（Ａ）（簡単な形状） １試料１ヶ所につき 1,210 〃
E0250 表面粗さ測定（Ｂ）（複雑な形状） １試料１ヶ所につき 2,750 〃
E0270 工具寿命試験 １試料１項目につき(バイト被削材は持ち込み) 14,960 〃
E0290 Ｘ線残留応力測定 １試料１方向につき 5,390 機械・材料技術部
E0310 切削抵抗測定 １項目につき(バイト被削材は持ち込み) 11,000 情報・生産技術部
E0415 疲労試験　１時間以内 １試料１条件につき 5,720 機械・材料技術部
E0420 疲労試験　８時間以内 １試料１条件につき 16,280 〃
E0431 疲労試験　大型構造物　８時間以内 １試料１条件につき 20,900 〃
E0435 疲労試験　８時間増（No.E0420,E0431に適用） ８時間を超えて８時間増すごとに 6,820 〃
E0440 熱間加工性試験 １試料につき 7,370 〃
E0450 ＮＣ放電加工試験 １時間につき 2,310 情報・生産技術部
E0460 ホットプレス処理 １時間当たり 7,810 機械・材料技術部
E0470 ＨＩＰ処理 １時間当たり 18,040 〃
E0480 熱処理特性試験 １時間当たり 12,100 〃
E0490 立形マシニングセンターによる加工 １時間当たり 6,050 情報・生産技術部
E0495 5軸制御マシニングセンターによる加工 １時間当たり 6,380 情報・生産技術部

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　電気・電子の試験

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E0510 電流電圧測定（１ｍＡ以上，１ｍＶ以上） １試料１条件につき 2,970 電子技術部
E0570 電気抵抗測定 １試料１条件につき 3,630 〃
E0591 四探針法による抵抗率測定 １試料１測定につき 9,350 〃
E0660 電気機器・漏れ電流測定 １条件１測定につき 4,400 〃
E0670 電気機器・耐電圧試験 １試料１測定につき 3,740 〃
E0680 電気機器・接地回路の抵抗測定 １条件１測定につき 4,510 〃
E0690 ＬＣＲ測定 １試料１条件につき 8,800 〃
E0710 ＬＣＲ測定 １ヶ所増 １試料につき測定点１ヶ所増すごとに 2,860 〃
E0750 絶縁抵抗試験 １条件１測定につき 4,620 〃
E0760 電気機器・温度試験 １測定点につき 2,750 〃
E0761 はんだ継手強度試験 １測定条件につき（１０測定点まで） 17,820 〃
E0762 はんだ継手強度試験　５増 ５測定点増すごとに 8,030 〃
E0767 熱抵抗測定 １時間当たり 9,020 〃
E0770 マイクロ波スペクトラムアナライザ測定 １条件１測定につき 8,030 〃
E0771 マイクロ波スペクトラムアナライザ測定　１件増 １測定増すごとに 3,410 〃
E0780 ネットワークアナライザ測定（マルチポート） １測定につき 9,680 〃
E0791 ネットワークアナライザ測定（４ポートまで） １試料１条件につき 7,040 〃
E0792 ネットワークアナライザ測定（４ポートまで）　１件増 １条件増すごとに 2,750 〃
E0813 電源変動及び瞬停試験 ２時間まで 11,330 〃
E0814 電源変動及び瞬停試験　１時間増 １時間増すごとに 5,610 〃
E0820 電気機器・電力測定 １試料１条件につき 4,950 〃
E0830 高周波伝送特性測定（Ｓパラメータ・ＴＤＲ測定） １条件１測定につき 14,740 〃
E0840 高周波伝送特性測定（Ｓパラメータ・ＴＤＲ測定）　１件増 １測定増すごとに 3,850 〃
E0850 マイクロ波誘電率測定（共振器法・誘電体プローブ法） １条件１測定につき 17,050 〃
E0860 マイクロ波誘電率測定（共振器法・誘電体プローブ法）　１件増 １測定増すごとに 5,720 〃
E0870 マイクロ波誘電率・透磁率測定（Ｓパラメータ法） １条件１測定につき 15,620 〃
E0880 マイクロ波誘電率・透磁率測定（Ｓパラメータ法）　１件増 １測定増すごとに 4,290 〃
E0881 マイクロ波誘電率・透磁率測定（ハーモニック共振器法） １測定につき 17,600 〃
E0890 1000BASE-Tコンプライアンステスト １時間につき 4,400 情報・生産技術部

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磁気関係

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E0910 磁化特性測定（ＶＳＭ方式） １試料１測定につき 6,160 電子技術部
E0920 磁化特性測定（積分方式） １試料１測定につき 4,290 〃
E0930 磁歪測定 １試料１測定につき 17,820 〃
E0931 磁歪測定　条件増 １条件増すごとに 11,330 〃
E0940 磁化温度特性測定 １試料１測定につき 19,360 〃
E0950 薄膜交流透磁率測定 １試料１測定につき 5,060 〃
E0951 交流磁化特性測定（B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス） １試料１測定につき 9,460 〃
E0952 交流磁化特性測定（B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス）条件増 １条件増すごとに 6,270 〃
E0953 交流磁化特性測定（B-H曲線無しの連続測定、可変条件は１） １試料５測定まで 15,950 〃
E0954 交流磁化特性測定（B-H曲線無しの連続測定、可変条件は１）測定増 １測定増すごとに 2,420 〃
E0958 試料調整 １時間当たり 2,970 〃
E0959 データ処理 １時間当たり 2,970 〃

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非破壊検査試験

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E0960 Ｘ線透過試験 １時間当たり 7,260 機械・材料技術部
E0981 Ｘ線ＣＴ撮影（容易なもの） １測定につき 32,670 〃
E0982 Ｘ線ＣＴ撮影（標準的なもの） １測定につき 49,060 〃
E0983 Ｘ線ＣＴ撮影（複雑なもの） １測定につき 65,340 〃
E0990 非破壊超音波映像撮影 １時間当たり 9,240 電子技術部
E0991 非破壊超音波映像撮影（データ解析のみ） １解析当たり 3,630 〃

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半導体関係

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E1030 薄膜屈折率測定 １試料につき 23,100 電子技術部
E1040 定エネルギー分光測定 １条件につき 34,760 〃
E1050 膜厚測定 １試料１測定点につき 5,390 〃
E1051 三次元微細形状測定 標準１測定当たり 11,660 〃
E1060 フォトルミネッセンス測定 １試料１条件につき 41,360 〃
E1070 高分解能（１nm以下）フォトルミネッセンス測定 １試料１条件につき 81,730 〃
E1080 低温光特性評価 １試料１条件につき 33,550 〃
E1090 位相差測定 １試料１条件につき 10,890 〃
E1120 酸化拡散試験 １時間当たり 24,310 〃
E1130 光干渉式膜厚測定 １試料１測定点につき 2,970 〃
E1140 光干渉式膜厚測定　１増 １試料につき１測定点増すごとに 1,430 〃
E1145 ハイブリッドレーザー顕微鏡 １測定１解析につき 8,360 〃
E1146 ハイブリッドレーザー顕微鏡 １視野追加につき 4,180 〃
E1150 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 １測定１解析につき 8,030 〃
E1151 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定　１増 １解析増すごとに 2,090 〃
E1152 ホール効果測定 １試料１条件につき 20,240 〃
E0767 熱抵抗測定 １時間当たり 9,020 〃
E1153 超音波ウェッジボンダ試験 １時間当たり 8,470 〃
E0763 超音波ボールボンダ試験 １時間当たり 10,010 〃
E0763 ワイヤーボンディング強度試験 １測定条件につき（１０測定点まで） 20,570 〃
E0764 ワイヤーボンディング強度試験　５増 ５測定点増すごとに 9,460 〃
E0765 ダイシェア試験 １測定条件につき（１０測定点まで） 21,890 〃
E0766 ダイシェア試験　５増 ５測定点増すごとに 10,120 〃
E1155 ダイシング加工（半導体基板精密加工） １時間当たり 16,280 〃
E1156 真空蒸着 標準１試料当たり 36,190 〃
E1157 真空蒸着　1増 １条件増すごとに 17,600 〃
E1158 スパッタ成膜 標準１試料当たり 47,410 〃
E1160 イオンプレーティング成膜 標準１試料当たり 48,510 〃
E1170 イオンプレーティング成膜　１条件増 １条件増すごとに 18,810 〃
E1180 アッシャーによるプラズマ処理 １条件１時間につき 17,270 〃
E1190 ＥＣＲプラズマエッチング 標準１試料当たり 46,640 〃
E1191 高精度フォトリソグラフィ １枚につき 24,310 〃
E1192 高精度フォトリソグラフィ　１枚増 １枚増すごとに 8,690 〃
E1200 電子線リソグラフィ　 １時間当たり 9,680 〃
E1201 電子線リソグラフィ試料調整 １試料につき 8,910 〃
E1211 クリーン雰囲気試験 １時間当たり 5,940 〃

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環境試験

E1386パワーサイクル試験８時間まで20,350〃E1387パワーサイクル試験８時間増すごとに9,900〃
No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E1230 恒温恒湿槽（中） ２４時間まで 18,150 電子技術部
K5410
E1240 恒温恒湿槽（中）２４時間増 ２４時間増すごとに 7,370 〃
K5411
E1270 恒温恒湿槽（中）サイクル ２４時間まで 23,100 〃
K5415
E1280 恒温恒湿槽（中）サイクル２４時間増 ２４時間増すごとに 8,360 〃
K5416
E1290 高温槽 ２４時間まで 11,220 電子技術部
E1310 高温槽　２４時間増 ２４時間増すごとに 5,720 〃
E1320 プレッシャークッカー試験 ２４時間まで 18,150 〃
K5440
E1330 プレッシャークッカー試験　２４時間増 ２４時間増すごとに 11,660 〃
K5441
E1350 冷熱衝撃試験(中) ８時間まで 9,680 電子技術部
化学技術部
K1810
E1360 冷熱衝撃試験(中)　８時間増 ８時間増すごとに 5,060 〃
K1811
E1361 ハイパワー恒温恒湿槽（ARSF） ２４時間まで 25,615 電子技術部
E1362 ハイパワー恒温恒湿槽（ARSF）２４時間増 ２４時間増すごとに 13,750 〃
E1363 冷熱衝撃試験（中・TSA） ８時間まで 11,550 〃
E1363 冷熱衝撃試験（中・TSA）８時間増 ８時間増すごとに 5,720 〃
E1365 HAST試験 ２４時間まで 18,920 〃
E1366 HAST試験　２４時間増 ２４時間増すごとに 12,980 〃
E1370 恒温恒湿槽（大、１５０℃対応） ２４時間まで

29,260

 〃
E1375 温恒湿槽（大、１５０℃対応）　２４時間増 ２４時間増すごとに 16,060 〃
E1380 冷熱衝撃試験（大） ８時間まで 12,870 〃
E1385 冷熱衝撃試験（大）　８時間増 ８時間増すごとに 6,600 〃
E1390 小型恒温恒湿槽（SH） ２４時間まで 15,730 〃
E1386 パワーサイクル試験 ８時間まで 20,350 〃
E1387 パワーサイクル試験　８時間増 ８時間増すごとに 9,900 〃
E1391 小型恒温恒湿槽（SH）　２４時間増 ２４時間増すごとに 6,710 〃
E1392 小型恒温槽（温度のみ） ２４時間まで 12,540 〃
E1393 小型恒温槽 （温度のみ）　２４時間増 ２４時間増すごとに 5,060 〃
E1394 人工気象室（小型） １時間ごとに 5,170 化学技術部
E1395 人工気象室（大型） １時間ごとに 7,590 〃
E1396 日射装置 １時間ごとに（人工気象室（大型）の料金に加算） 6,380 〃
E1397 促進耐候性試験(キセノン) 標準条件（放射照度60W/m2、BPT63℃、スプレー18分/120分）の場合　１試料５０時間につき 19,690 化学技術部
E1398 試料取付費 １ホルダーにつき(No.1397に適用) 2,970 〃
E1399 試料抜取り費 １ホルダーにつき(No.1397に適用) 1,430 〃
E3520 耐光試験（カーボンアーク） １試料につき２０時間 1,540 〃

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電磁波ノイズ試験

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E1410 放射妨害波測定 ２時間まで 37,400 電子技術部
E1420 放射妨害波測定　１時間増 １時間増すごとに 14,410 〃
E1425 車載機器の放射・伝導妨害波測定 ２時間まで 37,400 〃
E1426 車載機器の放射・伝導妨害波測定　１時間増 １時間増すごとに 14,410 〃
E1430 電源・通信ポート伝導妨害波測定 １時間まで 22,990 〃
E1440 電源・通信ポート伝導妨害波測定　１時間増 １時間増すごとに 14,410 〃
E1450 雑音電力測定 １時間まで 23,100 〃
E1460 雑音電力測定　１時間増 １時間増すごとに 14,410 〃
E1471 放射電磁界イミュニティ試験 ２時間まで 29,150 〃
E1481 放射電磁界イミュニティ試験　１時間増 １時間増すごとに 11,110 〃
E1490 静電気放電イミュニティ試験 １時間まで 11,440 〃
E1510 静電気放電イミュニティ試験　１時間増 １時間増すごとに 6,710 〃
E1520 電気的ファーストトランジェント／
バーストイミュニティ試験		 １時間まで 11,440 〃
E1530 電気的ファーストトランジェント／
バーストイミュニティ試験　１時間増		 １時間増すごとに 6,710 〃
E1540 雷サージイミュニティ試験 １時間まで 11,440 〃
E1550 雷サージイミュニティ試験 １時間増 １時間増すごとに 6,710 〃
E1551 伝導電磁界イミュニティ試験 １時間まで 17,930 〃
E1552 伝導電磁界イミュニティ試験　１時間増 １時間増すごとに 10,890 〃
E1560 インパルスノイズ試験 １時間まで 11,440 〃
E1570 インパルスノイズ試験　１時間増 １時間増すごとに 6,710 〃
E1581 電磁波シールド効果測定 （100kHz～1GHz、KEC法） １試料１測定（電界または磁界）につき 5,940 〃
E1600 マイクロ波電磁波シールド効果測定 （1GHz～8.5GHz、2焦点型扁平空洞） １試料１測定につき 6,600 〃
E1605 電波透過特性測定（マイクロ波帯） １条件１測定につき 14,850 〃
E1606 電波透過特性測定（マイクロ波帯）１件増 １測定増すごとに 6,820 〃
E1610 電波吸収率測定（簡易アンテナ法） １条件１測定につき 12,540 〃
E1620 電波吸収率測定（簡易アンテナ法）　１件増 １測定増すごとに 3,410 〃
E1630 アンテナ指向性測定 ２時間まで 39,160 〃
E1640 アンテナ指向性測定　１時間増 １時間増すごとに 15,400 〃
E1650 三次元アンテナ指向性測定 ２時間まで 44,110 〃
E1660 三次元アンテナ指向性測定（１時間増） １時間増すごとに 20,460 〃

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その他の試験（１）

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E1780 走査型プローブ顕微鏡観察 標準１条件１測定につき 22,220 電子技術部
E1781 走査型プローブ顕微鏡観察　１追加 １視野追加につき 10,340 〃

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無機定性・定量分析

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E1810 定量分析（A） １試料１成分につき（容易なもの） 8,690 化学技術部
E1820 定量分析（B） １試料１成分につき（複雑なもの） 10,450 〃
E1841 蛍光Ｘ線法による微小部定性分析（１） １試料１ヶ所につき 8,690 〃
E1842 蛍光Ｘ線法による微小部定性分析（２） １条件増すごとに 3,190 〃
E1860

蛍光Ｘ線分析（波長分散方式）

 １試料につき 19,250 〃
E1911 ＩＣＰ発光分光分析法による定性分析（基本10元素） １試料につき 17,820 〃
E1921 ＩＣＰ発光分光分析法による定性分析　１増 １元素増すごとに 1,760 〃
E1940 試料調製（１） NoE1810,E1820,E1821,E1822,E1823,E1831,E1832,E1860,E1932,E1933,E2021,
E2211,E2212,E2220,E2230,E2260,E2281,E2282,E2290,E2294,E2295,
E2310,E2320,E2330,E2340,E2410,E2420,E2430,E2441,E2442,E2450,E2460,
E3460,E4010,E4020,E4140 に適用		 1,760 〃
E1950 試料調製（２） NoE1810,E1820,E1831,E1832,E1860,E1891,E1892,E1911,E2021,E2211,E2212,
E2220,E2230,E2260,E2281,E2282,E2290,E2294,E2295,E2310,E2320,
E2330,E2340,E2410,E2420,E2430,E2441,E2442,E2450,E2460,
E3460,E4010,E4020,E4140 に適用		 8,910 〃
E1960 試料調製（３） NoE1810,E1820,E1831,E1832,E1891,E1892,E1911,E2021,E2211,E2212,E2220,E2230,
E2260,E2281,E2282,E2290,E2294,E2295,E2310,E2320,E2330,E2340,
E3460,E4010,E4020,E4140 に適用		 14,850 〃
E1970 試料調製（４） NoE1810,E1820,E1831,E1832,E1891,E1892,E1841,E1860,E1911,E2211,E2212,
E2220,E2230,E2260,E2281,E2282,E2290,E2294,E2295,E2310,E2320,
E2330,E2340,E3460,E4010,E4020,E4140,E4530に適用		 4,730 〃

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表面分析

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E1882 X線光電子分光分析（B）（簡単なもの） １試料１ヶ所につき 17,600 機械・材料技術部
E1884 X線光電子分光分析（B）（簡単なもの）　条件増 １条件増すごとに 8,030 〃
E1980 微小部X線光電子分光分析（ワイドスキャンのみ） １試料１ヶ所につき 13,750 〃
E1982 微小部X線光電子分光分析 （ワイド及びナロースキャン） １試料１ヶ所につき（６元素まで） 20,350 〃
E1984 微小部X線光電子分光分析（面分析，線分析） １試料１ヶ所につき（５元素まで） 21,230 〃
E1986 微小部X線光電子分光分析（深さ方向分析） １試料１ヶ所につき（６元素まで） 32,120 〃
E1990 微小部X線光電子分光分析　条件増 １条件増すごとに 4,950 〃
E1992 微小部X線光電子分光分析　元素増（１） １元素増すごとに（No1982,1984に適用） 4,180 〃
E1994 微小部X線光電子分光分析　元素増（２） １元素増すごとに（No1986に適用） 6,380 〃
E2541 電子線マイクロアナライザ観測 １試料につき 27,830 〃
E2542 写真撮影　（二次電子像、反射電子像） １試料につき 23,650 〃
E2543 写真撮影　（二次電子像、反射電子像）　１ヶ所増 同一試料で１ヶ所増すごとに 5,500 〃
E2550 電子線マイクロアナライザ観測　 追加分析 同一箇所での測定につき（No.E2541に適用） 8,580 〃
E2551 電子線マイクロアナライザ観測　１増 １成分増すごとに 2,860 〃
E2560 電子線マイクロアナライザ観測 試料調整 １試料につき 61,160 〃

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分光分析

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E2010 紫外・可視分光光度計試験分析 １スペクトルにつき 7,920 機械・材料技術部
E2021 フーリエ変換赤外分光分析 １スペクトルにつき 19,030

機械・材料技術部
化学技術部
K5055
E2023 フーリエ変換赤外分光分析用微小試料調製 １試料につき 2,970 機械・材料技術部
化学技術部
E2080 顕微レーザーラマン分光分析（１） １試料１ヶ所につき 56,540 〃
E2090 顕微レーザーラマン分光分析（２）１増 １条件増すごとに 29,150 〃
E2091 顕微レーザーラマン分光分析（簡単なもの） １試料１ヶ所につき 19,470 〃
E2110 分光蛍光光度計試験 １スペクトルにつき 8,910 化学技術部

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クロマトグラフ分析

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E2211 イオンクロマトグラフ分析（１）（一般的なもの） １測定につき 16,280 化学技術部
E2212 イオンクロマトグラフ分析（２）（特殊なもの） １測定につき 21,120 〃
E2220 ガスクロマトグラフ定性分析 １試料１成分につき 7,150 〃
E2230 ガスクロマトグラフ定量分析 １試料１成分につき 6,160 〃
E2240 ガスクロマトグラフ定量分析　１増 １成分増すごとに 3,520 〃
E2250 ガスクロマトグラフ（前処理を必要とする試料） １試料１成分につき 11,550 〃
E2260 ガスクロマトグラフ（ヘッドスペースサンプラ分析） １試料１成分につき 13,310 〃
E2270 ガスクロマトグラフ（ヘッドスペースサンプラ分析）　１増 １成分増すごとに 5,170 〃
E2281 高速液体クロマトグラフ分析（分析条件検討を含まない） １試料１成分につき 10,780 〃
E2282 高速液体クロマトグラフ分析（簡単な分析条件を含む） １試料１成分につき 27,390 〃
E2290 液体クロマトグラフ質量分析（１）（分析条件検討を含まない） １試料１成分につき 41,360 〃
E2291 液体クロマトグラフ質量分析（１）（簡単な分析条件の検討） １試料につき(No.2290に適用) 21,780 〃
E2292 液体クロマトグラフ質量分析（１）定性分析　１増 １成分増すごとに 3,850 〃
E2294 液体クロマトグラフ質量分析（２）（分析条件検討を含む） １試料１成分につき 34,760 〃
E2295 液体クロマトグラフ質量分析（２）（分析条件検討を含まない） １試料１成分につき 17,930 〃
E2030 試料調製（５）分取用液体クロマトグラフ使用 １試料１成分につき 28,050 〃
E2040 試料調製（６）分取用液体クロマトグラフ使用　１増 同試料１成分増すごとに 3,520 〃
E2310 ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ） １試料１成分につき 39,380 〃
E2311 ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ）定性分析　１増 １成分増すごとに 5,060 〃
E2312 ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ）定量分析　１増 １成分増すごとに 5,940 〃
E2320 パージアンドトラップＧＣＭＳ分析 １試料１成分につき 53,240 〃
E2321 パージアンドトラップＧＣＭＳ分析　定性分析　１増 １成分増すごとに 5,060 〃
E2322 パージアンドトラップＧＣＭＳ分析　定量分析　１増 １成分増すごとに 5,940 〃
E2330 ヘッドスペースＧＣＭＳ分析 １試料１成分につき 50,820 〃
E2331 ヘッドスペースＧＣＭＳ分析　定性分析　１増 １成分増すごとに 5,060 〃
E2332 ヘッドスペースＧＣＭＳ分析　定量分析　１増 １成分増すごとに 5,940 〃
E2340 サーマルデソープションＧＣＭＳ分析 １試料１成分につき 54,670 〃
E2341 サーマルデソープションＧＣＭＳ分析　定性分析　１増 １成分増すごとに 5,060 〃
E2342 サーマルデソープションＧＣＭＳ分析　定量分析　１増 １成分増すごとに 5,940 〃
E2350 化学イオン化（ＣＩ）法によるＧＣＭＳ分析 １試料につき（No.E2310,2320,2330,2340に適用） 11,440 〃

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熱分析

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E2410 示差熱熱重量分析　室温～ 600℃ １測定につき 11,550 化学技術部
E2420 示差熱熱重量分析　室温～1000℃ １測定につき 16,830 〃
E2430 示差走査熱量分析 １測定につき 14,850 〃
E2431 熱機械分析 １測定につき 14,850 〃
E2441 高圧示差熱・熱重量測定 １測定につき 22,550 〃
E2442 発火温度測定（ＨＰ-ＴＧ法） １測定につき 19,690 〃
E2450 複合熱分析 １測定につき 68,310 〃
E2460 高圧示差走査熱量測定 １測定につき 22,110 〃

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Ｘ線解析

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E2510 Ｘ線回折試験（I） １試料につき 22,770 電子技術部
化学技術部
E2520 Ｘ線回折試験（II） １試料につき 34,210 〃
E2530 Ｘ線回折試験（III） １試料につき 52,910 〃

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有機物分析

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E2610

ＣＨＮ元素分析装置による定量量分析

 １試料につき 16,390 化学技術部
E2631 飛行時間型質量分析 １試料１測定につき 28,820 〃
E2641 核磁気共鳴（NMR）分析 （プロトンのみ） １試料１Ｈの一次元スペクトルにつき 13,310 〃
E2642 核磁気共鳴（NMR）分析 （基本測定） １試料１Ｈ及び１３Ｃの一次元スペクトルにつき 21,120 〃
E2643 核磁気共鳴（NMR）分析（多核など特殊測定） １試料１条件につき 32,010 〃
E2644 核磁気共鳴（NMR）分析（二次元測定） １試料，１Ｈ及び１３Ｃの一次元スペクトルおよび相関スペクトル（DQF-COSY, HMQC, HMBC）につき 46,640 〃
E2651 電子スピン共鳴分析（Ａ）（基本測定） １試料１スペクトルにつき 21,560 〃
E2652 電子スピン共鳴分析（Ｂ）（特殊測定・定量） １試料１スペクトルにつき 37,620 〃

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合成樹脂（プラスチック）

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E2720 比重試験（水中置換法） １試料につき 7,260 化学技術部
E2730 吸水試験 １試料につき 6,490 〃
E2750 動的粘弾性測定（４０℃以上） １走査（温度変化または振動数変化）につき 18,260 〃
E2760 動的粘弾性測定（－５０℃以上） １走査（温度変化または振動数変化）につき 29,370 〃
E2770 動的粘弾性測定（－１３０℃以上または液体窒素使用） １走査（温度変化または振動数変化）につき 41,800 〃
E2771 ペルチェシステム使用（ー１０～１５０℃） No.E2750, E2760に適用 5,940 〃
E2772 試料調整（取り付け困難なもの） No.2750, 2760, 2770に適用 2,640 〃
E2773 測定前試料調整 １試料につき１時間毎 （No.E2750,E2760,E2770に 適用) 2,970 〃
E2780 メルトフローレート試験 １試料につき 5,830 〃
E2820 変形量測定 １試料につき 2,090 〃
E2830 変形量測定（伸び計使用） １試料につき 5,390 〃
E2840 引張試験 １試料につき 6,600 〃
E2860 曲げ試験 １試料につき 6,600 〃
E2870 圧縮試験 １試料につき 6,600 〃
E2880 衝撃試験（アイゾット・シャルピー） １試料につき 5,830 〃
E2920 硬さ試験（ロックウェル・デュロメータ） １試料につき 3,190 〃
E2930 熱伝導率測定（プローブ法） １試料につき 9,460 〃

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塗料・塗膜試験

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E3010 塗膜物性試験 １試料につき 1,650 化学技術部
E3030 光沢度測定 １試料につき 3,080 〃
E3040 色彩測定 １試料につき 3,080 〃
E3050 浸せき試験

室温で実施の場合

１試料24時間まで

 4,180 〃
E3060 塩水噴霧試験 １試料２４時間まで 2,200 〃
E3070 耐沸騰水性試験 １試料８時間につき 2,310 〃
E3080 耐熱性試験 １試料５００℃まで８時間につき 1,980 〃
E3090 外観撮影 １枚につき 440 〃

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その他の試験（２）

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E3210 金属の電位測定（１） １試料につき２４時間まで 15,180 化学技術部
E3220 金属の電位測定（２）　２４時間増 ２４時間増すごとに 6,270 〃
E3221 金属・合金の腐食減量測定（１） １試料につき２４時間まで 12,430 〃
E3222 金属・合金の腐食減量測定（２）　２４時間増 ２４時間増すごとに 3,520 〃
E3241 燃料電池の発電試験 １時間当たり 7,260 〃
E3242 ガス透過率測定 １試料につき（１時間当たり） 5,720 〃
E3251 高露点測定（１） ２４時間まで（１時間当たり） 3,850 〃
E3252 高露点測定（２）　２４時間増 ２４時間増すごとに 25,080 〃
E3253 燃料電池スタック試験（１） ２４時間まで（８時間当たり） 4,180 〃
E3254 燃料電池スタック試験（２）　２４時間増 ２４時間増すごとに 6,710 〃
E3255 スプレー塗工試験 １時間当たり 4,400 〃
E3261 電池充放電試験（１） １試料につき６時間まで 22,220 〃
E3262 電池充放電試験（２）　６時間増 ６時間増すごとに 10,560 〃
E3263 電極の熱ロールプレス処理 １試料１時間につき 3,740 〃
E3265 大型電池充放電試験（２kW以下）（１） １試料につき６時間まで 8,580 〃
E3266 大型電池充放電試験（２kW以下）（２） ６時間増すごとに 5,830 〃
E3270 金属の分極測定 １試料につき 17,820 〃
E3280 試料調製（１）（比較的容易） No.E3210, E3220, E3221, E3222, E3261, E3262, E3270 に適用 2,970 〃
E3290 試料調製（２）（比較的複雑） No.E3210, E3220, E3221, E3222, E3261, E3262, E3270 に適用 5,940 〃
E3310 超臨界炭酸ガス抽出 １試料につき 13,200 〃
E3311 超臨界水反応装置試験 １試料につき 39,160 〃
E3320 高速冷却遠心分離 １試料につき 4,620 〃

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繊維関連試験

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E3450 繊維熱物性試験 １試料１測定につき 4,950 化学技術部
E3460 重量測定 １試料につき 550 〃
E3620 編織物厚さ測定 １試料につき 2,090 〃
E3650 編織物通気度試験 １試料につき 2,530 〃
E3661 編織物強伸度測定 １試料１方向につき 2,860 〃
E3710 剛軟度試験 １試料１方向につき 1,100 〃
E3730 はっ水度試験 １試料につき 2,420 〃
E3770 赤外線放射温度計による表面温度測定 １試料１測定につき 20,570 〃
E3820 糸強伸度測定（容易なもの） １試料につき 1,100 〃
E3930 赤外線放射計による放射率測定 １試料１測定につき 40,480 〃

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水・廃棄物・廃ガス

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E4010 水質試験（Ａ） １項目につき（容易なもの） 5,830 化学技術部
E4020 水質試験（Ｂ） １項目につき（複雑なもの） 9,680 〃
E4030 溶出検液作成（Ａ） １試料につき（６成分以下） 4,070 〃
E4040 溶出検液作成（Ｂ） １試料につき（７成分以上） 7,370 〃

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その他の試験（３）

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E4150 接触角測定試験 １試料につき 2,200 機械・材料技術部
E4160 ゼータ電位測定（Ａ）（微粒子分散溶液） １試料につき 10,120 〃
E4170 ゼータ電位測定（Ｂ）（平板形状試料） １試料につき 12,320 〃
E4180 粒径分布測定（動的光散乱法） １試料につき 8,800 〃

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木質材料・製品

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E4210 圧縮試験 １試料につき 2,640 情報・生産技術部
E4220 引張試験 １試料につき 2,970 〃
E4240 曲げ試験（Ｂ） １試料につき 2,310 〃
E4241 曲げ試験（Ｃ）（曲げヤング係数等の算出を必要とするもの） １試料につき 3,410 〃
E4250 摩耗試験 １試料につき 3,960 〃
E4260 局所構造試験 １試料１測定につき 2,750 〃
E4270 密度測定 １試料につき 1,430 〃
E4280 含水率測定 １試料につき 5,720 〃
E4281 含水率測定　１増 一緒の工程で１試料増すごとに 2,200 〃
E4310 いす繰返し衝撃試験 １試料１条件につき 8,250 〃
E4320 いす繰返し衝撃試験 同一試料に連続し4,000回増すごとに 4,730 〃
E4350 いす繰返し耐久性試験 １試料１条件につき（5,000回まで） 9,130 〃
E4360 いす繰返し耐久性試験 同一試料に連続し5,000回増すごとに 4,730 〃
E4370 垂直過重下の強度試験 １試料１条件につき 3,410 〃
E4380 背もたれの静的強度試験 １試料１条件につき 3,410 〃
E4390 脚部の静的強度試験 １試料１条件につき 3,410 〃
E4480 煮沸繰返し試験 １試料につき 2,420 〃
E4490 温冷水浸せき試験 １試料につき 1,540 〃
E4510 試料調整（１）（鋸盤鉋盤などによる試験片作製） １試料につき 1,540 〃
E4520 試料調整（２）（接着　調湿等の前処理を伴うもの） １試料につき 2,310 〃
E4530 ホルムアルデヒド放散量試験 １試料につき 9,130 化学技術部
E4540 デジタルマイクロスコープ写真 １試料１ヶ所につき（写真１枚につき） 330 情報・生産技術部

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加工（金属加工）

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E4620 ワイヤ放電加工 １時間につき 3,740 情報・生産技術部

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ＦＬ－net（ＯＰＣＮ－２）ネットワーク認証試験

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E4820 適合性試験 １試料６時間まで 46,640 情報・生産技術部
E4821 相互接続性試験 １試料２時間まで 31,130 〃

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ＣＣ－Link適合性評価試験

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E4910 ノイズ試験 １試料８時間まで 28,710 情報・生産技術部
E4920 ハードウェア試験 １試料４時間まで 14,300 〃
E4930 ソフトウェア試験 １試料１０時間まで 35,860 〃
E4940 組み合わせ試験 １試料６時間まで 21,560 〃
E4950 インタオぺラビリティ試験 １試料５時間まで 17,930 〃
E4960 エージング試験 １試料１２時間まで 13,310 〃

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振動騒音関係

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E4974 時間波形分析（振動） １分析につき 3,080 機械・材料技術部
E4975 周波数分析（振動） １分析につき 4,730 〃
E4976 振動試験 １時間当たり 7,920 〃
E4977 損失係数測定（Ａ） １試料１測定温度につき 11,660 〃
E4978 損失係数測定（Ｂ） １測定温度増すごとに 1,210 〃
E4979 振動試験（大型の試験機によるもの） １時間当たり 9,020 〃
E4980 騒音測定 １測定につき 2,310 〃
E4981 オクターブ分析 １分析につき 3,190 〃
E4982 時間波形分析（音） １分析につき 3,080 〃
E4983 周波数分析（音） １分析につき 4,620 〃
E4984 音響パワーレベル測定 １測定につき 9,350 〃
E4985 音圧分布測定 １測定面につき 14,850 〃
E4986 音質評価解析 １測定につき 5,280 〃
E4987 吸音率測定 １測定につき 3,960 〃

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機械設計・解析・造形

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E4990 機械設計・解析 １時間当たり 5,170 情報・生産技術部
E4991 三次元造形（小型インクジェット式３Ｄプリンター） １時間当たり 660 〃
E4992 デジタル画像解析 １時間当たり 3,080 〃
E4993 三次元モデリング（簡易なもの） １時間当たり 4,400 〃
E4994 構造解析 １時間当たり 8,360 機械・材料技術部
E4995 高速度カメラ撮影 １時間当たり 5,390 情報・生産技術部
E4996 高速度カメラ撮影（アナログ波形データ収集装置併用） １時間当たり 5,940 〃
E4997 三次元造形前処理 １時間当たり 2,970 〃
E4998 三次元造形（インクジェット式３Ｄプリンター） １時間当たり 2,750 〃
E4999 三次元造形後処理 １時間当たり 3,300 〃

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微生物・生化学・食品試験

No. 項目 単位 手数料（円） 担当部名
E5010 一般細菌数試験 １試料につき 3,850 化学技術部
E5020 大腸菌数試験 １試料につき 3,960 〃
E5030 嫌気性菌数試験 １試料につき 5,060 〃
E5040 抗酸化性測定 １試料につき 3,300 〃
E5060 酵素阻害活性測定（１）（複雑なもの） １試料につき 6,490 〃
E5061 酵素阻害活性測定（２）（容易なもの） １試料につき 4,730 〃
E5062 抗糖化性測定（１）（複雑なもの） １試料につき 6,160 〃
E5070 アガロースゲル電気泳動測定 １泳動につき（１０サンプルまで） 1,760 〃
E5090 水分定量（常圧乾燥法による） １試料につき 4,180 〃
E5091 遊離アミノ酸組成分析 １試料につき 36,520 〃
E5100 タンパク質定量（Bradford法、Lowry法による） １試料につき 3,850 〃
E5110 脂質定量（ソックスレー抽出法による） １試料につき 4,840 〃
E5120 灰分定量（直接灰化法による） １試料につき 4,840 〃
E5130 総ポリフェノール定量（Folin-Ciocalteu法による） １試料につき 3,960 〃
E5140 炭水化物定量（フェノール-硫酸法による） １試料につき 9,570 〃
E5150 リグニン定量（硫酸法による） １試料につき 8,470 〃
E5160 サフラン試験 １試料につき 26,510 〃
E5170 凍結乾燥（２４時間まで） ２４時間まで 5,500 〃
E5171

凍結乾燥（２４時間増すごとに）

 ２４時間増すごとに 2,530 〃
E5180 試料調製（１） No.E5010～E5171に適用 1,540 〃
E5181 試料調製（２） No.E5010～E5171に適用 3,300 〃
E5182 試料調製（３） No.E5010～E5171に適用 6,380 〃
E5183 試料調製（４） No.E5010～E5171に適用 9,900 〃

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デザイン・企画

No. 項目 単位 手数料（円） 備考
E5280 デザイン・企画 １時間につき 3,080 情報・生産技術部

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研究生の指導

No. 項目 単位 手数料（円） 備考
E5310 研究生の指導 １人１日につき 1,100
E5320 研究生の指導　１人増 研究生１人増すごとに 550

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成績書の複本の交付

No. 項目 単位 手数料（円） 備考
E5350 成績書の複本の交付 １通につき
（写真を含む場合は別に加算する）		 300

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※金額は１時間当たりの額
※手数料、使用料とも消費税を含んでいます。

材料試験機 金属加工 電子関連装置 分析・評価機器
環境試験装置 木工加工 形状測定機器 測定計測装置
温度熱量測定装置 その他の機器 設備 ファブラボ

材料試験機

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料（円） 担当部名
E6050 材料試験機（５KN） インストロンジャパン 5565型 1,210 化学技術部
E6080 万能材料試験機 オリエンテック UTA-5T 990 情報・生産技術部

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金属加工

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料（円） 担当部名
E6210 コンターマシン アマダ VA-500 330 機械・材料技術部
E6230 平面研削盤 岡本 PSG-52DX 1,540 〃
E6240 ボール盤 ヤマモト YSDT-550 110 〃
E6260 プレスブレーキ アマダ RG-25 1,320 〃
E6270 切断機 Ｈストルアス社 ディスコトム 1,320 〃
E6290 超精密正面切削装置 東芝機械 ULC-100A(H) 6,820 情報・生産技術部
E6310 帯鋸盤 アマダ HA300 880 機械・材料技術部
E6340 旋盤 昌運 ST-5 1,100 〃
E6350 ＣＮＣ旋盤 オークマ LS-30N 5,170 情報・生産技術部
E6360 旋盤 シャブリン SV-150A 1,980 機械・材料技術部
E6370 フライス盤 デッケル FP1 2,310 〃
E6380 立形マシニングセンター 牧野フライス製作所　V33 3,080 情報・生産技術部

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電子関連装置

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料（円） 担当部名
E6620 電極形成装置の本体システム ＫＨエレクトロニクス 特別仕様 18,370 電子技術部
E6650 定エネルギー分光器 日本分光 YQ-250CW-GT 11,990 〃
E6660 ボロメータ評価システム用高温電気測定用チャンバ テクノロ工業 特別仕様 4,510 〃
E6670 ボロメータ評価システム用光源システム 日本分光 SS-25GT 12,100 〃
E6680 陽極接合装置 アユミ工業 AB-40特注品 12,430 〃
E6690 マスクアライナ ミカサ MA-20 7,590 〃
E6730 研磨機 ムサシノ電子 MA-200 2,640 〃
E6740 酸化拡散装置 ＫＨエレクトロニクス 特別仕様 18,920 〃
E6760 高温小型真空雰囲気炉 ナガノ NEWTONIAN PASCAL40 6,600 〃
E6770 超音波ボールボンダ ウエストボンド 7700A 7,040 〃
E6780 ボンディング装置 日本アビオニクス NA-90 2,200 〃
E6790 チップ付け装置 ウエストボンド 7200A 2,530 〃
E6810 超音波ウェッジボンダ ウエストボンド 7400A 5,500 〃
E6840 ダイシング装置 ディスコ DAD-2H/6T 13,090 〃
E6880 アッシャー装置 東京応化工業 OPM-EM600 12,540 〃
E6950 光干渉式膜厚測定装置 大日本スクリーン VM-8000J 2,970 〃
E6960 超深度形状測定顕微鏡（レーザー顕微鏡） キーエンス VK8500 1,980 〃
E6965 ハイブリッドレーザー顕微鏡　データ解析 レーザーテック OPTELICS HYBRID 990 〃
E6980 焼き付け装置 デルタデザイン（米国） 9023型 880 〃

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分析・評価機器

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料（円） 担当部名
E7020 金属顕微鏡 ニコン X2-T1-NR 550 機械・材料技術部
E7030 ＩＣＰ発光分析装置 セイコー電子 SPS1200VR 11,220 化学技術部
E7151 デジタルマイクロスコープシステム スカラ（株） DG-3 110 情報・生産技術部
E7160 顕微鏡 オリンパス BHS‐RFK-A1 1,760 化学技術部
E7170 分光蛍光光度計 日立 F-4010 4,400 〃
E7230 マイクロフォーカスＸ線テレビ装置 島津製作所 SMX-160ET 4,290 機械・材料技術部
E7240 Ｘ線ＣＴスキャン装置 （株）ユニハイトシステム XVA-160 Noix+Presto 12,100 〃
E7280 透明プラスチック残留応力観察装置 理光研（株） ポラリスコｰプPS-5 1,540 化学技術部

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環境試験装置

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料（円） 担当部名
E7310 人工気象室 タバイエスぺック TBL-9W4YPX 22,990 化学技術部
E7360 断熱反応装置 コロンビアサイエンティフィック ARC 8,360 〃
E7370 熱流束型熱量計 セタラム C-80 19,030 〃
E7470 簡易半無響室 小野測器 1,540 〃

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木工加工

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料（円） 担当部名
E7720 ツールチェンジＮＣ加工機 平安コーポレーション NC-151MC-1508 1,980 情報・生産技術部
E7730 ルータ 平安鉄工 NC-131P-1008 660 〃
E7740 油圧プレス 小林機械工業 KU-CPP3366 110 〃
E7750 油圧プレス（ホットプレス） セイブ HP-2 220 〃
E7760 マイクロ波加熱装置 新日本無線 NTA-2010 220 〃

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形状測定機器

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料（円） 担当部名
E7810 万能測定顕微鏡 カールツァイス UMM300/100 2,200 情報・生産技術部
E7820 精密表面形状測定装置 東京精密 サｰフコム700B サｰフライザ2000A 1,540 〃

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測定計測装置

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料（円） 担当部名
E7980 精密変位測定装置 キーエンス LD-2500/LD-2510 550 情報・生産技術部
E8010 薄膜屈折率測定装置 溝尻光学 DHA-XA型 8,800 電子技術部
E8020 位相差測定装置 ニコン NPDM-1000 7,920 〃
E8040 Ｃ－Ｖ測定装置 ＹＨＰ 4280A 5,830 〃
E8090 ボロメータ測定システム微小信号測定システム セイコー 5302 4,950 〃
E8150 膜厚計

小坂研究所　ET4000AKR

 2,860 〃
E8190 マルチフリケンシャルＬＣＲメータ ＹＨＰ YHP4274A/YHP4275A 2,860 電子技術部
E8200 絶縁抵抗計 キーサイト・テクノロジー　4339B 3,080 〃
E8220 Ｑメータ ＹＨＰ YHP4285A 2,970 〃
E8250 分光測色計 ミノルタカメラ CM-1000 440 化学技術部
E8251 光沢計 日本電色工業　VGS-300A 220 〃
E8260 音響インテンシティ測定装置 小野測器 CF6400INT/MOD 10,120 機械・材料技術部
E8261 音質評価システム 小野測器 WS-5160 660 〃
E8262 吸音率測定システム 小野測器 SR-4100 990 〃
E8270 伝導性イミュニティ測定システム ノイズ研究所 ESS-B3011 3,630 電子技術部
E8370 ＥＭＩ予備測定システム ＨＰ EMI簡易測定システム 3,520 〃
E8430 ガウスメータ（最小測定レンジ:2mT、最大測定レ ンジ:2T） ベル 9200型 880 〃
E8431 ガウスメータ（最小測定レンジ:0.35mT、最大測定レンジ:3.5T） Lake shore Inc 455型 1,320 〃
E8470 ＰＣベース計測器 横河電機 WE700システム 660 情報・生産技術部
E8480 レーザ寸法測定器 キーエンス LS-5000 220 〃
E8495 ＵＳＢ２．０バスアナライザ ヒロテック HUSB 200 128MB 550 〃
E8500 ロジックアナライザー 日本テクトロニクス TLA5201 1,540 機械・材料技術部

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温度熱量測定装置

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料（円） 担当部名
E8530 赤外線温度分布測定機 日本バーンズ モデル600L 6,710 化学技術部
E8550 風合い計測システム カトーテック KES-F7サーモラボ(II) 3,190 〃
E8580 プラスチック用熱伝導率計 京都電子工業 QTM-D3型 4,730 〃
E8610 熱機械試験機 マックサイエンス TMA-400 5,610 〃
E8620 赤外線放射計 日本バーンズ　SA-200 8,140 〃

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その他の機器

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料（円） 担当部名
E8711 振動試験機 ＩＭＶ VS-2000A-140T 4,950 機械・材料技術部
E8712 振動試験システム ＩＭＶ i250/SA5M 6,050 〃
E8713 制振性能測定装置 ブリュエルケアーPULSE/MS-18143型 4,290 〃
E8720 高速冷却遠心機 クボタ 6800 1,760 化学技術部
E8790 脱脂炉 ネムス MT-400 990 〃
E8810 混練機 森山 DSI-5GHH-E 2,640 〃
E8820 金属粉末射出成形装置 東芝機械 IS30EPN-1A 2,090 〃
E8840 電気炉 炉研工業 マッフル型加熱炉 HI 1,210 〃
E8841 卓上型電気炉 　 1,100 〃
E8870 ラバープレス（CIP) 日機装 CL4-22-60 2,310 〃
E8910 乾式塗装ブース サンエス工業 DS-CSS-1200 1,760 化学技術部
E8940 超遠心分離機 ベックマン Optima XL90 10,560 〃
E8960 制御雰囲気炉 同和工業 TMA 1,760 機械・材料技術部
E8970 熱間加工再現試験装置 富士電波工機 サーメックマスターZ 11,330 〃
E8975 熱処理再現試験装置 富士電波工機 特注品FTA-153VTほか 9,130 〃
E8980 シリコニット箱型炉 シリコニット高熱工業 SFB-2040 880 〃
E9016 摩耗試験機（研磨紙使用無し） 東洋精機 NO410 GS10付 110 情報・生産技術部
E9040 濃縮機（遠心式濃縮機） タイテック VC-96N 110 化学技術部
E9060 フレンチプレス細胞破砕機 アミンコ FA078 440 〃
E9070 電子顕微鏡用金属薄膜作製装置 丸本ストルアス テヌポール5 330 機械・材料技術部
E9090 電磁界解析装置 独国ＣＳＴ社 MW-Studio Transient Solver 1,760 電子技術部

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設備

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料（円） 担当部名
E9210 製品開発室 実験棟 １・２・４階 81 事業化支援部
E9220 ドラフトチャンバー（製品開発室） 実験棟 １階 234 〃

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ファブラボ

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料（円） 担当部名
E9610 ファブラボ（Ⅰ） ３Ｄプリンタ使用可、装置類取扱い指導有 3,300 電子技術部
E9620 ファブラボ（Ⅱ） ３Ｄプリンタ使用可、装置類取扱い指導無 550 〃
E9630 ファブラボ（Ⅲ） ３Ｄプリンタ使用不可、装置類取扱い指導無 220 〃

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手数料表・使用料表　PDF版

令和2年度　手数料及び使用料表(04月01日改訂)

※ 依頼試験、機器利用は、機器・設備の故障でやむを得ずサービスを停止しているものがありますので、事前にお問い合わせください。

減免について

試験計測（依頼試験）及び機器使用における手数料・使用料の減免について