海老名本部：試験計測等料金表

〔利用上の注意〕

１　料金は全て消費税を含んでいます。
２　この料金表に掲げる以外に実施可能な項目及び使用可能な設備機器もあります。
　　詳細は担当各部へお問い合わせください。
３　機器の更新等により項目及び設備機器名並びに料金の額を変更する場合が
　　あります。
４　担当部名欄のＥ及びＫの表示は、同一試験項目の各拠点の該当する料金番号を
　　示しています。　　Ｅ　海老名本部、Ｋ　溝の口支所

試験計測等料金表（ＰＤＦ版）はこちら

　試験計測（依頼試験）及び機器使用における料金の減免について

料金表を選択してください

試験計測料金
機器使用料金

試験計測料金

（1）金属材料・部品の試験	（2）電気・電子の試験	（3）磁気関係	（4）非破壊検査試験	（5）半導体関係
（6）環境試験	（7）電磁波ノイズ試験	（8）その他の試験（１）	（9）無機定性・定量分析	（10）表面分析
（11）分光分析	（12）クロマトグラフ分析	（13）熱分折	（14）Ｘ線回折	（15）有機物分析
（16）合成樹脂（プラスチック）	（17）塗料・塗膜試験	（18）電気化学試験	（19）その他の試験（２）	（20）繊維関連試験
（21）水・廃棄物・廃ガス	（22）その他の試験（３）	（23）木質材料・製品	（24）ＦＬ－net（ＯＰＣＮ－２）ネットワーク認証試験	（25）ＣＣ－Link適合性評価試験
（26）振動騒音関係	（27）機械設計・解析・造形	（28）微生物・生化学・食品試験	（29）デザイン・企画	（30）研究生の指導
（31）成績書の複本の交付

試験計測料金：（1）金属材料・部品の試験

単位：円

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E0011	走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍以下	１試料１視野観察につき	20,240	機械・材料技術部 K1310
E0012	走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍以下　1視野追加	１視野追加観察につき	4,400	機械・材料技術部 K1315
E0013	走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍を超えて10万倍以下	１試料１視野観察につき	29,260	機械・材料技術部 K1320
E0014	走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍を超えて10万倍以下　１視野追加	１視野追加観察につき	8,910	機械・材料技術部 K1325
E0015	走査電子顕微鏡写真撮影　10万倍を超えるもの	１試料１視野観察につき	51,920	機械・材料技術部 K1330
E0016	走査電子顕微鏡写真撮影　10万倍を超えるもの　１視野追加	１視野追加観察につき	14,630	機械・材料技術部 K1335
E0017	走査電子顕微鏡写真撮影　10～15視野		112,860	機械・材料技術部 K1392
E0018	走査電子顕微鏡写真撮影　16～30視野		169,290	機械・材料技術部 K1395
E0021	エネルギー分散型Ｘ線分析（ＥＤＸ）（E0011～E0018に適用）	１ヶ所につき	7,040	機械・材料技術部
E1790	電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定	１視野測定につき	46,750	機械・材料技術部
E1791	電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定　１視野追加	１視野追加測定につき	11,660	機械・材料技術部
E0022	イオンミリング法による試料調製（１）（標準的なもの）	１試料１ヶ所につき	44,770	機械・材料技術部
E0023	イオンミリング法による試料調製（２）（複雑なもの）	１試料１ヶ所につき	66,880	機械・材料技術部
E0031	金属組織写真撮影	写真１枚につき	10,560	機械・材料技術部 K5110
E0050	外観写真撮影	写真１枚につき	5,280	機械・材料技術部 K5112
E0070	写真撮影箇所増し（E0031,E0050に適用）	同一試料で１ヶ所増すごとに	2,970	機械・材料技術部 K5114
E0080	顕微鏡試料調整（１）（容易なもの）	１試料につき	1,870	機械・材料技術部 K5120
E0090	顕微鏡試料調整（２）（標準的なもの）	１試料につき	3,630	機械・材料技術部 K5121
E0091	顕微鏡試料調整（３）（比較的複雑なもの）	1試料につき	7,260	機械・材料技術部 K5122
E0092	顕微鏡試料調整（４）（非常に複雑なもの）	1試料につき	10,560	機械・材料技術部 K5123
E0101	デジタルマイクロスコープ観察	１試料につき	2,640	機械・材料技術部
E0102	デジタルマイクロスコープ撮影	１撮影につき	1,100	機械・材料技術部
E0110	引張･圧縮･曲げ試験（１）（簡単な試験）	１試料１条件につき	2,530	機械・材料技術部
E0120	引張･圧縮･曲げ試験（２）（比較的簡単な試験）	１試料１条件につき	4,070	機械・材料技術部
E0130	引張･圧縮･曲げ試験（３）（標準的な試験）	１試料１条件につき	5,500	機械・材料技術部
E0140	引張･圧縮･曲げ試験（４）（やや複雑な試験）	１試料１条件につき	7,150	機械・材料技術部
E0150	引張･圧縮･曲げ試験（５）（複雑な試験）	１試料１条件につき	10,560	機械・材料技術部
E0160	大型構造物強度試験（１）（簡単な試験）	１試料１条件につき	8,580	機械・材料技術部
E0165	大型構造物強度試験（２）（標準的な試験）	１試料１条件につき	14,080	機械・材料技術部
E0170	大型構造物強度試験（３）（複雑な試験）	１試料１条件につき	21,670	機械・材料技術部
E0175	常温シャルピー衝撃試験	１試料につき	1,430	機械・材料技術部
E0176	低温シャルピー衝撃試験	１試料につき	3,190	機械・材料技術部
E0180	硬さ試験	１点につき	990	情報・生産技術部 K5330
E0191	薄膜・微小部硬さ試験	１試料１ヶ所につき	21,670	機械・材料技術部
E0192	薄膜・微小部硬さ試験　１ヶ所増	１ヶ所増すごとに	9,680	機械・材料技術部
E0211	トライボ試験	１試料１条件につき	7,700	機械・材料技術部
E0212	トライボ試験　１件増	１条件増すごとに	3,520	機械・材料技術部
E0225	三次元座標測定（接触式測定）	１時間当たり	15,360	情報・生産技術部
E0230	三次元座標測定（光学式測定）	１時間当たり	8,140	情報・生産技術部
E0245	表面粗さ測定	１試料１ヶ所につき	1,430	情報・生産技術部
E0255	表面形状測定	１試料１ヶ所につき	1,760	情報・生産技術部
E0260	形状評価	１寸法につき	220	情報・生産技術部
E0270	工具寿命試験	１項目につき	16,280	情報・生産技術部
E0295	Ｘ線応力測定	１試料１方向につき	5,940	機械・材料技術部
E0310	切削抵抗測定	１項目につき	11,990	情報・生産技術部
E0415	疲労試験　１時間以内	１試料１条件につき	6,270	機械・材料技術部
E0420	疲労試験　８時間以内	１試料１条件につき	17,380	機械・材料技術部
E0431	疲労試験　大型構造物　８時間以内	１試料１条件につき	22,000	機械・材料技術部
E0435	疲労試験　８時間増（E0420,E0431に適用）	８時間を超えて８時間増すごとに	7,150	機械・材料技術部
E0440	熱間加工性試験	１試料につき	7,590	機械・材料技術部
E0450	ＮＣ放電加工試験	１時間当たり	2,420	情報・生産技術部
E0460	ホットプレス処理	１時間当たり	8,360	機械・材料技術部
E0461	制御雰囲気炉処理	１時間当たり	4,510	機械・材料技術部
E0462	脱脂炉処理	１時間当たり	1,650	機械・材料技術部
E0463	卓上型電気炉処理	１時間当たり	1,870	機械・材料技術部
E0470	ＨＩＰ処理	１時間当たり	18,590	機械・材料技術部
E0471	ＣＩＰ処理	１時間当たり	6,050	機械・材料技術部
E0480	熱処理特性試験	１時間当たり	12,540	機械・材料技術部
E0490	立形マシニングセンタによる加工	１時間当たり	6,490	情報・生産技術部
E0495	５軸制御マシニングセンタによる加工	１時間当たり	6,930	情報・生産技術部
E4620	ワイヤ放電加工	１時間当たり	3,960	情報・生産技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E0510	電流電圧測定（１ｍＡ以上，１ｍＶ以上）	１試料１条件につき	3,190	電子技術部
E0570	電気抵抗測定	１試料１条件につき	3,960	電子技術部
E0591	四探針法による抵抗率測定	１試料１測定につき	10,230	電子技術部
E0660	電気機器・漏れ電流測定	１条件１測定につき	4,730	電子技術部
E0670	電気機器・耐電圧試験	１試料１測定につき	4,070	電子技術部
E0680	電気機器・接地回路の抵抗測定	１条件１測定につき	4,950	電子技術部
E0690	ＬＣＲ測定	１試料１条件につき	9,350	電子技術部
E0710	ＬＣＲ測定１ヶ所増	１試料につき測定点１ヶ所増すごとに	3,080	電子技術部
E0750	絶縁抵抗試験	１条件１測定につき	4,950	電子技術部
E0760	電気機器・温度試験	１測定点につき	2,970	電子技術部
E0761	はんだ継手強度試験	１測定条件につき（１０測定点まで）	18,700	電子技術部
E0762	はんだ継手強度試験　５測定点増	５測定点増すごとに	8,360	電子技術部
E0770	マイクロ波スペクトラムアナライザ測定	１条件１測定につき	8,800	電子技術部
E0771	マイクロ波スペクトラムアナライザ測定　１件増	１測定増すごとに	3,740	電子技術部
E0780	ネットワークアナライザ測定（マルチポート）	１測定につき	10,450	電子技術部
E0791	ネットワークアナライザ測定（４ポートまで）	１試料１条件につき	7,590	電子技術部
E0792	ネットワークアナライザ測定（４ポートまで）　１件増	１条件増すごとに	2,860	電子技術部
E0813	電源変動および瞬停試験	２時間まで	11,990	電子技術部
E0814	電源変動および瞬停試験　１時間増	１時間増すごとに	5,940	電子技術部
E0820	電気機器・電力測定	１試料１条件につき	5,280	電子技術部
E0830	高周波伝送特性測定（Ｓパラメータ・ＴＤＲ測定）	１条件１測定につき	15,180	電子技術部
E0840	高周波伝送特性測定（Ｓパラメータ・ＴＤＲ測定）　１件増	１測定増すごとに	4,070	電子技術部
E0850	マイクロ波誘電率測定（共振器法・誘電体プローブ法）	１条件１測定につき	17,380	電子技術部
E0860	マイクロ波誘電率測定（共振器法・誘電体プローブ法）　１件増	１測定増すごとに	5,830	電子技術部
E0870	マイクロ波誘電率・透磁率測定（Ｓパラメータ法）	１条件１測定につき	16,060	電子技術部
E0880	マイクロ波誘電率・透磁率測定（Ｓパラメータ法）　１件増	１測定増すごとに	4,510	電子技術部
E0881	マイクロ波誘電率・透磁率測定（ハーモニック共振器法）	１測定につき	18,370	電子技術部
E0890	イーサネットコンプライアンステスト	１時間につき	4,730	情報・生産技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E0910	磁化特性測定（ＶＳＭ方式）	１試料１測定につき	6,600	電子技術部
E0920	磁化特性測定（積分方式）	１試料１測定につき	4,620	電子技術部
E0930	磁歪測定	１試料１測定につき	18,590	電子技術部
E0931	磁歪測定　１条件増	１条件増すごとに	12,100	電子技術部
E0940	磁化温度特性測定	１試料１測定につき	20,130	電子技術部
E0950	薄膜交流透磁率測定	１試料１測定につき	5,500	電子技術部
E0951	交流磁化特性測定（B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス）	１試料１測定につき	10,010	電子技術部
E0952	交流磁化特性測定（B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス）１条件増	１条件増すごとに	6,710	電子技術部
E0953	交流磁化特性測定（B-H曲線無しの連続測定、可変条件は１）	１試料５測定まで	16,720	電子技術部
E0954	交流磁化特性測定（B-H曲線無しの連続測定、可変条件は１）１測定増	１測定増すごとに	2,530	電子技術部
E0958	試料調整	１時間当たり	3,190	電子技術部
E0959	データ処理	１時間当たり	3,190	電子技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E0960	Ｘ線透過試験	１時間当たり	7,590	機械・材料技術部
E0981	Ｘ線ＣＴ撮影（容易なもの）	１測定につき	33,440	機械・材料技術部
E0982	Ｘ線ＣＴ撮影（標準的なもの）	１測定につき	50,160	機械・材料技術部
E0983	Ｘ線ＣＴ撮影（複雑なもの）	１測定につき	66,880	機械・材料技術部
E0990	非破壊超音波映像撮影	１時間当たり	9,570	電子技術部
E0991	非破壊超音波映像撮影（データ解析のみ）	１解析当たり	3,740	電子技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E1030	薄膜屈折率測定	１試料につき	23,760	電子技術部
E1040	定エネルギー分光測定	１条件につき	35,970	電子技術部
E1050	膜厚測定	１試料１測定点につき	5,720	電子技術部
E1051	三次元微細形状測定	標準１測定当たり	12,430	電子技術部
E1060	フォトルミネッセンス測定	１試料１条件につき	42,130	電子技術部
E1070	高分解能（１nm以下）フォトルミネッセンス測定	１試料１条件につき	83,160	電子技術部
E1080	低温光特性評価	１試料１条件につき	34,980	電子技術部
E1090	位相差測定	１試料１条件につき	11,330	電子技術部
E1130	光干渉式膜厚測定	１試料１測定点につき	3,190	電子技術部
E1140	光干渉式膜厚測定　１測定点増	１試料につき１測定点増すごとに	1,540	電子技術部
E1145	ハイブリッドレーザー顕微鏡	１測定１解析につき	8,690	電子技術部
E1146	ハイブリッドレーザー顕微鏡　１視野追加	１視野追加につき	4,290	電子技術部
E1150	超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定	１測定１解析につき	8,800	電子技術部
E1151	超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定　１解析増	１解析増すごとに	2,200	電子技術部
E1152	ホール効果測定	１試料１条件につき	20,680	電子技術部
E0767	熱抵抗測定	１時間当たり	9,350	電子技術部
E0768	パワー半導体静特性試験	１時間当たり	7,040	電子技術部
E0769	半導体パラメータ測定	１時間当たり	7,040	電子技術部
E1153	超音波ウェッジボンダ試験	１時間当たり	8,800	電子技術部
E1154	超音波ボールボンダ試験	１時間当たり	10,450	電子技術部
E0763	ワイヤーボンディング強度試験	１測定条件につき（１０測定点まで）	21,560	電子技術部
E0764	ワイヤーボンディング強度試験　５測定点増	５測定点増すごとに	9,900	電子技術部
E0765	ダイシェア試験	１測定条件につき（１０測定点まで）	23,100	電子技術部
E0766	ダイシェア試験　５測定点増	５測定点増すごとに	10,670	電子技術部
E1155	ダイシング加工（半導体基板精密加工）	１時間当たり	16,830	電子技術部
E1156	真空蒸着	標準１試料当たり	37,510	電子技術部
E1157	真空蒸着　１条件増	１条件増すごとに	18,150	電子技術部
E1158	スパッタ成膜	標準１試料当たり	48,730	電子技術部
E1160	イオンプレーティング成膜	標準１試料当たり	50,160	電子技術部
E1170	イオンプレーティング成膜　１条件増	１条件増すごとに	19,250	電子技術部
E1180	アッシャーによるプラズマ処理	１条件１時間につき	17,820	電子技術部
E1190	ＥＣＲプラズマエッチング	標準１試料当たり	48,070	電子技術部
E1191	高精度フォトリソグラフィ	１枚につき	25,300	電子技術部
E1192	高精度フォトリソグラフィ　１枚増	１枚増すごとに	9,020	電子技術部
E1200	電子線リソグラフィ	１時間当たり	10,120	電子技術部
E1201	電子線リソグラフィ試料調製	１試料につき	9,350	電子技術部
E1211	クリーン雰囲気試験	１時間当たり	6,270	電子技術部
E1120	酸化拡散試験	１時間当たり	24,750	電子技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E1230	恒温恒湿槽（中）	２４時間まで	19,580	電子技術部 K5410
E1240	恒温恒湿槽（中）２４時間増	２４時間増すごとに	7,590	電子技術部 K5411
E1270	恒温恒湿槽（中）サイクル	２４時間まで	25,300	電子技術部 K5415
E1280	恒温恒湿槽（中）サイクル２４時間増	２４時間増すごとに	8,690	電子技術部 K5416
E1290	高温槽	２４時間まで	12,100	電子技術部
E1310	高温槽　２４時間増	２４時間増すごとに	5,940	電子技術部
E1320	プレッシャークッカー試験	２４時間まで	19,140	電子技術部 K5440
E1330	プレッシャークッカー試験　２４時間増	２４時間増すごとに	11,990	電子技術部 K5441
E1350	冷熱衝撃試験（中）	８時間まで	10,560	電子技術部
E1360	冷熱衝撃試験（中）８時間増	８時間増すごとに	5,280	電子技術部
E1361	ハイパワー恒温恒湿槽（ARSF）	２４時間まで	25,610	電子技術部
E1362	ハイパワー恒温恒湿槽（ARSF）２４時間増	２４時間増すごとに	14,300	電子技術部
E1363	冷熱衝撃試験（中・TSA）	８時間まで	12,430	電子技術部
E1364	冷熱衝撃試験（中・TSA）８時間増	８時間増すごとに	6,050	電子技術部
E1365	HAST試験	２４時間まで	19,800	電子技術部
E1366	HAST試験　２４時間増	２４時間増すごとに	13,200	電子技術部
E1370	恒温恒湿槽（大、１５０℃対応）	２４時間まで	31,350	電子技術部
E1375	恒温恒湿槽（大、１５０℃対応）　２４時間増	２４時間増すごとに	16,500	電子技術部
E1376	恒温恒湿槽（低湿度対応）	２４時間まで	25,610	電子技術部
E1377	恒温恒湿槽（低湿度対応）２４時間増	２４時間増すごとに	11,440	電子技術部
E1380	冷熱衝撃試験（大）	８時間まで	13,860	電子技術部
E1385	冷熱衝撃試験（大）８時間増	８時間増すごとに	6,930	電子技術部
E1390	小型恒温恒湿槽（SH）	２４時間まで	16,940	電子技術部
E1391	小型恒温恒湿槽（SH）　２４時間増	２４時間増すごとに	6,820	電子技術部
E1392	小型恒温槽（温度のみ）	２４時間まで	13,640	電子技術部
E1393	小型恒温槽（温度のみ）２４時間増	２４時間増すごとに	5,280	電子技術部
E1386	パワーサイクル試験	８時間まで	22,000	電子技術部
E1387	パワーサイクル試験　８時間増	８時間増すごとに	10,340	電子技術部
E1394	人工気象室（小型）	１時間ごとに	5,280	化学技術部
E1395	人工気象室（大型）	１時間ごとに	7,810	化学技術部
E1396	日射装置	１時間ごとに（人工気象室（大型）の料金に加算）	6,490	化学技術部
E1397	促進耐候性試験(キセノン)	標準条件(放射照度60W/㎡、 BPT63℃、スプレー18分/120分)の場合 1試料50時間につき	20,240	化学技術部
E1398	試料取付費	１ホルダーにつき　（E1397に適用）	3,190	化学技術部
E1399	試料抜取り費	１ホルダーにつき　（E1397に適用）	1,540	化学技術部
E3520	耐光試験（カーボンアーク）	１試料につき２０時間	1,540	化学技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E1410	放射妨害波測定	２時間まで	38,500	電子技術部
E1420	放射妨害波測定　１時間増	１時間増すごとに	14,740	電子技術部
E1425	車載機器の放射・伝導妨害波測定	２時間まで	38,500	電子技術部
E1426	車載機器の放射・伝導妨害波測定　１時間増	１時間増すごとに	14,740	電子技術部
E1430	電源・通信ポート伝導妨害波測定	１時間まで	23,650	電子技術部
E1440	電源・通信ポート伝導妨害波測定　１時間増	１時間増すごとに	14,740	電子技術部
E1450	雑音電力測定	１時間まで	23,760	電子技術部
E1460	雑音電力測定　１時間増	１時間増すごとに	14,740	電子技術部
E1472	放射無線周波電磁界イミュニティ試験	２時間まで	33,330	電子技術部
E1482	放射無線周波電磁界イミュニティ試験　１時間増	１時間増すごとに	13,310	電子技術部
E1490	静電気放電イミュニティ試験	１時間まで	12,210	電子技術部
E1510	静電気放電イミュニティ試験　１時間増	１時間増すごとに	7,040	電子技術部
E1520	電気的ファーストトランジェント/ バーストイミュニティ試験	１時間まで	12,210	電子技術部
E1530	電気的ファーストトランジェント/ バーストイミュニティ試験　１時間増	１時間増すごとに	7,040	電子技術部
E1540	雷サージイミュニティ試験	１時間まで	12,210	電子技術部
E1550	雷サージイミュニティ試験　１時間増	１時間増すごとに	7,040	電子技術部
E1553	誘導伝導電磁界イミュニティ試験	１時間まで	19,470	電子技術部
E1554	誘導伝導電磁界イミュニティ試験　１時間増	１時間増すごとに	12,980	電子技術部
E1560	インパルスノイズ試験	１時間まで	12,210	電子技術部
E1570	インパルスノイズ試験　１時間増	１時間増すごとに	7,040	電子技術部
E1581	電磁波シールド効果測定 (100kHz～1GHz、 KEC法)	１試料１測定（電界または磁界）につき	6,380	電子技術部
E1600	マイクロ波電磁波シールド効果測定 (1GHz～ 8.5GHz、2焦点型扁平空洞)	１試料１測定につき	7,260	電子技術部
E1605	電波透過特性測定（マイクロ波帯）	１条件１測定につき	15,290	電子技術部
E1606	電波透過特性測定（マイクロ波帯）　１件増	１測定増すごとに	7,150	電子技術部
E1610	電波吸収率測定（簡易アンテナ法）	１条件１測定につき	13,090	電子技術部
E1620	電波吸収率測定（簡易アンテナ法）　１件増	１測定増すごとに	3,630	電子技術部
E1630	アンテナ指向性測定	２時間まで	40,260	電子技術部
E1640	アンテナ指向性測定　１時間増	１時間増すごとに	15,730	電子技術部
E1650	三次元アンテナ指向性測定	２時間まで	45,210	電子技術部
E1660	三次元アンテナ指向性測定　１時間増	１時間増すごとに	20,790	電子技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E1780	走査型プローブ顕微鏡観察	標準１条件１測定につき	23,100	電子技術部
E1781	走査型プローブ顕微鏡観察　１視野追加	１視野追加につき	10,780	電子技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E1810	定量分析（Ａ）（容易なもの）	１試料，１成分につき（容易なもの）	9,460	化学技術部
E1820	定量分析（Ｂ）（複雑なもの）	１試料，１成分につき（複雑なもの）	11,440	化学技術部
E1821	炭素・硫黄分析装置による定量分析（Ａ）（容易なもの）	１試料，１成分につき（容易なもの）	8,360	化学技術部
E1822	炭素・硫黄分析装置による定量分析（Ｂ）（複雑なもの）	１試料，１成分につき（複雑なもの）	12,210	化学技術部
E1831	原子吸光分析法による定量分析（Ａ）（容易なもの）	１試料，１成分につき（容易なもの）	8,470	化学技術部
E1832	原子吸光分析法による定量分析（Ｂ）（複雑なもの）	１試料，１成分につき（複雑なもの）	12,760	化学技術部
E1841	蛍光Ｘ線法による微小部定性分析	１試料，１カ所につき	9,350	化学技術部
E1842	蛍光Ｘ線法による微小部定性分析　１条件増	１条件増すごとに	3,410	化学技術部
E1860	蛍光Ｘ線定性分析(波長分散方式)	１試料につき	20,240	化学技術部
E1891	ＩＣＰ発光分光分析法による定量分析（Ａ）（容易なもの）	１試料，１成分につき（容易なもの）	8,250	化学技術部
E1892	ＩＣＰ発光分光分析法による定量分析（Ｂ）（複雑なもの）	１試料，１成分につき（複雑なもの）	12,430	化学技術部
E1911	ＩＣＰ発光分光分析法による定性分析	１試料につき，基本１０元素まで	18,920	化学技術部
E1921	ＩＣＰ発光分光分析法による定性分析１元素増	１試料につき，１元素増すごとに	1,870	化学技術部
E1930	カールフィッシャー水分測定（直接法）	１条件，１試料につき	11,550	化学技術部
E1931	カールフィッシャー水分測定（直接法）１試料増	１試料増すごとに	6,930	化学技術部
E1932	カールフィッシャー水分測定（加熱気化法）	１条件，１試料につき	14,630	化学技術部
E1933	カールフィッシャー水分測定（加熱気化法）１試料増	１試料増すごとに	9,900	化学技術部
E1940	試料調製（１）（切粉作製等簡易な前処理）	E1810,E1820,E1821,E1822,E1831,E1832, E1860,E1932,E1933,E2021,E2211,E2212, E2225,E2235,E2265,E2275,E2281,E2282, E2290,E2294,E2295,E2310,E2330,E2340, E4010,E4020に適用	1,870	化学技術部
E1950	試料調製（２）（難分解性試料等複雑な前処理）	E1810,E1820,E1831,E1832,E1860,E1891, E1892,E1911,E2021,E2211,E2212,E2225, E2235,E2265,E2275,E2281,E2282,E2290, E2294,E2295,E2310,E2330,E2340,E4010, E4020に適用	9,790	化学技術部
E1960	試料調製（３）（極微量物質の分離濃縮等困難な前処理）	E1810,E1820,E1831,E1832,E1891,E1892, E1911,E2021,E2211,E2212,E2225,E2235, E2265,E2275,E2281,E2282,E2290,E2294, E2295,E2310,E2330,E2340,E4010,E4020 に適用	16,280	化学技術部
E1970	試料調製（４）（抽出、濃縮等標準的な前処理）	E1810,E1820,E1831,E1832,E1891,E1892, E1841,E1860,E1911,E2211,E2212,E2225, E2235,E2265,E2275,E2281,E2282,E2290, E2294,E2295,E2310,E2330,E2340,E4010, E4020に適用	5,170	化学技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E1882	X線光電子分光分析（簡単なもの)	１試料１ヶ所につき	18,150	機械・材料技術部
E1884	X線光電子分光分析（簡単なもの)　条件増	１条件増すごとに	8,250	機械・材料技術部
E1980	微小部X線光電子分光分析　（ワイドスキャンのみ）	１試料１ヶ所につき	14,410	機械・材料技術部
E1982	微小部X線光電子分光分析（ワイドおよびナロースキャン）	１試料１ヶ所につき（６元素まで）	21,450	機械・材料技術部
E1984	微小部X線光電子分光分析（面分析，線分析）	１試料１ヶ所につき（５元素まで）	22,440	機械・材料技術部
E1986	微小部X線光電子分光分析（深さ方向分析）	１試料１ヶ所につき（６元素まで）	33,770	機械・材料技術部
E1990	微小部X線光電子分光分析　条件増	１条件増すごとに	5,280	機械・材料技術部
E1992	微小部X線光電子分光分析　元素増（１）	１元素増すごとに（E1982,E1984に適用）	4,510	機械・材料技術部
E1994	微小部X線光電子分光分析　元素増（２）	１元素増すごとに（E1986に適用）	6,710	機械・材料技術部
E2570	電子線マイクロアナライザ観測（ＦＥ－ＥＰＭＡ）	１ヶ所につき	29,370	機械・材料技術部
E2580	表面観察（ＦＥ－ＥＰＭＡによる）	１ヶ所につき	20,020	機械・材料技術部
E2581	エネルギー分散型Ｘ線分析（ＥＤＸ）（ＦＥ－ＥＰＭＡによる）	１ヶ所につき（E2570,E2580に適用）	7,150	機械・材料技術部
E2582	表面観察（ＦＥ－ＥＰＭＡによる）１ヶ所増	同一試料で１ヶ所増すごとに（E2570,E2580に適用）	4,400	機械・材料技術部
E2590	電子線マイクロアナライザ観測（ＦＥ－ＥＰＭＡ）追加分析	１ヶ所につき（E2570,E2580に適用）	9,130	機械・材料技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E2011	分光光度計による透過率または拡散反射率測定（紫外・可視のみ）	１試料１スペクトルにつき	5,830	機械・材料技術部
E2012	分光光度計による透過率または拡散反射率測定（紫外・可視・近赤外）	１試料１スペクトルにつき	6,380	機械・材料技術部
E2013	分光光度計による正反射率測定（紫外・可視・近赤外）	偏光子なしまたは偏光１成分の１試料１スペクトルにつき	6,710	機械・材料技術部
E2014	分光光度計による正反射率測定（紫外・可視・近赤外）追加（１）	同一試料・同一条件で偏光１成分追加につき	3,740	機械・材料技術部
E2015	分光光度計による正反射率測定（紫外・可視・近赤外）追加（２）	同一試料・同一条件・同一偏光成分で１角度追加につき	2,090	機械・材料技術部
E2016	分光光度計による透過率または反射率測定（特殊なもの）	１試料１スペクトルにつき	9,790	機械・材料技術部
E2017	分光スペクトルによる色彩・色度座標または太陽光反射率計算	１スペクトル１解析につき	440	機械・材料技術部
E2021	フーリエ変換赤外分光分析	１スペクトルにつき	19,800	機械・材料技術部化学技術部 K5055
E2023	フーリエ変換赤外分光分析用微小試料調製	１試料につき	3,190	機械・材料技術部化学技術部
E2080	顕微レーザーラマン分光分析	１試料１ヶ所につき	58,080	機械・材料技術部化学技術部
E2090	顕微レーザーラマン分光分析　１条件増	１条件増すごとに	29,920	機械・材料技術部化学技術部
E2091	顕微レーザーラマン分光分析（簡単なもの）	１試料１ヶ所につき	20,460	機械・材料技術部化学技術部
E2110	分光蛍光光度計試験	１スペクトルにつき	9,570	化学技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E2211	イオンクロマトグラフ分析（１）（一般的なもの）	１測定につき	17,050	化学技術部
E2212	イオンクロマトグラフ分析（２）（特殊なもの）	１測定につき	22,000	化学技術部
E2225	ガスクロマトグラフによる分析	１試料につき	10,120	化学技術部
E2235	ガスクロマトグラフ定量分析	１試料１成分につき	14,630	化学技術部
E2236	ガスクロマトグラフ定量分析　１成分増	１成分増すごとに	5,830	化学技術部
E2265	ヘッドスペースガスクロマトグラフによる分析	１試料につき	14,960	化学技術部
E2275	ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析	１試料１成分につき	20,570	化学技術部
E2276	ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析　１成分増	１成分増すごとに	5,830	化学技術部
E2281	高速液体クロマトグラフ分析（分析条件検討を含まない）	１試料１成分につき	11,220	化学技術部
E2282	高速液体クロマトグラフ分析（簡単な分析条件を含む）	１試料１成分につき	28,490	化学技術部
E2290	液体クロマトグラフ－質量分析（飛行時間型）（分析条件検討を含まない）	１試料１成分につき	43,450	化学技術部
E2291	液体クロマトグラフ－質量分析（飛行時間型）（簡単な分析条件の検討）	１試料につき(E2290に適用)	23,100	化学技術部
E2292	液体クロマトグラフ－質量分析（飛行時間型）定性分析１成分増	１成分増すごとに	4,070	化学技術部
E2294	液体クロマトグラフ－質量分析（四重極型）（分析条件検討を含む）	１試料１成分につき	37,400	化学技術部
E2295	液体クロマトグラフ－質量分析（四重極型）（分析条件検討を含まない）	１試料１成分につき	19,030	化学技術部
E2030	試料調製（５）分取用液体クロマトグラフ使用	１試料１成分につき	28,820	化学技術部
E2040	試料調製（６）分取用液体クロマトグラフ使用　１成分増	同試料１成分増すごとに	3,740	化学技術部
E2310	ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ）	１試料１成分につき	40,700	化学技術部
E2311	ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ）定性分析　１成分増	１成分増すごとに	5,280	化学技術部
E2312	ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ）定量分析　１成分増	１成分増すごとに	6,160	化学技術部
E2330	ヘッドスペースＧＣＭＳ分析	１試料１成分につき	52,580	化学技術部
E2331	ヘッドスペースＧＣＭＳ分析　定性分析　１成分増	１成分増すごとに	5,280	化学技術部
E2332	ヘッドスペースＧＣＭＳ分析　定量分析　１成分増	１成分増すごとに	6,160	化学技術部
E2340	サーマルデソープションＧＣＭＳ分析	１試料１成分につき	56,430	化学技術部
E2341	サーマルデソープションＧＣＭＳ分析　定性分析　１成分増	１成分増すごとに	5,280	化学技術部
E2342	サーマルデソープションＧＣＭＳ分析　定量分析　１成分増	１成分増すごとに	6,160	化学技術部
E2350	化学イオン化（ＣＩ）法によるＧＣＭＳ分析	１試料につき（E2310,E2330,E2340に適用）	11,880	化学技術部
E2360	熱分解GCMS分析	１試料１成分につき	55,770	化学技術部
E2361	熱分解GCMS分析　定性分析　１成分増	１成分増すごとに	5,280	化学技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E2411	示差熱熱重量測定（ＴＧ／ＤＴＡ）室温～600℃	１測定につき	14,630	化学技術部
E2421	示差熱熱重量測定（ＴＧ／ＤＴＡ）600℃をこえるもの	１測定につき	20,020	化学技術部
E2432	示差走査熱量測定（ＤＳＣ）	１測定につき	16,170	化学技術部
E2433	示差走査熱量測定（ＤＳＣ）液体窒素使用	１測定につき	21,780	化学技術部
E2441	高圧示差熱・熱重量測定	１測定につき	23,210	化学技術部
E2442	発火温度測定（ＨＰ-ＴＧ法）	１測定につき	20,460	化学技術部
E2450	複合熱分析	１測定につき	69,850	化学技術部
E2460	高圧示差走査熱量測定	１測定につき	22,770	化学技術部
E2470	熱機械測定（ＴＭＡ）室温～600℃	１測定につき	16,830	化学技術部
E2471	熱機械測定（ＴＭＡ）600℃をこえるもの	１測定につき	29,040	化学技術部
E2472	熱機械測定（ＴＭＡ）液体窒素使用	１測定につき	22,550	化学技術部
E2490	試料調製（１）（切断，試験片作製等簡易な前処理）	E2411からE2472に適用	3,300	化学技術部
E2491	試料調製（２）（粉末化等困難な前処理）	E2411からE2472に適用	4,950	化学技術部
E2492	試料調製（３）（溶解，ろ過等複雑な前処理）	E2411からE2472に適用	7,260	化学技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E2720	比重試験（水中置換法）（室温）	１試料につき	7,920	化学技術部
E2730	吸水試験（室温）	１試料につき	7,040	化学技術部
E2750	動的粘弾性測定レオメーター（４０℃以上かつ１走査１時間未満）	１走査（温度変化または振動数変化）につき	18,040	化学技術部
E2751	動的粘弾性測定ＤＭＡ（40℃以上かつ１走査１時間未満）	１走査（温度変化または振動数変化）につき	16,390	化学技術部
E2760	動的粘弾性測定レオメーター（－５０℃以上または１走査１時間超）	１走査（温度変化または振動数変化）につき	29,040	化学技術部
E2761	動的粘弾性測定装置ＤＭＡ（－50℃以上または１走査１時間超）	１走査（温度変化または振動数変化）につき	27,610	化学技術部
E2770	動的粘弾性測定レオメーター（液体窒素使用）	１走査（温度変化または振動数変化）につき	41,140	化学技術部
E2771	ペルチェシステム使用（１０～１５０℃）	E2750, E2751,E2760,E2761,E2770に適用	6,490	化学技術部
E2772	試料調整（取り付け困難なもの）	１試料につき１時間毎（E2750,E2751, E2760,E2761, E2770に適用）	2,750	化学技術部
E2773	測定前温度調整	１試料につき１時間毎（E2750,E2760,E2770に適用)	3,190	化学技術部
E2841	引張試験（50ｋN以下）	１試験片につき	3,190	化学技術部
E2842	圧縮試験（50ｋN以下）	１試験片につき	3,190	化学技術部
E2843	曲げ試験（５ｋN以下）	１試験片につき	3,190	化学技術部
E2844	動作パターン制御試験	１試験片につき	9,900	化学技術部
E2851	引張弾性率測定（接触式伸び計使用）（室温）	１試験片につき	5,390	化学技術部
E2852	圧縮弾性率測定（室温）	１試験片につき	3,190	化学技術部
E2853	曲げ弾性率測定（室温）	１試験片につき	3,190	化学技術部
E2861	接着強さ試験	１試験片につき	4,180	化学技術部
E2862	はく離接着強さ試験（室温）	１試験片につき	4,620	化学技術部
E2863	軟質発泡材料圧縮試験（室温）	１試験片につき	9,900	化学技術部
E2871	非接触式伸び計使用	１試験片につき（E2841に適用）	3,080	化学技術部
E2872	恒温槽使用（－30～200℃）	１試験片につき（E2841,E2842,E2843,E2844,E2861に適用）	2,860	化学技術部
E2873	恒温恒湿槽使用	１試験片につき（E2841,E2842,E2843,E2844,E2861に適用）	3,960	化学技術部
E2885	ノッチ加工	１試験片につき（E2880に適用）	1,980	化学技術部
E2880	衝撃試験（アイゾット・シャルピー）（室温）	１試料につき	6,380	化学技術部
E2920	硬さ試験（ロックウェル・デュロメータ）（室温）	１試料につき	3,410	化学技術部
E2930	熱伝導率測定（プローブ法）（室温）	１試料につき	10,010	化学技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E3010	塗膜物性試験	１試料につき	1,760	化学技術部
E3030	光沢度測定	１試料につき	3,300	化学技術部
E3040	色彩測定	１試料につき	3,300	化学技術部
E3050	浸せき試験	室温で実施の場合　１試料２４時間まで	4,510	化学技術部
E3051	浸せき試験　２４時間増	２４時間増すごとに	660	化学技術部
E3060	塩水噴霧試験	１試料２４時間まで	2,200	化学技術部
E3071	煮沸試験	１試料８時間につき	3,520	化学技術部
E3080	耐熱性試験	１試料500℃まで８時間につき	2,090	化学技術部
E3090	外観撮影	１枚につき	440	化学技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E2510	X線回折試験（Ⅰ）粉末X線回折	１試料につき	23,870	電子技術部化学技術部
E2520	X線回折試験（Ⅱ）高度な粉末X回折・薄膜X線回折	１試料につき	36,190	電子技術部化学技術部
E2530	X線回折試験（Ⅲ）高度な薄膜X線回折	１試料につき	55,880	電子技術部化学技術部
E2540	X線回折試験（Ⅳ）特殊なX線回折	１試料につき（広範囲な逆格子マッピングなど）	85,200	電子技術部化学技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E2610	ＣＨＮ元素分析装置による定量分析	１試料につき	17,490	化学技術部
E2631	飛行時間型質量分析	１試料１測定につき	29,700	化学技術部
E2651	電子スピン共鳴分析（Ａ）（基本測定）	１試料１スペクトルにつき	22,110	機械・材料技術部
E2652	電子スピン共鳴分析（Ｂ）（特殊測定・定量）	１試料１スペクトルにつき	38,720	機械・材料技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E3211	金属・合金の電極電位測定（１）	１試料につき４時間まで	14,300	化学技術部
E3212	金属・合金の電極電位測定（２）　1時間増	1時間増すごとに	220	化学技術部
E3221	金属・合金の腐食減量測定（１）	１試料につき２４時間まで	13,640	化学技術部
E3222	金属・合金の腐食減量測定（２）　２４時間増	２４時間増すごとに	3,850	化学技術部
E3223	異種金属接触腐食電流測定（１）	１試料につき４時間まで	14,300	化学技術部
E3224	異種金属接触腐食電流測定（２）　1時間増	1時間増すごとに	220	化学技術部
E3241	燃料電池の発電試験	１時間当たり	7,700	化学技術部
E3242	ガス透過率測定	１試料につき（１時間当たり）	6,050	化学技術部
E3251	高露点測定（１）	２４時間まで（１時間当たり）	4,180	化学技術部
E3252	高露点測定（２）２４時間増	２４時間増すごとに	25,520	化学技術部
E3253	燃料電池スタック試験（１）	２４時間まで（８時間当たり）	4,510	化学技術部
E3254	燃料電池スタック試験（２）２４時間増	２４時間増すごとに	7,150	化学技術部
E3255	スプレー塗工試験	１時間当たり	4,730	化学技術部
E3261	電池充放電試験（１）	１試料につき６時間まで	23,650	化学技術部
E3262	電池充放電試験（２）６時間増	６時間増すごとに	10,670	化学技術部
E3263	電極の熱ロールプレス処理	１試料１時間につき	4,070	化学技術部
E3265	大型電池充放電試験（２kW以下）（１）	１試料につき６時間まで	9,020	化学技術部
E3266	大型電池充放電試験（２kW以下）（２）６時間増	６時間増すごとに	5,940	化学技術部
E3270	金属の分極測定	１試料につき	19,250	化学技術部
E3280	試料調製（１）（比較的容易）	E3211,E3212,E3221,E3222,E3223,E3224,E3261,E3262,E3270に適用	3,190	化学技術部
E3290	試料調製（２）（比較的複雑）	E3211,E3212,E3221,E3222,E3223,E3224,E3261,E3262,E3270に適用	6,490	化学技術部
E3295	電極の研磨	１試料につき	1,540	化学技術部
E3296	腐食液・電解液作製	１試料につき	1,540	化学技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E3310	超臨界炭酸ガス抽出	１試料につき	13,860	化学技術部
E3311	超臨界水反応装置試験	１試料につき	40,260	化学技術部
E3325	冷却遠心分離	１試料１時間につき	5,060	化学技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E3450	繊維熱物性試験	１試料１測定につき	5,390	化学技術部
E3460	重量測定	１試料につき	550	化学技術部
E3620	編織物厚さ測定	１試料につき	2,200	化学技術部
E3650	編織物通気度試験	１試料につき	2,750	化学技術部
E3661	編織物強伸度測定	１試料１方向につき	3,080	化学技術部
E3710	剛軟度試験	１試料１方向につき	1,210	化学技術部
E3730	はっ水度試験	１試料につき	2,640	化学技術部
E3771	サーモグラフィによる表面温度測定	１時間につき	8,470	化学技術部
E3772	サーモグラフィによる表面温度測定（特殊条件の場合）	１時間につき	16,750	化学技術部
E3820	糸強伸度測定（容易なもの）	１試料につき	1,100	化学技術部
E3930	赤外線放射計による放射率測定 ※装置故障により現在ご利用いただけません。	１試料１測定につき	41,910	化学技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E4010	水質試験（Ａ）（容易なもの）	１項目につき（容易なもの）	6,380	化学技術部
E4020	水質試験（Ｂ）（複雑なもの）	１項目につき（複雑なもの）	10,340	化学技術部
E4030	溶出検液作成（Ａ）（６成分以下）	１試料につき（６成分以下）	4,400	化学技術部
E4040	溶出検液作成（Ｂ）（７成分以上）	１試料につき（７成分以上）	8,030	化学技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E4150	接触角測定試験	１試料につき	2,420	機械・材料技術部
E4160	ゼータ電位測定（Ａ）（微粒子分散溶液）	１試料につき	10,340	機械・材料技術部
E4170	ゼータ電位測定（Ｂ）（平板形状試料）	１試料につき	12,870	機械・材料技術部
E4180	粒径分布測定（動的光散乱法）	１試料につき	9,020	機械・材料技術部
E4181	粒径分布測定（光学顕微鏡による画像解析式）	１試料、合成画像１視野につき	4,730	機械・材料技術部
E4182	粒径分布測定（光学顕微鏡による画像解析式）　１視野追加	合成画像１視野追加につき	1,540	機械・材料技術部
E4190	比表面積測定（窒素ガス吸着法）（１）（容易なもの）	１試料につき	21,560	機械・材料技術部
E4191	比表面積測定（窒素ガス吸着法）（２）（複雑なもの）	１試料につき	35,750	機械・材料技術部
E4192	細孔分布解析	１試料につき	3,630	機械・材料技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E4210	圧縮試験	１試料につき	2,860	情報・生産技術部
E4220	引張試験	１試料につき	3,190	情報・生産技術部
E4240	曲げ試験（50kN以下）	１試料につき	2,530	情報・生産技術部
E4241	曲げ試験（50kN以下）（曲げ強さ及び曲げヤング係数等の算出を必要とするもの）	１試料につき	3,740	情報・生産技術部
E4250	摩耗試験	１試料につき	4,290	情報・生産技術部
E4260	局所構造試験	１試料１測定につき	2,970	情報・生産技術部
E4270	密度測定	１試料につき	1,540	情報・生産技術部
E4280	含水率測定	１試料につき	6,050	情報・生産技術部
E4281	含水率測定　１増	一緒の工程で１試料増すごとに	2,420	情報・生産技術部
E4310	いす繰返し衝撃試験（１）	１試料１条件につき（4,000回まで）	8,910	情報・生産技術部
E4320	いす繰返し衝撃試験（２） 4,000回増	同一試料に連続し4,000回増すごとに	5,170	情報・生産技術部
E4350	いす繰返し耐久性試験（１）	１試料１条件につき（5,000回まで）	9,900	情報・生産技術部
E4360	いす繰返し耐久性試験（２） 5,000回増	同一試料に連続し5,000回増すごとに	5,170	情報・生産技術部
E4370	垂直過重下の強度試験	１試料１条件につき	3,740	情報・生産技術部
E4380	背もたれの静的強度試験	１試料１条件につき	3,740	情報・生産技術部
E4390	脚部の静的強度試験	１試料１条件につき	3,740	情報・生産技術部
E4480	煮沸繰返し試験	１試料につき	2,640	情報・生産技術部
E4490	温冷水浸せき試験	１試料につき	1,650	情報・生産技術部
E4510	試料調整（１）（鋸盤鉋盤などによる試験片作製）	１試料につき	1,650	情報・生産技術部
E4520	試料調整（２）（接着調湿等の前処理を伴うもの）	１試料につき	2,420	情報・生産技術部
E4540	マイクロスコープ写真	１試料１ヶ所につき（写真１枚につき）	330	情報・生産技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E4820	適合性試験	１試料６時間まで	51,260	情報・生産技術部
E4821	相互接続性試験	１試料２時間まで	34,210	情報・生産技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E4910	ノイズ試験	１試料８時間まで	31,570	情報・生産技術部
E4920	ハードウェア試験	１試料４時間まで	15,730	情報・生産技術部
E4930	ソフトウェア試験	１試料１０時間まで	39,380	情報・生産技術部
E4940	組み合わせ試験	１試料６時間まで	23,650	情報・生産技術部
E4950	インタオぺラビリティ試験	１試料５時間まで	19,690	情報・生産技術部
E4960	エージング試験	１試料１２時間まで	14,080	情報・生産技術部

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試験計測料金

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機器使用料金

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NO.	項目	単位	料金	担当部名
E4974	時間波形分析（振動）	１分析につき	3,300	機械・材料技術部
E4975	周波数分析（振動）	１分析につき	5,060	機械・材料技術部
E4976	振動試験	１時間当たり	8,360	機械・材料技術部
E4977	損失係数測定（Ａ）	１試料１測定温度につき	12,210	機械・材料技術部
E4978	損失係数測定（Ｂ）　１測定温度増	１測定温度増すごとに	1,320	機械・材料技術部
E4979	振動試験（大型の試験機によるもの）	１時間当たり	9,570	機械・材料技術部
E4980	騒音測定	１測定につき	2,530	機械・材料技術部
E4981	オクターブ分析	１分析につき	3,410	機械・材料技術部
E4982	時間波形分析（音）	１分析につき	3,300	機械・材料技術部
E4983	周波数分析（音）	１分析につき	5,060	機械・材料技術部
E4984	音響パワーレベル測定	１測定につき	10,120	機械・材料技術部
E4985	音圧分布測定	１測定面につき	15,180	機械・材料技術部
E4986	音質評価解析	１測定につき	5,720	機械・材料技術部
E4987	吸音率測定	１測定につき	4,290	機械・材料技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E4990	機械設計・解析	１時間当たり	5,610	情報・生産技術部
E4994	構造解析	１時間当たり	8,690	機械・材料技術部
E4995	高速度カメラ撮影	１時間当たり	5,830	情報・生産技術部
E4996	高速度カメラ撮影（アナログ波形データ収集装置併用）	１時間当たり	6,270	情報・生産技術部
E4993	三次元モデリング（簡易なもの）	１時間当たり	4,840	情報・生産技術部
E4997	三次元造形前処理	１時間当たり	3,190	情報・生産技術部
E4991	三次元造形（小型インクジェット式３Ｄプリンター）	１時間当たり	660	情報・生産技術部
E4998	三次元造形（インクジェット式３Dプリンター）	１時間当たり	2,750	情報・生産技術部
E5000	三次元造形（光造形式３Dプリンター）	１時間当たり	1,430	情報・生産技術部
E4999	三次元造形後処理	１時間当たり	3,630	情報・生産技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E5011	一般生菌数測定	１試料につき	4,950	化学技術部
E5031	嫌気性菌数測定	１試料につき	6,380	化学技術部
E5036	抗菌性評価試験	１試料１測定につき	6,050	化学技術部
E5038	蛍光顕微鏡観察（生物試料）	１試料１測定につき	5,830	化学技術部
E5040	抗酸化性測定（１）	１試料につき	3,630	化学技術部
E5041	抗酸化性測定（２）（ORAC法による）	１試料につき	11,410	化学技術部
E5060	酵素阻害活性測定（１）（複雑なもの）	１試料につき	7,040	化学技術部
E5061	酵素阻害活性測定（２）（容易なもの）	１試料につき	5,060	化学技術部
E5062	抗糖化性測定（１）（複雑なもの）	１試料につき	6,710	化学技術部
E5063	抗糖化性測定（２）（容易なもの）	１試料につき	5,060	化学技術部
E5090	水分定量（常圧乾燥法による）	１試料につき	4,510	化学技術部
E5091	遊離アミノ酸組成分析	１試料につき	38,940	化学技術部
E5100	タンパク質定量（Bradford法、Lowry法、BCA法による）	１試料につき	4,180	化学技術部
E5105	タンパク質電気泳動試験	１試料につき	6,930	化学技術部
E5110	脂質定量（ソックスレー抽出法による）	１試料につき	5,280	化学技術部
E5120	灰分定量（直接灰化法による）	１試料につき	5,280	化学技術部
E5130	総ポリフェノール定量（Folin-Ciocalteu法による）	１試料につき	4,290	化学技術部
E5135	総アントシアニン定量（pH differential法による）	１試料につき	6,380	化学技術部
E5136	総プロアントシアニジン定量	１試料につき	4,290	化学技術部
E5140	炭水化物定量（フェノール-硫酸法による）	１試料につき	9,900	化学技術部
E5150	リグニン定量（硫酸法による）	１試料につき	9,020	化学技術部
E5160	サフラン試験	１試料につき	28,710	化学技術部
E5170	凍結乾燥（24時間まで）	24時間まで	5,940	化学技術部
E5171	凍結乾燥（24時間増すごとに）	24時間増すごとに	2,640	化学技術部
E5180	試料調製（１）（簡易なもの）	E5011～E5171に適用	1,650	化学技術部
E5181	試料調製（２）（基本的なもの）	E5011～E5171に適用	3,630	化学技術部
E5182	試料調製（３）（複雑なもの）	E5011～E5171に適用	6,930	化学技術部
E5183	試料調製（４）（困難なもの）	E5011～E5171に適用	10,890	化学技術部

NO.	項目	単位	料金	担当部名
E5310	研究生の指導	１人１日につき	1,100
E5320	研究生の指導　１人増	研究生１人増すごとに	550

（1）材料試験機	（2）金属加工	（3）電子関連装置	（4）分析・評価機器	（5）環境試験装置
（6）木工加工	（7）形状測定機器	（8）測定計測装置	（9）温度熱量測定装置	（10）その他の機器
（11）設備	（12）ファブラボ

NO.	設備機器名	メーカー・型式	料金	担当部名
E6050	材料試験機（５kN）	インストロンジャパン　5565型	1,210	化学技術部
E6080	万能材料試験機	オリエンテック　UTA-5T	990	情報・生産技術部

NO.	設備機器名	メーカー・型式	料金	担当部名
E6210	コンターマシン	アマダ　VA-500	330	情報・生産技術部
E6230	平面研削盤	岡本　PSG-52DX	1,540	機械・材料技術部
E6240	ボール盤	ヤマモト　YSDT-550	110	機械・材料技術部
E6270	切断機	Hストルアス社　ディスコトム	1,320	機械・材料技術部
E6290	超精密正面切削装置	東芝機械　ULC-100A(H)	6,820	機械・材料技術部
E6310	帯鋸盤	アマダ　HA300	880	情報・生産技術部
E6340	旋盤	昌運　ST-5	1,210	機械・材料技術部
E6350	ＣＮＣ旋盤	オークマ　LS-30N	5,170	機械・材料技術部
E6360	旋盤	シャブリン　SV-150A	1,980	機械・材料技術部
E6370	フライス盤	デッケル　FP1	2,310	機械・材料技術部
E6380	立形マシニングセンタ	牧野フライス製作所　V33	3,190	情報・生産技術部

NO.	設備機器名	メーカー・型式	料金	担当部名
E6620	電極形成装置の本体システム	ＫＨエレクトロニクス　特別仕様	18,480	電子技術部
E6650	定エネルギー分光器	日本分光　YQ-250CW-GT	11,990	電子技術部
E6660	ボロメータ評価システム用高温電気測定用チャンバ	テクノロ工業　特別仕様	4,510	電子技術部
E6670	ボロメータ評価システム用光源システム	日本分光　SS-25GT	12,100	電子技術部
E6680	陽極接合装置	アユミ工業　AB-40特注品	12,430	電子技術部
E6690	マスクアライナ	ミカサ　MA-20	7,590	電子技術部
E6730	研磨機	ムサシノ電子　MA-200	2,640	電子技術部
E6740	酸化拡散装置	ＫＨエレクトロニクス　特別仕様	19,030	電子技術部
E6760	高温小型真空雰囲気炉	ナガノ　NEWTONIAN PASCAL40	6,600	電子技術部
E6770	超音波ボールボンダ	ウエストボンド　7700A	7,040	電子技術部
E6790	チップ付け装置	ウェストボンド　7200A	2,530	電子技術部
E6810	超音波ウェッジボンダ	ウェストボンド　7400A	5,500	電子技術部
E6840	ダイシング装置	ディスコ　DAD-2H/6T	13,200	電子技術部
E6880	アッシャー装置	東京応化工業　OPM-EM600	12,540	電子技術部
E6950	光干渉式膜厚測定装置	大日本スクリーン　VM-8000J	3,080	電子技術部
E6960	超深度形状測定顕微鏡(レーザー顕微鏡)	キーエンス　VK8500	1,980	電子技術部
E6965	ハイブリッドレーザー顕微鏡　データ解析	レーザーテック　OPTELICS HYBRID	990	電子技術部
E6980	焼き付け装置	デルタデザイン（米国）　9023型	880	電子技術部

NO.	設備機器名	メーカー・型式	料金	担当部名
E7020	金属顕微鏡	ニコン　X2-T1-NR	550	機械・材料技術部
E7150	デジタルマイクロスコープ	ハイロックス　HRX-01	1,980	機械・材料技術部
E7151	コードレスマイクロスコープ	スカラ　DG-3	110	情報・生産技術部
E7160	顕微鏡	オリンパス　CKX41N-31PHP	330	化学技術部
E7170	分光蛍光光度計	日立　F-4010	4,400	化学技術部
E7180	蛍光顕微鏡（生物試料）	サーモフィッシャーサイエンティフィック　AMF5000	2,420	化学技術部
E7230	X線透視装置	島津製作所　　SMX-2000	4,290	機械・材料技術部
E7240	Ｘ線ＣＴスキャン装置	ユニハイトシステム　XVA-160 Noix+Presto	12,100	機械・材料技術部
E7280	透明プラスチック残留応力観察装置	理光研　ポラリスコープPS-5	1,540	化学技術部

NO.	設備機器名	メーカー・型式	料金	担当部名
E7310	人工気象室	タバイエスぺック　TBL-9W4YPX	23,320	化学技術部
E7360	断熱反応装置	コロンビアサイエンティフィック　ARC	8,360	化学技術部
E7370	熱流束型熱量計	セタラム　C-80	19,030	化学技術部
E7470	簡易半無響室	小野測器	1,540	機械・材料技術部