海老名本部:試験計測等料金表

〔利用上の注意〕

1 料金は全て消費税を含んでいます。
2 この料金表に掲げる以外に実施可能な項目及び使用可能な設備機器もあります。
  詳細は担当各部へお問い合わせください。
3 機器の更新等により項目及び設備機器名並びに料金の額を変更する場合が
  あります。
4 担当部名欄のE及びKの表示は、同一試験項目の各拠点の該当する料金番号を
  示しています。  E 海老名本部、K 溝の口支所

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 試験計測(依頼試験)及び機器使用における料金の減免について 

料金表を選択してください

試験計測料金

(1)金属材料・部品の試験 (2)電気・電子の試験 (3)磁気関係 (4)非破壊検査試験 (5)半導体関係
(6)環境試験 (7)電磁波ノイズ試験 (8)その他の試験(1) (9)無機定性・定量分析 (10)表面分析
(11)分光分析 (12)クロマトグラフ分析 (13)熱分折 (14)X線回折 (15)有機物分析
(16)合成樹脂(プラスチック) (17)塗料・塗膜試験 (18)電気化学試験 (19)その他の試験(2) (20)繊維関連試験
(21)水・廃棄物・廃ガス (22)その他の試験(3) (23)木質材料・製品 (24)FL-net(OPCN-2)ネットワーク認証試験 (25)CC-Link適合性評価試験
(26)振動騒音関係 (27)機械設計・解析・造形 (28)微生物・生化学・食品試験 (29)デザイン・企画 (30)研究生の指導
(31)成績書の複本の交付

試験計測料金:(1)金属材料・部品の試験

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E0011走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍以下1試料1視野観察につき20,240機械・材料技術部
K1310
E0012走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍以下 1視野追加1視野追加観察につき4,400機械・材料技術部
K1315
E0013走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍を超えて10万倍以下1試料1視野観察につき29,260機械・材料技術部
K1320
E0014走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍を超えて10万倍以下 1視野追加1視野追加観察につき8,910機械・材料技術部
K1325
E0015走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの1試料1視野観察につき51,920機械・材料技術部
K1330
E0016走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの 1視野追加1視野追加観察につき14,630機械・材料技術部
K1335
E0017走査電子顕微鏡写真撮影 10~15視野 112,860機械・材料技術部
K1392
E0018走査電子顕微鏡写真撮影 16~30視野 169,290機械・材料技術部
K1395
E0021エネルギー分散型X線分析(EDX)(E0011~E0018に適用)1ヶ所につき7,040機械・材料技術部
E1790電子線後方散乱回折(EBSD)法による結晶方位測定1視野測定につき46,750機械・材料技術部
E1791電子線後方散乱回折(EBSD)法による結晶方位測定 1視野追加1視野追加測定につき11,660機械・材料技術部
E0022イオンミリング法による試料調製(1)(標準的なもの) 1試料1ヶ所につき44,770機械・材料技術部
E0023イオンミリング法による試料調製(2)(複雑なもの) 1試料1ヶ所につき66,880機械・材料技術部
E0031金属組織写真撮影写真1枚につき 10,560機械・材料技術部
K5110
E0050外観写真撮影写真1枚につき5,280機械・材料技術部
K5112
E0070写真撮影箇所増し(E0031,E0050に適用)同一試料で1ヶ所増すごとに2,970機械・材料技術部
K5114
E0080顕微鏡試料調整(1) (容易なもの)1試料につき1,870機械・材料技術部
K5120
E0090顕微鏡試料調整(2) (標準的なもの)1試料につき3,630機械・材料技術部
K5121
E0091顕微鏡試料調整(3) (比較的複雑なもの)1試料につき7,260機械・材料技術部
K5122
E0092顕微鏡試料調整(4) (非常に複雑なもの)1試料につき10,560機械・材料技術部
K5123
E0101デジタルマイクロスコープ観察1試料につき2,640機械・材料技術部
E0102デジタルマイクロスコープ撮影1撮影につき1,100機械・材料技術部
E0110引張・圧縮・曲げ試験(1) (簡単な試験)1試料1条件につき2,530機械・材料技術部
E0120引張・圧縮・曲げ試験(2) (比較的簡単な試験)1試料1条件につき4,070機械・材料技術部
E0130引張・圧縮・曲げ試験(3) (標準的な試験)1試料1条件につき5,500機械・材料技術部
E0140引張・圧縮・曲げ試験(4) (やや複雑な試験)1試料1条件につき 7,150機械・材料技術部
E0150引張・圧縮・曲げ試験(5) (複雑な試験)1試料1条件につき10,560機械・材料技術部
E0160大型構造物強度試験(1) (簡単な試験)1試料1条件につき8,580機械・材料技術部
E0165大型構造物強度試験(2) (標準的な試験)1試料1条件につき14,080機械・材料技術部
E0170大型構造物強度試験(3) (複雑な試験)1試料1条件につき21,670機械・材料技術部
E0175常温シャルピー衝撃試験1試料につき1,430機械・材料技術部
E0176低温シャルピー衝撃試験 1試料につき3,190機械・材料技術部
E0180硬さ試験1点につき990情報・生産技術部
K5330
E0191薄膜・微小部硬さ試験1試料1ヶ所につき21,670機械・材料技術部
E0192薄膜・微小部硬さ試験 1ヶ所増1ヶ所増すごとに9,680機械・材料技術部
E0211トライボ試験1試料1条件につき7,700機械・材料技術部
E0212トライボ試験 1件増 1条件増すごとに3,520機械・材料技術部
E0225三次元座標測定(接触式測定)1時間当たり15,360情報・生産技術部
E0230三次元座標測定(光学式測定)1時間当たり 8,140情報・生産技術部
E0245表面粗さ測定1試料1ヶ所につき1,430情報・生産技術部
E0255表面形状測定1試料1ヶ所につき1,760情報・生産技術部
E0260形状評価1寸法につき220情報・生産技術部
E0270工具寿命試験1項目につき16,280情報・生産技術部
E0295X線応力測定1試料1方向につき5,940機械・材料技術部
E0310切削抵抗測定1項目につき11,990情報・生産技術部
E0415疲労試験 1時間以内1試料1条件につき 6,270機械・材料技術部
E0420疲労試験 8時間以内1試料1条件につき17,380機械・材料技術部
E0431疲労試験 大型構造物 8時間以内 1試料1条件につき22,000機械・材料技術部
E0435疲労試験 8時間増(E0420,E0431に適用)8時間を超えて8時間増すごとに7,150機械・材料技術部
E0440熱間加工性試験1試料につき7,590機械・材料技術部
E0450NC放電加工試験1時間当たり2,420情報・生産技術部
E0460ホットプレス処理1時間当たり8,360機械・材料技術部
E0461制御雰囲気炉処理1時間当たり4,510機械・材料技術部
E0462脱脂炉処理1時間当たり1,650機械・材料技術部
E0463卓上型電気炉処理1時間当たり1,870機械・材料技術部
E0470HIP処理1時間当たり18,590機械・材料技術部
E0471CIP処理1時間当たり6,050機械・材料技術部
E0480熱処理特性試験1時間当たり12,540機械・材料技術部
E0490立形マシニングセンタによる加工1時間当たり 6,490情報・生産技術部
E04955軸制御マシニングセンタによる加工1時間当たり6,930情報・生産技術部
E4620ワイヤ放電加工1時間当たり3,960情報・生産技術部

試験計測料金:(2)電気・電子の試験

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E0510電流電圧測定(1mA以上,1mV以上)1試料1条件につき 3,190電子技術部
E0570電気抵抗測定1試料1条件につき3,960電子技術部
E0591四探針法による抵抗率測定1試料1測定につき 10,230電子技術部
E0660電気機器・漏れ電流測定 1条件1測定につき4,730電子技術部
E0670電気機器・耐電圧試験1試料1測定につき4,070電子技術部
E0680電気機器・接地回路の抵抗測定1条件1測定につき 4,950電子技術部
E0690LCR測定 1試料1条件につき9,350電子技術部
E0710LCR測定 1ヶ所増 1試料につき測定点1ヶ所増すごとに3,080電子技術部
E0750絶縁抵抗試験1条件1測定につき4,950電子技術部
E0760電気機器・温度試験1測定点につき 2,970電子技術部
E0761はんだ継手強度試験1測定条件につき(10測定点まで)18,700電子技術部
E0762はんだ継手強度試験 5測定点増5測定点増すごとに8,360電子技術部
E0770マイクロ波スペクトラムアナライザ測定1条件1測定につき8,800電子技術部
E0771マイクロ波スペクトラムアナライザ測定 1件増1測定増すごとに3,740電子技術部
E0780ネットワークアナライザ測定(マルチポート)1測定につき 10,450電子技術部
E0791ネットワークアナライザ測定(4ポートまで)1試料1条件につき7,590電子技術部
E0792ネットワークアナライザ測定(4ポートまで) 1件増1条件増すごとに2,860電子技術部
E0813電源変動および瞬停試験2時間まで11,990電子技術部
E0814電源変動および瞬停試験 1時間増1時間増すごとに 5,940電子技術部
E0820電気機器・電力測定1試料1条件につき5,280電子技術部
E0830高周波伝送特性測定(Sパラメータ・TDR測定)1条件1測定につき15,180電子技術部
E0840高周波伝送特性測定(Sパラメータ・TDR測定) 1件増1測定増すごとに4,070電子技術部
E0850マイクロ波誘電率測定(共振器法・誘電体プローブ法)1条件1測定につき 17,380電子技術部
E0860マイクロ波誘電率測定(共振器法・誘電体プローブ法) 1件増1測定増すごとに5,830電子技術部
E0870マイクロ波誘電率・透磁率測定(Sパラメータ法)1条件1測定につき16,060電子技術部
E0880マイクロ波誘電率・透磁率測定(Sパラメータ法) 1件増1測定増すごとに4,510電子技術部
E0881マイクロ波誘電率・透磁率測定(ハーモニック共振器法)1測定につき 18,370電子技術部
E0890イーサネットコンプライアンステスト1時間につき4,730情報・生産技術部

試験計測料金:(3)磁気関係

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E0910磁化特性測定(VSM方式) 1試料1測定につき6,600電子技術部
E0920磁化特性測定(積分方式) 1試料1測定につき 4,620電子技術部
E0930磁歪測定1試料1測定につき18,590電子技術部
E0931磁歪測定 1条件増1条件増すごとに12,100電子技術部
E0940磁化温度特性測定1試料1測定につき20,130電子技術部
E0950薄膜交流透磁率測定1試料1測定につき 5,500電子技術部
E0951交流磁化特性測定(B-H曲線、鉄損、透磁率、 インダクタンス)1試料1測定につき10,010電子技術部
E0952交流磁化特性測定(B-H曲線、鉄損、透磁率、 インダクタンス)1条件増1条件増すごとに6,710電子技術部
E0953交流磁化特性測定(B-H曲線無しの連続測定、 可変条件は1)1試料5測定まで16,720電子技術部
E0954交流磁化特性測定(B-H曲線無しの連続測定、 可変条件は1)1測定増1測定増すごとに2,530電子技術部
E0958試料調整 1時間当たり3,190電子技術部
E0959データ処理1時間当たり 3,190電子技術部

試験計測料金:(4)非破壊検査試験

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E0960X線透過試験1時間当たり7,590機械・材料技術部
E0981X線CT撮影(容易なもの)1測定につき 33,440機械・材料技術部
E0982X線CT撮影(標準的なもの)1測定につき50,160機械・材料技術部
E0983X線CT撮影(複雑なもの)1測定につき66,880機械・材料技術部
E0990非破壊超音波映像撮影1時間当たり9,570電子技術部
E0991非破壊超音波映像撮影(データ解析のみ)1解析当たり 3,740電子技術部

試験計測料金:(5)半導体関係

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E1030薄膜屈折率測定 1試料につき23,760電子技術部
E1040定エネルギー分光測定1条件につき35,970電子技術部
E1050膜厚測定 1試料1測定点につき5,720電子技術部
E1051三次元微細形状測定標準1測定当たり12,430電子技術部
E1060フォトルミネッセンス測定1試料1条件につき 42,130電子技術部
E1070高分解能(1nm以下)フォトルミネッセンス測定1試料1条件につき83,160電子技術部
E1080低温光特性評価1試料1条件につき34,980電子技術部
E1090位相差測定1試料1条件につき11,330電子技術部
E1130光干渉式膜厚測定 1試料1測定点につき3,190電子技術部
E1140光干渉式膜厚測定 1測定点増1試料につき1測定点増すごとに1,540電子技術部
E1145ハイブリッドレーザー顕微鏡1測定1解析につき8,690電子技術部
E1146ハイブリッドレーザー顕微鏡 1視野追加1視野追加につき4,290電子技術部
E1150超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定1測定1解析につき8,800電子技術部
E1151超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 1解析増1解析増すごとに2,200電子技術部
E1152ホール効果測定1試料1条件につき 20,680電子技術部
E0767熱抵抗測定1時間当たり 9,350電子技術部
E0768パワー半導体静特性試験1時間当たり7,040電子技術部
E0769半導体パラメータ測定1時間当たり7,040電子技術部
E1153超音波ウェッジボンダ試験1時間当たり 8,800電子技術部
E1154超音波ボールボンダ試験1時間当たり10,450電子技術部
E0763ワイヤーボンディング強度試験 1測定条件につき(10測定点まで)21,560電子技術部
E0764ワイヤーボンディング強度試験 5測定点増5測定点増すごとに9,900電子技術部
E0765ダイシェア試験1測定条件につき(10測定点まで)23,100電子技術部
E0766ダイシェア試験 5測定点増5測定点増すごとに10,670電子技術部
E1155ダイシング加工(半導体基板精密加工)1時間当たり16,830電子技術部
E1156真空蒸着標準1試料当たり 37,510電子技術部
E1157真空蒸着 1条件増1条件増すごとに18,150電子技術部
E1158スパッタ成膜 標準1試料当たり48,730電子技術部
E1160イオンプレーティング成膜 標準1試料当たり 50,160電子技術部
E1170イオンプレーティング成膜 1条件増1条件増すごとに19,250電子技術部
E1180アッシャーによるプラズマ処理1条件1時間につき17,820電子技術部
E1190ECRプラズマエッチング標準1試料当たり48,070電子技術部
E1191高精度フォトリソグラフィ1枚につき25,300電子技術部
E1192高精度フォトリソグラフィ 1枚増 1枚増すごとに9,020電子技術部
E1200電子線リソグラフィ1時間当たり 10,120電子技術部
E1201電子線リソグラフィ試料調製1試料につき9,350電子技術部
E1211クリーン雰囲気試験1時間当たり6,270電子技術部
E1120酸化拡散試験1時間当たり24,750電子技術部

試験計測料金:(6)環境試験

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E1230恒温恒湿槽(中)24時間まで19,580電子技術部
K5410
E1240恒温恒湿槽(中)24時間増24時間増すごとに7,590電子技術部
K5411
E1270恒温恒湿槽(中)サイクル24時間まで25,300電子技術部
K5415
E1280恒温恒湿槽(中)サイクル24時間増24時間増すごとに8,690電子技術部
K5416
E1290高温槽24時間まで12,100電子技術部
E1310高温槽 24時間増24時間増すごとに5,940電子技術部
E1320プレッシャークッカー試験24時間まで19,140電子技術部
K5440
E1330プレッシャークッカー試験 24時間増24時間増すごとに11,990電子技術部
K5441
E1350冷熱衝撃試験(中)8時間まで 10,560電子技術部
E1360冷熱衝撃試験(中)8時間増8時間増すごとに5,280電子技術部
E1361ハイパワー恒温恒湿槽 (ARSF)24時間まで25,610電子技術部
E1362ハイパワー恒温恒湿槽 (ARSF)24時間増24時間増すごとに14,300電子技術部
E1363冷熱衝撃試験(中・TSA)8時間まで12,430電子技術部
E1364冷熱衝撃試験(中・TSA)8時間増8時間増すごとに6,050電子技術部
E1365HAST試験24時間まで19,800電子技術部
E1366HAST試験 24時間増24時間増すごとに13,200電子技術部
E1370恒温恒湿槽(大、150℃対応) 24時間まで31,350電子技術部
E1375恒温恒湿槽(大、150℃対応) 24時間増24時間増すごとに16,500電子技術部
E1376恒温恒湿槽 (低湿度対応)24時間まで25,610電子技術部
E1377恒温恒湿槽 (低湿度対応)24時間増24時間増すごとに11,440電子技術部
E1380冷熱衝撃試験(大)8時間まで13,860電子技術部
E1385冷熱衝撃試験(大)8時間増8時間増すごとに6,930電子技術部
E1390小型恒温恒湿槽(SH)24時間まで16,940電子技術部
E1391小型恒温恒湿槽(SH) 24時間増24時間増すごとに6,820電子技術部
E1392小型恒温槽 (温度のみ)24時間まで13,640電子技術部
E1393小型恒温槽(温度のみ)24時間増24時間増すごとに5,280電子技術部
E1386パワーサイクル試験8時間まで22,000電子技術部
E1387パワーサイクル試験  8時間増8時間増すごとに10,340電子技術部
E1394人工気象室(小型)1時間ごとに5,280化学技術部
E1395人工気象室(大型) 1時間ごとに7,810化学技術部
E1396日射装置 1時間ごとに(人工気象室(大型)の料金に加算)6,490化学技術部
E1397促進耐候性試験(キセノン)標準条件(放射照度60W/㎡、 BPT63℃、スプレー18分/120分)の場合 1試料50時間につき20,240化学技術部
E1398試料取付費1ホルダーにつき (E1397に適用)3,190化学技術部
E1399試料抜取り費 1ホルダーにつき (E1397に適用)1,540化学技術部
E3520耐光試験(カーボンアーク)1試料につき20時間1,540化学技術部

試験計測料金:(7)電磁波ノイズ試験

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E1410放射妨害波測定 2時間まで38,500電子技術部
E1420放射妨害波測定 1時間増 1時間増すごとに14,740電子技術部
E1425車載機器の放射・伝導妨害波測定2時間まで38,500電子技術部
E1426車載機器の放射・伝導妨害波測定 1時間増1時間増すごとに14,740電子技術部
E1430電源・通信ポート伝導妨害波測定1時間まで23,650電子技術部
E1440電源・通信ポート伝導妨害波測定 1時間増1時間増すごとに14,740電子技術部
E1450雑音電力測定1時間まで23,760電子技術部
E1460雑音電力測定 1時間増1時間増すごとに14,740電子技術部
E1472放射無線周波電磁界イミュニティ試験2時間まで33,330電子技術部
E1482放射無線周波電磁界イミュニティ試験 1時間増1時間増すごとに13,310電子技術部
E1490静電気放電イミュニティ試験1時間まで12,210電子技術部
E1510静電気放電イミュニティ試験 1時間増1時間増すごとに7,040電子技術部
E1520電気的ファーストトランジェント/ バーストイミュニティ試験1時間まで12,210電子技術部
E1530電気的ファーストトランジェント/ バーストイミュニティ試験 1時間増1時間増すごとに7,040電子技術部
E1540雷サージイミュニティ試験 1時間まで12,210電子技術部
E1550雷サージイミュニティ試験 1時間増1時間増すごとに7,040電子技術部
E1553誘導伝導電磁界イミュニティ試験1時間まで19,470電子技術部
E1554誘導伝導電磁界イミュニティ試験 1時間増1時間増すごとに12,980電子技術部
E1560インパルスノイズ試験1時間まで12,210電子技術部
E1570インパルスノイズ試験 1時間増1時間増すごとに7,040電子技術部
E1581電磁波シールド効果測定 (100kHz~1GHz、 KEC法)1試料1測定(電界または磁界)につき6,380電子技術部
E1600マイクロ波電磁波シールド効果測定 (1GHz~ 8.5GHz、2焦点型扁平空洞)1試料1測定につき7,260電子技術部
E1605電波透過特性測定(マイクロ波帯)1条件1測定につき15,290電子技術部
E1606電波透過特性測定(マイクロ波帯) 1件増1測定増すごとに7,150電子技術部
E1610電波吸収率測定(簡易アンテナ法)1条件1測定につき13,090電子技術部
E1620電波吸収率測定(簡易アンテナ法) 1件増1測定増すごとに3,630電子技術部
E1630アンテナ指向性測定2時間まで40,260電子技術部
E1640アンテナ指向性測定 1時間増1時間増すごとに15,730電子技術部
E1650三次元アンテナ指向性測定2時間まで45,210電子技術部
E1660三次元アンテナ指向性測定 1時間増1時間増すごとに20,790電子技術部

試験計測料金:(8)その他の試験(1)

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E1780走査型プローブ顕微鏡観察標準1条件1測定につき23,100電子技術部
E1781走査型プローブ顕微鏡観察 1視野追加1視野追加につき 10,780電子技術部

試験計測料金:(9)無機定性・定量分析

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E1810定量分析(A) (容易なもの)1試料,1成分につき(容易なもの)9,460化学技術部
E1820定量分析(B)(複雑なもの)1試料,1成分につき(複雑なもの)11,440化学技術部
E1821炭素・硫黄分析装置による定量分析(A)(容易なもの)1試料,1成分につき(容易なもの)8,360化学技術部
E1822炭素・硫黄分析装置による定量分析(B)(複雑なもの)1試料,1成分につき(複雑なもの)12,210化学技術部
E1831原子吸光分析法による定量分析(A)(容易なもの)1試料,1成分につき(容易なもの)8,470化学技術部
E1832原子吸光分析法による定量分析(B)(複雑なもの)1試料,1成分につき(複雑なもの)12,760化学技術部
E1841 蛍光X線法による微小部定性分析1試料,1カ所につき9,350化学技術部
E1842蛍光X線法による微小部定性分析 1条件増1条件増すごとに3,410化学技術部
E1860蛍光X線定性分析(波長分散方式)1試料につき 20,240化学技術部
E1891ICP発光分光分析法による定量分析(A)(容易なもの)1試料,1成分につき(容易なもの)8,250化学技術部
E1892ICP発光分光分析法による定量分析(B)(複雑なもの)1試料,1成分につき(複雑なもの)12,430化学技術部
E1911ICP発光分光分析法による定性分析1試料につき,基本10元素まで18,920化学技術部
E1921ICP発光分光分析法による定性分析 1元素増1試料につき,1元素増すごとに1,870化学技術部
E1930カールフィッシャー水分測定(直接法) 1条件,1試料につき11,550化学技術部
E1931カールフィッシャー水分測定(直接法)1試料増1試料増すごとに6,930化学技術部
E1932カールフィッシャー水分測定(加熱気化法)1条件,1試料につき 14,630化学技術部
E1933カールフィッシャー水分測定(加熱気化法)1試料増1試料増すごとに9,900化学技術部
E1940試料調製(1)(切粉作製等簡易な前処理)E1810,E1820,E1821,E1822,E1831,E1832,
E1860,E1932,E1933,E2021,E2211,E2212,
E2225,E2235,E2265,E2275,E2281,E2282,
E2290,E2294,E2295,E2310,E2330,E2340,
E4010,E4020に適用
1,870化学技術部
E1950試料調製(2)(難分解性試料等複雑な前処理)E1810,E1820,E1831,E1832,E1860,E1891,
E1892,E1911,E2021,E2211,E2212,E2225,
E2235,E2265,E2275,E2281,E2282,E2290,
E2294,E2295,E2310,E2330,E2340,E4010,
E4020に適用
9,790化学技術部
E1960試料調製(3)(極微量物質の分離濃縮等困難な前処理)E1810,E1820,E1831,E1832,E1891,E1892,
E1911,E2021,E2211,E2212,E2225,E2235,
E2265,E2275,E2281,E2282,E2290,E2294,
E2295,E2310,E2330,E2340,E4010,E4020
に適用
16,280化学技術部
E1970試料調製(4)(抽出、濃縮等標準的な前処理)E1810,E1820,E1831,E1832,E1891,E1892,
E1841,E1860,E1911,E2211,E2212,E2225,
E2235,E2265,E2275,E2281,E2282,E2290,
E2294,E2295,E2310,E2330,E2340,E4010,
E4020に適用
5,170化学技術部

試験計測料金:(10)表面分析

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E1882X線光電子分光分析(簡単なもの)1試料1ヶ所につき18,150機械・材料技術部
E1884X線光電子分光分析(簡単なもの) 条件増1条件増すごとに8,250機械・材料技術部
E1980微小部X線光電子分光分析 (ワイドスキャンのみ)1試料1ヶ所につき14,410機械・材料技術部
E1982微小部X線光電子分光分析 (ワイドおよびナロースキャン) 1試料1ヶ所につき(6元素まで)21,450機械・材料技術部
E1984微小部X線光電子分光分析(面分析,線分析)1試料1ヶ所につき(5元素まで)22,440機械・材料技術部
E1986微小部X線光電子分光分析(深さ方向分析)1試料1ヶ所につき(6元素まで)33,770機械・材料技術部
E1990微小部X線光電子分光分析 条件増1条件増すごとに5,280機械・材料技術部
E1992微小部X線光電子分光分析 元素増(1)1元素増すごとに(E1982,E1984に適用)4,510機械・材料技術部
E1994微小部X線光電子分光分析 元素増(2)1元素増すごとに(E1986に適用)6,710機械・材料技術部
E2570電子線マイクロアナライザ観測(FE-EPMA)1ヶ所につき29,370機械・材料技術部
E2580表面観察(FE-EPMAによる)1ヶ所につき20,020機械・材料技術部
E2581エネルギー分散型X線分析(EDX)(FE-EPMAによる)1ヶ所につき(E2570,E2580に適用)7,150機械・材料技術部
E2582表面観察(FE-EPMAによる)1ヶ所増同一試料で1ヶ所増すごとに(E2570,E2580に適用)4,400機械・材料技術部
E2590電子線マイクロアナライザ観測(FE-EPMA)追加分析1ヶ所につき(E2570,E2580に適用)9,130機械・材料技術部

試験計測料金:(11)分光分析

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E2011分光光度計による透過率または拡散反射率測定(紫外・可視のみ)1試料1スペクトルにつき5,830機械・材料技術部
E2012分光光度計による透過率または拡散反射率測定(紫外・可視・近赤外)1試料1スペクトルにつき6,380機械・材料技術部
E2013分光光度計による正反射率測定(紫外・可視・近赤外)偏光子なしまたは偏光1成分の1試料1スペクトルにつき6,710機械・材料技術部
E2014分光光度計による正反射率測定(紫外・可視・近赤外)追加(1)同一試料・同一条件で偏光1成分追加につき3,740機械・材料技術部
E2015分光光度計による正反射率測定(紫外・可視・近赤外)追加(2)同一試料・同一条件・同一偏光成分で1角度追加につき2,090機械・材料技術部
E2016分光光度計による透過率または反射率測定(特殊なもの)1試料1スペクトルにつき9,790機械・材料技術部
E2017分光スペクトルによる色彩・色度座標または太陽光反射率計算1スペクトル1解析につき440機械・材料技術部
E2021フーリエ変換赤外分光分析1スペクトルにつき19,800機械・材料技術部
化学技術部
K5055
E2023フーリエ変換赤外分光分析用微小試料調製1試料につき3,190機械・材料技術部
化学技術部
E2080顕微レーザーラマン分光分析1試料1ヶ所につき58,080機械・材料技術部
化学技術部
E2090顕微レーザーラマン分光分析 1条件増1条件増すごとに29,920機械・材料技術部
化学技術部
E2091顕微レーザーラマン分光分析(簡単なもの)1試料1ヶ所につき20,460機械・材料技術部
化学技術部
E2110分光蛍光光度計試験1スペクトルにつき9,570化学技術部

試験計測料金:(12)クロマトグラフ分析

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E2211イオンクロマトグラフ分析(1) (一般的なもの)1測定につき17,050化学技術部
E2212イオンクロマトグラフ分析(2) (特殊なもの)1測定につき22,000化学技術部
E2225ガスクロマトグラフによる分析1試料につき10,120化学技術部
E2235ガスクロマトグラフ定量分析1試料1成分につき14,630化学技術部
E2236ガスクロマトグラフ定量分析 1成分増1成分増すごとに5,830化学技術部
E2265ヘッドスペースガスクロマトグラフによる分析1試料につき14,960化学技術部
E2275ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析1試料1成分につき20,570化学技術部
E2276ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析 1成分増1成分増すごとに5,830化学技術部
E2281高速液体クロマトグラフ分析 (分析条件検討を含まない)1試料1成分につき11,220化学技術部
E2282高速液体クロマトグラフ分析 (簡単な分析条件を含む)1試料1成分につき 28,490化学技術部
E2290液体クロマトグラフ-質量分析(飛行時間型) (分析条件検討を含まない)1試料1成分につき43,450化学技術部
E2291液体クロマトグラフ-質量分析(飛行時間型) (簡単な分析条件の検討)1試料につき(E2290に適用) 23,100化学技術部
E2292液体クロマトグラフ-質量分析(飛行時間型) 定性分析1成分増1成分増すごとに4,070化学技術部
E2294液体クロマトグラフ-質量分析(四重極型) (分析条件検討を含む)1試料1成分につき37,400化学技術部
E2295液体クロマトグラフ-質量分析(四重極型) (分析条件検討を含まない)1試料1成分につき19,030化学技術部
E2030試料調製(5)分取用 液体クロマトグラフ使用1試料1成分につき28,820化学技術部
E2040試料調製(6)分取用 液体クロマトグラフ使用 1成分増同試料1成分増すごとに3,740化学技術部
E2310ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS)1試料1成分につき40,700化学技術部
E2311ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS) 定性分析 1成分増1成分増すごとに5,280化学技術部
E2312ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS) 定量分析 1成分増1成分増すごとに6,160化学技術部
E2330ヘッドスペースGCMS分析1試料1成分につき52,580化学技術部
E2331ヘッドスペースGCMS分析 定性分析 1成分増1成分増すごとに 5,280化学技術部
E2332ヘッドスペースGCMS分析 定量分析 1成分増1成分増すごとに6,160化学技術部
E2340サーマルデソープションGCMS分析 1試料1成分につき56,430化学技術部
E2341サーマルデソープションGCMS分析 定性分析 1成分増1成分増すごとに5,280化学技術部
E2342サーマルデソープションGCMS分析 定量分析 1成分増1成分増すごとに6,160化学技術部
E2350化学イオン化(CI)法によるGCMS分析1試料につき (E2310,E2330,E2340に適用)11,880化学技術部
E2360熱分解GCMS分析1試料1成分につき55,770化学技術部
E2361熱分解GCMS分析 定性分析 1成分増1成分増すごとに5,280化学技術部

試験計測料金:(13)熱分折

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E2411示差熱熱重量測定(TG/DTA)室温~600℃1測定につき14,630化学技術部
E2421示差熱熱重量測定(TG/DTA)600℃をこえるもの1測定につき20,020化学技術部
E2432示差走査熱量測定(DSC)1測定につき16,170化学技術部
E2433示差走査熱量測定(DSC)液体窒素使用1測定につき21,780化学技術部
E2441高圧示差熱・熱重量測定1測定につき23,210化学技術部
E2442発火温度測定(HP-TG法)1測定につき20,460化学技術部
E2450複合熱分析1測定につき69,850化学技術部
E2460高圧示差走査熱量測定1測定につき22,770化学技術部
E2470熱機械測定(TMA)室温~600℃1測定につき16,830化学技術部
E2471熱機械測定(TMA)600℃をこえるもの1測定につき29,040化学技術部
E2472熱機械測定(TMA)液体窒素使用1測定につき22,550化学技術部
E2490試料調製(1)(切断,試験片作製等簡易な前処理)E2411からE2472に適用3,300化学技術部
E2491試料調製(2)(粉末化等困難な前処理)E2411からE2472に適用4,950化学技術部
E2492試料調製(3)(溶解,ろ過等複雑な前処理)E2411からE2472に適用7,260化学技術部

試験計測料金:(14)X線回折

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E2510X線回折試験(Ⅰ)粉末X線回折1試料につき23,870電子技術部
化学技術部
E2520X線回折試験(Ⅱ)高度な粉末X回折・薄膜X線回折1試料につき 36,190電子技術部
化学技術部
E2530X線回折試験(Ⅲ)高度な薄膜X線回折1試料につき55,880電子技術部
化学技術部
E2540X線回折試験(Ⅳ)特殊なX線回折1試料につき (広範囲な逆格子マッピングなど)85,200電子技術部
化学技術部

試験計測料金:(15)有機物分析

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E2610CHN元素分析装置による定量分析1試料につき17,490化学技術部
E2631飛行時間型質量分析1試料1測定につき29,700化学技術部
E2651電子スピン共鳴分析(A)(基本測定)1試料1スペクトルにつき22,110機械・材料技術部
E2652電子スピン共鳴分析(B)(特殊測定・定量)1試料1スペクトルにつき38,720機械・材料技術部

試験計測料金:(16)合成樹脂(プラスチック)

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E2720比重試験(水中置換法)(室温)1試料につき7,920化学技術部
E2730吸水試験(室温)1試料につき7,040化学技術部
E2750動的粘弾性測定レオメーター(40℃以上かつ1走査1時間未満)1走査(温度変化または振動数変化)につき18,040化学技術部
E2751動的粘弾性測定DMA(40℃以上かつ1走査1時間未満)1走査(温度変化または振動数変化)につき16,390化学技術部
E2760動的粘弾性測定レオメーター(-50℃以上または1走査1時間超)1走査(温度変化または振動数変化)につき29,040化学技術部
E2761動的粘弾性測定装置DMA(-50℃以上または1走査1時間超)1走査(温度変化または振動数変化)につき27,610化学技術部
E2770動的粘弾性測定レオメーター(液体窒素使用)1走査(温度変化または振動数変化)につき41,140化学技術部
E2771ペルチェシステム使用(10~150℃)E2750, E2751,E2760,E2761,E2770に適用6,490
化学技術部
E2772試料調整(取り付け困難なもの)1試料につき1時間毎(E2750,E2751, E2760,E2761, E2770に適用)2,750化学技術部
E2773測定前温度調整1試料につき1時間毎 (E2750,E2760,E2770に適用)3,190化学技術部
E2841引張試験(50kN以下)1試験片につき3,190化学技術部
E2842圧縮試験(50kN以下)1試験片につき3,190化学技術部
E2843曲げ試験(5kN以下)1試験片につき3,190化学技術部
E2844動作パターン制御試験1試験片につき9,900化学技術部
E2851引張弾性率測定(接触式伸び計使用)(室温)1試験片につき5,390化学技術部
E2852圧縮弾性率測定(室温)1試験片につき3,190化学技術部
E2853曲げ弾性率測定(室温)1試験片につき3,190化学技術部
E2861接着強さ試験1試験片につき4,180化学技術部
E2862はく離接着強さ試験(室温)1試験片につき4,620化学技術部
E2863軟質発泡材料圧縮試験(室温)1試験片につき9,900化学技術部
E2871非接触式伸び計使用1試験片につき(E2841に適用)3,080化学技術部
E2872恒温槽使用(-30~200℃)1試験片につき(E2841,E2842,E2843,E2844,E2861に適用)2,860化学技術部
E2873恒温恒湿槽使用1試験片につき(E2841,E2842,E2843,E2844,E2861に適用)3,960化学技術部
E2885ノッチ加工1試験片につき(E2880に適用)1,980化学技術部
E2880衝撃試験(アイゾット・シャルピー)(室温)1試料につき6,380化学技術部
E2920硬さ試験(ロックウェル・デュロメータ)(室温)1試料につき3,410化学技術部
E2930熱伝導率測定(プローブ法)(室温)1試料につき10,010化学技術部

試験計測料金:(17)塗料・塗膜試験

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E3010塗膜物性試験1試料につき1,760化学技術部
E3030光沢度測定1試料につき3,300化学技術部
E3040色彩測定1試料につき3,300化学技術部
E3050浸せき試験室温で実施の場合 1試料24時間まで4,510化学技術部
E3051浸せき試験 24時間増 24時間増すごとに660化学技術部
E3060塩水噴霧試験1試料24時間まで2,200化学技術部
E3071煮沸試験1試料8時間につき3,520化学技術部
E3080耐熱性試験1試料500℃まで8時間につき2,090化学技術部
E3090外観撮影1枚につき440化学技術部

試験計測料金:(18)電気化学試験

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E3211金属・合金の電極電位測定(1)1試料につき4時間まで14,300化学技術部
E3212金属・合金の電極電位測定(2) 1時間増1時間増すごとに220化学技術部
E3221金属・合金の腐食減量測定(1)1試料につき24時間まで 13,640化学技術部
E3222金属・合金の腐食減量測定(2) 24時間増24時間増すごとに3,850化学技術部
E3223異種金属接触腐食電流測定(1)1試料につき4時間まで14,300化学技術部
E3224異種金属接触腐食電流測定(2) 1時間増1時間増すごとに220化学技術部
E3241燃料電池の発電試験1時間当たり7,700化学技術部
E3242ガス透過率測定1試料につき(1時間当たり)6,050化学技術部
E3251高露点測定(1) 24時間まで(1時間当たり)4,180化学技術部
E3252高露点測定(2)24時間増 24時間増すごとに 25,520化学技術部
E3253燃料電池スタック試験(1)24時間まで(8時間当たり) 4,510化学技術部
E3254燃料電池スタック試験(2)24時間増24時間増すごとに7,150化学技術部
E3255スプレー塗工試験1時間当たり4,730化学技術部
E3261電池充放電試験(1)1試料につき6時間まで23,650化学技術部
E3262電池充放電試験(2)6時間増6時間増すごとに10,670化学技術部
E3263電極の熱ロールプレス処理1試料1時間につき4,070化学技術部
E3265大型電池充放電試験(2kW以下)(1)1試料につき6時間まで9,020化学技術部
E3266大型電池充放電試験(2kW以下)(2)6時間増6時間増すごとに5,940化学技術部
E3270金属の分極測定1試料につき19,250化学技術部
E3280試料調製(1)(比較的容易)E3211,E3212,E3221,E3222,E3223,E3224,E3261,E3262,E3270に適用3,190化学技術部
E3290試料調製(2)(比較的複雑)E3211,E3212,E3221,E3222,E3223,E3224,E3261,E3262,E3270に適用6,490化学技術部
E3295電極の研磨1試料につき1,540化学技術部
E3296腐食液・電解液作製1試料につき1,540化学技術部

試験計測料金:(19)その他の試験(2)

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E3310超臨界炭酸ガス抽出 1試料につき13,860化学技術部
E3311超臨界水反応装置試験1試料につき40,260化学技術部
E3325冷却遠心分離1試料1時間につき5,060化学技術部

試験計測料金:(20)繊維関連試験

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E3450繊維熱物性試験1試料1測定につき5,390化学技術部
E3460重量測定1試料につき 550化学技術部
E3620編織物厚さ測定1試料につき2,200化学技術部
E3650編織物通気度試験1試料につき2,750化学技術部
E3661編織物強伸度測定1試料1方向につき3,080化学技術部
E3710剛軟度試験1試料1方向につき1,210化学技術部
E3730はっ水度試験1試料につき 2,640化学技術部
E3771サーモグラフィによる表面温度測定1時間につき8,470化学技術部
E3772サーモグラフィによる表面温度測定(特殊条件の場合)1時間につき16,750化学技術部
E3820糸強伸度測定(容易なもの)1試料につき1,100化学技術部
E3930赤外線放射計による放射率測定
※装置故障により現在ご利用いただけません。
1試料1測定につき41,910化学技術部

試験計測料金:(21)水・廃棄物・廃ガス

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E4010水質試験(A)(容易なもの)1項目につき(容易なもの)6,380化学技術部
E4020水質試験(B)(複雑なもの)1項目につき(複雑なもの)10,340化学技術部
E4030溶出検液作成(A)(6成分以下)1試料につき (6成分以下)4,400化学技術部
E4040溶出検液作成(B)(7成分以上)1試料につき(7成分以上)8,030化学技術部

試験計測料金:(22)その他の試験(3)

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E4150接触角測定試験1試料につき2,420機械・材料技術部
E4160ゼータ電位測定(A)(微粒子分散溶液)1試料につき10,340機械・材料技術部
E4170ゼータ電位測定(B)(平板形状試料)1試料につき12,870機械・材料技術部
E4180粒径分布測定(動的光散乱法)1試料につき9,020機械・材料技術部
E4181粒径分布測定(光学顕微鏡による画像解析式)1試料、合成画像1視野につき4,730機械・材料技術部
E4182粒径分布測定(光学顕微鏡による画像解析式) 1視野追加合成画像1視野追加につき1,540機械・材料技術部
E4190比表面積測定(窒素ガス吸着法)(1)(容易なもの)1試料につき21,560機械・材料技術部
E4191比表面積測定(窒素ガス吸着法)(2)(複雑なもの)1試料につき35,750機械・材料技術部
E4192細孔分布解析1試料につき3,630機械・材料技術部

試験計測料金:(23)木質材料・製品

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E4210圧縮試験 1試料につき2,860情報・生産技術部
E4220引張試験1試料につき3,190情報・生産技術部
E4240曲げ試験(50kN以下) 1試料につき2,530情報・生産技術部
E4241曲げ試験(50kN以下) (曲げ強さ及び曲げヤング係数等の算出を必要とするもの)1試料につき3,740情報・生産技術部
E4250摩耗試験1試料につき4,290情報・生産技術部
E4260局所構造試験1試料1測定につき2,970情報・生産技術部
E4270密度測定1試料につき1,540情報・生産技術部
E4280含水率測定1試料につき6,050情報・生産技術部
E4281含水率測定 1増一緒の工程で1試料増すごとに2,420情報・生産技術部
E4310いす繰返し衝撃試験(1)1試料1条件につき(4,000回まで)8,910情報・生産技術部
E4320いす繰返し衝撃試験(2) 4,000回増同一試料に連続し4,000回増すごとに5,170情報・生産技術部
E4350いす繰返し耐久性試験(1)1試料1条件につき(5,000回まで)9,900情報・生産技術部
E4360いす繰返し耐久性試験(2) 5,000回増同一試料に連続し5,000回増すごとに 5,170情報・生産技術部
E4370垂直過重下の強度試験1試料1条件につき3,740情報・生産技術部
E4380背もたれの静的強度試験1試料1条件につき 3,740情報・生産技術部
E4390脚部の静的強度試験1試料1条件につき3,740情報・生産技術部
E4480煮沸繰返し試験1試料につき2,640情報・生産技術部
E4490温冷水浸せき試験1試料につき 1,650情報・生産技術部
E4510試料調整(1) (鋸盤鉋盤などによる試験片作製)1試料につき1,650情報・生産技術部
E4520試料調整(2) (接着調湿等の前処理を伴うもの)1試料につき2,420情報・生産技術部
E4540マイクロスコープ写真 1試料1ヶ所につき(写真1枚につき)330情報・生産技術部

試験計測料金:(24)FL-net(OPCN-2)ネットワーク認証試験

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E4820適合性試験1試料6時間まで51,260情報・生産技術部
E4821相互接続性試験1試料2時間まで34,210情報・生産技術部

試験計測料金:(25)CC-Link適合性評価試験

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E4910ノイズ試験1試料8時間まで31,570情報・生産技術部
E4920ハードウェア試験1試料4時間まで 15,730情報・生産技術部
E4930ソフトウェア試験 1試料10時間まで39,380情報・生産技術部
E4940組み合わせ試験1試料6時間まで23,650情報・生産技術部
E4950インタオぺラビリティ試験1試料5時間まで19,690情報・生産技術部
E4960エージング試験 1試料12時間まで14,080情報・生産技術部

試験計測料金:(26)振動騒音関係

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E4974時間波形分析(振動)1分析につき3,300機械・材料技術部
E4975周波数分析(振動)1分析につき5,060機械・材料技術部
E4976振動試験1時間当たり8,360機械・材料技術部
E4977損失係数測定(A)1試料1測定温度につき12,210機械・材料技術部
E4978損失係数測定(B) 1測定温度増1測定温度増すごとに1,320機械・材料技術部
E4979振動試験(大型の試験機によるもの)1時間当たり9,570機械・材料技術部
E4980騒音測定1測定につき2,530機械・材料技術部
E4981オクターブ分析1分析につき3,410機械・材料技術部
E4982時間波形分析(音)1分析につき3,300機械・材料技術部
E4983周波数分析(音)1分析につき5,060機械・材料技術部
E4984音響パワーレベル測定1測定につき10,120機械・材料技術部
E4985音圧分布測定1測定面につき15,180機械・材料技術部
E4986音質評価解析1測定につき5,720機械・材料技術部
E4987吸音率測定1測定につき4,290機械・材料技術部

試験計測料金:(27)機械設計・解析・造形

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E4990機械設計・解析1時間当たり5,610情報・生産技術部
E4994構造解析1時間当たり8,690機械・材料技術部
E4995高速度カメラ撮影1時間当たり5,830情報・生産技術部
E4996高速度カメラ撮影(アナログ波形データ収集装置併用)1時間当たり6,270情報・生産技術部
E4993三次元モデリング(簡易なもの)1時間当たり4,840情報・生産技術部
E4997三次元造形前処理1時間当たり3,190情報・生産技術部
E4991三次元造形(小型インクジェット式3Dプリンター)1時間当たり660情報・生産技術部
E4998三次元造形(インクジェット式3Dプリンター)1時間当たり2,750情報・生産技術部
E5000 三次元造形(光造形式3Dプリンター)1時間当たり1,430情報・生産技術部
E4999三次元造形後処理1時間当たり3,630情報・生産技術部

試験計測料金:(28)微生物・生化学・食品試験

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E5011一般生菌数測定1試料につき4,950化学技術部
E5031嫌気性菌数測定1試料につき6,380化学技術部
E5036抗菌性評価試験1試料1測定につき6,050化学技術部
E5038蛍光顕微鏡観察(生物試料)1試料1測定につき5,830化学技術部
E5040抗酸化性測定(1)1試料につき3,630化学技術部
E5041抗酸化性測定(2)(ORAC法による)1試料につき11,410化学技術部
E5060酵素阻害活性測定(1)(複雑なもの)1試料につき7,040化学技術部
E5061酵素阻害活性測定(2)(容易なもの)1試料につき5,060化学技術部
E5062抗糖化性測定(1)(複雑なもの)1試料につき6,710化学技術部
E5063抗糖化性測定(2)(容易なもの)1試料につき5,060化学技術部
E5090水分定量(常圧乾燥法による)1試料につき4,510化学技術部
E5091遊離アミノ酸組成分析1試料につき38,940化学技術部
E5100タンパク質定量(Bradford法、Lowry法、BCA法による)1試料につき4,180化学技術部
E5105タンパク質電気泳動試験1試料につき6,930化学技術部
E5110脂質定量(ソックスレー抽出法による)1試料につき5,280化学技術部
E5120灰分定量(直接灰化法による)1試料につき5,280化学技術部
E5130総ポリフェノール定量(Folin-Ciocalteu法による)1試料につき4,290化学技術部
E5135総アントシアニン定量(pH differential法による)1試料につき6,380化学技術部
E5136総プロアントシアニジン定量1試料につき4,290化学技術部
E5140炭水化物定量(フェノール-硫酸法による)1試料につき9,900化学技術部
E5150リグニン定量(硫酸法による)1試料につき9,020化学技術部
E5160サフラン試験1試料につき28,710化学技術部
E5170凍結乾燥(24時間まで)24時間まで5,940化学技術部
E5171凍結乾燥(24時間増すごとに)24時間増すごとに2,640化学技術部
E5180試料調製(1)(簡易なもの)E5011~E5171に適用1,650化学技術部
E5181試料調製(2)(基本的なもの)E5011~E5171に適用3,630化学技術部
E5182試料調製(3)(複雑なもの)E5011~E5171に適用6,930化学技術部
E5183試料調製(4)(困難なもの)E5011~E5171に適用10,890化学技術部

試験計測料金:(29)デザイン・企画

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E5280デザイン・企画1時間につき3,300情報・生産技術部

試験計測料金:(30)研究生の指導

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E5310研究生の指導1人1日につき1,100
E5320研究生の指導 1人増研究生1人増すごとに550

試験計測料金:(31)成績書の複本の交付

単位:円
NO.項目単位料金担当部名
E5350成績書の複本・データ等の交付1通につき(写真を含む場合は別に加算することができる)300

機器使用料金

(1)材料試験機 (2)金属加工 (3)電子関連装置 (4)分析・評価機器 (5)環境試験装置
(6)木工加工 (7)形状測定機器 (8)測定計測装置 (9)温度熱量測定装置 (10)その他の機器
(11)設備 (12)ファブラボ

機器使用料金:(1)材料試験機

単位:円 (1時間当たり)
NO.設備機器名メーカー・型式料金担当部名
E6050材料試験機(5kN)インストロンジャパン 5565型1,210化学技術部
E6080万能材料試験機オリエンテック UTA-5T990情報・生産技術部

機器使用料金:(2)金属加工

単位:円 (1時間当たり)
NO.設備機器名メーカー・型式料金担当部名
E6210コンターマシンアマダ VA-500330情報・生産技術部
E6230平面研削盤岡本 PSG-52DX1,540機械・材料技術部
E6240ボール盤ヤマモト YSDT-550110機械・材料技術部
E6270切断機Hストルアス社 ディスコトム1,320機械・材料技術部
E6290超精密正面切削装置東芝機械 ULC-100A(H)6,820機械・材料技術部
E6310帯鋸盤アマダ HA300880情報・生産技術部
E6340旋盤昌運 ST-51,210機械・材料技術部
E6350CNC旋盤オークマ LS-30N5,170機械・材料技術部
E6360旋盤シャブリン SV-150A1,980機械・材料技術部
E6370フライス盤デッケル FP1 2,310機械・材料技術部
E6380立形マシニングセンタ牧野フライス製作所 V333,190情報・生産技術部

機器使用料金:(3)電子関連装置

単位:円 (1時間当たり)
NO.設備機器名メーカー・型式料金担当部名
E6620電極形成装置の本体システムKHエレクトロニクス 特別仕様18,480電子技術部
E6650定エネルギー分光器日本分光 YQ-250CW-GT11,990電子技術部
E6660ボロメータ評価システム用高温電気測定用チャンバテクノロ工業 特別仕様4,510電子技術部
E6670ボロメータ評価システム用光源システム日本分光 SS-25GT12,100電子技術部
E6680陽極接合装置アユミ工業 AB-40特注品12,430電子技術部
E6690マスクアライナミカサ MA-207,590電子技術部
E6730研磨機ムサシノ電子 MA-2002,640電子技術部
E6740酸化拡散装置KHエレクトロニクス 特別仕様19,030電子技術部
E6760高温小型真空雰囲気炉ナガノ NEWTONIAN PASCAL406,600電子技術部
E6770超音波ボールボンダウエストボンド 7700A7,040電子技術部
E6790チップ付け装置ウェストボンド 7200A2,530電子技術部
E6810超音波ウェッジボンダウェストボンド 7400A5,500電子技術部
E6840ダイシング装置ディスコ DAD-2H/6T13,200電子技術部
E6880アッシャー装置東京応化工業 OPM-EM60012,540電子技術部
E6950光干渉式膜厚測定装置大日本スクリーン VM-8000J3,080電子技術部
E6960超深度形状測定顕微鏡(レーザー顕微鏡)キーエンス VK85001,980電子技術部
E6965ハイブリッドレーザー顕微鏡 データ解析レーザーテック OPTELICS HYBRID990電子技術部
E6980焼き付け装置デルタデザイン(米国) 9023型880電子技術部

機器使用料金:(4)分析・評価機器

単位:円 (1時間当たり)
NO.設備機器名メーカー・型式料金担当部名
E7020金属顕微鏡ニコン X2-T1-NR550機械・材料技術部
E7150デジタルマイクロスコープハイロックス HRX-011,980機械・材料技術部
E7151コードレスマイクロスコープスカラ DG-3110情報・生産技術部
E7160顕微鏡オリンパス CKX41N-31PHP330化学技術部
E7170分光蛍光光度計日立 F-40104,400化学技術部
E7180蛍光顕微鏡(生物試料)サーモフィッシャーサイエンティフィック AMF50002,420化学技術部
E7230X線透視装置島津製作所  SMX-20004,290機械・材料技術部
E7240X線CTスキャン装置ユニハイトシステム XVA-160 Noix+Presto12,100機械・材料技術部
E7280透明プラスチック残留応力観察装置理光研 ポラリスコープPS-51,540化学技術部

機器使用料金:(5)環境試験装置

単位:円 (1時間当たり)
NO.設備機器名メーカー・型式料金担当部名
E7310人工気象室タバイエスぺック TBL-9W4YPX23,320化学技術部
E7360断熱反応装置コロンビアサイエンティフィック ARC8,360化学技術部
E7370熱流束型熱量計セタラム C-8019,030化学技術部
E7470簡易半無響室小野測器1,540機械・材料技術部

機器使用料金:(6)木工加工

単位:円 (1時間当たり)
NO.設備機器名メーカー・型式料金担当部名
E7720ツールチェンジNC加工機平安コーポレーション NC-151MC-15081,980情報・生産技術部
E7730ルータ平安鉄工 NC-131P-1008660情報・生産技術部
E7740油圧プレス小林機械工業 KU-CPP3366110情報・生産技術部
E7750油圧プレス(ホットプレス)セイブ HP-2220情報・生産技術部

機器使用料金:(7)形状測定機器

単位:円 (1時間当たり)
NO.設備機器名メーカー・型式料金担当部名
E7810万能測定顕微鏡カールツァイス UMM300/1002,200情報・生産技術部
E7830表面形状測定装置東京精密 サーフコム NEX241 SD2-131,980情報・生産技術部

機器使用料金:(8)測定計測装置

単位:円 (1時間当たり)
NO.設備機器名メーカー・型式料金担当部名
E8010薄膜屈折率測定装置溝尻光学 DHA-XA型8,800電子技術部
E8020位相差測定装置ニコン NPDM-10007,920電子技術部
E8040C-V測定装置YHP 4280A5,830電子技術部
E8090ボロメータ測定システム微小信号測定システムセイコー 53024,950電子技術部
E8150膜厚計小坂研究所 ET4000AKR2,860電子技術部
E8190マルチフリケンシャルLCRメータYHP YHP4274A/YHP4275A2,860電子技術部
E8200絶縁抵抗計キーサイト・テクノロジー 4339B3,080電子技術部
E8220QメータYHP YHP4285A2,970電子技術部
E8250分光測色計ミノルタカメラ CM-1000440化学技術部
E8251光沢計日本電色工業 VGS-300A220化学技術部
E8260音響インテンシティ測定装置小野測器 CF6400INT/MOD10,120機械・材料技術部
E8261音質評価システム小野測器 WS-5160660機械・材料技術部
E8262吸音率測定システム小野測器 SR-4100990機械・材料技術部
E8270伝導イミュニティ測定システムノイズ研究所 ESS-B30113,630電子技術部
E8370EMI予備測定システムHP EMI簡易測定システム3,520電子技術部
E8430ガウスメータ(最小測定レンジ:2mT、最大測定レンジ:2T)ベル 9200型880電子技術部
E8431ガウスメータ(最小測定レンジ:0.35mT、最大測定レンジ:3.5T)Lake shore Inc 455型1,320電子技術部

機器使用料金:(9)温度熱量測定装置

単位:円 (1時間当たり)
NO.設備機器名メーカー・型式料金担当部名
E8550風合い計測システムカトーテック KES-F7サーモラボⅡ3,300化学技術部
E8580プラスチック用熱伝導率計京都電子工業 QTM-D3型4,730化学技術部
E8610熱機械試験機マック・サイエンス TMA-40005,610化学技術部
E8620赤外線放射計
※装置故障により現在ご利用いただけません。
日本バーンズ SA-2008,140化学技術部

機器使用料金:(10)その他の機器

単位:円 (1時間当たり)
NO.設備機器名メーカー・型式料金担当部名
E8711振動試験機IMV VS-2000A-140T5,060機械・材料技術部
E8712振動試験機 (大型)IMV i250/SA5M6,160機械・材料技術部
E8713制振性能測定装置ブリュエルケアー PULSE/MS-18143型4,290機械・材料技術部
E8725冷却遠心機エッペンドルフ・ハイマック・テクノロジーズ CR21N1,760化学技術部
E8810混練機森山 DSI-5GHH-E2,640機械・材料技術部
E8820金属粉末射出成形装置東芝機械 IS30EPN-1A2,090機械・材料技術部
E8840電気炉炉研工業 マッフル型加熱炉 HI1,210機械・材料技術部
E8910乾式塗装ブースサンエス工業 DS-CSS-12001,760化学技術部
E8970熱間加工再現試験装置富士電波工機 サーメックマスターZ11,330機械・材料技術部
E8975熱処理再現試験装置富士電波工機 特注品FTA-153VTほか9,130機械・材料技術部
E8980シリコニット箱型炉シリコニット高熱工業 SFB-2040880機械・材料技術部
E9016摩耗試験機(研磨紙使用無し)東洋精機 NO410 GS10付 110情報・生産技術部
E9040濃縮機(遠心式濃縮機)タイテック VC-96N110化学技術部
E9060フレンチプレス細胞破砕機アミンコ FA078440化学技術部
E9061マルチ検出モードプレートリーダーテカンジャパン Infinite200Pro1,320化学技術部
E9090電磁界解析装置独国CST社 MW-Studio Transient Solver1,760電子技術部

機器使用料金:(11)設備

単位:円 (1時間当たり)
NO.設備機器名メーカー・型式料金担当部名
E9210製品開発室実験棟 1・2・4階81事業化支援部
E9220ドラフトチャンバー(製品開発室)実験棟 1階234事業化支援部

機器使用料金:(12)ファブラボ

単位:円 (1時間当たり)
NO.設備機器名メーカー・型式料金担当部名
E9610ファブラボ(Ⅰ)3Dプリンタ使用可、装置類取扱い指導有3,300電子技術部
E9620ファブラボ(Ⅱ)3Dプリンタ使用可、装置類取扱い指導無550電子技術部
E9630ファブラボ(Ⅲ)3Dプリンタ使用不可、装置類取扱い指導無220電子技術部