海老名本部：試験計測等料金表

〔利用上の注意〕

１　料金は全て消費税を含んでいます。
２　この料金表に掲げる以外に実施可能な項目及び使用可能な設備機器もあります。
　　詳細は担当各部へお問い合わせください。
３　機器の更新等により項目及び設備機器名並びに料金の額を変更する場合が
　　あります。
４　担当部名欄のＥ及びＫの表示は、同一試験項目の各拠点の該当する料金番号を
　　示しています。　　Ｅ　海老名本部、Ｋ　溝の口支所

令和２年度版

（試験計測等料金表（PDF版）はこちら）
（減免についてはこちら）

→ 機器使用料金はこちら

↓試験計測料金

(1)金属材料・部品の試験 (2)電気・電子の試験 (3)磁気関係 (4)非破壊検査試験 (5)半導体関係
(6)環境試験 (7)電磁波ノイズ試験 (8)その他の試験（１） (9)無機定性・定量分析 (10)表面分析
(11)分光分析 (12)クロマトグラフ分析 (13)熱分析 (14)Ｘ線回折 (15)有機物分析
(16)合成樹脂（プラスチック） (17)塗料・塗膜試験 (18)電気化学試験 (19)その他の試験（２） (20)繊維関連試験
(21)水・廃棄物・廃ガス (22)その他の試験（３） (23)木質材料・製品 (24)FL-net（OPCN-2）ネットワーク認証試験 (25)ＣＣ－Ｌｉｎｋ適合性評価試験
(26)振動騒音関係 (27)機械設計・解析・造形 (28)微生物・生化学・食品試験 (29)デザイン・企画 (30)研究生の指導
(31)成績書の複本の交付

(1)金属材料・部品の試験

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E0011 走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍以下 １試料１視野観察につき 19,800 機械・材料技術部
K1310
E0012 走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍以下　１視野追加 １視野追加観察につき 4,400 〃
K1315
E0013 走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍を超えて10万倍以下 １試料１視野観察につき 28,600 〃
K1320
E0014 走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍を超えて10万倍以下　１視野追加 １視野追加観察につき 8,800 〃
K1325
E0015 走査電子顕微鏡写真撮影　10万倍を超えるもの １試料１視野観察につき 50,600 〃
K1330
E0016 走査電子顕微鏡写真撮影　10万倍を超えるもの　１視野追加 １視野追加観察につき 14,300 〃
K1335
E0017 走査電子顕微鏡写真撮影　10～15視野 　 110,000 〃
K1392
E0018 走査電子顕微鏡写真撮影　16～30視野 　 165,000 〃
K1395
E0021 元素分析（E0011～E0018に適用） １ヶ所につき 6,710 機械・材料技術部
E1790 電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定 １視野測定につき 45,210 〃
E1791 電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定　１視野追加 １視野追加測定につき 11,220 〃
E0022 走査電子顕微鏡試料調整(イオンミリング法)(1)(標準的なもの) 　 44,330 〃
E0023 走査電子顕微鏡試料調整(イオンミリング法)(2)(複雑なもの) 　 66,110 〃
E0031 金属組織写真撮影 写真１枚につき 9,680 〃
K5110
E0040 写真焼増し 写真１枚につき 330 〃
K5111
E0050 外観写真撮影 写真１枚につき 4,840 〃
K5112
E0060 マクロ組織写真 写真１枚につき 7,260 〃
K5113
E0070 写真撮影箇所増し（E0031,E0050,E0060に適用） 同一試料で１ヶ所増すごとに 2,750 〃
K5114
E0080 顕微鏡試料調整（１）　（容易なもの） １試料につき 1,760 〃
K5120
E0090 顕微鏡試料調整（２）　（標準的なもの）　 １試料につき 3,300 〃
K5121
E0091 顕微鏡試料調整（３）　（比較的複雑なもの） １試料につき 6,600 〃
K5122
E0092 顕微鏡試料調整（４）　（非常に複雑なもの） １試料につき 9,680 〃
K5123
E0110 引張･圧縮･曲げ試験（１）　（簡単な試験） １試料１条件につき 2,310 機械・材料技術部
E0120 引張･圧縮･曲げ試験（２）　（比較的簡単な試験） １試料１条件につき 3,850 〃
E0130 引張･圧縮･曲げ試験（３）　（標準的な試験） １試料１条件につき 5,060 〃
E0140 引張･圧縮･曲げ試験（４）　（やや複雑な試験） １試料１条件につき 6,600 〃
E0150 引張･圧縮･曲げ試験（５）　（複雑な試験） １試料１条件につき 9,900 〃
E0160 大型構造物強度試験（１）　（簡単な試験） １試料１条件につき 8,140 〃
E0165 大型構造物強度試験（２）　（標準的な試験） １試料１条件につき 13,530 〃
E0170 大型構造物強度試験（３）　（複雑な試験） １試料１条件につき 20,680 〃
E0175 常温シャルピー衝撃試験 １試料につき 1,320 〃
E0176 低温シャルピー衝撃試験 １試料につき 2,970 〃
E0180 硬さ試験 １点につき 990 情報・生産技術部
K5330
E0191 薄膜・微小部硬さ試験 １試料１ヶ所につき 20,680 機械・材料技術部
E0192 薄膜・微小部硬さ試験　１ヶ所増 １ヶ所増すごとに 9,460 〃
E0211 トライボ試験 １試料１条件につき 7,260 〃
E0212 トライボ試験　１件増 １条件増すごとに 3,300 〃
E0220 三次元座標測定（接触式） １時間当たり 15,290 情報・生産技術部
E0230 三次元座標測定（光学式） １時間当たり 7,700 〃
E0240 表面粗さ測定（Ａ）（簡単な形状） １試料１ヶ所につき 1,210 〃
E0250 表面粗さ測定（Ｂ）（複雑な形状） １試料１ヶ所につき 2,750 〃
E0270 工具寿命試験 １項目につき 14,960 〃
E0290 Ｘ線残留応力測定　 １試料１方向につき 5,390 機械・材料技術部
E0310 切削抵抗測定 １項目につき 11,000 情報・生産技術部
E0415 疲労試験　１時間以内 １試料１条件につき 5,720 機械・材料技術部
E0420 疲労試験　８時間以内 １試料１条件につき 16,280 〃
E0431 疲労試験　大型構造物　８時間以内 １試料１条件につき 20,900 〃
E0435 疲労試験　８時間増（E0420,E0431に適用） ８時間を超えて８時間増すごとに 6,820 〃
E0440 熱間加工性試験 １試料につき 7,370 〃
E0450 ＮＣ放電加工試験 １時間当たり 2,310 情報・生産技術部
E0460 ホットプレス処理 １時間当たり 7,810 機械・材料技術部
E0470 ＨＩＰ処理 １時間当たり 18,040 〃
E0480 熱処理特性試験 １時間当たり 12,100 〃
E0490 立形マシニングセンターによる加工 １時間当たり 6,050 情報・生産技術部
E0495 ５軸制御マシニングセンタによる加工 １時間当たり 6,380 〃
E4620 ワイヤ放電加工 １時間当たり 3,740 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(2)電気・電子の試験

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E0510 電流電圧測定（１ｍＡ以上，１ｍＶ以上） １試料１条件につき 2,970 電子技術部
E0570 電気抵抗測定 １試料１条件につき 3,630 〃
E0591 四探針法による抵抗率測定 １試料１測定につき 9,350 〃
E0660 電気機器・漏れ電流測定 １条件１測定につき 4,400 〃
E0670 電気機器・耐電圧試験 １試料１測定につき 3,740 〃
E0680 電気機器・接地回路の抵抗測定 １条件１測定につき 4,510 〃
E0690 ＬＣＲ測定 １試料１条件につき 8,800 〃
E0710 ＬＣＲ測定 １ヶ所増 １試料につき測定点１ヶ所増すごとに 2,860 〃
E0750 絶縁抵抗試験 １条件１測定につき 4,620 〃
E0760 電気機器・温度試験 １測定点につき 2,750 〃
E0761 はんだ継手強度試験 １測定条件につき（10測定点まで） 17,820 〃
E0762 はんだ継手強度試験　５測定点増 ５測定点増すごとに 8,030 〃
E0770 マイクロ波スペクトラムアナライザ測定 １条件１測定につき 8,030 〃
E0771 マイクロ波スペクトラムアナライザ測定　１件増 １測定増すごとに 3,410 〃
E0780 ネットワークアナライザ測定（マルチポート） １測定につき 9,680 〃
E0791 ネットワークアナライザ測定（４ポートまで） １試料１条件につき 7,040 〃
E0792 ネットワークアナライザ測定（４ポートまで）　１件増 １条件増すごとに 2,750 〃
E0813 電源変動および瞬停試験 ２時間まで 11,330 〃
E0814 電源変動および瞬停試験　１時間増 １時間増すごとに 5,610 〃
E0820 電気機器・電力測定 １試料１条件につき 4,950 〃
E0830 高周波伝送特性測定（Ｓパラメータ・ＴＤＲ測定） １条件１測定につき 14,740 〃
E0840 高周波伝送特性測定（Ｓパラメータ・ＴＤＲ測定）　１件増 １測定増すごとに 3,850 〃
E0850 マイクロ波誘電率測定（共振器法・誘電体プローブ法） １条件１測定につき 17,050 〃
E0860 マイクロ波誘電率測定（共振器法・誘電体プローブ法）　１件増 １測定増すごとに 5,720 〃
E0870 マイクロ波誘電率・透磁率測定（Ｓパラメータ法） １条件１測定につき 15,620 〃
E0880 マイクロ波誘電率・透磁率測定（Ｓパラメータ法）　１件増 １測定増すごとに 4,290 〃
E0881 マイクロ波誘電率・透磁率測定（ハーモニック共振器法） １測定につき 17,600 〃
E0890 1000BASE-Tコンプライアンステスト １時間につき 4,400 情報・生産技術部

↑ 試験計測料金のトップへ

(3)磁気関係

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E0910 磁化特性測定（ＶＳＭ方式） １試料１測定につき 6,160 電子技術部
E0920 磁化特性測定（積分方式） １試料１測定につき 4,290 〃
E0930 磁歪測定 １試料１測定につき 17,820 〃
E0931 磁歪測定　１条件増 １条件増すごとに 11,330 〃
E0940 磁化温度特性測定 １試料１測定につき 19,360 〃
E0950 薄膜交流透磁率測定 １試料１測定につき 5,060 〃
E0951 交流磁化特性測定（B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス） １試料１測定につき 9,460 〃
E0952 交流磁化特性測定（B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス）　１条件増 １条件増すごとに 6,270 〃
E0953 交流磁化特性測定（B-H曲線無しの連続測定、可変条件は１） １試料５測定まで 15,950 〃
E0954 交流磁化特性測定（B-H曲線無しの連続測定、可変条件は１）　１測定増 １測定増すごとに 2,420 〃
E0958 試料調整 １時間当たり 2,970 〃
E0959 データ処理 １時間当たり 2,970 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(4)非破壊検査試験

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E0960 Ｘ線透過試験 １時間当たり 7,260 機械・材料技術部
E0981 Ｘ線ＣＴ撮影（容易なもの） １測定につき 32,670 〃
E0982 Ｘ線ＣＴ撮影（標準的なもの） １測定につき 49,060 〃
E0983 Ｘ線ＣＴ撮影（複雑なもの） １測定につき 65,340 〃
E0990 非破壊超音波映像撮影 １時間当たり 9,240 電子技術部
E0991 非破壊超音波映像撮影（データ解析のみ） １解析当たり 3,630 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(5)半導体関係

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E1030 薄膜屈折率測定 １試料につき 23,100 電子技術部
E1040 定エネルギー分光測定 １条件につき 34,760 〃
E1050 膜厚測定 １試料１測定点につき 5,390 〃
E1051 三次元微細形状測定 標準１測定当たり 11,660 〃
E1060 フォトルミネッセンス測定 １試料１条件につき 41,360 〃
E1070 高分解能（１nm以下）フォトルミネッセンス測定 １試料１条件につき 81,730 〃
E1080 低温光特性評価 １試料１条件につき 33,550 〃
E1090 位相差測定 １試料１条件につき 10,890 〃
E1120 酸化拡散試験 １時間当たり 24,310 〃
E1130 光干渉式膜厚測定 １試料１測定点につき 2,970 〃
E1140 光干渉式膜厚測定　１測定点増 １試料につき１測定点増すごとに 1,430 〃
E1145 ハイブリッドレーザー顕微鏡 １測定１解析につき 8,360 〃
E1146 ハイブリッドレーザー顕微鏡　１視野追加 １視野追加につき 4,180 〃
E1150 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 １測定１解析につき 8,030 〃
E1151 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定　１解析増 １解析増すごとに 2,090 〃
E1152 ホール効果測定 １試料１条件につき 20,240 〃
E0767 熱抵抗測定 １時間当たり 9,020 〃
E1153 超音波ウェッジボンダ試験 １時間当たり 8,470 〃
E1154 超音波ボールボンダ試験 １時間当たり 10,010 〃
E0763 ワイヤーボンディング強度試験 １測定条件につき（10測定点まで） 20,570 〃
E0764 ワイヤーボンディング強度試験　５測定点増 ５測定点増すごとに 9,460 〃
E0765 ダイシェア試験 １測定条件につき（10測定点まで） 21,890 〃
E0766 ダイシェア試験　５測定点増 ５測定点増すごとに 10,120 〃
E1155 ダイシング加工（半導体基板精密加工） １時間当たり 16,280 〃
E1156 真空蒸着 標準１試料当たり 36,190 〃
E1157 真空蒸着　１条件増 １条件増すごとに 17,600 〃
E1158 スパッタ成膜 標準１試料当たり 47,410 〃
E1160 イオンプレーティング成膜 標準１試料当たり 48,510 〃
E1170 イオンプレーティング成膜　１条件増 １条件増すごとに 18,810 〃
E1180 アッシャーによるプラズマ処理 １条件１時間につき 17,270 〃
E1190 ＥＣＲプラズマエッチング 標準１試料当たり 46,640 〃
E1191 高精度フォトリソグラフィ １枚につき 24,310 〃
E1192 高精度フォトリソグラフィ　１枚増　 １枚増すごとに 8,690 〃
E1200 電子線リソグラフィ １時間当たり 9,680 〃
E1201 電子線リソグラフィ試料調製 １試料につき 8,910 〃
E1211 クリーン雰囲気試験 １時間当たり 5,940 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(6)環境試験

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E1230 恒温恒湿槽（中） 24時間まで 18,150 電子技術部
K5410
E1240 恒温恒湿槽（中）　24時間増 24時間増すごとに 7,370 〃
K5411
E1270 恒温恒湿槽（中）サイクル 24時間まで 23,100 〃
K5415
E1280 恒温恒湿槽（中）サイクル　24時間増 24時間増すごとに 8,360 〃
K5416
E1290 高温槽 24時間まで 11,220 電子技術部
E1310 高温槽　24時間増 24時間増すごとに 5,720 〃
E1320 プレッシャークッカー試験 24時間まで 18,150 〃
K5440
E1330 プレッシャークッカー試験　24時間増 24時間増すごとに 11,660 〃
K5441
E1350 冷熱衝撃試験（中） ８時間まで 9,680 〃
K1810
E1360 冷熱衝撃試験（中）　８時間増 ８時間増すごとに 5,060 〃
K1811
E1361 ハイパワー恒温恒湿槽 （ARSF) 24時間まで 25,610 電子技術部
E1362 ハイパワー恒温恒湿槽 （ARSF)　24時間増 24時間増すごとに 13,750 〃
E1363 冷熱衝撃試験（中・TSA） ８時間まで 11,550 〃
E1364 冷熱衝撃試験（中・TSA）　８時間増 ８時間増すごとに 5,720 〃
E1365 HAST試験 24時間まで 18,920 〃
E1366 HAST試験　24時間増 24時間増すごとに 12,980 〃
E1370 恒温恒湿槽（大、150℃対応） 24時間まで 29,260 〃
E1375 恒温恒湿槽（大、150℃対応）　24時間増 24時間増すごとに 16,060 〃
E1376 恒温恒湿槽 （低湿度対応) 24時間まで 24,750 〃
E1377 恒温恒湿槽 （低湿度対応)　24時間増 24時間増すごとに 11,000 〃
E1380 冷熱衝撃試験（大） ８時間まで 12,870 〃
E1385 冷熱衝撃試験（大）　８時間増 ８時間増すごとに 6,600 〃
E1390 小型恒温恒湿槽（SH） 24時間まで 15,730 〃
E1391 小型恒温恒湿槽（SH）　24時間増 24時間増すごとに 6,710 〃
E1392 小型恒温槽 (温度のみ） 24時間まで 12,540 〃
E1393 小型恒温槽 (温度のみ）　24時間増 24時間増すごとに 5,060 〃
E1386 パワーサイクル試験 ８時間まで 20,350 〃
E1387 パワーサイクル試験　８時間増 ８時間増すごとに 9,900 〃
E1394 人工気象室（小型） １時間ごとに 5,170 化学技術部
E1395 人工気象室（大型） １時間ごとに 7,590 〃
E1396 日射装置 １時間ごとに（人工気象室（大型）の料金に加算） 6,380 〃
E1397 促進耐候性試験（キセノン） 標準条件(放射照度60W/㎡、BPT63℃、スプレー18分/120分)の場合　１試料50時間につき  19,690 〃
E1398 試料取付費 １ホルダーにつき　（E1397に適用） 2,970 〃
E1399 試料抜取り費 １ホルダーにつき　（E1397に適用） 1,430 〃
E3520 耐光試験（カーボンアーク） １試料につき20時間 1,540 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(7)電磁波ノイズ試験

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E1410 放射妨害波測定   ２時間まで 37,400 電子技術部
E1420 放射妨害波測定　１時間増   １時間増すごとに 14,410 〃
E1425 車載機器の放射・伝導妨害波測定 ２時間まで 37,400 〃
E1426 車載機器の放射・伝導妨害波測定　１時間増 １時間増すごとに 14,410 〃
E1430 電源・通信ポート伝導妨害波測定 １時間まで 22,990 〃
E1440 電源・通信ポート伝導妨害波測定　１時間増 １時間増すごとに 14,410 〃
E1450 雑音電力測定   １時間まで 23,100 〃
E1460 雑音電力測定　１時間増 １時間増すごとに 14,410 〃
E1471 放射電磁界イミュニティ試験  ２時間まで 29,150 〃
E1481 放射電磁界イミュニティ試験　１時間増 １時間増すごとに 11,110 〃
E1490 静電気放電イミュニティ試験 １時間まで 11,440 〃
E1510 静電気放電イミュニティ試験　１時間増 １時間増すごとに 6,710 〃
E1520 電気的ファーストトランジェント/バーストイミュニティ試験 １時間まで 11,440 〃
E1530 電気的ファーストトランジェント/バーストイミュニティ試験　１時間増 １時間増すごとに 6,710 〃
E1540 雷サージイミュニティ試験   １時間まで 11,440 〃
E1550 雷サージイミュニティ試験　１時間増   １時間増すごとに 6,710 〃
E1551 伝導電磁界イミュニティ試験 １時間まで 17,930 〃
E1552 伝導電磁界イミュニティ試験　１時間増 １時間増すごとに 10,890 〃
E1560 インパルスノイズ試験 １時間まで 11,440 〃
E1570 インパルスノイズ試験　１時間増 １時間増すごとに 6,710 〃
E1581 電磁波シールド効果測定 （100kHz～１GHz、KEC法） １試料１測定（電界または磁界）につき 5,940 〃
E1600 マイクロ波電磁波シールド効果測定（１GHz～8.5GHz、２焦点型扁平空洞） １試料１測定につき 6,600 〃
E1605 電波透過特性測定（マイクロ波帯） １条件１測定につき 14,850 〃
E1606 電波透過特性測定（マイクロ波帯）　１件増 １測定増すごとに 6,820 〃
E1610 電波吸収率測定（簡易アンテナ法） １条件１測定につき 12,540 〃
E1620 電波吸収率測定（簡易アンテナ法）　１件増 １測定増すごとに 3,410 〃
E1630 アンテナ指向性測定 ２時間まで 39,160 〃
E1640 アンテナ指向性測定　１時間増 １時間増すごとに 15,400 〃
E1650 三次元アンテナ指向性測定 ２時間まで 44,110 〃
E1660 三次元アンテナ指向性測定　１時間増 １時間増すごとに 20,460 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(8)その他の試験（１）

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E1780 走査型プローブ顕微鏡観察 標準１条件１測定につき 22,220 電子技術部
E1781 走査型プローブ顕微鏡観察　１視野追加 １視野追加につき 10,340 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(9)無機定性・定量分析

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E1810 定量分析（Ａ）（容易なもの） １試料，１成分につき（容易なもの） 8,690 化学技術部
E1820 定量分析（Ｂ）（複雑なもの） １試料，１成分につき（複雑なもの） 10,450 〃
E1821 炭素・硫黄分析装置による定量分析（Ａ）（容易なもの） １試料，１成分につき（容易なもの） 7,810 〃
E1822 炭素・硫黄分析装置による定量分析（Ｂ）（複雑なもの） １試料，１成分につき（複雑なもの） 11,550 〃
E1831 原子吸光分析法による定量分析（Ａ）（容易なもの） １試料，１成分につき（容易なもの） 7,920 〃
E1832 原子吸光分析法による定量分析（Ｂ）（複雑なもの） １試料，１成分につき（複雑なもの） 11,770 〃
E1841 蛍光Ｘ線法による微小部定性分析 １試料，１ヶ所につき 8,690 〃
E1842 蛍光Ｘ線法による微小部定性分析　１条件増 １条件増すごとに 3,190 〃
E1860 蛍光Ｘ線定性分析（波長分散方式） １試料につき 19,250 〃
E1891 ＩＣＰ発光分光分析法による定量分析（Ａ）（容易なもの） １試料，１成分につき（容易なもの） 7,700 〃
E1892 ＩＣＰ発光分光分析法による定量分析（Ｂ）（複雑なもの） １試料，１成分につき（複雑なもの） 11,440 〃
E1911 ＩＣＰ発光分光分析法による定性分析 １試料につき，基本10元素まで 17,820 〃
E1921 ＩＣＰ発光分光分析法による定性分析　1元素増 １試料につき，１元素増すごとに 1,760 〃
E1930 カールフィッシャー水分測定（直接法） １条件，１試料につき 11,110 〃
E1931 カールフィッシャー水分測定（直接法）　１試料増 １試料増すごとに 6,490 〃
E1932 カールフィッシャー水分測定（加熱気化法） １条件，１試料につき 13,970 〃
E1933 カールフィッシャー水分測定（加熱気化法）　１試料増 １試料増すごとに 9,350 〃
E1940 試料調製（１）（切粉作製等簡易な前処理）

E1810,E1820,E1821,E1822,E1831,E1832,
E1860,E1932,E1933,E2021,E2211,E2212,
E2220,E2230,E2260,E2281,E2282,E2290,
E2294,E2295,E2310,E2320,E2330,E2340,
E2410,E2420,E2430,E2441,E2442,E2450,
E2460,E4010,E4020に適用

 1,760 〃
E1950 試料調製（２）（難分解性試料等複雑な前処理）

E1810,E1820,E1831,E1832,E1860,E1891,
E1892,E1911,E2021,E2211,E2212,E2220,
E2230,E2260,E2281,E2282,E2290,E2294,
E2295,E2310,E2320,E2330,E2340,E2410,
E2420,E2430,E2441,E2442,E2450,E2460,
E4010,E4020に適用

 8,910 〃
E1960 試料調製（３）（極微量物質の分離濃縮等困難な前処理）

E1810,E1820,E1831,E1832,E1891,E1892,E1911,
E2021,E2211,E2212,E2220,E2230,E2260,E2281,
E2282,E2290,E2294,E2295,E2310,E2320,E2330,
E2340,E4010,E4020に適用

 14,850 〃
E1970 試料調製（４）（抽出、濃縮等標準的な前処理） E1810,E1820,E1831,E1832,E1891,E1892,E1841,
E1860,E1911,E2211,E2212,E2220,E2230,E2260,
E2281,E2282,E2290,E2294,E2295,E2310,E2320,
E2330,E2340,E4010,E4020に適用		 4,730 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(10)表面分析

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E1882 Ｘ線光電子分光分析　（簡単なもの)　 １試料１ヶ所につき 17,600 機械・材料技術部
E1884 Ｘ線光電子分光分析　（簡単なもの)　条件増 １条件増すごとに 8,030 〃
E1980 微小部Ｘ線光電子分光分析　（ワイドスキャンのみ） １試料１ヶ所につき 13,750 〃
E1982 微小部Ｘ線光電子分光分析（ワイドおよびナロースキャン） １試料１ヶ所につき（６元素まで） 20,350 〃
E1984 微小部Ｘ線光電子分光分析（面分析，線分析） １試料１ヶ所につき（５元素まで） 21,230 〃
E1986 微小部Ｘ線光電子分光分析（深さ方向分析） １試料１ヶ所につき（６元素まで） 32,120 〃
E1990 微小部Ｘ線光電子分光分析　条件増 １条件増すごとに 4,950 〃
E1992 微小部Ｘ線光電子分光分析　元素増（１） １元素増すごとに（E1982,E1984に適用） 4,180 〃
E1994 微小部Ｘ線光電子分光分析　元素増（２） １元素増すごとに（E1986に適用） 6,380 〃
E2541 電子線マイクロアナライザ観測 １試料につき 27,830 〃
E2542 写真撮影　（二次電子像、反射電子像） １試料につき 23,650 〃
E2543 写真撮影　（二次電子像、反射電子像）　１ヶ所増 同一試料で１ヶ所増すごとに 5,500 〃
E2550 電子線マイクロアナライザ観測　追加分析 同一箇所での測定につき（E2541に適用）  8,580 〃
E2551 電子線マイクロアナライザ観測　１成分増 １成分増すごとに 2,860 〃
E2560 電子線マイクロアナライザ観測 試料調整 １試料につき 61,160 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(11)分光分析

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E2010 紫外・可視分光光度計試験分析 １スペクトルにつき 7,920 機械・材料技術部
E2021 フーリエ変換赤外分光分析 １スペクトルにつき 19,030 機械・材料技術部
化学技術部
K5055
E2023 フーリエ変換赤外分光分析用微小試料調製 １試料につき 2,970 機械・材料技術部
化学技術部
E2080 顕微レーザーラマン分光分析 １試料１ヶ所につき 56,540 〃
E2090 顕微レーザーラマン分光分析　１条件増 １条件増すごとに 29,150 〃
E2091 顕微レーザーラマン分光分析　（簡単なもの） １試料１ヶ所につき 19,470 〃
E2110 分光蛍光光度計試験 １スペクトルにつき 8,910 化学技術部

↑ 試験計測料金のトップへ

(12)クロマトグラフ分析

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E2211 イオンクロマトグラフ分析（１）（一般的なもの） １測定につき 16,280 化学技術部
E2212 イオンクロマトグラフ分析（２）（特殊なもの） １測定につき 21,120 〃
E2220 ガスクロマトグラフ定性分析 １試料１成分につき 7,150 〃
E2230 ガスクロマトグラフ定量分析 １試料１成分につき 6,160 〃
E2240 ガスクロマトグラフ定量分析　１成分増 １成分増すごとに 3,520 〃
E2250 ガスクロマトグラフ（前処理を必要とする試料） １試料１成分につき 11,550 〃
E2260 ガスクロマトグラフ（ヘッドスペースサンプラ分析） １試料１成分につき 13,310 〃
E2270 ガスクロマトグラフ（ヘッドスペースサンプラ分析）　１成分増 １成分増すごとに 5,170 〃
E2281 高速液体クロマトグラフ分析（分析条件検討を含まない） １試料１成分につき 10,780 〃
E2282 高速液体クロマトグラフ分析（簡単な分析条件を含む） １試料１成分につき 27,390 〃
E2290 液体クロマトグラフ－質量分析　（飛行時間型）（分析条件検討を含まない） １試料１成分につき 41,360 〃
E2291 液体クロマトグラフ－質量分析　（飛行時間型）（簡単な分析条件の検討） １試料につき(E2290に適用) 21,780 〃
E2292 液体クロマトグラフ－質量分析　（飛行時間型）定性分析１成分増 １成分増すごとに 3,850 〃
E2294 液体クロマトグラフ－質量分析　（四重極型）（分析条件検討を含む） １試料１成分につき 34,760 〃
E2295 液体クロマトグラフ－質量分析　（四重極型）（分析条件検討を含まない） １試料１成分につき 17,930 〃
E2030 試料調製（５）分取用　液体クロマトグラフ使用 １試料１成分につき 28,050 〃
E2040 試料調製（６）分取用　液体クロマトグラフ使用　１成分増 同試料１成分増すごとに 3,520 〃
E2310 ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ） １試料１成分につき 39,380 〃
E2311 ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ）　定性分析　１成分増 １成分増すごとに 5,060 〃
E2312 ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ）　定量分析　１成分増 １成分増すごとに 5,940 〃
E2320 パージアンドトラップＧＣＭＳ分析 １試料１成分につき 53,240 〃
E2321 パージアンドトラップＧＣＭＳ分析　定性分析　１成分増 １成分増すごとに 5,060 〃
E2322 パージアンドトラップＧＣＭＳ分析　定量分析　１成分増 １成分増すごとに 5,940 〃
E2330 ヘッドスペースＧＣＭＳ分析 １試料１成分につき 50,820 〃
E2331 ヘッドスペースＧＣＭＳ分析　定性分析　１成分増 １成分増すごとに 5,060 〃
E2332 ヘッドスペースＧＣＭＳ分析　定量分析　１成分増 １成分増すごとに 5,940 〃
E2340 サーマルデソープションＧＣＭＳ分析 １試料１成分につき 54,670 〃
E2341 サーマルデソープションＧＣＭＳ分析　定性分析　１成分増 １成分増すごとに 5,060 〃
E2342 サーマルデソープションＧＣＭＳ分析　定量分析　１成分増 １成分増すごとに 5,940 〃
E2350 化学イオン化（ＣＩ）法によるＧＣＭＳ分析 １試料につき
（E2310,E2320,E2330,E2340に適用）		 11,440 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(13)熱分析

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E2410 示差熱熱重量分析　室温～ 600℃ １測定につき 11,550 化学技術部
E2420 示差熱熱重量分析　室温～1000℃ １測定につき 16,830 〃
E2430 示差走査熱量分析 １測定につき 14,850 〃
E2431 熱機械分析 １測定につき 14,850 〃
E2441 高圧示差熱・熱重量測定 １測定につき 22,550 〃
E2442 発火温度測定（ＨＰ-ＴＧ法） １測定につき 19,690 〃
E2450 複合熱分析 １測定につき 68,310 〃
E2460 高圧示差走査熱量測定 １測定につき 22,110 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(14)Ｘ線回折

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E2510 Ｘ線回折試験 (I) 粉末X線回折 １試料につき 22,770 電子技術部
化学技術部
E2520 Ｘ線回折試験 (II) 高度な粉末Ｘ線回折・薄膜X線回折 １試料につき 34,210 〃
E2530 Ｘ線回折試験 (III) 高度な薄膜Ｘ線回折 １試料につき 52,910 〃
E2540 Ｘ線回折試験 (IV) 特殊なＸ線回折 １試料につき（広範囲な逆格子マッピングなど） 85,200 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(15)有機物分析

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E2610 ＣＨＮ元素分析装置による定量分析 １試料につき 16,390 化学技術部
E2631 飛行時間型質量分析 １試料１測定につき 28,820 〃
E2641 核磁気共鳴（NMR）分析
（プロトンのみ）		 １試料，１Hの一次元スペクトルにつき 13,310 機械・材料技術部
E2642 核磁気共鳴（NMR）分析
（基本測定）		 １試料，１Hおよび13Cの一次元スペクトルにつき 21,120 〃
E2643 核磁気共鳴（NMR）分析（多核など特殊測定） １試料，１条件につき 32,010 〃
E2644 核磁気共鳴（NMR）分析（二次元測定） １試料，１Hおよび13Cの一次元スペクトル並びに相関スペクトル（DQF-COSY, HMQC, HMBC）につき 46,640 〃
E2651 電子スピン共鳴分析（Ａ）（基本測定） １試料１スペクトルにつき 21,560 〃
E2652 電子スピン共鳴分析（Ｂ）（特殊測定・定量） １試料１スペクトルにつき 37,620 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(16)合成樹脂（プラスチック）

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E2720 比重試験（水中置換法）（室温） １試料につき 7,260 化学技術部
E2730 吸水試験（室温） １試料につき 6,490 〃
E2750 動的粘弾性測定（開始温度40℃以上かつ１走査１時間未満） １走査（温度変化または振動数変化）につき 18,260 〃
E2760 動的粘弾性測定（開始温度－50℃以上または１走査１時間超） １走査（温度変化または振動数変化）につき 29,370 〃
E2770 動的粘弾性測定（液体窒素使用） １走査（温度変化または振動数変化）につき 41,800 〃
E2771 ペルチェシステム使用（10～150℃） E2750, E2760に適用 5,940 〃
E2772 試料調整（取り付け困難なもの） E2750, E2760, E2770に適用 2,640 〃
E2773 測定前温度調整 １試料につき１時間毎
（E2750,E2760,E2770に適用)		 2,970 〃
E2820 変形量測定（伸び計を使用しない場合） １試料につき 2,090 〃
E2830 変形量測定（伸び計を使用する場合） １試料につき 5,390 〃
E2840 引張試験（5kN以下）（室温） １試料につき 6,600 〃
E2860 曲げ試験（5kN以下）（室温） １試料につき 6,600 〃
E2870 圧縮試験（5kN以下）（室温） １試料につき 6,600 〃
E2880 衝撃試験（アイゾット・シャルピー）（室温） １試料につき 5,830 〃
E2920 硬さ試験（ロックウェル・デュロメータ）（室温） １試料につき 3,190 〃
E2930 熱伝導率測定（プローブ法）（室温） １試料につき 9,460 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(17)塗料・塗膜試験

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E3010 塗膜物性試験 １試料につき 1,650 化学技術部
E3030 光沢度測定 １試料につき 3,080 〃
E3040 色彩測定 １試料につき 3,080 〃
E3050 浸せき試験 室温で実施の場合　１試料24時間まで 4,180 〃
E3051 浸せき試験　24時間増 24時間増すごとに 660 〃
E3060 塩水噴霧試験 １試料24時間まで 2,200 〃
E3070 耐沸騰水性試験 １試料８時間につき 2,310 〃
E3080 耐熱性試験　 １試料500℃まで８時間につき 1,980 〃
E3090 外観撮影 １枚につき 440 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(18)電気化学試験

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E3210 金属の電位測定（１） １試料につき24時間まで 15,180 化学技術部
E3220 金属の電位測定（２）　24時間増 24時間増すごとに 6,270 〃
E3221 金属・合金の腐食減量測定（１） １試料につき24時間まで 12,430 〃
E3222 金属・合金の腐食減量測定（２）　24時間増 24時間増すごとに 3,520 〃
E3241 燃料電池の発電試験 １時間当たり 7,260 〃
E3242 ガス透過率測定 １試料につき（１時間当たり） 5,720 〃
E3251 高露点測定（１） 24時間まで（１時間当たり） 3,850 〃
E3252 高露点測定（２）　24時間増 24時間増すごとに 25,080 〃
E3253 燃料電池スタック試験（１） 24時間まで（８時間当たり） 4,180 〃
E3254 燃料電池スタック試験（２）　24時間増 24時間増すごとに 6,710 〃
E3255 スプレー塗工試験 １時間当たり 4,400 〃
E3261 電池充放電試験（１） １試料につき６時間まで 22,220 〃
E3262 電池充放電試験（２）　６時間増 ６時間増すごとに 10,560 〃
E3263 電極の熱ロールプレス処理 １試料１時間につき 3,740 〃
E3265 大型電池充放電試験（２kW以下）（１） １試料につき６時間まで 8,580 〃
E3266 大型電池充放電試験（２kW以下）（２）　６時間増 ６時間増すごとに 5,830 〃
E3270 金属の分極測定 １試料につき 17,820 〃
E3280 試料調製（１）（比較的容易） E3210,E3220,E3221,E3222,E3261,E3262,E3270に適用 2,970 〃
E3290 試料調製（２）（比較的複雑） E3210,E3220,E3221,E3222,E3261,E3262,E3270に適用 5,940 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(19)その他の試験（２）

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E3310 超臨界炭酸ガス抽出 １試料につき 13,200 化学技術部
E3311 超臨界水反応装置試験 １試料につき 39,160 〃
E3320 高速冷却遠心分離 １試料につき 4,620 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(20)繊維関連試験

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E3450 繊維熱物性試験 １試料１測定につき 4,950 化学技術部
E3460 重量測定 １試料につき 550 〃
E3620 編織物厚さ測定 １試料につき 2,090 〃
E3650 編織物通気度試験 １試料につき 2,530 〃
E3661 編織物強伸度測定 １試料１方向につき 2,860 〃
E3710 剛軟度試験 １試料１方向につき 1,100 〃
E3730 はっ水度試験 １試料につき 2,420 〃
E3770 赤外線放射温度計による表面温度測定 １試料１測定につき 20,570 〃
E3820 糸強伸度測定（容易なもの） １試料につき 1,100 〃
E3930 赤外線放射計による放射率測定 １試料１測定につき 40,480 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(21)水・廃棄物・廃ガス

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E4010 水質試験（Ａ）（容易なもの） １項目につき（容易なもの） 5,830 化学技術部
E4020 水質試験（Ｂ）（複雑なもの） １項目につき（複雑なもの） 9,680 〃
E4030 溶出検液作成（Ａ） (６成分以下) １試料につき (６成分以下) 4,070 〃
E4040 溶出検液作成（Ｂ）（７成分以上） １試料につき（７成分以上） 7,370 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(22)その他の試験（３）

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E4150 接触角測定試験 １試料につき 2,200 機械・材料技術部
E4160 ゼータ電位測定（Ａ）（微粒子分散溶液） １試料につき 10,120 〃
E4170 ゼータ電位測定（Ｂ）（平板形状試料） １試料につき 12,320 〃
E4180 粒径分布測定（動的光散乱法） １試料につき 8,800 〃
E4190 比表面積測定（窒素ガス吸着法）（１）（容易なもの） １試料につき 20,900 〃
E4191 比表面積測定（窒素ガス吸着法）（２）（複雑なもの） １試料につき 34,980 〃
E4192 細孔分布解析 １試料につき 3,300 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(23)木質材料・製品

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E4210 圧縮試験 １試料につき 2,640 情報・生産技術部
E4220 引張試験 １試料につき 2,970 〃
E4240 曲げ試験（50kN以下） １試料につき 2,310 〃
E4241 曲げ試験（50kN以下）
（曲げ強さ及び曲げヤング係数の算出を必要とするもの）		 １試料につき 3,410 〃
E4250 摩耗試験 １試料につき 3,960 〃
E4260 局所構造試験 １試料１測定につき 2,750 〃
E4270 密度測定 １試料につき 1,430 〃
E4280 含水率測定 １試料につき 5,720 〃
E4281 含水率測定　１増 一緒の工程で１試料増すごとに 2,200 〃
E4310 いす繰返し衝撃試験（１） １試料１条件につき（4,000回まで） 8,250 〃
E4320 いす繰返し衝撃試験（２）　4,000回増 同一試料に連続し4,000回増すごとに 4,730 〃
E4350 いす繰返し耐久性試験（１） １試料１条件につき（5,000回まで） 9,130 〃
E4360 いす繰返し耐久性試験（２）　5,000回増 同一試料に連続し5,000回増すごとに 4,730 〃
E4370 垂直過重下の強度試験 １試料１条件につき 3,410 〃
E4380 背もたれの静的強度試験 １試料１条件につき 3,410 〃
E4390 脚部の静的強度試験 １試料１条件につき 3,410 〃
E4480 煮沸繰返し試験 １試料につき 2,420 〃
E4490 温冷水浸せき試験 １試料につき 1,540 〃
E4510 試料調整（１）
（鋸盤鉋盤などによる試験片作製）		 １試料につき 1,540 〃
E4520 試料調整（２）
（接着　調湿等の前処理を伴うもの）		 １試料につき 2,310 〃
E4540 デジタルマイクロスコープ写真 １試料１ヶ所につき（写真１枚につき） 330 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(24)ＦＬ－net（ＯＰＣＮ－２）ネットワーク認証試験

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E4820 適合性試験 １試料６時間まで 46,640 情報・生産技術部
E4821 相互接続性試験 １試料２時間まで 31,130 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(25)ＣＣ－Link適合性評価試験

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E4910 ノイズ試験 １試料８時間まで 28,710 情報・生産技術部
E4920 ハードウェア試験 １試料４時間まで 14,300 〃
E4930 ソフトウェア試験 １試料10時間まで 35,860 〃
E4940 組み合わせ試験 １試料６時間まで 21,560 〃
E4950 インタオぺラビリティ試験 １試料５時間まで 17,930 〃
E4960 エージング試験 １試料12時間まで 13,310 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(26)振動騒音関係

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E4974 時間波形分析（振動） １分析につき 3,080 機械・材料技術部
E4975 周波数分析（振動） １分析につき 4,730 〃
E4976 振動試験 １時間当たり 7,920 〃
E4977 損失係数測定（Ａ） １試料１測定温度につき 11,660 〃
E4978 損失係数測定（Ｂ）　１測定温度増 １測定温度増すごとに 1,210 〃
E4979 振動試験（大型の試験機によるもの） １時間当たり 9,020 〃
E4980 騒音測定 １測定につき 2,310 〃
E4981 オクターブ分析 １分析につき 3,190 〃
E4982 時間波形分析（音） １分析につき 3,080 〃
E4983 周波数分析（音） １分析につき 4,620 〃
E4984 音響パワーレベル測定 １測定につき 9,350 〃
E4985 音圧分布測定 １測定面につき 14,850 〃
E4986 音質評価解析 １測定につき 5,280 〃
E4987 吸音率測定 １測定につき 3,960 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(27)機械設計・解析・造形

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E4990 機械設計・解析 １時間当たり 5,170 情報・生産技術部
E4994 構造解析 １時間当たり 8,360 機械・材料技術部
E4995 高速度カメラ撮影 １時間当たり 5,390 情報・生産技術部
E4996 高速度カメラ撮影（アナログ波形データ収集装置併用） １時間当たり 5,940 〃
E4993 三次元モデリング（簡易なもの） １時間当たり 4,400 〃
E4997 三次元造形前処理 １時間当たり 2,970 〃
E4991 三次元造形（小型インクジェット式３Ｄプリンター） １時間当たり 660 〃
E4998 三次元造形（インクジェット式３Dプリンター） １時間当たり 2,750 〃
E5000 三次元造形（光造形式３Dプリンター） １時間当たり 1,430 〃
E4999 三次元造形後処理 １時間当たり 3,300 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(28)微生物・生化学・食品試験

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E5010 一般細菌数試験 １試料につき 3,850 化学技術部
E5020 大腸菌数試験 １試料につき 3,960 〃
E5030 嫌気性菌数試験 １試料につき 5,060 〃
E5040 抗酸化性測定（１） １試料につき 3,300 〃
E5041 抗酸化性測定（２）（ORAC法による） １試料につき 10,890 〃
E5060 酵素阻害活性測定（１）（複雑なもの） １試料につき 6,490 〃
E5061 酵素阻害活性測定（２）（容易なもの） １試料につき 4,730 〃
E5062 抗糖化性測定（１）（複雑なもの） １試料につき 6,160 〃
E5063 抗糖化性測定（２）（容易なもの） １試料につき 4,730 〃
E5070 アガロースゲル電気泳動測定 １泳動につき（10サンプルまで） 1,760 〃
E5090 水分定量（常圧乾燥法による） １試料につき 4,180 〃
E5091 遊離アミノ酸組成分析 １試料につき 36,520 〃
E5100 タンパク質定量（Bradford法、Lowry法による） １試料につき 3,850 〃
E5110 脂質定量（ソックスレー抽出法による） １試料につき 4,840 〃
E5120 灰分定量（直接灰化法による） １試料につき 4,840 〃
E5130 総ポリフェノール定量（Folin-Ciocalteu法による） １試料につき 3,960 〃
E5140 炭水化物定量（フェノール-硫酸法による） １試料につき 9,570 〃
E5150 リグニン定量（硫酸法による） １試料につき 8,470 〃
E5160 サフラン試験 １試料につき 26,510 〃
E5170 凍結乾燥（24時間まで） 24時間まで 5,500 〃
E5171 凍結乾燥（24時間増すごとに） 24時間増すごとに 2,530 〃
E5180 試料調製（１）　（簡易なもの） E5010～E5171に適用 1,540 〃
E5181 試料調製（２）　（基本的なもの） E5010～E5171に適用 3,300 〃
E5182 試料調製（３）　（複雑なもの） E5010～E5171に適用 6,380 〃
E5183 試料調製（４）　（困難なもの） E5010～E5171に適用 9,900 〃

↑ 試験計測料金のトップへ

(29)デザイン・企画

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 担当部名
E5280 デザイン・企画 １時間につき 3,080 情報・生産技術部

↑ 試験計測料金のトップへ

(30)研究生の指導

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 備　考
E5310 研究生の指導 １人１日につき 1,100 　
E5320 研究生の指導　１人増 研究生１人増すごとに 550 　

↑ 試験計測料金のトップへ

(31)成績書の複本の交付

№ 項　　　　　目 単　　　　　位 料金(円) 備　考
E5350 成績書の複本の交付 １通につき（写真を含む場合は別に加算することができる） 300 　

↑ 試験計測料金のトップへ

↓ 機器使用料金（PDFはこちらから）

↑ 試験計測料金はこちら

※金額は１時間当たりの額

　　※料金は消費税を含んでいます。

(1)材料試験機 (2)金属加工 (3)電子関連装置 (4)分析・評価機器
(5)環境試験装置 (6)木工加工 (7)形状測定機器 (8)測定計測装置
(9)温度熱量測定装置 (10)その他の機器 (11)設備 (12)ファブラボ

(1)材料試験機

№ 設　備　機　器　名 メーカー・型式 料金(円) 担当部名
E6050 材料試験機（５kN） インストロンジャパン　　5565型 1,210 化学技術部
E6080 万能材料試験機 オリエンテック　　　　　UTA-5T 990 情報・生産技術部

↑ 機器使用料金のトップへ

(2)金属加工

№ 設　備　機　器　名 メーカー・型式 料金(円) 担当部名
E6210 コンターマシン アマダ　　　　　　　　VA-500 330 機械・材料技術部
E6230 平面研削盤 岡本　　　　　　　　　PSG-52DX 1,540 〃
E6240 ボール盤 ヤマモト　　　　　　　YSDT-550 110 〃
E6270 切断機 Hストルアス社　　　　ﾃﾞｨｽｺﾄﾑ 1,320 〃
E6290 超精密正面切削装置 東芝機械　　　　　　　ULC-100A(H) 6,820 情報・生産技術部
E6310 帯鋸盤 アマダ　　　　　　　　HA300 880 機械・材料技術部
E6340 旋盤 昌運　　　　　　　　　ST-5 1,100 〃
E6350 ＣＮＣ旋盤 オークマ　　　　　　　LS-30N 5,170 情報・生産技術部
E6360 旋盤 シャブリン　　　　　　SV-150A 1,980 機械・材料技術部
E6370 フライス盤 デッケル　　　　　　　FP1　 2,310 〃
E6380 立形マシニングセンター 牧野フライス製作所　　V33 3,080 情報・生産技術部

↑ 機器使用料金のトップへ

(3)電子関連装置

№ 設　備　機　器　名 メーカー・型式 料金(円) 担当部名
E6620 電極形成装置の本体システム ＫＨエレクトロニクス　特別仕様 18,370 電子技術部
E6650 定エネルギー分光器 日本分光　　　　　　　YQ-250CW-GT 11,990 〃
E6660 ボロメータ評価システム用高温電気測定用チャンバ テクノロ工業　　　　　特別仕様 4,510 〃
E6670 ボロメータ評価システム用光源システム 日本分光　　　　　　　SS-25GT 12,100 〃
E6680 陽極接合装置 アユミ工業　　　　　　AB-40特注品 12,430 〃
E6690 マスクアライナ ミカサ　　　　　　　　MA-20 7,590 〃
E6730 研磨機 ムサシノ電子　　　　　MA-200 2,640 〃
E6740 酸化拡散装置 ＫＨエレクトロニクス　特別仕様 18,920 〃
E6760 高温小型真空雰囲気炉 ナガノ　　　　NEWTONIAN PASCAL40 6,600 〃
E6770 超音波ボールボンダ ウエストボンド　　　　7700A 7,040 〃
E6780 ボンディング装置 日本アビオニクス　　　NA-90 2,200 〃
E6790 チップ付け装置 ウェストボンド　　　　7200A 2,530 〃
E6810 超音波ウェッジボンダ ウェストボンド　　　　7400A 5,500 〃
E6840 ダイシング装置 ディスコ　　　　　　　DAD-2H/6T 13,090 〃
E6880 アッシャー装置 東京応化工業　　　　　OPM-EM600 12,540 〃
E6950 光干渉式膜厚測定装置 大日本スクリーン　　　VM-8000J 2,970 〃
E6960 超深度形状測定顕微鏡(レーザー顕微鏡) キーエンス　　　　　　VK8500 1,980 〃
E6965 ハイブリッドレーザー顕微鏡　データ解析 レーザーテック　　OPTELICS HYBRID 990 〃
E6980 焼き付け装置 デルタデザイン（米国）9023型 880 〃

↑ 機器使用料金のトップへ

(4)分析・評価機器

№ 設　備　機　器　名 メーカー・型式 料金(円) 担当部名
E7020 金属顕微鏡 ニコン　　　　　　　X2-T1-NR 550 機械・材料技術部
E7030 ＩＣＰ発光分析装置 セイコー電子　　　　SPS1200VR 11,220 化学技術部
E7151 デジタルマイクロスコープシステム スカラ　　　　　　　DG-3 110 情報・生産技術部
E7160 顕微鏡 オリンパス　　　　　BHS－RFK－A1 1,760 化学技術部
E7170 分光蛍光光度計 日立　　　　　　　　F-4010 4,400 〃
E7230 マイクロフォーカスＸ線テレビ装置 島津製作所　　　　　SMX-160ET 4,290 機械・材料技術部
E7240 Ｘ線ＣＴスキャン装置 ユニハイトシステム　XVA-160 Noix+Presto 12,100 〃
E7280 透明プラスチック残留応力観察装置 理光研　　　　　　　ﾎﾟﾗﾘｽｺｰﾌﾟPS-5 1,540 化学技術部

↑ 機器使用料金のトップへ

(5)環境試験装置

№ 設　備　機　器　名 メーカー・型式 料金(円) 担当部名
E7310 人工気象室 タバイエスぺック　　　　　　   　TBL-9W4YPX 22,990 化学技術部
E7360 断熱反応装置 コロンビアサイエンティフィック　ARC 8,360 〃
E7370 熱流束型熱量計 セタラム　　　　　　　　　　　　C-80 19,030 〃
E7470 簡易半無響室 小野測器 1,540 機械・材料技術部

↑ 機器使用料金のトップへ

(6)木工加工

№ 設　備　機　器　名 メーカー・型式 料金(円) 担当部名
E7720 ツールチェンジＮＣ加工機 平安コーポレーション　　NC-151MC-1508 1,980 情報・生産技術部
E7730 ルータ 平安鉄工　　　　　　　　NC-131P-1008 660 〃
E7740 油圧プレス 小林機械工業　　　　　　KU-CPP3366 110 〃
E7750 油圧プレス（ホットプレス） セイブ　　　　　　　　　HP-2 220 〃
E7760 マイクロ波加熱装置 新日本無線　　　　　　　NTA-2010 220 〃

↑ 機器使用料金のトップへ

(7)形状測定機器

№ 設　備　機　器　名 メーカー・型式 料金(円) 担当部名
E7810 万能測定顕微鏡 カールツァイス　　　　　UMM300/100 2,200 情報・生産技術部
E7820 精密表面形状測定装置 東京精密　　　　　　　　ｻｰﾌｺﾑ700B
　　　　　　　　　　　　ｻｰﾌﾗｲｻﾞ2000A		 1,540 〃

↑ 機器使用料金のトップへ

(8)測定計測装置

№ 設　備　機　器　名 メーカー・型式 料金(円) 担当部名
E7980 精密変位測定装置 キーエンス　　　　　　　LD-2500/LD-2510 550 情報・生産技術部
E8010 薄膜屈折率測定装置 溝尻光学　　　　　　　　DHA-XA型 8,800 電子技術部
E8020 位相差測定装置 ニコン　　　　　　　　　NPDM-1000 7,920 〃
E8040 Ｃ－Ｖ測定装置 ＹＨＰ　　　　　　　　　4280A 5,830 〃
E8090 ボロメータ測定システム微小信号測定システム セイコー　　　　　　　　5302 4,950 〃
E8150 膜厚計 小坂研究所　　　　　　　ET4000AKR 2,860 〃
E8190 マルチフリケンシャルＬＣＲメータ ＹＨＰ　　　　　　　   　YHP4274A/YHP4275A 2,860 〃
E8200 絶縁抵抗計 キーサイト・テクノロジー 4339B 3,080 〃
E8220 Ｑメータ ＹＨＰ　　　　　　　　　YHP4285A 2,970 〃
E8250 分光測色計 ミノルタカメラ　　　　　CM-1000 440 化学技術部
E8251 光沢計 日本電色工業　　　　　　VGS-300A 220 〃
E8260 音響インテンシティ測定装置 小野測器　　　　　　　　CF6400INT/MOD 10,120 機械・材料技術部
E8261 音質評価システム 小野測器　　　　　　　　WS-5160 660 〃
E8262 吸音率測定システム 小野測器　　　　　　　　SR-4100 990 〃
E8270 伝導イミュニティ測定システム ノイズ研究所　　　　　　ESS-B3011 3,630 電子技術部
E8370 ＥＭＩ予備測定システム HP　　　　　　　　　　  EMI簡易測定ｼｽﾃﾑ 3,520 〃
E8430 ガウスメータ（最小測定レンジ:2mT、最大測定レンジ:2T） ベル　　　　　　　　　　9200型 880 〃
E8431 ガウスメータ（最小測定レンジ:0.35mT、最大測定レンジ:3.5T） Lake shore Inc　　　　　 455型 1,320 〃
E8470 ＰＣベース計測器 横河電機　　　　　　　　WE700ｼｽﾃﾑ 660 情報・生産技術部
E8480 レーザ寸法測定器 キーエンス　　　　　　　LS-5000 220 〃
E8495 ＵＳＢ2.0バスアナライザ ヒロテック　　　　　　　HUSB 200 128MB 550 〃
E8500 ロジックアナライザー 日本テクトロニクス　　　TLA5201 1,540 機械・材料技術部

↑ 機器使用料金のトップへ

(9)温度熱量測定装置

№ 設　備　機　器　名 メーカー・型式 料金(円) 担当部名
E8530 赤外線温度分布測定機 日本バ-ンズ　　　　　　  ﾓﾃﾞﾙ600L 6,710 化学技術部
E8550 風合い計測システム カトーテック　　　　　　KES-F7ｻｰﾓﾗﾎﾞⅡ 3,190 〃
E8580 プラスチック用熱伝導率計 京都電子工業　　　　　　QTM-D3型 4,730 〃
E8610 熱機械試験機 マックサイエンス　　　　TMA-400 5,610 〃
E8620 赤外線放射計 日本バーンズ　　　　　　SA-200 8,140 〃

↑ 機器使用料金のトップへ

(10)その他の機器

№ 設　備　機　器　名 メーカー・型式 料金(円) 担当部名
E8711 振動試験機 IMV　　　　　　　　　VS-2000A-140T 4,950 機械・材料技術部
E8712 振動試験システム IMV　　　　　　　　　i250/SA5M 6,050 〃
E8713 制振性能測定装置 ブリュエルケアー　　　PULSE/MS-18143型 4,290 〃
E8720 高速冷却遠心機 クボタ　　　　　　　　6800 1,760 化学技術部
E8790 脱脂炉 ネムス　　　　　　　　MT-400 990 機械・材料技術部
E8810 混練機 森山　　　　　　　　　DSI-5GHH-E 2,640 〃
E8820 金属粉末射出成形装置 東芝機械　　　　　　　IS30EPN-1A 2,090 〃
E8840 電気炉 炉研工業　　　　　　　ﾏｯﾌﾙ型加熱炉 HI 1,210 〃
E8841 卓上型電気炉 柴田科学器械工業　　　ｽｰﾊﾟｰﾌｧｰﾈｽSF-17L 1,100 〃
E8870 ラバープレス（CIP) 日機装　　　　　　　　CL4-22-60 2,310 〃
E8910 乾式塗装ブース サンエス工業　　　　　DS-CSS-1200 1,760 化学技術部
E8960 制御雰囲気炉 同和工業　　　　　　　TMA 1,760 機械・材料技術部
E8970 熱間加工再現試験装置 富士電波工機　　　　　ｻｰﾒｯｸﾏｽﾀｰZ 11,330 〃
E8975 熱処理再現試験装置 富士電波工機　　　　　特注品FTA-153VTほか 9,130 〃
E8980 シリコニット箱型炉 シリコニット高熱工業　SFB-2040 880 〃
E9016 摩耗試験機（研磨紙使用無し） 東洋精機　　　　　　　NO410 GS10付   110 情報・生産技術部
E9040 濃縮機（遠心式濃縮機） タイテック　　　　　　VC-96N 110 化学技術部
E9060 フレンチプレス細胞破砕機 アミンコ　　　　　　　FA078 440 〃
E9061 マルチ検出モードプレートリーダー テカンジャパン　　　　Infinite200Pro 1,320 〃
E9090 電磁界解析装置 独国ＣＳＴ社　　　　　MW-Studio
　　　　　　　　　　　Transient Solver		 1,760 電子技術部

↑ 機器使用料金のトップへ

(11)設備

№ 設　備　機　器　名 メーカー・型式 料金(円) 担当部名
E9210 製品開発室 実験棟　１･２･４階 81 事業化支援部
E9220 ドラフトチャンバー（製品開発室） 実験棟　１階 234 〃

↑ 機器使用料金のトップへ

(12)ファブラボ

№ 設　備　機　器　名 メーカー・型式 料金(円) 担当部名
E9610 ファブラボ（Ⅰ） ３Dプリンタ使用可、装置類取扱い指導有 3,300 電子技術部
E9620 ファブラボ（Ⅱ） ３Dプリンタ使用可、装置類取扱い指導無 550 〃
E9630 ファブラボ（Ⅲ） ３Dプリンタ使用不可、装置類取扱い指導無 220 〃

↑ 機器使用料金のトップへ

試験計測等料金表　PDF版

令和2年度　試験計測等料金表(10月01日改訂）

※ 試験計測（依頼試験）、機器使用は、機器・設備の故障でやむを得ずサービスを停止しているものがありますので、事前にお問い合わせください。

減免について

試験計測（依頼試験）及び機器使用における手数料・使用料の減免について