試験計測(依頼試験)


海老名本部で行っている試験

材料や異物等の材質、成分、元素、物性の分析 


観察 | 定量分析 | ガスクロマトグラフ成分分析 | 液体クロマトグラフ成分分析 | 固体・表面分析 | 分光分析・有機物定性分析 | 試料調製 | 分光光度計 | X線構造解析 | 熱物性 | 粉体・表面性能 | 超臨界試験

工業材料や部品の強さ、硬さ、耐久性等の評価


金属・セラミックス・機械部品 | 木材 | 糸・繊維 | 塗膜・めっき・表面処理等 | プラスチック・ゴム物性試験 | 環境試験

機械機器、電気・電子部品等の性能の評価


電気・機械機器 | デバイス・実装 | 電磁環境・EMC | 温湿度・環境 | 音響・振動 | デザイン・造形 | 寸法測定・形状測定 | 非破壊検査 | 観察 | バッテリー・燃料電池

微生物・生化学・食品


微生物・生化学・食品

その他(成績書の複本・データ等の交付、研究生の指導)


成績書の複本・データ等の交付、研究生の指導

溝の口支所で行っている試験

材料解析分野


機器分析 走査型X線光電子分光分析装置(μ-XPS・μ-ESCA) | 機器分析 フーリエ変換赤外分光光度計 (FT-IR) | 機器分析 微小蛍光X線分析装置(XRF) | 機器分析 金属顕微鏡 | 機器分析 デジタルマイクロスコープ | 機器分析 マイクロフォーカスX線検査装置(μF-X線) | 機器分析 硬さ試験機 | 温湿度環境試験 | 電気計測試験

微細構造解析分野


電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM/EDS) | 高分解能分析走査電子顕微鏡(FE-SEM/EDS) | 電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS) | 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS) | TEM試料調製 | 集束イオンビーム装置(FIB) | マルチ解析用集束イオンビーム装置(FIB) | 画像解析システム

光機能分野


光触媒評価 光触媒JIS試験 | 光触媒評価 光触媒性能応用評価試験 | 太陽電池評価 | 光学特性評価 | 光劣化促進試験

試料前処理


試料前処理

成績書の複本の交付


成績書の複本の交付

技術開発受託報告書の作成


技術開発受託報告書の作成