X線光電子分光分析(B) 表面分析
X線光電子分光分析(B) 表面分析、表面局所分析
項目 | 内容 |
---|---|
試験名 | X線光電子分光分析(B) 表面分析 |
手数料No | E1880 |
分類 | |
内容 | 固体の表面から数百nmまでの元素組成及び化学状態の分析 |
補足説明 | |
使用機器例 | X線光電子分光分析装置 |
試験対象 | 固体 |
備考 | 1試料、1ヶ所につき |
担当 | 機械・材料技術部 |
- 「使用機器例」とは当試験のために使用する機器の名称で、クリックすると詳細説明がご覧になれます。
- 「手数料」とは当研究所職員がお客様のご依頼を受けて試験等を実施する場合の料金です。
- この他にオーダーメードでもお受けできます。