Ｘ線回折試験
Ｘ線回折試験，XRD，結晶構造解析
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| 試験名 | Ｘ線回折試験 |
| 手数料Ｎｏ | E2510, E2520, E2530 |
| 分類 | |
| 内容 | Ｘ線回折法による試料の結晶構造解析、スペクトル検索同定が可能です。薄膜X線装置では逆格子マッピングや薄膜法、反射率測定が可能です。 |
| 補足説明 | 試料形態等による分析装置を選択します。 |
| 使用機器例 | 粉末用Ｘ線回折装置 薄膜用Ｘ線回折装置 |
| 試験対象 | 粉末又は薄膜試料、無機材料・化合物、有機材料、複合素材 |
| 備考 | １試料1スペクトルにつき |
| 担当 | 電子技術部、化学技術部 |
- 「使用機器例」とは当試験のために使用する機器の名称で、クリックすると詳細説明がご覧になれます。
- 「手数料」とは当研究所職員がお客様のご依頼を受けて試験等を実施する場合の料金です。
- この他にオーダーメードでもお受けできます。