電子線マイクロアナライザ観測 試料調整
電子線マイクロアナライザ観測 試料調整(Cross Section Polishing)、クロスセクションポリッシャ、断面試料作製、イオン研磨、ＩＰ法、ＣＰ法、Ａｒイオン研磨
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| 試験名 | 電子線マイクロアナライザ観測 試料調整 |
| 手数料Ｎｏ | E2560 |
| 分類 | 材料や異物等の材質、成分、元素の分析／対象別分析／無機定性分析、材料や異物等の材質、成分、元素の分析／機器分析／表面分析等 |
| 内容 | イオンビームを用いた断面試料作製 |
| 補足説明 | クロスセクションポリシャ（Arイオンビーム研磨）による試料加工と観察 |
| 使用機器例 | FE-EPMA クロスセクションポリッシャ（日本電子製 SM-09010） 他 |
| 試験対象 | 金属材料、セラミックス材料、他 |
| 備考 | １試料につき |
| 担当 | 機械・材料技術部 |
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