電子線マイクロアナライザ観測 試料調整
電子線マイクロアナライザ観測 試料調整(Cross Section Polishing)、クロスセクションポリッシャ、断面試料作製、イオン研磨、IP法、CP法、Arイオン研磨
項目 | 内容 |
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試験名 | 電子線マイクロアナライザ観測 試料調整 |
手数料No | E2560 |
分類 | 材料や異物等の材質、成分、元素の分析/対象別分析/無機定性分析、材料や異物等の材質、成分、元素の分析/機器分析/表面分析等 |
内容 | イオンビームを用いた断面試料作製 |
補足説明 | クロスセクションポリシャ(Arイオンビーム研磨)による試料加工と観察 |
使用機器例 | FE-EPMA クロスセクションポリッシャ(日本電子製 SM-09010) 他 |
試験対象 | 金属材料、セラミックス材料、他 |
備考 | 1試料につき |
担当 | 機械・材料技術部 |
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