走査型プローブ顕微鏡観察
走査型プローブ顕微鏡観察、SPM、原子間力顕微鏡、AFM
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| 試験名 | 走査型プローブ顕微鏡観察 |
| 手数料Ｎｏ | E1780 |
| 分類 | 機械装置、電気・電子部品等の性能評価試験／電気・電子関係の試験／その他の試験 |
| 内容 | 走査プローブ顕微鏡(SPM)は先端サイズがナノスケール程度のプローブを試料表面に接近させ、プローブ先端と試料間との相互作用を制御することにより形状、その他の特性を計測します。 |
| 補足説明 | |
| 使用機器例 | |
| 試験対象 | 電子材料 |
| 備考 | 標準１条件１測定につき |
| 担当 | 電子技術部 |
- 「使用機器例」とは当試験のために使用する機器の名称で、クリックすると詳細説明がご覧になれます。
- 「手数料」とは当研究所職員がお客様のご依頼を受けて試験等を実施する場合の料金です。
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