走査型プローブ顕微鏡観察
走査型プローブ顕微鏡観察、SPM、原子間力顕微鏡、AFM
項目 | 内容 |
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試験名 | 走査型プローブ顕微鏡観察 |
手数料No | E1780 |
分類 | 機械装置、電気・電子部品等の性能評価試験/電気・電子関係の試験/その他の試験 |
内容 | 走査プローブ顕微鏡(SPM)は先端サイズがナノスケール程度のプローブを試料表面に接近させ、プローブ先端と試料間との相互作用を制御することにより形状、その他の特性を計測します。 |
補足説明 | |
使用機器例 | |
試験対象 | 電子材料 |
備考 | 標準1条件1測定につき |
担当 | 電子技術部 |
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