ミクロトームを活用したＨＩＰＳ（耐衝撃性ポリスチレン）のＳＥＭ観察
事例
ＨＩＰＳを広範囲で観察し、サブミクロン領域のモルフォ
ロジー評価をしたい。
使用機器
高分解能分析走査電子顕微鏡（FE-SEM）
ウルトラミクロトーム
納期予定
サンプル到着後、1週間から10日で結果速報。
測定例
主に軟らかい材料に使用
例：高分子、軟金属
利用料金項目
| 項目 | 単位 | 数量 |
|---|---|---|
| 試料前処理 | 処理時間30分につき | 4 |
| 電子染色 | 1試料につき | 1 |
| ウルトラミクロトーム | 1試料につき | 1 |
| 分析走査電子顕微鏡（FE-SEM）
観察倍率 5万倍未満 |
1試料1視野観察につき | 1 |
| 同一試料において1視野追加観察につき | 1 |
川崎技術支援部
ＴＥＬ：044-819-2105 ＦＡＸ：044-819-2108
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