分析・評価機器(組成分析)
元素分析
- ICP発光分光分析装置(シーケンシャル型)
- 蛍光X線分析装置(エネルギー分散方式)
- 蛍光X線分析装置(波長分散方式)
- 原子吸光分光光度計
- CHN元素分析装置
- 全有機炭素および全窒素測定装置
- 炭素・硫黄分析装置
- 電子線マイクロアナライザ(FE−EPMA)
- 高分解能分析走査電子顕微鏡(FE-SEM/EDS)
- 電界放出型透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)
- 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)
- マルチ解析用集束イオンビーム装置(FIB-SEM/EDS/EBSD)
- 微小部蛍光X線分析装置(XRF)
成分分析
page top組成分析
page top結晶構造解析
- 多目的X線回折装置
- 顕微レーザーラマン分光測定装置
- 電界放出型透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)
- 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)
- マルチ解析用集束イオンビーム装置(FIB-SEM/EDS/EBSD)
クロマトグラフ分析・質量分析
- イオンクロマトグラフ(IC-2001)
- ガスクロマトグラフ
- ガスクロマトグラフ質量分析計(GC/MS)
- ガスクロマトグラフ質量分析計
- ヘッドスペースガスクロマトグラフ
- ガスクロマトグラフ質量分析装置
- キャピラリーガスクロマトグラフ
- 高速液体クロマトグラフ-質量分析装置
- 飛行時間型質量分析装置
- LC/MS/MS(リチウムイオン電池電解液評価分析システム)