画像解析式粒度分布計


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共焦点レーザーラマン顕微鏡に、粒度解析ソフトウエアを搭載した、分析機能付き粒度分布計です。粒子を光学顕微鏡で観察して、自動画像解析によって粒径分布(粒度分布)を評価します。精密ステージを備えており、多視野を画像合成(モンタージュ)するため、一度に多数の粒子を観察できます。付属の真空分散器を使えば、粒子の凝集状態をほぐして観察基板上に展開できます。

【用途・特徴】
主として乾燥した粉末が対象ですが、平坦な基材に捕集された粒子、透明材料に埋め込まれた粒子(例 メタリック塗装)、液中分散した粒子なども対応可能です。なお、装置本体は共焦点ラマン顕微鏡ですので、粒子に限らず様々なサンプル形状のラマン分光分析ができます。異物などのピンポイント分析や、指定した面内全体の高速マッピング測定などが行えます。

用途・特徴について

主として乾燥した粉末が対象ですが、平坦な基材に捕集された粒子、透明材料に埋め込まれた粒子(例 メタリック塗装)、液中分散した粒子なども対応可能です。なお、装置本体は共焦点ラマン顕微鏡ですので、粒子に限らず様々なサンプル形状のラマン分光分析ができます。異物などのピンポイント分析や、指定した面内全体の高速マッピング測定などが行えます。

ご利用方法

試験計測(依頼試験) , 技術開発受託(受託研究) で利用できます。

 *試験計測(依頼試験)の詳細についてはこちらをご確認ください。

 *技術開発受託(受託研究) の詳細についてはこちらをご確認ください。

料金について

この機器を使用した依頼試験の料金は以下の通りです。

粒径分布測定(光学顕微鏡による画像解析式)
粒径分布測定(光学顕微鏡による画像解析式) 1視野追加

メーカー

株式会社堀場製作所製

型番

XploRA PLUS

導入年度

平成29年度
  • この装置に関連するお問い合わせ
  • 担当:機械・材料技術部 ナノ材料グループ
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