画像解析式粒度分布計

この装置について


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共焦点レーザーラマン顕微鏡に、粒度解析ソフトウエアを搭載した、分析機能付き粒度分布計です。光学顕微鏡観察で粒子画像を取得し、コンピューターで自動的に粒子形状パラメーターを抽出して、粒度分布ヒストグラムを得ることができます。レーザーの波長は、532 nmです。真空噴霧による乾式分散器を備えています。

用途・特徴について

ソフトウエアとハードウエアとの連動により、粒度解析した一つ一つの粒子に対して、ラマンスペクトルを取得することができます。この機能により、未知試料の同定や、混合試料の個別粒度解析も可能になります。また、本体ハードウエアは、共焦点ラマン顕微鏡ですので、粒子に限らず、様々なサンプル形状のラマンスペクトル測定ができます。異物などのピンポイント分析や、指定した面内全体の高速マッピング測定などが行えます。

ご利用方法

試験計測(依頼試験) , 技術開発受託(受託研究) で利用できます。

 *試験計測(依頼試験)の詳細についてはこちらをご確認ください。

 *技術開発受託(受託研究) の詳細についてはこちらをご確認ください。

手数料または使用料NO.

この機器を使用した料金表の項目は以下の通りです。

■ 料金表 (試験計測料金)

項目番号項目単位手数料(円)
E4181粒径分布測定(光学顕微鏡による画像解析式)1試料、合成画像1視野につき4,400
E4182粒径分布測定(光学顕微鏡による画像解析式) 1視野追加合成画像1視野追加につき2,200

メーカー

株式会社堀場製作所製

型番

XploRA PLUS

導入年度

2017

 

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  • 担当:機械・材料技術部 ナノ材料グループ
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