KEC法による電磁波シールド材のシールド効果測定

電子技術部電磁環境グループではKEC法(KEC関西電子工業振興センター)による電磁波シールド材のシールド効果測定を行っています。
KEC法は電波暗室などの大掛かりな設備を用いることなく、また、サンプルの複雑な加工をすることなく、シート状の電磁波シールド材の近傍界の電界・磁界のシールド効果を測定する装置です（図1）。測定冶具は、上下対称の構造となっており、電界・磁界の送・受信アンテナの間にシート状の電磁波シールド材を挿入し、空の状態と比較することでシールド効果を測定します(図2)。
測定周波数範囲は100kHz～1GHz、測定可能なサンプル形状は150mm×150mm、厚さ5mm以下となっています。

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• 図1　電界用測定冶具

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• 図2　磁界用測定冶具

図3に近傍電界に対するシールド効果の測定例、図4に近傍磁界に対するシールド効果の測定例を示します。

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• 図3　近傍電界に対するシールド効果の測定例

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• 図4　近傍磁界に対するシールド効果の測定例

測定したサンプルは市販の電磁波シールド材、網目が細かい金属メッシュ、網目が粗い金属メッシュです。図中の測定限界は、測定治具に付属の銅板により測定したものです。
選定した市販のシールド材では、近傍磁界に対しては効果がないことが分かります。また、網目が細かい金属メッシュの方が粗いものよりシールド効果が高くなっています。さらに、周波数によりシールド効果が変化することも分かります。

同様の事例については、 試験計測（依頼試験） でご利用いただけます。

参考料金は以下の通りです。

料金表 (試験計測料金)

項目番号	項目	単位	手数料
E1581	電磁波シールド効果測定 (100kHz～1GHz、 KEC法)	１試料１測定（電界または磁界）につき	5,940

詳細はお問い合わせください。

今回のKEC法による電磁波シールド材のシールド効果測定の事例については、以下の関連ページもご参照ください。 電磁波シールド効果測定 (100kHz～1GHz、KEC法)