FE-SEM(電界放出型電子顕微鏡)によるTiO₂ナノチューブの観察

作製方法の異なる2種類のTiO2ナノチューブの形態観察を行いました。
<使用機器> 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)
<作業工程> サンプル固定(試料前処理)  →  SEM観察
<納期> 担当職員にお問い合わせください。

観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。ご要望に応じて見積書を作成いたします。

観察例

広い視野から数十nmの領域まで観察可能
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  • 図1 
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  • 図2 
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ご利用を希望される方へ

同様の事例については、 試験計測(依頼試験) でご利用いただけます。

参考料金は以下の通りです。

料金表 (試験計測料金)

項目番号項目単位手数料
K1010電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM) 5万倍以下観察倍率5万倍以下 1条件につき19,800
K1015電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)   5万倍以下 条件追加観察倍率5万倍以下 1条件追加につき4,400
K1020電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)   5万倍を超えて10万倍以下観察倍率5万倍を超えて10万倍以下 1条件につき28,600
K1025電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)   5万倍を超えて10万倍以下 条件追加観察倍率5万倍を超えて10万倍以下 1条件追加につき8,800
K1030電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)   10万倍を超えるもの観察倍率10万倍を超えるもの 1条件につき50,600
K1035電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)   10万倍を超えるもの 条件追加観察倍率10万倍を超えるもの 1条件追加につき14,300
K4120試料前処理(切断、導電処理等)処理時間30分につき1,540

詳細はお問い合わせください。
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  • 担当:川崎技術支援部 
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