FE-SEM（電界放出型電子顕微鏡）によるTiO₂ナノチューブの観察

作製方法の異なる2種類のTiO2ナノチューブの形態観察を行いました。
＜使用機器＞　電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）
＜作業工程＞　サンプル固定（試料前処理）　　→　　SEM観察
＜納期＞　担当職員にお問い合わせください。

観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。ご要望に応じて見積書を作成いたします。

広い視野から数十nmの領域まで観察可能

同様の事例については、試験計測（依頼試験）でご利用いただけます。

参考料金は以下の通りです。

料金表 (試験計測料金)

項目番号	項目	単位	手数料
K1010	電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）　５万倍以下	観察倍率５万倍以下　１条件につき	19,800
K1015	電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）　　５万倍以下　条件追加	観察倍率５万倍以下　１条件追加につき	4,400
K1020	電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）　　５万倍を超えて10万倍以下	観察倍率５万倍を超えて10万倍以下　１条件につき	28,600
K1025	電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）　　５万倍を超えて10万倍以下　条件追加	観察倍率５万倍を超えて10万倍以下　１条件追加につき	8,800
K1030	電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）　　 10万倍を超えるもの	観察倍率10万倍を超えるもの　１条件につき	50,600
K1035	電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）　　 10万倍を超えるもの　条件追加	観察倍率10万倍を超えるもの　１条件追加につき	14,300
K4120	試料前処理（切断、導電処理等）	処理時間30分につき	1,540

詳細はお問い合わせください。