電子線後方散乱回折(EBSD)法による結晶方位測定

項目 内容
項目番号 E1790
単位 1視野測定につき
手数料 46,750円
担当部署 機械・材料技術部 材料物性グループ
分類 材料や異物の材質、成分、元素、物性の分析
内容 走査電子顕微鏡に付属された電子線後方散乱回折(EBSD)図形を観測する装置を用いて、観察視野内での結晶方位分布を知ることができます。
補足説明 走査電子顕微鏡:日本電子製 JSM-7800F Prime 電子線後方散乱回折観測装置:オックスフォードインストゥルメンツ社製 AZtec HKL
該当する機器名 高分解能走査電子顕微鏡
試験対象 金属材料、無機材料など
備考
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