平面イオンミリング法 （大きい試料用） A：容易な試料 項目 内容 項目番号 K4260 単位 １試料につき 手数料 11,220円 担当部署 川崎技術支援部 分類 内容 補足説明 該当する機器名 試験対象 備考 この試験に関連するお問い合わせ 担当：川崎技術支援部 その他の技術相談はこちらから