K4260
項目 | 内容 |
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試験名 | 平面イオンミリング法 (大きい試料用) A:容易な試料 |
単位 | 1試料につき |
手数料 | 11000円 |
担当部署 |
川崎技術支援部
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分類 | Array |
内容 | |
補足説明 | |
機器番号 | |
試験対象 | |
備考 |
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項目 | 内容 |
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試験名 | 平面イオンミリング法 (大きい試料用) A:容易な試料 |
単位 | 1試料につき |
手数料 | 11000円 |
担当部署 |
川崎技術支援部
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分類 | Array |
内容 | |
補足説明 | |
機器番号 | |
試験対象 | |
備考 |