K4260

項目 内容
試験名 平面イオンミリング法　（大きい試料用）　　A：容易な試料
単位 １試料につき
手数料 11000円
担当部署 川崎技術支援部　
　
分類 Array
内容
補足説明
機器番号
試験対象
備考
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