FE-TEM（電界放出型透過電子顕微鏡）による複合ナノ粒子の観察

酸化チタン微粒子に金を担持させた触媒の酸化チタンや金の分散状態、粒子径をTEM観察で明らかにしました。
＜使用機器＞　FE-TEM（電界放出型透過電子顕微鏡）
＜作業工程＞　試料前処理（分散ふりかけ法）　　→　　TEM観察
＜納　　期＞　担当職員にお問い合わせください。

同様の事例については、 試験計測（依頼試験） でご利用いただけます。

参考料金は以下の通りです。

料金表 (試験計測料金)

項目番号	項目	単位	手数料
K1410	TEM試料調製　分散法　ふりかけ法	ふりかけ法　１試料につき	5,500
K1441	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）10万倍を超えて50万倍以下	倍率　10万倍を超えて50万倍以下　１視野につき	23,100
K1451	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）200万倍を超えるもの	倍率　200万倍を超えるもの　１視野につき	46,200
K1456	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）200万倍を超えるもの １視野増	倍率　200万倍を超えるもの　１視野増すごとに	27,500

観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。ご要望に応じて見積書を作成いたします。

詳細はお問い合わせください。