FE-TEM(電界放出型透過電子顕微鏡)による複合ナノ粒子の観察

酸化チタン微粒子に金を担持させた触媒の酸化チタンや金の分散状態、粒子径をTEM観察で明らかにしました。
<使用機器> FE-TEM(電界放出型透過電子顕微鏡)
<作業工程> 試料前処理(分散ふりかけ法)  →  TEM観察
<納  期> 担当職員にお問い合わせください。

測定例

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  • 図1 金粒子担持酸化チタンTEM像
  • 図1 金粒子担持酸化チタンTEM像

ご利用を希望される方へ

同様の事例については、 試験計測(依頼試験) でご利用いただけます。

参考料金は以下の通りです。

料金表 (試験計測料金)

項目番号項目単位手数料
K1410TEM試料調製 分散法 ふりかけ法ふりかけ法 1試料につき5,500
K1441電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)10万倍を超えて50万倍以下倍率 10万倍を超えて50万倍以下 1視野につき23,100
K1451電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)200万倍を超えるもの倍率 200万倍を超えるもの 1視野につき46,200
K1456電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)200万倍を超えるもの 1視野増倍率 200万倍を超えるもの 1視野増すごとに27,500

観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。ご要望に応じて見積書を作成いたします。

詳細はお問い合わせください。
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  • 担当:川崎技術支援部 
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