FE-TEM(電界放出型透過電子顕微鏡)による複合ナノ粒子の観察
酸化チタン微粒子に金を担持させた触媒の酸化チタンや金の分散状態、粒子径をTEM観察で明らかにしました。
<使用機器> FE-TEM(電界放出型透過電子顕微鏡)
<作業工程> 試料前処理(分散ふりかけ法) → TEM観察
<納 期> 担当職員にお問い合わせください。
測定例
- 図1 金粒子担持酸化チタンTEM像
ご利用を希望される方へ
同様の事例については、 試験計測(依頼試験) でご利用いただけます。
参考料金は以下の通りです。
料金表 (試験計測料金)
項目番号 | 項目 | 単位 | 手数料 |
---|---|---|---|
K1410 | TEM試料調製 分散法 ふりかけ法 | ふりかけ法 1試料につき | 5,500 |
K1441 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)10万倍を超えて50万倍以下 | 倍率 10万倍を超えて50万倍以下 1視野につき | 23,100 |
K1451 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)200万倍を超えるもの | 倍率 200万倍を超えるもの 1視野につき | 46,200 |
K1456 | 電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)200万倍を超えるもの 1視野増 | 倍率 200万倍を超えるもの 1視野増すごとに | 27,500 |
観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。ご要望に応じて見積書を作成いたします。
詳細はお問い合わせください。- この分析事例に関連するお問い合わせ
- 担当:川崎技術支援部
- その他の技術相談はこちらから