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サービス・事例・機器検索
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インタオぺラビリティ試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品の従来品との互換性を確認します。CC-Link協会コンフォー...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
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ホール効果測定
試料に電圧を印可して電流測定を行うことで抵抗率（比抵抗）を評価します。また、磁場を印可することで伝導...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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光干渉式膜厚測定
半導体プロセスにおける各種膜を光学式により非接触で膜厚測定します。 【試験対象】 SiO2（酸...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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光触媒の窒素酸化物除去性能試験
JISR1701-1 光触媒 空気浄化 窒素酸化物除去性能試験 JIS R 1701-1 ファ...
川崎技術支援部
- 性能評価
- 光触媒評価
- 光触媒
- #空気浄化
- #光触媒
- #JIS
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光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験
JISR1701-2 光触媒 空気浄化 アセトアルデヒド除去性能試験 JIS R 1701-2...
川崎技術支援部
- 性能評価
- 光触媒評価
- 光触媒
- #空気浄化
- #光触媒
- #JIS
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フォトルミネッセンス測定
試料に光を照射して物質が発する光（蛍光）を定性、定量評価。 半導体、蛍光体の発光特性評価より、不純物...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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高分解能（１nm以下）フォトルミネッセンス測定
半導体中の不純物（ドーピング元素）をスペクトルピーク値から定性分析し、ピーク強度から半定量分析します...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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酸化拡散試験
酸素や水蒸気を利用し、Si（シリコン）ウェハへ熱酸化により、酸化膜の形成を行います。また、Siウエハ...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #薄膜作成・成膜
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光触媒のホルムアルデヒド除去性能試験
JISR1701-4 光触媒 空気浄化 ホルムアルデヒド除去性能試験 JIS R 1701-4...
川崎技術支援部
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- 光触媒評価
- 光触媒
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- #JIS
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相互接続性試験（FL-net）
FL-netに接続するための新規の製品のネットワーク上での動作をJEM1480の試験方法により確認し...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
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- 電気・電子製品
- #性能評価
- #FL-net
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レーザーマーキング
分析箇所の特定のため、レーザーマーカーを用いマーキングを行います。レーザーマーカーは試料表面をCCD...
川崎技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #レーザ加工
- #微細加工
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集束イオンビーム装置観察（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）[Scios LoVacシステム]
FIB-SEM scios 最新のFIB-SEMです。局所領域の断面加工と観察、TEM試料作製...
川崎技術支援部
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