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サービス・事例・機器検索
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低温光特性評価
クライオスタットを用いて５Kまでの極低温に冷却が可能です。ガラス窓を備えており、光学特性評価が可能で...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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光干渉式膜厚測定
半導体プロセスにおける各種膜を光学式により非接触で膜厚測定します。 【試験対象】 SiO2（酸...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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ホール効果測定
試料に電圧を印可して電流測定を行うことで抵抗率（比抵抗）を評価します。また、磁場を印可することで伝導...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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画像解析システム
FIB-SEMで取得した画像を画像解析システムにて、三次元再構築等の画像解析を行います。
川崎技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #画像解析
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エージング試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品のネットワーク上での耐久性を確認します。 【試験対象】...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
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フォトルミネッセンス測定
試料に光を照射して物質が発する光（蛍光）を定性、定量評価。 半導体、蛍光体の発光特性評価より、不純物...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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ノイズ試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品にノイズを加えた時の動作を確認します。 【試験対象】 ...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
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レーザーマーキング
分析箇所の特定のため、レーザーマーカーを用いマーキングを行います。レーザーマーカーは試料表面をCCD...
川崎技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #レーザ加工
- #微細加工
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相互接続性試験（FL-net）
FL-netに接続するための新規の製品のネットワーク上での動作をJEM1480の試験方法により確認し...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #FL-net
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集束イオンビーム装置観察（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）[Scios LoVacシステム]
FIB-SEM scios 最新のFIB-SEMです。局所領域の断面加工と観察、TEM試料作製...
川崎技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
- #微細加工
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光触媒のセルフクリーニング試験
光触媒材料のセルフクリーニング性能試験 JIS R 1703-1 水接触角 JIS R 1703-...
川崎技術支援部
- 性能評価
- 光触媒評価
- 光触媒
- #光触媒
- #JIS
- #親水性
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光触媒のトルエン除去性能試験
JISR1701-3 光触媒 空気浄化 トルエン除去性能試験 JIS R 1701-3 ファイ...
川崎技術支援部
- 性能評価
- 光触媒評価
- 光触媒
- #空気浄化
- #光触媒
- #JIS