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料金表PRICE LIST

KISTECに試験を依頼される際と、機器をご利用になる際の料金をお探しいただけます。

料金表に掲載の項目のほか、ご相談内容に応じて、料金表に無い試験を算定し、ご提示できる場合もございます。お気軽に無料技術相談フォームよりご相談ください。

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    ご利用上の注意

    1. 料金は全て消費税を含んでいます。
    2. この料金表に掲げる以外に実施可能な項目及び使用可能な設備機器もあります。詳細は担当各部へお問い合わせください。
    3. 機器の更新等により項目及び設備機器名並びに料金の額を変更する場合があります。
    4. 担当部名欄のE及びKの表示は、同一試験項目の各拠点の該当する料金番号を示しています。 (E 海老名本部、K 溝の口支所)

    材料分析

    定量分析

    定量分析(A) (容易なもの)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1810 定量分析(A) (容易なもの) 1試料,1成分につき(容易なもの) 10,450円 化学技術部

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    定量分析(B)(複雑なもの)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1820 定量分析(B) (複雑なもの) 1試料,1成分につき(複雑なもの) 12,650円 化学技術部

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    炭素・硫黄分析装置による定量分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1821 炭素・硫黄分析装置による定量分析(A) (容易なもの) 1試料,1成分につき(容易なもの) 9,130円 化学技術部
    E1822 炭素・硫黄分析装置による定量分析(B) (複雑なもの) 1試料,1成分につき(複雑なもの) 13,530円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    原子吸光分析法による定量分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1831 原子吸光分析法による定量分析(A) (容易なもの) 1試料,1成分につき(容易なもの) 9,240円 化学技術部
    E1832 原子吸光分析法による定量分析(B) (複雑なもの) 1試料,1成分につき(複雑なもの) 13,970円 化学技術部

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    ICP発光分光分析法による定量分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1891 ICP発光分光分析法による定量分析(A) (容易なもの) 1試料,1成分につき(容易なもの) 9,130円 化学技術部
    E1892 ICP発光分光分析法による定量分析(B) (複雑なもの) 1試料,1成分につき(複雑なもの) 13,640円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    ICP発光分光分析法による定性分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1911 ICP発光分光分析法による定性分析 1試料につき,基本10元素まで 20,790円 化学技術部
    E1921 ICP発光分光分析法による定性分析 1元素増 1試料につき,1元素増すごとに 1,980円 化学技術部

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    カールフィッシャー水分測定(直接法)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1930 カールフィッシャー水分測定(直接法) 1条件,1試料につき 12,320円 化学技術部
    E1931 カールフィッシャー水分測定(直接法) 1試料増 1試料増すごとに 7,040円 化学技術部

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    カールフィッシャー水分測定(加熱気化法)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1932 カールフィッシャー水分測定(加熱気化法) 1条件,1試料につき 15,070円 化学技術部
    E1933 カールフィッシャー水分測定(加熱気化法) 1試料増 1試料増すごとに 10,340円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    分光蛍光光度計試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2110 分光蛍光光度計試験 1スペクトルにつき 9,680円 化学技術部

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    CHN元素分析装置による定量分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2610 CHN元素分析装置による定量分析 1試料につき 18,700円 化学技術部

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    水質試験(A)(容易なもの)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4010 水質試験(A) (容易なもの) 1項目につき (容易なもの) 6,710円 化学技術部

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    水質試験(B)(複雑なもの)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4020 水質試験(B) (複雑なもの) 1項目につき (複雑なもの) 10,560円 化学技術部

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    溶出検液作成

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4030 溶出検液作成(A) (6成分以下) 1試料につき (6成分以下) 4,840円 化学技術部
    E4040 溶出検液作成(B) (7成分以上) 1試料につき (7成分以上) 9,020円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

    • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E7170 分光蛍光光度計 日立 F-4010 4,400円 化学技術部

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    ガスクロマトグラフ成分分析

    ガスクロマトグラフによる分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2225 ガスクロマトグラフによる分析 1試料につき 11,220円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    ガスクロマトグラフ定量分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2235 ガスクロマトグラフ定量分析 1試料1成分につき 16,060円 化学技術部
    E2236 ガスクロマトグラフ定量分析 1成分増 1成分増すごとに 6,490円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    ヘッドスペースガスクロマトグラフによる分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2265 ヘッドスペースガスクロマトグラフによる分析 1試料につき 16,500円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2275 ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析 1試料1成分につき 22,770円 化学技術部
    E2276 ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析 1成分増 1成分増すごとに 6,490円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2310 ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS) 1試料1成分につき 44,770円 化学技術部
    E2311 ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS) 定性分析 1成分増 1成分増すごとに 5,720円 化学技術部
    E2312 ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS) 定量分析 1成分増 1成分増すごとに 6,710円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    ヘッドスペースGCMS分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2330 ヘッドスペースGCMS分析 1試料1成分につき 57,860円 化学技術部
    E2331 ヘッドスペースGCMS分析  定性分析 1成分増 1成分増すごとに 5,720円 化学技術部
    E2332 ヘッドスペースGCMS分析  定量分析 1成分増 1成分増すごとに 6,710円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    サーマルデソープションGCMS分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2340 サーマルデソープションGCMS分析 1試料1成分につき 62,150円 化学技術部
    E2341 サーマルデソープションGCMS分析 定性分析 1成分増 1成分増すごとに 5,720円 化学技術部
    E2342 サーマルデソープションGCMS分析 定量分析 1成分増 1成分増すごとに 6,710円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    化学イオン化(CI)法によるGCMS分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2350 化学イオン化(CI)法によるGCMS分析 1試料につき (E2310, E2330, E2340に適用) 12,980円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    熱分解GCMS分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2360 熱分解GCMS分析 1試料1成分につき 58,850円 化学技術部
    E2361 熱分解GCMS分析 定性分析 1成分増 1成分増すごとに 5,720円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

    • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
     
    該当する情報はありません

    液体クロマトグラフ成分分析

    イオンクロマトグラフ分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2211 イオンクロマトグラフ分析(1) (一般的なもの) 1測定につき 17,600円 化学技術部
    E2212 イオンクロマトグラフ分析(2) (特殊なもの) 1測定につき 22,440円 化学技術部
    E2215 試料調製(溶出前処理) E2211, E2212に適用 4,730円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    高速液体クロマトグラフ分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2281 高速液体クロマトグラフ分析 (分析条件検討を含まない) 1試料1成分につき 12,320円 化学技術部
    E2282 高速液体クロマトグラフ分析 (簡単な分析条件を含む) 1試料1成分につき 31,460円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    液体クロマトグラフ-質量分析(飛行時間型)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2290 液体クロマトグラフ-質量分析 (飛行時間型) 
    (分析条件検討を含まない)
    1試料1成分につき 47,960円 化学技術部
    E2291 液体クロマトグラフ-質量分析 (飛行時間型) 
    (簡単な分析条件の検討)
    1試料につき (E2290に適用) 25,520円 化学技術部
    E2292 液体クロマトグラフ-質量分析 (飛行時間型) 
    定性分析1成分増
    1成分増すごとに 4,510円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    液体クロマトグラフ-質量分析(四重極型)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2294 液体クロマトグラフ-質量分析 (四重極型) 
    (分析条件検討を含む)
    1試料1成分につき 41,360円 化学技術部
    E2295 液体クロマトグラフ-質量分析 (四重極型) 
    (分析条件検討を含まない)
    1試料1成分につき 21,010円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

    • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
     
    該当する情報はありません

    固体・表面分析

    X線光電子分光分析(走査型・XPS)表面分析(ワイドスキャンのみ)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5002 X線光電子分光分析(走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ) 1試料1ヶ所につき(ワイドスキャンのみ) 27,610円 川崎技術支援部
    K5005 X線光電子分光分析
    (走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ) 追加試料
    追加1試料1ヶ所につき(ワイドスキャンのみ) 21,780円 川崎技術支援部
    K5007 X線光電子分光分析
    (走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ) 条件増
    1条件増すごとに(ワイドスキャンのみ) 5,610円 川崎技術支援部

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    電子線マイクロアナライザ観測(FE-EPMA)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2570 電子線マイクロアナライザ観測(FE-EPMA) 1ヶ所につき 29,370円 機械・材料技術部
    E2581 エネルギー分散型X線分析(EDS・FE-EPMAによる) 1ヶ所につき(E2570, E2580に適用) 7,260円 機械・材料技術部
    E2582 表面観察(FE-EPMAによる) 1ヶ所増 同一試料で1ヶ所増すごとに(E2570, E2580に適用) 4,510円 機械・材料技術部
    E2590 電子線マイクロアナライザ観測(FE-EPMA) 追加分析 1ヶ所につき(E2570, E2580に適用) 9,130円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    蛍光X線法による微小部定性分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1841 蛍光X線法(XRF)による微小部定性分析 1試料,1ヶ所につき 9,570円 化学技術部
    E1842 蛍光X線法(XRF)による微小部定性分析 1条件増 1条件増すごとに 3,520円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    蛍光X線定性分析(波長分散方式)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1860 蛍光X線定性分析(XRF)(波長分散方式) 1試料につき 22,440円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    X線光電子分光分析(XPS)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1882 X線光電子分光分析(XPS) (簡単なもの)  1試料1ヶ所につき 18,150円 機械・材料技術部
    E1884 X線光電子分光分析(XPS) (簡単なもの) 条件増 1条件増すごとに 8,250円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    X線光電子分光分析(走査型・XPS)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1980 X線光電子分光分析(走査型・XPS・ワイドスキャンのみ) 1試料1ヶ所につき 15,840円 機械・材料技術部
    E1982 X線光電子分光分析
    (走査型・XPS・ワイドおよびナロースキャン)
    1試料1ヶ所につき(6元素まで) 23,540円 機械・材料技術部
    E1984 X線光電子分光分析(走査型・XPS・面分析,線分析) 1試料1ヶ所につき(5元素まで) 24,640円 機械・材料技術部
    E1986 X線光電子分光分析(走査型・XPS・深さ方向分析) 1試料1ヶ所につき(6元素まで) 37,180円 機械・材料技術部
    E1990 X線光電子分光分析(走査型・XPS) 条件増 1条件増すごとに 5,720円 機械・材料技術部
    E1992 X線光電子分光分析(走査型・XPS) 元素増(1) 1元素増すごとに(E1982, E1984に適用) 4,950円 機械・材料技術部
    E1994 X線光電子分光分析(走査型・XPS) 元素増(2) 1元素増すごとに(E1986に適用) 7,370円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    X線光電子分光分析(走査型・XPS)深さ方向分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5010 X線光電子分光分析(走査型・XPS・深さ方向分析)  1試料1条件につき
    (主成分のみ、深さ0.2μmまで)
    82,940円 川崎技術支援部
    K5015 X線光電子分光分析(走査型・XPS・深さ方向分析) 条件増 1条件増すごとに 11,330円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    X線光電子分光分析(走査型・XPS)表面分析(ワイドおよびナロースキャン)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5011 X線光電子分光分析
    (走査型・XPS・表面分析・ワイドおよびナロースキャン)
    1試料1条件につき
    (ワイドおよびナロースキャン)
    49,060円 川崎技術支援部
    K5012 X線光電子分光分析
    (走査型・XPS・表面分析・ワイドおよびナロースキャン)  条件増
    1条件増すごとに(面分析、状態分析加算等) 11,330円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    微小部蛍光X線分析(XRF)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1210 微小部蛍光X線分析(XRF) 1試料1条件につき 7,590円 川崎技術支援部
    K1211 微小部蛍光X線分析(XRF) 条件追加 1条件追加につき 3,520円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    微小部蛍光X線分析(XRF) 面分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1212 微小部蛍光X線分析(XRF) 面分析 面分析1条件につき(5元素まで) 12,100円 川崎技術支援部
    K1213 微小部蛍光X線分析(XRF) 面分析  条件追加 面分析1条件追加につき 2,530円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    機器使用

    • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    K2210 微小部蛍光X線分析装置(XRF) [SEA6000VX HSFinder] SII社  SEA6000VX HSFinder 6,050円 川崎技術支援部

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    有機物定性分析

    フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5050 フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR)  簡易な測定 1試料1条件につき 10,230円 川崎技術支援部
    K5055 フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR) 1試料1条件につき 20,350円 川崎技術支援部
    K5056 フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR)  条件追加 1条件追加につき 8,030円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2021 フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR) 1スペクトルにつき 20,350円 化学技術部、機械・材料技術部
    E2023 フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR)用微小試料調製 1試料につき 3,410円 化学技術部、機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    顕微レーザーラマン分光分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2080 顕微レーザーラマン分光分析 1試料1ヶ所につき 20,460円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    飛行時間型質量分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2631 飛行時間型質量分析 1試料1測定につき 29,810円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    電子スピン共鳴分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2651 電子スピン共鳴分析(A)(基本測定) 1試料1スペクトルにつき 22,220円 機械・材料技術部
    E2652 電子スピン共鳴分析(B)(特殊測定・定量) 1試料1スペクトルにつき 38,940円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

    • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    K6050 フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR) 
    [FT/IR-6300FV・IRT-7000]
    日本分光  FT/IR-6300FV・IRT-7000 9,680円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    X線構造解析

    X線回折試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2510 X線回折試験 (Ι) 粉末X線回折 1試料につき 24,090円 電子技術部
    E2520 X線回折試験 (Ⅱ) 高度な粉末X線回折・薄膜X線回折 1試料につき 36,630円 電子技術部
    E2530 X線回折試験 (Ⅲ) 高度な薄膜X線回折 1試料につき 56,650円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

    • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
     
    該当する情報はありません

    試料調製

    試料調製

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1801 試料調製(1)(一般的な前処理) E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 10,890円 化学技術部
    E1802 試料調製(2)(複雑な前処理) E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 14,300円 化学技術部
    E1803 試料調製(3)(困難な前処理) E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 21,230円 化学技術部
    E1804 試料調製(4)(非常に困難な前処理) E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 29,150円 化学技術部
    E1805 切粉作製(A)(加工が容易なもの) E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 3,080円 化学技術部
    E1806 切粉作製(B)(加工がやや難しいもの) E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 10,560円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

    • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
     
    該当する情報はありません

    材料観察

    外観観察

    顕微鏡試料調製

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5120 顕微鏡試料調製(第1種):容易なもの 1試料につき 1,980円 川崎技術支援部
    K5121 顕微鏡試料調製(第2種):標準的なもの 1試料につき 3,960円 川崎技術支援部
    K5122 顕微鏡試料調製(第3種):比較的複雑なもの 1試料につき 7,810円 川崎技術支援部
    K5123 顕微鏡試料調製(第4種):非常に複雑なもの 1試料につき 11,550円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    デジタルマイクロスコープ観察 [HRX-01]

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0101 デジタルマイクロスコープ観察 [HRX-01] 1試料につき 2,640円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    デジタルマイクロスコープ撮影 [HRX-01]

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0102 デジタルマイクロスコープ撮影 [HRX-01] 1撮影につき 1,100円 機械・材料技術部

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    金属組織写真撮影

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5110 金属組織写真撮影 写真1枚につき 11,110円 川崎技術支援部

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    金属組織写真撮影

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0031 金属組織写真撮影 写真1枚につき 11,110円 機械・材料技術部
    E0070 写真撮影箇所増し  (E0031に適用) 同一試料で1ヶ所増すごとに 2,860円 機械・材料技術部

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    実体顕微鏡写真撮影

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0055 実体顕微鏡写真撮影 写真1枚につき 4,840円 機械・材料技術部
    E0056 実体顕微鏡写真撮影箇所増し  (E0055に適用) 同一試料で1ヶ所増すごとに 2,090円 機械・材料技術部

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    プラスチック製品の破断面観察

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2940 プラスチック製品の破断面観察 1試料につき 29,150円 化学技術部
    E2941 プラスチック製品の破断面写真撮影 写真1枚につき(E2940に適用) 2,970円 化学技術部
    E2942 プラスチック製品の破断面写真撮影(倍率変更) 写真1枚につき(E2941に適用) 1,430円 化学技術部
    E2943 プラスチック製品の外観撮影 写真1枚につき(E2940に適用) 1,430円 化学技術部
    E2944 観察試料作製(1) (標準的なもの) 1試料につき(E2940に適用) 3,630円 化学技術部
    E2945 観察試料作製(2) (複雑なもの) 1試料につき(E2940に適用) 7,260円 化学技術部

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    デジタルマイクロスコープ観察 [VHX-600]

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1910 デジタルマイクロスコープ観察 [VHX-600] 画像1枚につき 4,180円 川崎技術支援部

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    外観写真撮影

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5112 外観写真撮影 写真1枚につき 5,720円 川崎技術支援部
    K5114 写真撮影1ヶ所増すごとに 同一試料で1ヶ所増すごとに 2,860円 川崎技術支援部

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    機器使用

    • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E7020 金属顕微鏡 ニコン X2-T1-NR 550円 機械・材料技術部
    E7150 デジタルマイクロスコープ ハイロックス HRX-01 1,980円 機械・材料技術部
    E7160 顕微鏡 オリンパス CKX41N-31PHP 770円 化学技術部
    K2915 デジタルマイクロスコープ [VHX-600] (30分当たり) キーエンス  VHX-600 1,650円 川崎技術支援部
    K6110 金属顕微鏡  [BX-51] (1時間当たり) オリンパス光学工業  BX-51 1,650円 川崎技術支援部

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    微細構造観察

    ハイブリッドレーザー顕微鏡観察

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1145 ハイブリッドレーザー顕微鏡観察 1測定1解析につき 8,690円 電子技術部
    E1146 ハイブリッドレーザー顕微鏡観察 1視野追加 1視野追加につき 4,290円 電子技術部

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    レーザーマーキング

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1630 レーザーマーキング 15分以内 2,860円 川崎技術支援部
    K1635 レーザーマーキング  追加 追加15分当たり 1,870円 川崎技術支援部

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    走査電子顕微鏡写真撮影

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0011 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍以下 1試料1視野観察につき 21,120円 機械・材料技術部
    E0012 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍以下 1視野追加 1視野追加観察につき 4,840円 機械・材料技術部
    E0013 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍を超えて10万倍以下 1試料1視野観察につき 30,910円 機械・材料技術部
    E0014 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍を超えて10万倍以下 1視野追加 1視野追加観察につき 9,240円 機械・材料技術部
    E0015 走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの 1試料1視野観察につき 52,250円 機械・材料技術部
    E0016 走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの 1視野追加 1視野追加観察につき 14,960円 機械・材料技術部
    E0017 走査電子顕微鏡写真撮影 10~15視野 115,940円 機械・材料技術部
    E0018 走査電子顕微鏡写真撮影 16~30視野 173,910円 機械・材料技術部
    E0021 エネルギー分散型X線分析(EDS) 
    (E0011~E0018、E1790に適用)
    1ヶ所につき 7,150円 機械・材料技術部

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    電子線後方散乱回折(EBSD)法による結晶方位測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1790 電子線後方散乱回折(EBSD)法による結晶方位測定 1視野測定につき 49,500円 機械・材料技術部
    E1791 電子線後方散乱回折(EBSD)法による結晶方位測定 
    1視野追加
    1視野追加測定につき 12,760円 機械・材料技術部
    E0021 エネルギー分散型X線分析(EDS) 
    (E0011~E0018、E1790に適用)
    1ヶ所につき 7,150円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    表面観察(FE-EPMAによる)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2580 表面観察(FE-EPMAによる) 1ヶ所につき 20,350円 機械・材料技術部
    E2581 エネルギー分散型X線分析(EDS・FE-EPMAによる) 1ヶ所につき(E2570, E2580に適用) 7,260円 機械・材料技術部
    E2582 表面観察(FE-EPMAによる) 1ヶ所増 同一試料で1ヶ所増すごとに(E2570, E2580に適用) 4,510円 機械・材料技術部
    E2590 電子線マイクロアナライザ観測(FE-EPMA) 追加分析 1ヶ所につき(E2570, E2580に適用) 9,130円 機械・材料技術部

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    超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1150 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 1測定1解析につき 9,020円 電子技術部
    E1151 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 1解析増 1解析増すごとに 2,420円 電子技術部

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    走査型プローブ顕微鏡観察

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1780 走査型プローブ顕微鏡観察 標準1条件1測定につき 23,320円 電子技術部
    E1781 走査型プローブ顕微鏡観察 1視野追加 1視野追加につき 10,780円 電子技術部

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    走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800]

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1010 走査電子顕微鏡観察
    (電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800]  5万倍以下
    観察倍率5万倍以下 1条件につき 21,450円 川崎技術支援部
    K1015 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 
    5万倍以下 条件追加
    観察倍率5万倍以下 1条件追加につき 4,950円 川崎技術支援部
    K1020 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 
    5万倍を超えて10万倍以下
    観察倍率5万倍を超えて10万倍以下 
    1条件につき
    31,020円 川崎技術支援部
    K1025 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800]  
    5万倍を超えて10万倍以下 条件追加
    観察倍率5万倍を超えて10万倍以下 
    1条件追加につき
    9,680円 川崎技術支援部
    K1030 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800]
     10万倍を超えるもの
    観察倍率10万倍を超えるもの 
    1条件につき
    52,470円 川崎技術支援部
    K1035 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 
    10万倍を超えるもの 条件追加
    観察倍率10万倍を超えるもの 
    1条件追加につき
    15,400円 川崎技術支援部
    K1040 走査電子顕微鏡(電界放出型)[S-4800] 
    エネルギー分散型X線分析(EDS)
    1条件追加につき 15,400円 川崎技術支援部
    K1041 走査電子顕微鏡(電界放出型)[S-4800] 
    エネルギー分散型X線分析(EDS)  条件追加
    1条件追加につき 4,950円 川崎技術支援部
    K1042 走査電子顕微鏡(電界放出型)[S-4800] 
    エネルギー分散型X線分析(EDS)  面分析
    面分析1条件につき 16,390円 川崎技術支援部
    K1050 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800]
    10~15視野
    1試料の観察視野が10~15視野につき(観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る) 114,400円 川崎技術支援部
    K1052 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800]
    16~30視野
    1試料の観察視野が16~30視野につき(観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る) 170,060円 川崎技術支援部
    K1055 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 
    条件追加
    1条件追加につき 12,540円 川崎技術支援部

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    走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[JSM-7800F Prime]

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1310 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
    [JSM-7800F Prime] 5万倍以下
    観察倍率5万倍以下1試料1視野観察につき 21,120円 川崎技術支援部
    K1315 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
    [JSM-7800F Prime] 5万倍以下  1視野追加
    観察倍率5万倍以下 
    同一試料において1視野追加観察につき
    4,840円 川崎技術支援部
    K1320 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
    [JSM-7800F Prime] 5万倍を超えて10万倍以下
    観察倍率5万倍を超えて10万倍以下  
    1試料1視野観察につき
    30,910円 川崎技術支援部
    K1325 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
    [JSM-7800F Prime] 5万倍を超えて10万倍以下 1視野追加
    観察倍率5万倍を超えて10万倍以下  
    同一試料において1視野追加観察につき
    9,240円 川崎技術支援部
    K1330 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
    [JSM-7800F Prime] 10万倍を超えるもの
    観察倍率10万倍を超えるもの
    1試料1視野観察につき
    52,250円 川崎技術支援部
    K1335 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
    [JSM-7800F Prime] 10万倍を超えるもの 1視野追加
    観察倍率10万倍を超えるもの
    同一試料において1視野追加観察につき
    14,960円 川崎技術支援部
    K1392 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
    [JSM-7800F Prime] 10~15視野
    1試料の観察視野が10~15視野につき(観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る) 115,940円 川崎技術支援部
    K1395 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
    [JSM-7800F Prime] 16~30視野
    1試料の観察視野が16~30視野につき(観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る) 173,910円 川崎技術支援部
    K1342 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
    [JSM-7800F Prime] 低真空モード
    低真空モードの使用 11,220円 川崎技術支援部
    K1343 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
    [JSM-7800F Prime] STEM
    透過像観察機能(STEM)の使用 11,220円 川崎技術支援部
    K1340 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
    [JSM-7800F Prime] 1条件追加
    1条件追加につき  11,220円 川崎技術支援部
    K1350 走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)
    [JSM-7800F Prime] エネルギー分散型X線分析(EDS) 
    点分析
    点分析1視野1箇所につき 17,380円 川崎技術支援部
    K1351 走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)
    [JSM-7800F Prime] エネルギー分散型X線分析(EDS) 
    点分析追加
    点分析同一視野内で1箇所追加につき 5,170円 川崎技術支援部
    K1352 走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)
    [JSM-7800F Prime] エネルギー分散型X線分析(EDS) 
    線分析
    線分析1視野1箇所につき 23,540円 川崎技術支援部
    K1353 走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)
    [JSM-7800F Prime] エネルギー分散型X線分析(EDS) 
    線分析追加
    線分析同一視野内で1箇所追加につき 8,360円 川崎技術支援部
    K1354 走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)
    [JSM-7800F Prime] エネルギー分散型X線分析(EDS) 
    面分析
    面分析1視野につき 35,860円 川崎技術支援部
    K1356 走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)
    [JSM-7800F Prime] エネルギー分散型X線分析(EDS) 
    各種データ処理
    各種データ処理1条件につき 5,170円 川崎技術支援部

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    分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF]

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1440 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
    10万倍以下
    倍率 10万倍以下 1視野につき 19,470円 川崎技術支援部
    K1445 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF]
    10万倍以下 1視野増
    倍率 10万倍以下 1視野増すごとに 7,040円 川崎技術支援部
    K1441 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
    10万倍を超えて50万倍以下
    倍率 10万倍を超えて50万倍以下 
    1視野につき
    25,850円 川崎技術支援部
    K1446 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
    10万倍を超えて50万倍以下 1視野増
    倍率 10万倍を超えて50万倍以下 
    1視野増すごとに
    14,080円 川崎技術支援部
    K1450 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
    50万倍を超えて200万倍以下
    倍率  50万倍を超えて200万倍以下 
    1視野につき
    35,530円 川崎技術支援部
    K1455 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
    50万倍を超えて200万倍以下 1視野増
    倍率  50万倍を超えて200万倍以下 
    1視野増すごとに
    19,470円 川崎技術支援部
    K1451 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
    200万倍を超えるもの
    倍率 200万倍を超えるもの 1視野につき 51,590円 川崎技術支援部
    K1456 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
    200万倍を超えるもの 1視野増
    倍率 200万倍を超えるもの 1視野増すごとに 29,590円 川崎技術支援部
    K1460 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
    試料傾斜調整
    試料傾斜調整 1条件ごとに 13,420円 川崎技術支援部
    K1470 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF]
    制限視野回折
    制限視野回折 1視野につき 16,500円 川崎技術支援部
    K1471 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF]
    微小領域回折
    微小領域回折 1視野につき 29,590円 川崎技術支援部
    K1472 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF]
    明視野像
    明視野像 1視野につき 19,470円 川崎技術支援部
    K1473 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF]
    暗視野像
    暗視野像 1視野につき 35,530円 川崎技術支援部
    K1510 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
    点分析
    点分析 
    1試料1測定点につき
    28,710円 川崎技術支援部
    K1515 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
    点分析追加
    点分析 
    同一試料において1測定点追加につき
    6,160円 川崎技術支援部
    K1540 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
    定量分析
    定量分析 
    1試料1測定点につき
    24,970円 川崎技術支援部
    K1545 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
    定量分析追加
    定量分析 
    同一試料において1測定点追加につき
    7,370円 川崎技術支援部
    K1520 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
    線分析
    線分析 
    1測定5元素までごとに
    68,090円 川崎技術支援部
    K1530 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
    面分析
    面分析 
    1視野5元素ごとに、または2時間につき
    109,230円 川崎技術支援部
    K1550 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[EM002BF] データ処理 各種データ処理 1条件につき 12,320円 川崎技術支援部

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    分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/STEM/EDS)[Talos F200X]

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1740 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X]  
    10万倍以下
    観察倍率10万倍以下 
    1視野につき
    19,690円 川崎技術支援部
    K1741 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X]  
    10万倍以下 1視野追加
    観察倍率10万倍以下 
    同条件1視野追加につき
    9,900円 川崎技術支援部
    K1745 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X]  
    10万倍を超えて50万倍以下
    観察倍率10万倍を超えて50万倍以下 
    1視野につき
    26,840円 川崎技術支援部
    K1746 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X] 
    10万倍を超えて50万倍以下 1視野追加
    観察倍率10万倍を超えて50万倍以下 
    同条件1視野追加につき
    14,850円 川崎技術支援部
    K1750 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X]  
    50万倍を超えて200万倍以下
    観察倍率50万倍を超えて200万倍以下 
    1視野につき
    35,530円 川崎技術支援部
    K1751 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X]  
    50万倍を超えて200万倍以下 1視野追加
    観察倍率50万倍を超えて200万倍以下 
    同条件1視野追加につき
    19,690円 川崎技術支援部
    K1755 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X]  
    200万倍を超えるもの
    観察倍率200万倍を超えるもの 
    1視野につき
    51,370円 川崎技術支援部
    K1756 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X]  
    200万倍を超えるもの 1視野追加
    観察倍率200万倍を超えるもの 
    同条件1視野追加につき
    30,690円 川崎技術支援部
    K1760 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X]  
    試料傾斜調整
    試料傾斜調整 
    1条件につき
    13,530円 川崎技術支援部
    K1761 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X]  
    制限視野回折
    制限視野回析 
    1視野につき
    17,160円 川崎技術支援部
    K1768 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X]  
    条件追加
    1条件追加につき 12,210円 川崎技術支援部
    K1770 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[Talos F200X]  
    エネルギー分散型X線分析(EDS)面分析
    面分析 
    1視野5元素ごとに、または2時間につき
    108,900円 川崎技術支援部
    K1410 TEM試料調製  分散法 ふりかけ法 ふりかけ法 1試料につき 6,600円 川崎技術支援部
    K1411 TEM試料調製  分散法 懸濁法 懸濁法 1試料につき 13,090円 川崎技術支援部
    K1425 TEM試料調製  低エネルギーイオンミリング 
    (ジェントルミル)
    1試料1条件につき 14,850円 川崎技術支援部
    K1432 TEM試料調製  電子染色 1試料につき 29,260円 川崎技術支援部
    K1433 TEM試料調製  樹脂包埋 1試料につき 14,190円 川崎技術支援部
    K1620 TEM試料調製  FIB-リフトアウト法 1試料につき 88,440円 川崎技術支援部
    K1621 TEM試料調製  FIB-リフトアウト法 条件追加 1条件追加につき 32,120円 川崎技術支援部
    K1625 TEM試料調製  FIB-マイクロプロービング法 
    低加速ガリウムイオン
    低加速ガリウムイオン仕上げ 
    1試料につき
    122,100円 川崎技術支援部
    K1663 TEM試料調製  FIB-マイクロプロービング法  
    低加速ガリウムイオン 試料作製のみ
    低加速ガリウムイオン仕上げ 
    1試料につき(試料作製のみ)
    134,640円 川崎技術支援部
    K1626 TEM試料調製  FIB-マイクロプロービング法  
    低加速ガリウムイオン条件追加
    低加速ガリウムイオン仕上げ 
    1条件追加につき
    32,450円 川崎技術支援部
    K1627 TEM試料調製  FIB-マイクロプロービング法   
    アルゴンイオンミリング
    アルゴンイオンミリング仕上げ 
    1試料につき
    137,500円 川崎技術支援部
    K1666 TEM試料調製  FIB-マイクロプロービング法   
    アルゴンイオンミリング 試料作製のみ
    アルゴンイオンミリング仕上げ 
    1試料につき(試料作製のみ)
    149,380円 川崎技術支援部
    K1628 TEM試料調製  FIB-マイクロプロービング法   
    アルゴンイオンミリング条件追加
    アルゴンイオンミリング仕上げ 
    1条件追加につき
    32,450円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    集束イオンビーム装置観察(FIB-SEM/EDS)[XVision 200TB]

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1640 集束イオンビーム装置(FIB-SEM/EDS)[XVision 200TB] 1時間以内 33,880円 川崎技術支援部
    K1641 集束イオンビーム装置(FIB-SEM/EDS)[XVision 200TB] 追加 追加1時間当たり 28,820円 川崎技術支援部
    K1650 FIBオプション カーボン膜デポジション 10分当たり 2,420円 川崎技術支援部
    K1670 FIBオプション アルゴンイオンミリング 30分当たり 11,330円 川崎技術支援部
    K1680 FIB付属のSEM観察 1試料1視野観察につき 20,680円 川崎技術支援部
    K1681 FIB付属のSEM観察  視野追加 同一試料において1視野追加観察につき 4,620円 川崎技術支援部
    K1682 FIB付属のSEM観察  条件追加 同一試料において1条件追加につき 4,620円 川崎技術支援部
    K1690 FIB付属のSEMオプション  
    EDS分析測定 点分析
    点分析1視野1箇所につき 17,050円 川崎技術支援部
    K1691 FIB付属のSEMオプション  
    EDS分析測定 点分析追加
    点分析同一視野内で1箇所追加につき 5,830円 川崎技術支援部
    K1694 FIB付属のSEMオプション  
    EDS分析測定 線分析
    線分析1視野1箇所につき 22,880円 川崎技術支援部
    K1695 FIB付属のSEMオプション  
    EDS分析測定 線分析追加
    線分析同一視野内で1箇所追加につき 8,910円 川崎技術支援部
    K1692 FIB付属のSEMオプション  
    EDS分析測定 面分析
    面分析1視野につき 34,650円 川崎技術支援部
    K1696 FIB付属のSEMオプション     
    EDS分析測定 各種データ処理
    各種データ処理1条件につき 5,830円 川崎技術支援部
    K1672 FIB-SEMによる 三次元再構築用連続断面画像の取得 1測定につき 113,740円 川崎技術支援部
    K1674 FIB-SEMによる 三次元再構築用連続断面画像の取得  
    条件追加
    1条件追加につき 12,100円 川崎技術支援部
    K1730 FIB-SEMによる 微小試験片の作製 標準 標準的な作製 (SEM観察含む) 5本につき 182,160円 川崎技術支援部
    K1732 FIB-SEMによる 微小試験片の作製 複雑 複雑な作製 (SEM観察含む) 5本につき 273,130円 川崎技術支援部
    K1735 FIB-SEMによる 微小試験片の作製 条件追加 1条件追加につき 11,550円 川崎技術支援部
    K1610 マニピュレーターによるサンプリング 1試料につき 5,830円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    集束イオンビーム装置観察(マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD)[Scios LoVacシステム]

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1940 集束イオンビーム装置(マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD)
    [Scios LoVacシステム]
    1時間以内 35,530円 川崎技術支援部
    K1941 集束イオンビーム装置(マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD)
    [Scios LoVacシステム] 追加
    追加1時間当たり 30,470円 川崎技術支援部
    K1950 マルチ解析用FIBオプション 
    カーボン膜デポジション
    10分当たり 2,420円 川崎技術支援部
    K1951 マルチ解析用FIBオプション 
    プラチナ膜デポジション
    10分当たり 2,310円 川崎技術支援部
    K1960 マルチ解析用FIB付属のSEM観察 1試料1視野観察につき 20,900円 川崎技術支援部
    K1961 マルチ解析用FIB付属のSEM観察  視野追加 同一試料において1視野追加観察につき 4,730円 川崎技術支援部
    K1962 マルチ解析用FIB付属のSEM観察  条件追加 同一試料において1条件追加につき 4,730円 川崎技術支援部
    K1965 マルチ解析用FIB付属のSEM観察オプション  低真空 低真空モードの使用 11,660円 川崎技術支援部
    K1970 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション    
    EDS分析測定  点分析
    点分析1視野1箇所につき 17,380円 川崎技術支援部
    K1971 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション    
    EDS分析測定  点分析追加
    点分析同一視野内で1箇所追加につき 5,940円 川崎技術支援部
    K1974 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション 
    EDS分析測定  線分析
    線分析1視野1箇所につき 23,210円 川崎技術支援部
    K1975 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション 
    EDS分析測定  線分析追加
    線分析同一視野内で1箇所追加につき 8,910円 川崎技術支援部
    K1976 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション 
    EDS分析測定  面分析
    面分析1視野につき 34,760円 川崎技術支援部
    K1978 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション 
    EDS分析測定  各種データ処理
    各種データ処理1条件につき 5,940円 川崎技術支援部
    K1980 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション  
    EBSD分析測定  結晶方位マップ
    結晶方位マップ1視野につき 48,840円 川崎技術支援部
    K1981 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション 
    EBSD分析測定  視野追加
    同一試料で1視野追加につき 11,660円 川崎技術支援部
    K1984 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション  
    EBSD分析測定  条件追加
    1条件追加につき 11,220円 川崎技術支援部
    K1985 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション 
    EBSD分析測定  各種データ処理
    各種データ処理1条件につき 5,940円 川崎技術支援部
    K1990 マルチ解析用FIB-SEMによる
    三次元再構築用連続断面画像の取得
    1測定につき 120,230円 川崎技術支援部
    K1995 マルチ解析用FIB-SEMによる
    三次元再構築用連続断面画像の取得  条件追加
    1条件追加につき 12,210円 川崎技術支援部
    K1930 マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製 標準 標準的な作製(SEM観察含む)5本につき 193,710円 川崎技術支援部
    K1932 マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製 複雑 複雑な作製(SEM観察含む) 5本につき 292,820円 川崎技術支援部
    K1935 マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製 条件追加 1条件追加につき 11,880円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    画像解析システム

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1832 画像解析システム 三次元再構築 1測定対象につき 62,590円 川崎技術支援部
    K1834 画像解析システム 三次元データ処理 1条件追加につき 12,430円 川崎技術支援部
    K1840 画像解析システム 画像解析 1測定対象につき 23,760円 川崎技術支援部
    K1842 画像解析システム データ処理 1条件追加につき 6,270円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    機器使用

    • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E6960 超深度形状測定顕微鏡 (レーザー顕微鏡) キーエンス VK8500 2,090円 電子技術部
    E6965 ハイブリッドレーザー顕微鏡 データ解析 レーザーテック OPTELICS HYBRID 880円 電子技術部
    K2015 FE-SEM/EDS  [S-4800]  日立ハイテクノロジーズ  S-4800 39,380円 川崎技術支援部
    K2425 低エネルギーイオン研磨装置 [Model IV5(ジェントルミル)] リンダ Model IV5(ジェントルミル) 12,100円 川崎技術支援部
    K2635 レーザーマーカ [LR2100ST] (30分当たり) HOYA  LR2100ST 3,080円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    試料調製・前処理

    その他特殊処理

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4195 その他特殊処理 1試料につき 17,710円 川崎技術支援部
    K4196 その他特殊処理 条件追加 1条件追加につき 17,710円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    電子染色

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4192 電子染色 1試料につき 29,260円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    樹脂包埋

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4185 樹脂包埋 1試料につき 14,190円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    低エネルギーイオンミリング(ジェントルミル)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4180 低エネルギーイオンミリング(ジェントルミル) 1試料1条件につき 14,850円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    分散法

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4170 分散法 ふりかけ法 1試料につき 6,600円 川崎技術支援部
    K4171 分散法 懸濁法 1試料につき 13,090円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    各種コーティング(カーボンコーティング他)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4310 カーボンコーティング 1試料につき 3,520円 川崎技術支援部
    K4320 金コーティング 1試料につき 3,520円 川崎技術支援部
    K4330 白金コーティング 1試料につき 3,520円 川崎技術支援部
    K4340 パラジウムコーティング 1試料につき 3,520円 川崎技術支援部
    K4350 オスミウムコーティング 1試料につき 3,520円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    ウルトラミクロトーム法

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4280 ウルトラミクロトーム法 A:容易な試料 1試料につき 24,420円 川崎技術支援部
    K4282 ウルトラミクロトーム法 B:標準的な試料 1試料につき 49,170円 川崎技術支援部
    K4284 ウルトラミクロトーム法 C:複雑な試料 1試料につき 74,030円 川崎技術支援部
    K4286 ウルトラミクロトーム法 D:非常に複雑な試料 1試料につき 98,670円 川崎技術支援部
    K4287 ウルトラミクロトーム法 条件追加 1条件追加につき 6,270円 川崎技術支援部
    K4288 ウルトラミクロトーム法 クライオ クライオの使用 1試料につき 60,720円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    イオンミリング法 (大きい試料用)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4250 断面イオンミリング法 (大きい試料用) 
    A:容易な試料
    1試料につき 23,100円 川崎技術支援部
    K4252 断面イオンミリング法 (大きい試料用) 
    B:標準的な試料
    1試料につき 45,980円 川崎技術支援部
    K4254 断面イオンミリング法 (大きい試料用) 
    C:複雑な試料
    1試料につき 68,860円 川崎技術支援部
    K4256 断面イオンミリング法 (大きい試料用)  
    D:非常に複雑な試料
    1試料につき 91,960円 川崎技術支援部
    K4257 断面イオンミリング法 (大きい試料用) 
    条件追加
    1条件追加につき 5,720円 川崎技術支援部
    K4258 断面イオンミリング法 (大きい試料用) 
    クライオ
    クライオの使用 1試料につき 5,830円 川崎技術支援部
    K4260 平面イオンミリング法 (大きい試料用) 
    A:容易な試料
    1試料につき 11,220円 川崎技術支援部
    K4262 平面イオンミリング法 (大きい試料用) 
    B:標準的な試料
    1試料につき 21,340円 川崎技術支援部
    K4264 平面イオンミリング法 (大きい試料用) 
    C:複雑な試料
    1試料につき 31,350円 川崎技術支援部
    K4266 平面イオンミリング法 (大きい試料用)  
    D:非常に複雑な試料
    1試料につき 41,800円 川崎技術支援部
    K4267 平面イオンミリング法 (大きい試料用) 
    条件追加
    1条件追加につき 5,390円 川崎技術支援部
    K4270 イオンビームスパッタ 1試料につき 5,940円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    イオンミリング法 (小さい試料用)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4230 断面イオンミリング法 (小さい試料用) 
    A:容易な試料
    1試料につき 24,090円 川崎技術支援部
    K4232 断面イオンミリング法 (小さい試料用) 
    B:標準的な試料
    1試料につき 47,300円 川崎技術支援部
    K4234 断面イオンミリング法 (小さい試料用) 
    C:複雑な試料
    1試料につき 72,490円 川崎技術支援部
    K4236 断面イオンミリング法 (小さい試料用) 
    D:非常に複雑な試料
    1試料につき 92,620円 川崎技術支援部
    K4237 断面イオンミリング法 (小さい試料用) 
    条件追加
    1条件追加につき 5,830円 川崎技術支援部
    K4238 断面イオンミリング法 (小さい試料用) 
    クライオ
    クライオの使用 1試料につき 5,830円 川崎技術支援部
    K4240 平面イオンミリング法 (小さい試料用) 
    A:容易な試料
    1試料につき 11,440円 川崎技術支援部
    K4242 平面イオンミリング法 (小さい試料用)  
    B:標準的な試料
    1試料につき 23,870円 川崎技術支援部
    K4244 平面イオンミリング法 (小さい試料用) 
    C:複雑な試料
    1試料につき 34,320円 川崎技術支援部
    K4246 平面イオンミリング法 (小さい試料用) 
    D:非常に複雑な試料
    1試料につき 44,770円 川崎技術支援部
    K4247 平面イオンミリング法 (小さい試料用) 
    条件追加
    1条件追加につき 5,830円 川崎技術支援部
    K4248 平面イオンミリング法 (小さい試料用) 
    クライオ
    クライオの使用 1試料につき 5,830円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    精密機械研磨法

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4210 精密機械研磨法   A:容易な試料 1試料につき 12,320円 川崎技術支援部
    K4212 精密機械研磨法   B:標準的な試料 1試料につき 24,750円 川崎技術支援部
    K4214 精密機械研磨法   C:複雑な試料 1試料につき 36,520円 川崎技術支援部
    K4216 精密機械研磨法   D:非常に複雑な試料 1試料につき 48,400円 川崎技術支援部
    K4217 精密機械研磨法   条件追加 1条件追加につき 5,720円 川崎技術支援部
    K4220 試料の撮影 1試料1視野につき 2,310円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    試料前処理(切断、導電処理等)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4120 試料前処理(切断、導電処理等) 処理時間30分につき 1,650円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    顕微鏡試料調製

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0080 顕微鏡試料調製(1)  (容易なもの) 1試料につき 1,980円 機械・材料技術部
    E0090 顕微鏡試料調製(2)  (標準的なもの) 1試料につき 3,960円 機械・材料技術部
    E0091 顕微鏡試料調製(3)  (比較的複雑なもの)  1試料につき 7,810円 機械・材料技術部
    E0092 顕微鏡試料調製(4)  (非常に複雑なもの)  1試料につき 11,550円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    イオンミリング法による試料調製

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0022 イオンミリング法による試料調製(1) (標準的なもの) 1試料1ヶ所につき 45,100円 機械・材料技術部
    E0023 イオンミリング法による試料調製(2) (複雑なもの) 1試料1ヶ所につき 67,430円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

    • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
     
    該当する情報はありません

    材料物性

    熱物性測定

    赤外線放射計による放射率測定※装置故障により現在ご利用いただけません。

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3930 赤外線放射計による放射率測定 1試料1測定につき 38,720円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    示差熱熱重量測定(TG/DTA)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2411 示差熱熱重量測定(TG/DTA) 室温~600℃ 1測定につき 15,840円 化学技術部
    E2421 示差熱熱重量測定(TG/DTA) 600℃をこえるもの 1測定につき 21,120円 化学技術部
    E2490 試料調製(1)  (切断,試験片作製等簡易な前処理) E2411からE2472に適用 3,300円 化学技術部
    E2491 試料調製(2) (粉末化等困難な前処理) E2411からE2472に適用 4,950円 化学技術部
    E2492 試料調製(3) (溶解,ろ過等複雑な前処理) E2411からE2472に適用 7,370円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    示差走査熱量測定(DSC)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2432 示差走査熱量測定(DSC) 1測定につき 17,270円 化学技術部
    E2433 示差走査熱量測定(DSC)液体窒素使用 1測定につき 23,430円 化学技術部
    E2490 試料調製(1)  (切断,試験片作製等簡易な前処理) E2411からE2472に適用 3,300円 化学技術部
    E2491 試料調製(2) (粉末化等困難な前処理) E2411からE2472に適用 4,950円 化学技術部
    E2492 試料調製(3) (溶解,ろ過等複雑な前処理) E2411からE2472に適用 7,370円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    高圧示差熱・熱重量測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2441 高圧示差熱・熱重量測定 1測定につき 25,630円 化学技術部
    E2490 試料調製(1)  (切断,試験片作製等簡易な前処理) E2411からE2472に適用 3,300円 化学技術部
    E2491 試料調製(2) (粉末化等困難な前処理) E2411からE2472に適用 4,950円 化学技術部
    E2492 試料調製(3) (溶解,ろ過等複雑な前処理) E2411からE2472に適用 7,370円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    発火温度測定(HP-TG法)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2442 発火温度測定(HP-TG法) 1測定につき 22,330円 化学技術部
    E2490 試料調製(1)  (切断,試験片作製等簡易な前処理) E2411からE2472に適用 3,300円 化学技術部
    E2491 試料調製(2) (粉末化等困難な前処理) E2411からE2472に適用 4,950円 化学技術部
    E2492 試料調製(3) (溶解,ろ過等複雑な前処理) E2411からE2472に適用 7,370円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    複合熱分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2450 複合熱分析 1測定につき 70,290円 化学技術部
    E2490 試料調製(1)  (切断,試験片作製等簡易な前処理) E2411からE2472に適用 3,300円 化学技術部
    E2491 試料調製(2) (粉末化等困難な前処理) E2411からE2472に適用 4,950円 化学技術部
    E2492 試料調製(3) (溶解,ろ過等複雑な前処理) E2411からE2472に適用 7,370円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    高圧示差走査熱量測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2460 高圧示差走査熱量測定 1測定につき 25,080円 化学技術部
    E2490 試料調製(1)  (切断,試験片作製等簡易な前処理) E2411からE2472に適用 3,300円 化学技術部
    E2491 試料調製(2) (粉末化等困難な前処理) E2411からE2472に適用 4,950円 化学技術部
    E2492 試料調製(3) (溶解,ろ過等複雑な前処理) E2411からE2472に適用 7,370円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    熱機械測定(TMA)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2470 熱機械測定(TMA)室温~600℃ 1測定につき 17,050円 化学技術部
    E2471 熱機械測定(TMA)600℃をこえるもの 1測定につき 30,140円 化学技術部
    E2472 熱機械測定(TMA)液体窒素使用 1測定につき 23,320円 化学技術部
    E2490 試料調製(1)  (切断,試験片作製等簡易な前処理) E2411からE2472に適用 3,300円 化学技術部
    E2491 試料調製(2) (粉末化等困難な前処理) E2411からE2472に適用 4,950円 化学技術部
    E2492 試料調製(3) (溶解,ろ過等複雑な前処理) E2411からE2472に適用 7,370円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    熱伝導率測定(プローブ法)(室温)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2930 熱伝導率測定(プローブ法) (室温) 1試料につき 10,010円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    サーモグラフィによる表面温度測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3690 サーモグラフィによる表面温度測定 1測定につき 2,750円 川崎技術支援部

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    サーモグラフィによる表面温度測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3771 サーモグラフィによる表面温度測定 1時間につき 4,620円 化学技術部
    E3772 サーモグラフィによる表面温度測定 (特殊条件の場合) 1時間につき 17,380円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

    • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E7360 断熱反応装置 コロンビアサイエンティフィック ARC 9,240円 化学技術部
    E7370 熱流束型熱量計 セタラム C-80 20,680円 化学技術部
    E8580 プラスチック用熱伝導率計 京都電子工業 QTM-D3型 4,950円 化学技術部
    E8610 熱機械試験機 マック・サイエンス TMA-4000 6,270円 化学技術部
    E8620 赤外線放射計 日本バーンズ SA-200 8,360円 化学技術部
    K3560 赤外線サーモグラフィ [TVS-200EX] 日本アビオニクス TVS-200EX 2,750円 川崎技術支援部

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    粉体・表面性能

    接触角測定試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4150 接触角測定試験 1試料につき 2,420円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    ゼータ電位測定(A)(微粒子分散溶液)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4160 ゼータ電位測定(A) (微粒子分散溶液) 1試料につき 10,340円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    ゼータ電位測定(B)(平板形状試料)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4170 ゼータ電位測定(B) (平板形状試料) 1試料につき 12,870円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    粒径分布測定(レーザ回折・散乱法)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4173 粒径分布測定(レーザ回折・散乱法) (A)湿式または乾式 1試料につき 6,490円 機械・材料技術部
    E4174 粒径分布測定(レーザ回折・散乱法) (B)湿式(有機溶媒) 1試料につき 8,470円 機械・材料技術部
    E4175 粒径分布測定(レーザ回折・散乱法) (C)特殊なもの 1試料につき 10,450円 機械・材料技術部

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    粒径分布測定(動的光散乱法)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4180 粒径分布測定(動的光散乱法) 1試料につき 9,020円 機械・材料技術部

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    粒径分布測定(静的画像解析法)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4183 粒径分布測定(静的画像解析法)(A)(簡易な評価) 1試料につき 4,730円 機械・材料技術部
    E4184 粒径分布測定(静的画像解析法)(B) 1試料につき 8,030円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    比表面積測定(窒素ガス吸着法)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4190 比表面積測定(窒素ガス吸着法)(1) (容易なもの) 1試料につき 21,560円 機械・材料技術部
    E4191 比表面積測定(窒素ガス吸着法)(2) (複雑なもの) 1試料につき 35,860円 機械・材料技術部

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    細孔分布解析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4192 細孔分布解析 1試料につき 3,630円 機械・材料技術部

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    機器使用

    • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    K3542 接触角計 [DMs-401]  協和界面科学  DMs-401 3,410円 川崎技術支援部

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    透過度測定

    ガス・水蒸気透過度測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2925 ガス・水蒸気透過度測定 1試料・1測定につき(24時間まで) 28,600円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

    • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
     
    該当する情報はありません

    電気化学試験

    金属・合金の電極電位測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3211 金属・合金の電極電位測定(1) 1試料につき4時間まで 14,410円 化学技術部
    E3212 金属・合金の電極電位測定(2) 1時間増 1時間増すごとに 220円 化学技術部
    E3280 試料調製(1) (比較的容易) E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 3,300円 化学技術部
    E3290 試料調製(2) (比較的複雑) E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 6,710円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    金属・合金の腐食減量測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3221 金属・合金の腐食減量測定(1) 1試料につき24時間まで 14,300円 化学技術部
    E3222 金属・合金の腐食減量測定(2) 24時間増 24時間増すごとに 4,290円 化学技術部
    E3280 試料調製(1) (比較的容易) E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 3,300円 化学技術部
    E3290 試料調製(2) (比較的複雑) E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 6,710円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    異種金属接触腐食電流測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3223 異種金属接触腐食電流測定(1) 1試料につき4時間まで 14,410円 化学技術部
    E3224 異種金属接触腐食電流測定(2) 1時間増 1時間増すごとに 220円 化学技術部
    E3280 試料調製(1) (比較的容易) E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 3,300円 化学技術部
    E3290 試料調製(2) (比較的複雑) E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 6,710円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    金属の分極測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3270 金属の分極測定 1試料につき 19,250円 化学技術部
    E3280 試料調製(1) (比較的容易) E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 3,300円 化学技術部
    E3290 試料調製(2) (比較的複雑) E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 6,710円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    電気化学インピーダンス測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3275 電気化学インピーダンス測定 1試料につき 7,260円 化学技術部
    E3280 試料調製(1) (比較的容易) E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 3,300円 化学技術部
    E3290 試料調製(2) (比較的複雑) E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 6,710円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    電極の研磨

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3295 電極の研磨 1試料につき 1,650円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    腐食液・電解液作製

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3296 腐食液・電解液作製 1試料につき 1,650円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

    • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
     
    該当する情報はありません

    光学特性評価

    分光光度計による透過率または拡散反射率測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2011 分光光度計による透過率または拡散反射率測定 
    (紫外・可視のみ)
    1試料1スペクトルにつき 5,830円 機械・材料技術部
    E2012 分光光度計による透過率または拡散反射率測定 
    (紫外・可視・近赤外)
    1試料1スペクトルにつき 6,380円 機械・材料技術部
    E2017 分光スペクトルによる色彩・色度座標または太陽光反射率計算 1スペクトル1解析につき 440円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    分光光度計による正反射率測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2013 分光光度計による正反射率測定 (紫外・可視・近赤外) 偏光子なしまたは偏光1成分の
    1試料1スペクトルにつき
    6,820円 機械・材料技術部
    E2014 分光光度計による正反射率測定 (紫外・可視・近赤外) 
    追加(1)
    同一試料・同一条件で偏光1成分追加につき 3,740円 機械・材料技術部
    E2015 分光光度計による正反射率測定 (紫外・可視・近赤外) 
    追加(2)
    同一試料・同一条件・同一偏光成分で
    1角度追加につき
    2,090円 機械・材料技術部
    E2017 分光スペクトルによる色彩・色度座標または太陽光反射率計算 1スペクトル1解析につき 440円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    分光光度計による透過率または反射率測定(特殊なもの)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2016 分光光度計による透過率または反射率測定 (特殊なもの) 1試料1スペクトルにつき 9,790円 機械・材料技術部
    E2017 分光スペクトルによる色彩・色度座標または太陽光反射率計算 1スペクトル1解析につき 440円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    紫外・可視分光光度計による透過率・反射率測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3450 紫外・可視分光光度計による透過率・反射率測定 1試料1条件につき 6,820円 川崎技術支援部
    K3452 紫外・可視分光光度計による透過率・反射率測定 追加 追加1条件につき 3,740円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    分光放射照度計によるスペクトル測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3470 分光放射照度計によるスペクトル測定 1測定につき 10,450円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    光学測定に関わる作業

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3660 光学測定に関わる作業 1時間につき 7,260円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    色彩輝度計による輝度・色度・相関色温度の測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3670 色彩輝度計による輝度・色度・相関色温度の測定 1測定につき 4,730円 川崎技術支援部
    K3672 色彩輝度計による輝度・色度・相関色温度の測定 追加 1測定追加につき 3,080円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    色差計による色差の測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3680 色差計による色差の測定 1測定につき 3,410円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    機器使用

    • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E8090 ボロメータ測定システム微小信号測定システム セイコー 5302 4,950円 電子技術部
    K3550 紫外・可視・近赤外分光光度計 [UH4150] (1時間以内) 日立ハイテクサイエンス  UH4150 8,470円 川崎技術支援部
    K3552 紫外・可視・近赤外分光光度計 [UH4150] (追加30分当たり) 日立ハイテクサイエンス  UH4150 2,860円 川崎技術支援部

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    電磁気特性評価

    試料調整

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0958 試料調整 1時間当たり 3,300円 電子技術部
    E0959 データ処理 1時間当たり 3,300円 電子技術部

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    交流磁化特性測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0951 交流磁化特性測定 
    (B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス)
    1試料1測定につき 10,450円 電子技術部
    E0952 交流磁化特性測定 
    (B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス) 1条件増
    1条件増すごとに 6,930円 電子技術部
    E0953 交流磁化特性測定 
    (B-H曲線無しの連続測定、可変条件は1)
    1試料5測定まで 17,490円 電子技術部
    E0954 交流磁化特性測定 
    (B-H曲線無しの連続測定、可変条件は1) 1測定増
    1測定増すごとに 2,640円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    マイクロ波誘電率測定(共振器法・誘電体プローブ法)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0850 マイクロ波誘電率測定 (共振器法・誘電体プローブ法) 1条件1測定につき 19,140円 電子技術部
    E0860 マイクロ波誘電率測定 (共振器法・誘電体プローブ法) 
    1件増
    1測定増すごとに 6,380円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    マイクロ波誘電率・透磁率測定(Sパラメータ法)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0870 マイクロ波誘電率・透磁率測定 (Sパラメータ法) 1条件1測定につき 17,600円 電子技術部
    E0880 マイクロ波誘電率・透磁率測定 (Sパラメータ法) 1件増 1測定増すごとに 4,950円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    マイクロ波誘電率・透磁率測定(ハーモニック共振器法)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0881 マイクロ波誘電率・透磁率測定 (ハーモニック共振器法) 1測定につき 20,130円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    マイクロ波誘電率測定(BCDR法)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0882 マイクロ波誘電率測定 (BCDR法) 1条件1測定につき 39,380円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    磁化特性測定(VSM方式)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0910 磁化特性測定(VSM方式) 1試料1測定につき 6,710円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    磁化特性測定(積分方式)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0920 磁化特性測定(積分方式) 1試料1測定につき 4,840円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    磁歪測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0930 磁歪測定 1試料1測定につき 18,920円 電子技術部
    E0931 磁歪測定 1条件増 1条件増すごとに 12,210円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    磁化温度特性測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0940 磁化温度特性測定 1試料1測定につき 22,110円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    薄膜交流透磁率測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0950 薄膜交流透磁率測定 1試料1測定につき 6,050円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

    • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E8431 ガウスメータ(最小測定レンジ:0.35mT、最大測定レンジ:3.5T) Lake shore Inc 455型 1,430円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    粘弾性測定

    動的粘弾性測定レオメーター

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2750 動的粘弾性測定レオメーター 
    (1走査1時間未満、冷凍機を使用しない場合)
    1走査(温度変化または振動数変化)につき 18,150円 化学技術部
    E2760 動的粘弾性測定レオメーター 
    (1走査2時間未満または冷凍機使用)
    1走査(温度変化または振動数変化)につき 30,030円 化学技術部
    E2770 動的粘弾性測定レオメーター 
    (1走査3時間未満または液体窒素使用)
    1走査(温度変化または振動数変化)につき 45,320円 化学技術部
    E2771 ペルチェシステム使用(10~150℃) E2750, E2760に適用 7,040円 化学技術部
    E2772 試料調製(取り付け困難なもの) E2750, E2751, E2760, E2761, E2770に適用 2,970円 化学技術部
    E2774 試料調製(測定後処理) E2750, E2751, E2760, E2761, E2770に適用 3,630円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    動的粘弾性測定DMA

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2751 動的粘弾性測定DMA 
    (1走査1時間未満、冷凍機を使用しない場合)
    1走査(温度変化または振動数変化)につき 16,610円 化学技術部
    E2761 動的粘弾性測定DMA (1走査2時間未満または冷凍機使用) 1走査(温度変化または振動数変化)につき 27,390円 化学技術部
    E2772 試料調製(取り付け困難なもの) E2750, E2751, E2760, E2761, E2770に適用 2,970円 化学技術部
    E2774 試料調製(測定後処理) E2750, E2751, E2760, E2761, E2770に適用 3,630円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

    • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
     
    該当する情報はありません

    吸水性測定

    吸水試験(室温)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2730 吸水試験 (室温) 1試料につき 7,370円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

    • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
     
    該当する情報はありません

    比重測定

    比重試験(水中置換法)(室温)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2720 比重試験(水中置換法) (室温) 1試料につき 7,920円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

    • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
     
    該当する情報はありません

    制振性

    損失係数測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4977 損失係数測定(A) 1試料1測定温度につき 13,530円 機械・材料技術部
    E4978