料金表PRICE LIST
KISTECに試験を依頼される際と、機器をご利用になる際の料金をお探しいただけます。
料金表に掲載の項目のほか、ご相談内容に応じて、料金表に無い試験を算定し、ご提示できる場合もございます。お気軽に無料技術相談フォームよりご相談ください。
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ご利用上の注意
- 料金は全て消費税を含んでいます。
- この料金表に掲げる以外に実施可能な項目及び使用可能な設備機器もあります。詳細は担当各部へお問い合わせください。
- 機器の更新等により項目及び設備機器名並びに料金の額を変更する場合があります。
- 担当部名欄のＥ及びＫの表示は、同一試験項目の各拠点の該当する料金番号を示しています。 (Ｅ 海老名本部、Ｋ 溝の口支所)
材料分析
定量分析
定量分析（Ａ） （容易なもの）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1810 | 定量分析（Ａ） （容易なもの） | １試料，１成分につき（容易なもの） | 10,450円 | 化学技術部 |
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定量分析（Ｂ）（複雑なもの）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1820 | 定量分析（Ｂ） （複雑なもの） | １試料，１成分につき（複雑なもの） | 12,650円 | 化学技術部 |
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炭素・硫黄分析装置による定量分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1821 | 炭素・硫黄分析装置による定量分析（Ａ） （容易なもの） | １試料，１成分につき（容易なもの） | 9,130円 | 化学技術部 |
| E1822 | 炭素・硫黄分析装置による定量分析（Ｂ） （複雑なもの） | １試料，１成分につき（複雑なもの） | 13,530円 | 化学技術部 |
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原子吸光分析法による定量分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1831 | 原子吸光分析法による定量分析（Ａ） （容易なもの） | １試料，１成分につき（容易なもの） | 9,240円 | 化学技術部 |
| E1832 | 原子吸光分析法による定量分析（Ｂ） （複雑なもの） | １試料，１成分につき（複雑なもの） | 13,970円 | 化学技術部 |
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ＩＣＰ発光分光分析法による定量分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1891 | ICP発光分光分析法による定量分析（Ａ） （容易なもの） | １試料，１成分につき（容易なもの） | 9,130円 | 化学技術部 |
| E1892 | ICP発光分光分析法による定量分析（Ｂ） （複雑なもの） | １試料，１成分につき（複雑なもの） | 13,640円 | 化学技術部 |
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ＩＣＰ発光分光分析法による定性分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1911 | ICP発光分光分析法による定性分析 | １試料につき，基本１0元素まで | 20,790円 | 化学技術部 |
| E1921 | ICP発光分光分析法による定性分析 1元素増 | １試料につき，１元素増すごとに | 1,980円 | 化学技術部 |
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カールフィッシャー水分測定（直接法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1930 | カールフィッシャー水分測定（直接法） | １条件，１試料につき | 12,320円 | 化学技術部 |
| E1931 | カールフィッシャー水分測定（直接法） 1試料増 | １試料増すごとに | 7,040円 | 化学技術部 |
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カールフィッシャー水分測定（加熱気化法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1932 | カールフィッシャー水分測定（加熱気化法） | １条件，１試料につき | 15,070円 | 化学技術部 |
| E1933 | カールフィッシャー水分測定（加熱気化法） 1試料増 | １試料増すごとに | 10,340円 | 化学技術部 |
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分光蛍光光度計試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2110 | 分光蛍光光度計試験 | １スペクトルにつき | 9,680円 | 化学技術部 |
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ＣＨＮ元素分析装置による定量分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2610 | CHN元素分析装置による定量分析 | １試料につき | 18,700円 | 化学技術部 |
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水質試験（Ａ）（容易なもの）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4010 | 水質試験（Ａ） （容易なもの） | １項目につき （容易なもの） | 6,710円 | 化学技術部 |
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水質試験（Ｂ）（複雑なもの）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4020 | 水質試験（Ｂ） （複雑なもの） | １項目につき （複雑なもの） | 10,560円 | 化学技術部 |
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溶出検液作成
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4030 | 溶出検液作成（Ａ） （６成分以下) | １試料につき （6成分以下) | 4,840円 | 化学技術部 |
| E4040 | 溶出検液作成（Ｂ） （７成分以上） | １試料につき （7成分以上） | 9,020円 | 化学技術部 |
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機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E7170 | 分光蛍光光度計 | 日立 F-4010 | 4,400円 | 化学技術部 |
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ガスクロマトグラフ成分分析
ガスクロマトグラフによる分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2225 | ガスクロマトグラフによる分析 | １試料につき | 11,220円 | 化学技術部 |
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ガスクロマトグラフ定量分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2235 | ガスクロマトグラフ定量分析 | １試料１成分につき | 16,060円 | 化学技術部 |
| E2236 | ガスクロマトグラフ定量分析 1成分増 | １成分増すごとに | 6,490円 | 化学技術部 |
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ヘッドスペースガスクロマトグラフによる分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2265 | ヘッドスペースガスクロマトグラフによる分析 | １試料につき | 16,500円 | 化学技術部 |
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ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2275 | ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析 | １試料１成分につき | 22,770円 | 化学技術部 |
| E2276 | ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析 1成分増 | １成分増すごとに | 6,490円 | 化学技術部 |
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ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2310 | ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ） | １試料１成分につき | 44,770円 | 化学技術部 |
| E2311 | ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ） 定性分析 1成分増 | １成分増すごとに | 5,720円 | 化学技術部 |
| E2312 | ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ） 定量分析 1成分増 | １成分増すごとに | 6,710円 | 化学技術部 |
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ヘッドスペースＧＣＭＳ分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2330 | ヘッドスペースＧＣＭＳ分析 | １試料１成分につき | 57,860円 | 化学技術部 |
| E2331 | ヘッドスペースＧＣＭＳ分析 定性分析 1成分増 | １成分増すごとに | 5,720円 | 化学技術部 |
| E2332 | ヘッドスペースＧＣＭＳ分析 定量分析 1成分増 | １成分増すごとに | 6,710円 | 化学技術部 |
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サーマルデソープションＧＣＭＳ分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2340 | サーマルデソープションＧＣＭＳ分析 | １試料１成分につき | 62,150円 | 化学技術部 |
| E2341 | サーマルデソープションＧＣＭＳ分析 定性分析 1成分増 | １成分増すごとに | 5,720円 | 化学技術部 |
| E2342 | サーマルデソープションＧＣＭＳ分析 定量分析 1成分増 | １成分増すごとに | 6,710円 | 化学技術部 |
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化学イオン化（ＣＩ）法によるＧＣＭＳ分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2350 | 化学イオン化（ＣＩ）法によるＧＣＭＳ分析 | １試料につき （E2310, E2330, E2340に適用） | 12,980円 | 化学技術部 |
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熱分解GCMS分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2360 | 熱分解ＧＣＭＳ分析 | １試料１成分につき | 58,850円 | 化学技術部 |
| E2361 | 熱分解ＧＣＭＳ分析 定性分析 1成分増 | １成分増すごとに | 5,720円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
該当する情報はありません
液体クロマトグラフ成分分析
イオンクロマトグラフ分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2211 | イオンクロマトグラフ分析（１） （一般的なもの） | １測定につき | 17,600円 | 化学技術部 |
| E2212 | イオンクロマトグラフ分析（２） （特殊なもの） | １測定につき | 22,440円 | 化学技術部 |
| E2215 | 試料調製（溶出前処理） | E2211, E2212に適用 | 4,730円 | 化学技術部 |
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高速液体クロマトグラフ分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2281 | 高速液体クロマトグラフ分析 （分析条件検討を含まない） | １試料１成分につき | 12,320円 | 化学技術部 |
| E2282 | 高速液体クロマトグラフ分析 （簡単な分析条件を含む） | １試料１成分につき | 31,460円 | 化学技術部 |
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液体クロマトグラフ－質量分析（飛行時間型）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2290 | 液体クロマトグラフ－質量分析 （飛行時間型） （分析条件検討を含まない） |
１試料１成分につき | 47,960円 | 化学技術部 |
| E2291 | 液体クロマトグラフ－質量分析 （飛行時間型） （簡単な分析条件の検討） |
１試料につき （E2290に適用） | 25,520円 | 化学技術部 |
| E2292 | 液体クロマトグラフ－質量分析 （飛行時間型） 定性分析1成分増 |
１成分増すごとに | 4,510円 | 化学技術部 |
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液体クロマトグラフ－質量分析（四重極型）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2294 | 液体クロマトグラフ－質量分析 （四重極型） （分析条件検討を含む） |
１試料１成分につき | 41,360円 | 化学技術部 |
| E2295 | 液体クロマトグラフ－質量分析 （四重極型） （分析条件検討を含まない） |
１試料１成分につき | 21,010円 | 化学技術部 |
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機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
該当する情報はありません
固体・表面分析
Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS）表面分析（ワイドスキャンのみ）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5002 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ） | １試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ） | 27,610円 | 川崎技術支援部 |
| K5005 | Ｘ線光電子分光分析 （走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ） 追加試料 |
追加１試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ） | 21,780円 | 川崎技術支援部 |
| K5007 | Ｘ線光電子分光分析 （走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ） 条件増 |
１条件増すごとに（ワイドスキャンのみ） | 5,610円 | 川崎技術支援部 |
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電子線マイクロアナライザ観測（FE-EPMA）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2570 | 電子線マイクロアナライザ観測（FE-EPMA） | １ヶ所につき | 29,370円 | 機械・材料技術部 |
| E2581 | エネルギー分散型X線分析（EDS・FE-EPMAによる） | １ヶ所につき（E2570, E2580に適用） | 7,260円 | 機械・材料技術部 |
| E2582 | 表面観察（FE-EPMAによる） １ヶ所増 | 同一試料で１ヶ所増すごとに（E2570, E2580に適用） | 4,510円 | 機械・材料技術部 |
| E2590 | 電子線マイクロアナライザ観測（FE-EPMA） 追加分析 | １ヶ所につき（E2570, E2580に適用） | 9,130円 | 機械・材料技術部 |
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蛍光Ｘ線法による微小部定性分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1841 | 蛍光Ｘ線法（XRF）による微小部定性分析 | １試料，１ヶ所につき | 9,570円 | 化学技術部 |
| E1842 | 蛍光Ｘ線法（XRF）による微小部定性分析 1条件増 | １条件増すごとに | 3,520円 | 化学技術部 |
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蛍光Ｘ線定性分析（波長分散方式）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1860 | 蛍光Ｘ線定性分析（XRF）（波長分散方式） | １試料につき | 22,440円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
X線光電子分光分析（XPS）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1882 | Ｘ線光電子分光分析（XPS） （簡単なもの) | １試料１ヶ所につき | 18,150円 | 機械・材料技術部 |
| E1884 | Ｘ線光電子分光分析（XPS） （簡単なもの) 条件増 | １条件増すごとに | 8,250円 | 機械・材料技術部 |
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X線光電子分光分析（走査型・XPS）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1980 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・ワイドスキャンのみ） | １試料１ヶ所につき | 15,840円 | 機械・材料技術部 |
| E1982 | Ｘ線光電子分光分析 （走査型・XPS・ワイドおよびナロースキャン） |
１試料１ヶ所につき（6元素まで） | 23,540円 | 機械・材料技術部 |
| E1984 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・面分析，線分析） | １試料１ヶ所につき（5元素まで） | 24,640円 | 機械・材料技術部 |
| E1986 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・深さ方向分析） | １試料１ヶ所につき（6元素まで） | 37,180円 | 機械・材料技術部 |
| E1990 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS） 条件増 | １条件増すごとに | 5,720円 | 機械・材料技術部 |
| E1992 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS） 元素増（１） | １元素増すごとに（E１982, E１984に適用） | 4,950円 | 機械・材料技術部 |
| E1994 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS） 元素増（２） | １元素増すごとに（E１986に適用） | 7,370円 | 機械・材料技術部 |
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Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS）深さ方向分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5010 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・深さ方向分析） | １試料１条件につき （主成分のみ、深さ0.2μmまで） |
82,940円 | 川崎技術支援部 |
| K5015 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・深さ方向分析） 条件増 | １条件増すごとに | 11,330円 | 川崎技術支援部 |
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Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS）表面分析（ワイドおよびナロースキャン）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5011 | Ｘ線光電子分光分析 （走査型・XPS・表面分析・ワイドおよびナロースキャン） |
１試料１条件につき （ワイドおよびナロースキャン） |
49,060円 | 川崎技術支援部 |
| K5012 | Ｘ線光電子分光分析 （走査型・XPS・表面分析・ワイドおよびナロースキャン） 条件増 |
１条件増すごとに（面分析、状態分析加算等） | 11,330円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
微小部蛍光Ｘ線分析（XRF）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1210 | 微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） | １試料１条件につき | 7,590円 | 川崎技術支援部 |
| K1211 | 微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） 条件追加 | １条件追加につき | 3,520円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） 面分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1212 | 微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） 面分析 | 面分析１条件につき（５元素まで） | 12,100円 | 川崎技術支援部 |
| K1213 | 微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） 面分析 条件追加 | 面分析１条件追加につき | 2,530円 | 川崎技術支援部 |
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機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K2210 | 微小部蛍光Ｘ線分析装置（XRF） [SEA6000VX HSFinder] | SII社 SEA6000VX HSFinder | 6,050円 | 川崎技術支援部 |
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有機物定性分析
フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5050 | フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR） 簡易な測定 | １試料１条件につき | 10,230円 | 川崎技術支援部 |
| K5055 | フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR） | １試料１条件につき | 20,350円 | 川崎技術支援部 |
| K5056 | フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR） 条件追加 | １条件追加につき | 8,030円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2021 | フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR） | １スペクトルにつき | 20,350円 | 化学技術部、機械・材料技術部 |
| E2023 | フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR）用微小試料調製 | １試料につき | 3,410円 | 化学技術部、機械・材料技術部 |
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顕微レーザーラマン分光分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2080 | 顕微レーザーラマン分光分析 | １試料１ヶ所につき | 20,460円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
飛行時間型質量分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2631 | 飛行時間型質量分析 | １試料１測定につき | 29,810円 | 化学技術部 |
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電子スピン共鳴分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2651 | 電子スピン共鳴分析（Ａ）（基本測定） | １試料１スペクトルにつき | 22,220円 | 機械・材料技術部 |
| E2652 | 電子スピン共鳴分析（Ｂ）（特殊測定・定量） | １試料１スペクトルにつき | 38,940円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K6050 | フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR） [FT/IR-6300FV・IRT-7000] |
日本分光 FT/IR-6300FV・IRT-7000 | 9,680円 | 川崎技術支援部 |
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X線構造解析
X線回折試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2510 | Ｘ線回折試験 （Ι） 粉末X線回折 | １試料につき | 24,090円 | 電子技術部 |
| E2520 | Ｘ線回折試験 （Ⅱ） 高度な粉末Ｘ線回折・薄膜X線回折 | １試料につき | 36,630円 | 電子技術部 |
| E2530 | Ｘ線回折試験 （Ⅲ） 高度な薄膜Ｘ線回折 | １試料につき | 56,650円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
該当する情報はありません
試料調製
試料調製
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1801 | 試料調製（１）（一般的な前処理） | E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 | 10,890円 | 化学技術部 |
| E1802 | 試料調製（２）（複雑な前処理） | E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 | 14,300円 | 化学技術部 |
| E1803 | 試料調製（３）（困難な前処理） | E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 | 21,230円 | 化学技術部 |
| E1804 | 試料調製（４）（非常に困難な前処理） | E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 | 29,150円 | 化学技術部 |
| E1805 | 切粉作製（Ａ）（加工が容易なもの） | E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 | 3,080円 | 化学技術部 |
| E1806 | 切粉作製（Ｂ）（加工がやや難しいもの） | E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 | 10,560円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
該当する情報はありません
材料観察
外観観察
顕微鏡試料調製
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5120 | 顕微鏡試料調製（第１種）：容易なもの | １試料につき | 1,980円 | 川崎技術支援部 |
| K5121 | 顕微鏡試料調製（第２種）：標準的なもの | １試料につき | 3,960円 | 川崎技術支援部 |
| K5122 | 顕微鏡試料調製（第３種）：比較的複雑なもの | １試料につき | 7,810円 | 川崎技術支援部 |
| K5123 | 顕微鏡試料調製（第４種）：非常に複雑なもの | １試料につき | 11,550円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
デジタルマイクロスコープ観察 [HRX-01]
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0101 | デジタルマイクロスコープ観察 [HRX-01] | １試料につき | 2,640円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
デジタルマイクロスコープ撮影 [HRX-01]
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0102 | デジタルマイクロスコープ撮影 [HRX-01] | １撮影につき | 1,100円 | 機械・材料技術部 |
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金属組織写真撮影
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5110 | 金属組織写真撮影 | 写真１枚につき | 11,110円 | 川崎技術支援部 |
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金属組織写真撮影
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0031 | 金属組織写真撮影 | 写真１枚につき | 11,110円 | 機械・材料技術部 |
| E0070 | 写真撮影箇所増し （E0031に適用） | 同一試料で１ヶ所増すごとに | 2,860円 | 機械・材料技術部 |
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実体顕微鏡写真撮影
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0055 | 実体顕微鏡写真撮影 | 写真１枚につき | 4,840円 | 機械・材料技術部 |
| E0056 | 実体顕微鏡写真撮影箇所増し （E0055に適用） | 同一試料で１ヶ所増すごとに | 2,090円 | 機械・材料技術部 |
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プラスチック製品の破断面観察
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2940 | プラスチック製品の破断面観察 | １試料につき | 29,150円 | 化学技術部 |
| E2941 | プラスチック製品の破断面写真撮影 | 写真１枚につき（E2940に適用） | 2,970円 | 化学技術部 |
| E2942 | プラスチック製品の破断面写真撮影（倍率変更） | 写真１枚につき（E2941に適用） | 1,430円 | 化学技術部 |
| E2943 | プラスチック製品の外観撮影 | 写真１枚につき（E2940に適用） | 1,430円 | 化学技術部 |
| E2944 | 観察試料作製（１） （標準的なもの） | １試料につき（E2940に適用） | 3,630円 | 化学技術部 |
| E2945 | 観察試料作製（２） （複雑なもの） | １試料につき（E2940に適用） | 7,260円 | 化学技術部 |
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デジタルマイクロスコープ観察 [VHX-600]
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1910 | デジタルマイクロスコープ観察 [VHX-600] | 画像１枚につき | 4,180円 | 川崎技術支援部 |
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外観写真撮影
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5112 | 外観写真撮影 | 写真１枚につき | 5,720円 | 川崎技術支援部 |
| K5114 | 写真撮影１ヶ所増すごとに | 同一試料で１ヶ所増すごとに | 2,860円 | 川崎技術支援部 |
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機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E7020 | 金属顕微鏡 | ニコン X2-T1-NR | 550円 | 機械・材料技術部 |
| E7150 | デジタルマイクロスコープ | ハイロックス HRX-01 | 1,980円 | 機械・材料技術部 |
| E7160 | 顕微鏡 | オリンパス CKX41N-31PHP | 770円 | 化学技術部 |
| K2915 | デジタルマイクロスコープ [VHX-600] （30分当たり） | キーエンス VHX-600 | 1,650円 | 川崎技術支援部 |
| K6110 | 金属顕微鏡 [BX-51] （１時間当たり） | オリンパス光学工業 BX-51 | 1,650円 | 川崎技術支援部 |
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微細構造観察
ハイブリッドレーザー顕微鏡観察
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1145 | ハイブリッドレーザー顕微鏡観察 | １測定１解析につき | 8,690円 | 電子技術部 |
| E1146 | ハイブリッドレーザー顕微鏡観察 １視野追加 | １視野追加につき | 4,290円 | 電子技術部 |
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レーザーマーキング
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1630 | レーザーマーキング | 15分以内 | 2,860円 | 川崎技術支援部 |
| K1635 | レーザーマーキング 追加 | 追加15分当たり | 1,870円 | 川崎技術支援部 |
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走査電子顕微鏡写真撮影
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0011 | 走査電子顕微鏡写真撮影 ５万倍以下 | １試料１視野観察につき | 21,120円 | 機械・材料技術部 |
| E0012 | 走査電子顕微鏡写真撮影 ５万倍以下 １視野追加 | １視野追加観察につき | 4,840円 | 機械・材料技術部 |
| E0013 | 走査電子顕微鏡写真撮影 ５万倍を超えて10万倍以下 | １試料１視野観察につき | 30,910円 | 機械・材料技術部 |
| E0014 | 走査電子顕微鏡写真撮影 ５万倍を超えて10万倍以下 １視野追加 | １視野追加観察につき | 9,240円 | 機械・材料技術部 |
| E0015 | 走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの | １試料１視野観察につき | 52,250円 | 機械・材料技術部 |
| E0016 | 走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの １視野追加 | １視野追加観察につき | 14,960円 | 機械・材料技術部 |
| E0017 | 走査電子顕微鏡写真撮影 10～15視野 | 115,940円 | 機械・材料技術部 | |
| E0018 | 走査電子顕微鏡写真撮影 16～30視野 | 173,910円 | 機械・材料技術部 | |
| E0021 | エネルギー分散型X線分析（EDS） （E0011～E0018、E1790に適用） |
１ヶ所につき | 7,150円 | 機械・材料技術部 |
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電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1790 | 電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定 | １視野測定につき | 49,500円 | 機械・材料技術部 |
| E1791 | 電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定 １視野追加 |
１視野追加測定につき | 12,760円 | 機械・材料技術部 |
| E0021 | エネルギー分散型X線分析（EDS） （E0011～E0018、E1790に適用） |
１ヶ所につき | 7,150円 | 機械・材料技術部 |
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表面観察（FE-EPMAによる）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2580 | 表面観察（FE-EPMAによる） | １ヶ所につき | 20,350円 | 機械・材料技術部 |
| E2581 | エネルギー分散型X線分析（EDS・FE-EPMAによる） | １ヶ所につき（E2570, E2580に適用） | 7,260円 | 機械・材料技術部 |
| E2582 | 表面観察（FE-EPMAによる） １ヶ所増 | 同一試料で１ヶ所増すごとに（E2570, E2580に適用） | 4,510円 | 機械・材料技術部 |
| E2590 | 電子線マイクロアナライザ観測（FE-EPMA） 追加分析 | １ヶ所につき（E2570, E2580に適用） | 9,130円 | 機械・材料技術部 |
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超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1150 | 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 | １測定１解析につき | 9,020円 | 電子技術部 |
| E1151 | 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 １解析増 | １解析増すごとに | 2,420円 | 電子技術部 |
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走査型プローブ顕微鏡観察
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1780 | 走査型プローブ顕微鏡観察 | 標準１条件１測定につき | 23,320円 | 電子技術部 |
| E1781 | 走査型プローブ顕微鏡観察 １視野追加 | １視野追加につき | 10,780円 | 電子技術部 |
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走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800]
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1010 | 走査電子顕微鏡観察 （電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] ５万倍以下 |
観察倍率５万倍以下 １条件につき | 21,450円 | 川崎技術支援部 |
| K1015 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] ５万倍以下 条件追加 |
観察倍率５万倍以下 １条件追加につき | 4,950円 | 川崎技術支援部 |
| K1020 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] ５万倍を超えて10万倍以下 |
観察倍率５万倍を超えて10万倍以下 １条件につき |
31,020円 | 川崎技術支援部 |
| K1025 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] ５万倍を超えて10万倍以下 条件追加 |
観察倍率５万倍を超えて10万倍以下 １条件追加につき |
9,680円 | 川崎技術支援部 |
| K1030 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] 10万倍を超えるもの |
観察倍率10万倍を超えるもの １条件につき |
52,470円 | 川崎技術支援部 |
| K1035 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] 10万倍を超えるもの 条件追加 |
観察倍率10万倍を超えるもの １条件追加につき |
15,400円 | 川崎技術支援部 |
| K1040 | 走査電子顕微鏡（電界放出型）[S-4800] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） |
１条件追加につき | 15,400円 | 川崎技術支援部 |
| K1041 | 走査電子顕微鏡（電界放出型）[S-4800] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） 条件追加 |
１条件追加につき | 4,950円 | 川崎技術支援部 |
| K1042 | 走査電子顕微鏡（電界放出型）[S-4800] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） 面分析 |
面分析１条件につき | 16,390円 | 川崎技術支援部 |
| K1050 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] 10～15視野 |
１試料の観察視野が10～15視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） | 114,400円 | 川崎技術支援部 |
| K1052 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] 16～30視野 |
１試料の観察視野が16～30視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） | 170,060円 | 川崎技術支援部 |
| K1055 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] 条件追加 |
１条件追加につき | 12,540円 | 川崎技術支援部 |
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走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[JSM-7800F Prime]
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1310 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] ５万倍以下 |
観察倍率５万倍以下１試料１視野観察につき | 21,120円 | 川崎技術支援部 |
| K1315 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] ５万倍以下 １視野追加 |
観察倍率５万倍以下 同一試料において１視野追加観察につき |
4,840円 | 川崎技術支援部 |
| K1320 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] ５万倍を超えて10万倍以下 |
観察倍率５万倍を超えて10万倍以下 １試料１視野観察につき |
30,910円 | 川崎技術支援部 |
| K1325 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] ５万倍を超えて10万倍以下 １視野追加 |
観察倍率５万倍を超えて10万倍以下 同一試料において１視野追加観察につき |
9,240円 | 川崎技術支援部 |
| K1330 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] 10万倍を超えるもの |
観察倍率10万倍を超えるもの １試料１視野観察につき |
52,250円 | 川崎技術支援部 |
| K1335 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] 10万倍を超えるもの １視野追加 |
観察倍率10万倍を超えるもの 同一試料において１視野追加観察につき |
14,960円 | 川崎技術支援部 |
| K1392 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] 10～15視野 |
１試料の観察視野が10～15視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） | 115,940円 | 川崎技術支援部 |
| K1395 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] 16～30視野 |
１試料の観察視野が16～30視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） | 173,910円 | 川崎技術支援部 |
| K1342 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] 低真空モード |
低真空モードの使用 | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
| K1343 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] STEM |
透過像観察機能（STEM）の使用 | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
| K1340 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] １条件追加 |
１条件追加につき | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
| K1350 | 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） 点分析 |
点分析１視野１箇所につき | 17,380円 | 川崎技術支援部 |
| K1351 | 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） 点分析追加 |
点分析同一視野内で１箇所追加につき | 5,170円 | 川崎技術支援部 |
| K1352 | 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） 線分析 |
線分析１視野１箇所につき | 23,540円 | 川崎技術支援部 |
| K1353 | 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） 線分析追加 |
線分析同一視野内で１箇所追加につき | 8,360円 | 川崎技術支援部 |
| K1354 | 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） 面分析 |
面分析１視野につき | 35,860円 | 川崎技術支援部 |
| K1356 | 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） 各種データ処理 |
各種データ処理１条件につき | 5,170円 | 川崎技術支援部 |
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分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1440 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 10万倍以下 |
倍率 10万倍以下 １視野につき | 19,470円 | 川崎技術支援部 |
| K1445 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 10万倍以下 １視野増 |
倍率 10万倍以下 １視野増すごとに | 7,040円 | 川崎技術支援部 |
| K1441 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 10万倍を超えて50万倍以下 |
倍率 10万倍を超えて50万倍以下 １視野につき |
25,850円 | 川崎技術支援部 |
| K1446 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 10万倍を超えて50万倍以下 １視野増 |
倍率 10万倍を超えて50万倍以下 １視野増すごとに |
14,080円 | 川崎技術支援部 |
| K1450 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 50万倍を超えて200万倍以下 |
倍率 50万倍を超えて200万倍以下 １視野につき |
35,530円 | 川崎技術支援部 |
| K1455 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 50万倍を超えて200万倍以下 １視野増 |
倍率 50万倍を超えて200万倍以下 １視野増すごとに |
19,470円 | 川崎技術支援部 |
| K1451 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 200万倍を超えるもの |
倍率 200万倍を超えるもの １視野につき | 51,590円 | 川崎技術支援部 |
| K1456 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 200万倍を超えるもの １視野増 |
倍率 200万倍を超えるもの １視野増すごとに | 29,590円 | 川崎技術支援部 |
| K1460 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 試料傾斜調整 |
試料傾斜調整 １条件ごとに | 13,420円 | 川崎技術支援部 |
| K1470 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 制限視野回折 |
制限視野回折 １視野につき | 16,500円 | 川崎技術支援部 |
| K1471 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 微小領域回折 |
微小領域回折 １視野につき | 29,590円 | 川崎技術支援部 |
| K1472 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 明視野像 |
明視野像 １視野につき | 19,470円 | 川崎技術支援部 |
| K1473 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 暗視野像 |
暗視野像 １視野につき | 35,530円 | 川崎技術支援部 |
| K1510 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 点分析 |
点分析 １試料１測定点につき |
28,710円 | 川崎技術支援部 |
| K1515 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 点分析追加 |
点分析 同一試料において１測定点追加につき |
6,160円 | 川崎技術支援部 |
| K1540 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 定量分析 |
定量分析 １試料１測定点につき |
24,970円 | 川崎技術支援部 |
| K1545 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 定量分析追加 |
定量分析 同一試料において１測定点追加につき |
7,370円 | 川崎技術支援部 |
| K1520 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 線分析 |
線分析 １測定５元素までごとに |
68,090円 | 川崎技術支援部 |
| K1530 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 面分析 |
面分析 １視野５元素ごとに、または２時間につき |
109,230円 | 川崎技術支援部 |
| K1550 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] データ処理 | 各種データ処理 １条件につき | 12,320円 | 川崎技術支援部 |
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分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/STEM/EDS）[Talos F200X]
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1740 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 10万倍以下 |
観察倍率10万倍以下 １視野につき |
19,690円 | 川崎技術支援部 |
| K1741 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 10万倍以下 １視野追加 |
観察倍率10万倍以下 同条件１視野追加につき |
9,900円 | 川崎技術支援部 |
| K1745 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 10万倍を超えて50万倍以下 |
観察倍率10万倍を超えて50万倍以下 １視野につき |
26,840円 | 川崎技術支援部 |
| K1746 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 10万倍を超えて50万倍以下 １視野追加 |
観察倍率10万倍を超えて50万倍以下 同条件１視野追加につき |
14,850円 | 川崎技術支援部 |
| K1750 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 50万倍を超えて200万倍以下 |
観察倍率50万倍を超えて200万倍以下 １視野につき |
35,530円 | 川崎技術支援部 |
| K1751 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 50万倍を超えて200万倍以下 １視野追加 |
観察倍率50万倍を超えて200万倍以下 同条件１視野追加につき |
19,690円 | 川崎技術支援部 |
| K1755 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 200万倍を超えるもの |
観察倍率200万倍を超えるもの １視野につき |
51,370円 | 川崎技術支援部 |
| K1756 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 200万倍を超えるもの １視野追加 |
観察倍率200万倍を超えるもの 同条件１視野追加につき |
30,690円 | 川崎技術支援部 |
| K1760 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 試料傾斜調整 |
試料傾斜調整 １条件につき |
13,530円 | 川崎技術支援部 |
| K1761 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 制限視野回折 |
制限視野回析 １視野につき |
17,160円 | 川崎技術支援部 |
| K1768 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 条件追加 |
１条件追加につき | 12,210円 | 川崎技術支援部 |
| K1770 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS）面分析 |
面分析 １視野５元素ごとに、または２時間につき |
108,900円 | 川崎技術支援部 |
| K1410 | TEM試料調製 分散法 ふりかけ法 | ふりかけ法 １試料につき | 6,600円 | 川崎技術支援部 |
| K1411 | TEM試料調製 分散法 懸濁法 | 懸濁法 １試料につき | 13,090円 | 川崎技術支援部 |
| K1425 | TEM試料調製 低エネルギーイオンミリング （ジェントルミル） |
１試料１条件につき | 14,850円 | 川崎技術支援部 |
| K1432 | TEM試料調製 電子染色 | １試料につき | 29,260円 | 川崎技術支援部 |
| K1433 | TEM試料調製 樹脂包埋 | １試料につき | 14,190円 | 川崎技術支援部 |
| K1620 | TEM試料調製 FIB-リフトアウト法 | １試料につき | 88,440円 | 川崎技術支援部 |
| K1621 | TEM試料調製 FIB-リフトアウト法 条件追加 | １条件追加につき | 32,120円 | 川崎技術支援部 |
| K1625 | TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 低加速ガリウムイオン |
低加速ガリウムイオン仕上げ １試料につき |
122,100円 | 川崎技術支援部 |
| K1663 | TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 低加速ガリウムイオン 試料作製のみ |
低加速ガリウムイオン仕上げ １試料につき（試料作製のみ） |
134,640円 | 川崎技術支援部 |
| K1626 | TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 低加速ガリウムイオン条件追加 |
低加速ガリウムイオン仕上げ １条件追加につき |
32,450円 | 川崎技術支援部 |
| K1627 | TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 アルゴンイオンミリング |
アルゴンイオンミリング仕上げ １試料につき |
137,500円 | 川崎技術支援部 |
| K1666 | TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 アルゴンイオンミリング 試料作製のみ |
アルゴンイオンミリング仕上げ １試料につき（試料作製のみ） |
149,380円 | 川崎技術支援部 |
| K1628 | TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 アルゴンイオンミリング条件追加 |
アルゴンイオンミリング仕上げ １条件追加につき |
32,450円 | 川崎技術支援部 |
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集束イオンビーム装置観察（FIB-SEM/EDS）[XVision 200TB]
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1640 | 集束イオンビーム装置（FIB-SEM/EDS）[XVision 200TB] | １時間以内 | 33,880円 | 川崎技術支援部 |
| K1641 | 集束イオンビーム装置（FIB-SEM/EDS）[XVision 200TB] 追加 | 追加１時間当たり | 28,820円 | 川崎技術支援部 |
| K1650 | FIBオプション カーボン膜デポジション | 10分当たり | 2,420円 | 川崎技術支援部 |
| K1670 | FIBオプション アルゴンイオンミリング | 30分当たり | 11,330円 | 川崎技術支援部 |
| K1680 | FIB付属のSEM観察 | １試料１視野観察につき | 20,680円 | 川崎技術支援部 |
| K1681 | FIB付属のSEM観察 視野追加 | 同一試料において１視野追加観察につき | 4,620円 | 川崎技術支援部 |
| K1682 | FIB付属のSEM観察 条件追加 | 同一試料において１条件追加につき | 4,620円 | 川崎技術支援部 |
| K1690 | FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 点分析 |
点分析１視野１箇所につき | 17,050円 | 川崎技術支援部 |
| K1691 | FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 点分析追加 |
点分析同一視野内で１箇所追加につき | 5,830円 | 川崎技術支援部 |
| K1694 | FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 線分析 |
線分析１視野１箇所につき | 22,880円 | 川崎技術支援部 |
| K1695 | FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 線分析追加 |
線分析同一視野内で１箇所追加につき | 8,910円 | 川崎技術支援部 |
| K1692 | FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 面分析 |
面分析１視野につき | 34,650円 | 川崎技術支援部 |
| K1696 | FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 各種データ処理 |
各種データ処理１条件につき | 5,830円 | 川崎技術支援部 |
| K1672 | FIB-SEMによる 三次元再構築用連続断面画像の取得 | １測定につき | 113,740円 | 川崎技術支援部 |
| K1674 | FIB-SEMによる 三次元再構築用連続断面画像の取得 条件追加 |
１条件追加につき | 12,100円 | 川崎技術支援部 |
| K1730 | FIB-SEMによる 微小試験片の作製 標準 | 標準的な作製 （SEM観察含む） ５本につき | 182,160円 | 川崎技術支援部 |
| K1732 | FIB-SEMによる 微小試験片の作製 複雑 | 複雑な作製 （SEM観察含む） ５本につき | 273,130円 | 川崎技術支援部 |
| K1735 | FIB-SEMによる 微小試験片の作製 条件追加 | １条件追加につき | 11,550円 | 川崎技術支援部 |
| K1610 | マニピュレーターによるサンプリング | １試料につき | 5,830円 | 川崎技術支援部 |
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集束イオンビーム装置観察（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）[Scios LoVacシステム]
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1940 | 集束イオンビーム装置（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD） [Scios LoVacシステム] |
１時間以内 | 35,530円 | 川崎技術支援部 |
| K1941 | 集束イオンビーム装置（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD） [Scios LoVacシステム] 追加 |
追加１時間当たり | 30,470円 | 川崎技術支援部 |
| K1950 | マルチ解析用FIBオプション カーボン膜デポジション |
10分当たり | 2,420円 | 川崎技術支援部 |
| K1951 | マルチ解析用FIBオプション プラチナ膜デポジション |
10分当たり | 2,310円 | 川崎技術支援部 |
| K1960 | マルチ解析用FIB付属のSEM観察 | １試料１視野観察につき | 20,900円 | 川崎技術支援部 |
| K1961 | マルチ解析用FIB付属のSEM観察 視野追加 | 同一試料において１視野追加観察につき | 4,730円 | 川崎技術支援部 |
| K1962 | マルチ解析用FIB付属のSEM観察 条件追加 | 同一試料において１条件追加につき | 4,730円 | 川崎技術支援部 |
| K1965 | マルチ解析用FIB付属のSEM観察オプション 低真空 | 低真空モードの使用 | 11,660円 | 川崎技術支援部 |
| K1970 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 点分析 |
点分析１視野１箇所につき | 17,380円 | 川崎技術支援部 |
| K1971 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 点分析追加 |
点分析同一視野内で１箇所追加につき | 5,940円 | 川崎技術支援部 |
| K1974 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 線分析 |
線分析１視野１箇所につき | 23,210円 | 川崎技術支援部 |
| K1975 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 線分析追加 |
線分析同一視野内で１箇所追加につき | 8,910円 | 川崎技術支援部 |
| K1976 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 面分析 |
面分析１視野につき | 34,760円 | 川崎技術支援部 |
| K1978 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 各種データ処理 |
各種データ処理１条件につき | 5,940円 | 川崎技術支援部 |
| K1980 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EBSD分析測定 結晶方位マップ |
結晶方位マップ１視野につき | 48,840円 | 川崎技術支援部 |
| K1981 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EBSD分析測定 視野追加 |
同一試料で１視野追加につき | 11,660円 | 川崎技術支援部 |
| K1984 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EBSD分析測定 条件追加 |
１条件追加につき | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
| K1985 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EBSD分析測定 各種データ処理 |
各種データ処理１条件につき | 5,940円 | 川崎技術支援部 |
| K1990 | マルチ解析用FIB-SEMによる 三次元再構築用連続断面画像の取得 |
１測定につき | 120,230円 | 川崎技術支援部 |
| K1995 | マルチ解析用FIB-SEMによる 三次元再構築用連続断面画像の取得 条件追加 |
１条件追加につき | 12,210円 | 川崎技術支援部 |
| K1930 | マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製 標準 | 標準的な作製（SEM観察含む）５本につき | 193,710円 | 川崎技術支援部 |
| K1932 | マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製 複雑 | 複雑な作製（SEM観察含む） ５本につき | 292,820円 | 川崎技術支援部 |
| K1935 | マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製 条件追加 | １条件追加につき | 11,880円 | 川崎技術支援部 |
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画像解析システム
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1832 | 画像解析システム 三次元再構築 | １測定対象につき | 62,590円 | 川崎技術支援部 |
| K1834 | 画像解析システム 三次元データ処理 | １条件追加につき | 12,430円 | 川崎技術支援部 |
| K1840 | 画像解析システム 画像解析 | １測定対象につき | 23,760円 | 川崎技術支援部 |
| K1842 | 画像解析システム データ処理 | １条件追加につき | 6,270円 | 川崎技術支援部 |
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機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E6960 | 超深度形状測定顕微鏡 （レーザー顕微鏡） | キーエンス VK8500 | 2,090円 | 電子技術部 |
| E6965 | ハイブリッドレーザー顕微鏡 データ解析 | レーザーテック OPTELICS HYBRID | 880円 | 電子技術部 |
| K2015 | FE-SEM/EDS [S-4800] | 日立ハイテクノロジーズ S-4800 | 39,380円 | 川崎技術支援部 |
| K2425 | 低エネルギーイオン研磨装置 [Model IV5（ジェントルミル）] | リンダ Model IV5（ジェントルミル） | 12,100円 | 川崎技術支援部 |
| K2635 | レーザーマーカ [LR2100ST] （30分当たり） | HOYA LR2100ST | 3,080円 | 川崎技術支援部 |
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試料調製・前処理
その他特殊処理
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4195 | その他特殊処理 | １試料につき | 17,710円 | 川崎技術支援部 |
| K4196 | その他特殊処理 条件追加 | １条件追加につき | 17,710円 | 川崎技術支援部 |
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電子染色
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4192 | 電子染色 | １試料につき | 29,260円 | 川崎技術支援部 |
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樹脂包埋
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4185 | 樹脂包埋 | １試料につき | 14,190円 | 川崎技術支援部 |
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低エネルギーイオンミリング（ジェントルミル）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4180 | 低エネルギーイオンミリング（ジェントルミル） | １試料１条件につき | 14,850円 | 川崎技術支援部 |
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分散法
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4170 | 分散法 ふりかけ法 | １試料につき | 6,600円 | 川崎技術支援部 |
| K4171 | 分散法 懸濁法 | １試料につき | 13,090円 | 川崎技術支援部 |
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各種コーティング（カーボンコーティング他）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4310 | カーボンコーティング | １試料につき | 3,520円 | 川崎技術支援部 |
| K4320 | 金コーティング | １試料につき | 3,520円 | 川崎技術支援部 |
| K4330 | 白金コーティング | １試料につき | 3,520円 | 川崎技術支援部 |
| K4340 | パラジウムコーティング | １試料につき | 3,520円 | 川崎技術支援部 |
| K4350 | オスミウムコーティング | １試料につき | 3,520円 | 川崎技術支援部 |
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ウルトラミクロトーム法
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4280 | ウルトラミクロトーム法 A：容易な試料 | １試料につき | 24,420円 | 川崎技術支援部 |
| K4282 | ウルトラミクロトーム法 B：標準的な試料 | １試料につき | 49,170円 | 川崎技術支援部 |
| K4284 | ウルトラミクロトーム法 C：複雑な試料 | １試料につき | 74,030円 | 川崎技術支援部 |
| K4286 | ウルトラミクロトーム法 D：非常に複雑な試料 | １試料につき | 98,670円 | 川崎技術支援部 |
| K4287 | ウルトラミクロトーム法 条件追加 | １条件追加につき | 6,270円 | 川崎技術支援部 |
| K4288 | ウルトラミクロトーム法 クライオ | クライオの使用 １試料につき | 60,720円 | 川崎技術支援部 |
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イオンミリング法 （大きい試料用）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4250 | 断面イオンミリング法 （大きい試料用） A：容易な試料 |
１試料につき | 23,100円 | 川崎技術支援部 |
| K4252 | 断面イオンミリング法 （大きい試料用） B：標準的な試料 |
１試料につき | 45,980円 | 川崎技術支援部 |
| K4254 | 断面イオンミリング法 （大きい試料用） C：複雑な試料 |
１試料につき | 68,860円 | 川崎技術支援部 |
| K4256 | 断面イオンミリング法 （大きい試料用） D：非常に複雑な試料 |
１試料につき | 91,960円 | 川崎技術支援部 |
| K4257 | 断面イオンミリング法 （大きい試料用） 条件追加 |
１条件追加につき | 5,720円 | 川崎技術支援部 |
| K4258 | 断面イオンミリング法 （大きい試料用） クライオ |
クライオの使用 １試料につき | 5,830円 | 川崎技術支援部 |
| K4260 | 平面イオンミリング法 （大きい試料用） A：容易な試料 |
１試料につき | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
| K4262 | 平面イオンミリング法 （大きい試料用） B：標準的な試料 |
１試料につき | 21,340円 | 川崎技術支援部 |
| K4264 | 平面イオンミリング法 （大きい試料用） C：複雑な試料 |
１試料につき | 31,350円 | 川崎技術支援部 |
| K4266 | 平面イオンミリング法 （大きい試料用） D：非常に複雑な試料 |
１試料につき | 41,800円 | 川崎技術支援部 |
| K4267 | 平面イオンミリング法 （大きい試料用） 条件追加 |
１条件追加につき | 5,390円 | 川崎技術支援部 |
| K4270 | イオンビームスパッタ | １試料につき | 5,940円 | 川崎技術支援部 |
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イオンミリング法 （小さい試料用）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4230 | 断面イオンミリング法 （小さい試料用） A：容易な試料 |
１試料につき | 24,090円 | 川崎技術支援部 |
| K4232 | 断面イオンミリング法 （小さい試料用） B：標準的な試料 |
１試料につき | 47,300円 | 川崎技術支援部 |
| K4234 | 断面イオンミリング法 （小さい試料用） C：複雑な試料 |
１試料につき | 72,490円 | 川崎技術支援部 |
| K4236 | 断面イオンミリング法 （小さい試料用） D：非常に複雑な試料 |
１試料につき | 92,620円 | 川崎技術支援部 |
| K4237 | 断面イオンミリング法 （小さい試料用） 条件追加 |
１条件追加につき | 5,830円 | 川崎技術支援部 |
| K4238 | 断面イオンミリング法 （小さい試料用） クライオ |
クライオの使用 １試料につき | 5,830円 | 川崎技術支援部 |
| K4240 | 平面イオンミリング法 （小さい試料用） A：容易な試料 |
１試料につき | 11,440円 | 川崎技術支援部 |
| K4242 | 平面イオンミリング法 （小さい試料用） B：標準的な試料 |
１試料につき | 23,870円 | 川崎技術支援部 |
| K4244 | 平面イオンミリング法 （小さい試料用） C：複雑な試料 |
１試料につき | 34,320円 | 川崎技術支援部 |
| K4246 | 平面イオンミリング法 （小さい試料用） D：非常に複雑な試料 |
１試料につき | 44,770円 | 川崎技術支援部 |
| K4247 | 平面イオンミリング法 （小さい試料用） 条件追加 |
１条件追加につき | 5,830円 | 川崎技術支援部 |
| K4248 | 平面イオンミリング法 （小さい試料用） クライオ |
クライオの使用 １試料につき | 5,830円 | 川崎技術支援部 |
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精密機械研磨法
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4210 | 精密機械研磨法 A：容易な試料 | １試料につき | 12,320円 | 川崎技術支援部 |
| K4212 | 精密機械研磨法 B：標準的な試料 | １試料につき | 24,750円 | 川崎技術支援部 |
| K4214 | 精密機械研磨法 C：複雑な試料 | １試料につき | 36,520円 | 川崎技術支援部 |
| K4216 | 精密機械研磨法 D：非常に複雑な試料 | １試料につき | 48,400円 | 川崎技術支援部 |
| K4217 | 精密機械研磨法 条件追加 | １条件追加につき | 5,720円 | 川崎技術支援部 |
| K4220 | 試料の撮影 | １試料１視野につき | 2,310円 | 川崎技術支援部 |
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試料前処理（切断、導電処理等）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4120 | 試料前処理（切断、導電処理等） | 処理時間30分につき | 1,650円 | 川崎技術支援部 |
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顕微鏡試料調製
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0080 | 顕微鏡試料調製（１） （容易なもの） | １試料につき | 1,980円 | 機械・材料技術部 |
| E0090 | 顕微鏡試料調製（２） （標準的なもの） | １試料につき | 3,960円 | 機械・材料技術部 |
| E0091 | 顕微鏡試料調製（３） （比較的複雑なもの） | １試料につき | 7,810円 | 機械・材料技術部 |
| E0092 | 顕微鏡試料調製（４） （非常に複雑なもの） | １試料につき | 11,550円 | 機械・材料技術部 |
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イオンミリング法による試料調製
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0022 | イオンミリング法による試料調製（１） （標準的なもの） | １試料１ヶ所につき | 45,100円 | 機械・材料技術部 |
| E0023 | イオンミリング法による試料調製（２） （複雑なもの） | １試料１ヶ所につき | 67,430円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
該当する情報はありません
材料物性
熱物性測定
赤外線放射計による放射率測定※装置故障により現在ご利用いただけません。
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3930 | 赤外線放射計による放射率測定 | １試料１測定につき | 38,720円 | 化学技術部 |
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示差熱熱重量測定（ＴＧ／ＤＴＡ）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2411 | 示差熱熱重量測定（ＴＧ／ＤＴＡ） 室温～600℃ | １測定につき | 15,840円 | 化学技術部 |
| E2421 | 示差熱熱重量測定（ＴＧ／ＤＴＡ） 600℃をこえるもの | １測定につき | 21,120円 | 化学技術部 |
| E2490 | 試料調製（１） （切断，試験片作製等簡易な前処理） | E2411からE2472に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E2491 | 試料調製（２） （粉末化等困難な前処理） | E2411からE2472に適用 | 4,950円 | 化学技術部 |
| E2492 | 試料調製（３） （溶解，ろ過等複雑な前処理） | E2411からE2472に適用 | 7,370円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
示差走査熱量測定（ＤＳＣ）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2432 | 示差走査熱量測定（ＤＳＣ） | １測定につき | 17,270円 | 化学技術部 |
| E2433 | 示差走査熱量測定（ＤＳＣ）液体窒素使用 | １測定につき | 23,430円 | 化学技術部 |
| E2490 | 試料調製（１） （切断，試験片作製等簡易な前処理） | E2411からE2472に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E2491 | 試料調製（２） （粉末化等困難な前処理） | E2411からE2472に適用 | 4,950円 | 化学技術部 |
| E2492 | 試料調製（３） （溶解，ろ過等複雑な前処理） | E2411からE2472に適用 | 7,370円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
高圧示差熱・熱重量測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2441 | 高圧示差熱・熱重量測定 | １測定につき | 25,630円 | 化学技術部 |
| E2490 | 試料調製（１） （切断，試験片作製等簡易な前処理） | E2411からE2472に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E2491 | 試料調製（２） （粉末化等困難な前処理） | E2411からE2472に適用 | 4,950円 | 化学技術部 |
| E2492 | 試料調製（３） （溶解，ろ過等複雑な前処理） | E2411からE2472に適用 | 7,370円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
発火温度測定（ＨＰ-ＴＧ法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2442 | 発火温度測定（ＨＰ-ＴＧ法） | １測定につき | 22,330円 | 化学技術部 |
| E2490 | 試料調製（１） （切断，試験片作製等簡易な前処理） | E2411からE2472に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E2491 | 試料調製（２） （粉末化等困難な前処理） | E2411からE2472に適用 | 4,950円 | 化学技術部 |
| E2492 | 試料調製（３） （溶解，ろ過等複雑な前処理） | E2411からE2472に適用 | 7,370円 | 化学技術部 |
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複合熱分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2450 | 複合熱分析 | １測定につき | 70,290円 | 化学技術部 |
| E2490 | 試料調製（１） （切断，試験片作製等簡易な前処理） | E2411からE2472に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E2491 | 試料調製（２） （粉末化等困難な前処理） | E2411からE2472に適用 | 4,950円 | 化学技術部 |
| E2492 | 試料調製（３） （溶解，ろ過等複雑な前処理） | E2411からE2472に適用 | 7,370円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
高圧示差走査熱量測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2460 | 高圧示差走査熱量測定 | １測定につき | 25,080円 | 化学技術部 |
| E2490 | 試料調製（１） （切断，試験片作製等簡易な前処理） | E2411からE2472に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E2491 | 試料調製（２） （粉末化等困難な前処理） | E2411からE2472に適用 | 4,950円 | 化学技術部 |
| E2492 | 試料調製（３） （溶解，ろ過等複雑な前処理） | E2411からE2472に適用 | 7,370円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
熱機械測定（ＴＭＡ）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2470 | 熱機械測定（ＴＭＡ）室温～600℃ | １測定につき | 17,050円 | 化学技術部 |
| E2471 | 熱機械測定（ＴＭＡ）600℃をこえるもの | １測定につき | 30,140円 | 化学技術部 |
| E2472 | 熱機械測定（ＴＭＡ）液体窒素使用 | １測定につき | 23,320円 | 化学技術部 |
| E2490 | 試料調製（１） （切断，試験片作製等簡易な前処理） | E2411からE2472に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E2491 | 試料調製（２） （粉末化等困難な前処理） | E2411からE2472に適用 | 4,950円 | 化学技術部 |
| E2492 | 試料調製（３） （溶解，ろ過等複雑な前処理） | E2411からE2472に適用 | 7,370円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
熱伝導率測定（プローブ法）（室温）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2930 | 熱伝導率測定（プローブ法） （室温） | １試料につき | 10,010円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
サーモグラフィによる表面温度測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3690 | サーモグラフィによる表面温度測定 | １測定につき | 2,750円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
サーモグラフィによる表面温度測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3771 | サーモグラフィによる表面温度測定 | １時間につき | 4,620円 | 化学技術部 |
| E3772 | サーモグラフィによる表面温度測定 （特殊条件の場合） | １時間につき | 17,380円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E7360 | 断熱反応装置 | コロンビアサイエンティフィック ARC | 9,240円 | 化学技術部 |
| E7370 | 熱流束型熱量計 | セタラム C-80 | 20,680円 | 化学技術部 |
| E8580 | プラスチック用熱伝導率計 | 京都電子工業 QTM-D3型 | 4,950円 | 化学技術部 |
| E8610 | 熱機械試験機 | マック・サイエンス TMA-4000 | 6,270円 | 化学技術部 |
| E8620 | 赤外線放射計 | 日本バーンズ SA-200 | 8,360円 | 化学技術部 |
| K3560 | 赤外線サーモグラフィ [TVS-200EX] | 日本アビオニクス TVS-200EX | 2,750円 | 川崎技術支援部 |
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粉体・表面性能
接触角測定試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4150 | 接触角測定試験 | １試料につき | 2,420円 | 機械・材料技術部 |
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ゼータ電位測定（Ａ）（微粒子分散溶液）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4160 | ゼータ電位測定（Ａ） （微粒子分散溶液） | １試料につき | 10,340円 | 機械・材料技術部 |
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ゼータ電位測定（Ｂ）（平板形状試料）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4170 | ゼータ電位測定（Ｂ） （平板形状試料） | １試料につき | 12,870円 | 機械・材料技術部 |
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粒径分布測定（レーザ回折・散乱法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4173 | 粒径分布測定（レーザ回折・散乱法） （Ａ）湿式または乾式 | １試料につき | 6,490円 | 機械・材料技術部 |
| E4174 | 粒径分布測定（レーザ回折・散乱法） （Ｂ）湿式（有機溶媒） | １試料につき | 8,470円 | 機械・材料技術部 |
| E4175 | 粒径分布測定（レーザ回折・散乱法） （Ｃ）特殊なもの | １試料につき | 10,450円 | 機械・材料技術部 |
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粒径分布測定（動的光散乱法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4180 | 粒径分布測定（動的光散乱法） | １試料につき | 9,020円 | 機械・材料技術部 |
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粒径分布測定（静的画像解析法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4183 | 粒径分布測定（静的画像解析法）（Ａ）（簡易な評価） | １試料につき | 4,730円 | 機械・材料技術部 |
| E4184 | 粒径分布測定（静的画像解析法）（Ｂ) | １試料につき | 8,030円 | 機械・材料技術部 |
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比表面積測定（窒素ガス吸着法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4190 | 比表面積測定（窒素ガス吸着法）（１） （容易なもの） | １試料につき | 21,560円 | 機械・材料技術部 |
| E4191 | 比表面積測定（窒素ガス吸着法）（２） （複雑なもの） | １試料につき | 35,860円 | 機械・材料技術部 |
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細孔分布解析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4192 | 細孔分布解析 | １試料につき | 3,630円 | 機械・材料技術部 |
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機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3542 | 接触角計 [DMｓ-401] | 協和界面科学 DMｓ-401 | 3,410円 | 川崎技術支援部 |
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透過度測定
ガス・水蒸気透過度測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2925 | ガス・水蒸気透過度測定 | １試料・1測定につき（24時間まで） | 28,600円 | 化学技術部 |
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機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
該当する情報はありません
電気化学試験
金属・合金の電極電位測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3211 | 金属・合金の電極電位測定（１） | １試料につき４時間まで | 14,410円 | 化学技術部 |
| E3212 | 金属・合金の電極電位測定（２） １時間増 | １時間増すごとに | 220円 | 化学技術部 |
| E3280 | 試料調製（１） （比較的容易） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E3290 | 試料調製（２） （比較的複雑） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 6,710円 | 化学技術部 |
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金属・合金の腐食減量測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3221 | 金属・合金の腐食減量測定（１） | １試料につき24時間まで | 14,300円 | 化学技術部 |
| E3222 | 金属・合金の腐食減量測定（２） 24時間増 | 24時間増すごとに | 4,290円 | 化学技術部 |
| E3280 | 試料調製（１） （比較的容易） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E3290 | 試料調製（２） （比較的複雑） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 6,710円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
異種金属接触腐食電流測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3223 | 異種金属接触腐食電流測定（１） | １試料につき４時間まで | 14,410円 | 化学技術部 |
| E3224 | 異種金属接触腐食電流測定（２） １時間増 | １時間増すごとに | 220円 | 化学技術部 |
| E3280 | 試料調製（１） （比較的容易） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E3290 | 試料調製（２） （比較的複雑） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 6,710円 | 化学技術部 |
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金属の分極測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3270 | 金属の分極測定 | １試料につき | 19,250円 | 化学技術部 |
| E3280 | 試料調製（１） （比較的容易） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E3290 | 試料調製（２） （比較的複雑） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 6,710円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
電気化学インピーダンス測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3275 | 電気化学インピーダンス測定 | １試料につき | 7,260円 | 化学技術部 |
| E3280 | 試料調製（１） （比較的容易） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E3290 | 試料調製（２） （比較的複雑） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 6,710円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
電極の研磨
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3295 | 電極の研磨 | １試料につき | 1,650円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
腐食液・電解液作製
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3296 | 腐食液・電解液作製 | １試料につき | 1,650円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
該当する情報はありません
光学特性評価
分光光度計による透過率または拡散反射率測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2011 | 分光光度計による透過率または拡散反射率測定 （紫外・可視のみ） |
１試料１スペクトルにつき | 5,830円 | 機械・材料技術部 |
| E2012 | 分光光度計による透過率または拡散反射率測定 （紫外・可視・近赤外） |
１試料１スペクトルにつき | 6,380円 | 機械・材料技術部 |
| E2017 | 分光スペクトルによる色彩・色度座標または太陽光反射率計算 | １スペクトル１解析につき | 440円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
分光光度計による正反射率測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2013 | 分光光度計による正反射率測定 （紫外・可視・近赤外） | 偏光子なしまたは偏光１成分の １試料１スペクトルにつき |
6,820円 | 機械・材料技術部 |
| E2014 | 分光光度計による正反射率測定 （紫外・可視・近赤外） 追加（１） |
同一試料・同一条件で偏光１成分追加につき | 3,740円 | 機械・材料技術部 |
| E2015 | 分光光度計による正反射率測定 （紫外・可視・近赤外） 追加（２） |
同一試料・同一条件・同一偏光成分で １角度追加につき |
2,090円 | 機械・材料技術部 |
| E2017 | 分光スペクトルによる色彩・色度座標または太陽光反射率計算 | １スペクトル１解析につき | 440円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
分光光度計による透過率または反射率測定（特殊なもの）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2016 | 分光光度計による透過率または反射率測定 （特殊なもの） | １試料１スペクトルにつき | 9,790円 | 機械・材料技術部 |
| E2017 | 分光スペクトルによる色彩・色度座標または太陽光反射率計算 | １スペクトル１解析につき | 440円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
紫外・可視分光光度計による透過率・反射率測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3450 | 紫外・可視分光光度計による透過率・反射率測定 | １試料１条件につき | 6,820円 | 川崎技術支援部 |
| K3452 | 紫外・可視分光光度計による透過率・反射率測定 追加 | 追加１条件につき | 3,740円 | 川崎技術支援部 |
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分光放射照度計によるスペクトル測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3470 | 分光放射照度計によるスペクトル測定 | １測定につき | 10,450円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
光学測定に関わる作業
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3660 | 光学測定に関わる作業 | １時間につき | 7,260円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
色彩輝度計による輝度・色度・相関色温度の測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3670 | 色彩輝度計による輝度・色度・相関色温度の測定 | １測定につき | 4,730円 | 川崎技術支援部 |
| K3672 | 色彩輝度計による輝度・色度・相関色温度の測定 追加 | １測定追加につき | 3,080円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
色差計による色差の測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3680 | 色差計による色差の測定 | １測定につき | 3,410円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E8090 | ボロメータ測定システム微小信号測定システム | セイコー 5302 | 4,950円 | 電子技術部 |
| K3550 | 紫外・可視・近赤外分光光度計 [UH4150] （1時間以内） | 日立ハイテクサイエンス UH4150 | 8,470円 | 川崎技術支援部 |
| K3552 | 紫外・可視・近赤外分光光度計 [UH4150] （追加30分当たり） | 日立ハイテクサイエンス UH4150 | 2,860円 | 川崎技術支援部 |
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電磁気特性評価
試料調整
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0958 | 試料調整 | １時間当たり | 3,300円 | 電子技術部 |
| E0959 | データ処理 | １時間当たり | 3,300円 | 電子技術部 |
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交流磁化特性測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0951 | 交流磁化特性測定 （B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス） |
１試料１測定につき | 10,450円 | 電子技術部 |
| E0952 | 交流磁化特性測定 （B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス） １条件増 |
１条件増すごとに | 6,930円 | 電子技術部 |
| E0953 | 交流磁化特性測定 （B-H曲線無しの連続測定、可変条件は１） |
１試料５測定まで | 17,490円 | 電子技術部 |
| E0954 | 交流磁化特性測定 （B-H曲線無しの連続測定、可変条件は１） １測定増 |
１測定増すごとに | 2,640円 | 電子技術部 |
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マイクロ波誘電率測定（共振器法・誘電体プローブ法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0850 | マイクロ波誘電率測定 （共振器法・誘電体プローブ法） | １条件１測定につき | 19,140円 | 電子技術部 |
| E0860 | マイクロ波誘電率測定 （共振器法・誘電体プローブ法） １件増 |
１測定増すごとに | 6,380円 | 電子技術部 |
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マイクロ波誘電率・透磁率測定（Ｓパラメータ法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0870 | マイクロ波誘電率・透磁率測定 （Ｓパラメータ法） | １条件１測定につき | 17,600円 | 電子技術部 |
| E0880 | マイクロ波誘電率・透磁率測定 （Ｓパラメータ法） １件増 | １測定増すごとに | 4,950円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
マイクロ波誘電率・透磁率測定（ハーモニック共振器法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0881 | マイクロ波誘電率・透磁率測定 （ハーモニック共振器法） | １測定につき | 20,130円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
マイクロ波誘電率測定（ＢＣＤＲ法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0882 | マイクロ波誘電率測定 （ＢＣＤＲ法） | １条件１測定につき | 39,380円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
磁化特性測定（ＶＳＭ方式）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0910 | 磁化特性測定（ＶＳＭ方式） | １試料１測定につき | 6,710円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
磁化特性測定（積分方式）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0920 | 磁化特性測定（積分方式） | １試料１測定につき | 4,840円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
磁歪測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0930 | 磁歪測定 | １試料１測定につき | 18,920円 | 電子技術部 |
| E0931 | 磁歪測定 １条件増 | １条件増すごとに | 12,210円 | 電子技術部 |
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磁化温度特性測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0940 | 磁化温度特性測定 | １試料１測定につき | 22,110円 | 電子技術部 |
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薄膜交流透磁率測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0950 | 薄膜交流透磁率測定 | １試料１測定につき | 6,050円 | 電子技術部 |
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機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E8431 | ガウスメータ（最小測定レンジ:0.35mT、最大測定レンジ:3.5T） | Lake shore Inc 455型 | 1,430円 | 電子技術部 |
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粘弾性測定
動的粘弾性測定レオメーター
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2750 | 動的粘弾性測定レオメーター （１走査１時間未満、冷凍機を使用しない場合） |
１走査（温度変化または振動数変化）につき | 18,150円 | 化学技術部 |
| E2760 | 動的粘弾性測定レオメーター （１走査２時間未満または冷凍機使用） |
１走査（温度変化または振動数変化）につき | 30,030円 | 化学技術部 |
| E2770 | 動的粘弾性測定レオメーター （１走査３時間未満または液体窒素使用） |
１走査（温度変化または振動数変化）につき | 45,320円 | 化学技術部 |
| E2771 | ペルチェシステム使用（10～150℃） | E2750, E2760に適用 | 7,040円 | 化学技術部 |
| E2772 | 試料調製（取り付け困難なもの） | E2750, E2751, E2760, E2761, E2770に適用 | 2,970円 | 化学技術部 |
| E2774 | 試料調製（測定後処理） | E2750, E2751, E2760, E2761, E2770に適用 | 3,630円 | 化学技術部 |
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動的粘弾性測定ＤＭＡ
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2751 | 動的粘弾性測定ＤＭＡ （１走査１時間未満、冷凍機を使用しない場合） |
１走査（温度変化または振動数変化）につき | 16,610円 | 化学技術部 |
| E2761 | 動的粘弾性測定ＤＭＡ （１走査２時間未満または冷凍機使用） | １走査（温度変化または振動数変化）につき | 27,390円 | 化学技術部 |
| E2772 | 試料調製（取り付け困難なもの） | E2750, E2751, E2760, E2761, E2770に適用 | 2,970円 | 化学技術部 |
| E2774 | 試料調製（測定後処理） | E2750, E2751, E2760, E2761, E2770に適用 | 3,630円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
該当する情報はありません
吸水性測定
吸水試験（室温）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2730 | 吸水試験 （室温） | １試料につき | 7,370円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
該当する情報はありません
比重測定
比重試験（水中置換法）（室温）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2720 | 比重試験（水中置換法） （室温） | １試料につき | 7,920円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
該当する情報はありません
制振性
損失係数測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4977 | 損失係数測定（Ａ） | １試料１測定温度につき | 13,530円 | 機械・材料技術部 |
| E4978 |