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有機モノリス構造体の断面観察事例
イオンミリング装置を使用し、有機モノリス構造体の構造観察を行いました。 ＜試料＞有機モノリス構...
川崎技術支援部
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市販トナーの断面観察事例
トナー粒子の内部構造を調査するため、イオンミリング装置にて作製した断面のSEM観察を行いました。 ...
川崎技術支援部
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防振ゴムの断面観察事例
防振ゴムの内部構造を調査するため、イオンミリング装置にて作製した断面のSEM観察を行いました。 ...
川崎技術支援部
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粘着部の低真空SEM観察事例
付箋の粘着部を無蒸着で見るため、低真空モードを使用しSEM観察を行いました。 ＜試料＞市販の粘...
川崎技術支援部
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鉄鋼材料の転位のSEM観察事例
平面イオンミリング加工した鉄鋼材料の表面を観察し、転位を観察しました。 ＜試料＞鉄鋼材料 ...
川崎技術支援部
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ミクロトームを活用したHIPS（耐衝撃性ポリスチレン）のSEM観察事例
ミクロトームを活用することでHIPS（耐衝撃性ポリスチレン）を広範囲で観察し、サブミクロン領域のモル...
川崎技術支援部
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FE-SEMによる磁気フィルム表面のSEM観察画像と面分析
EDS（エネルギー分散型X線分析装置）の面分析機能を使用するとどの成分が何処にあるのかが解ります。＜...
川崎技術支援部
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X線透過観察事例
観察例1 PCのCPU PCのマザーボードに搭載されたCPUの透過画像 通常のICはリー...
川崎技術支援部
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ウルトラミクロトーム
川崎技術支援部
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精密機械研磨装置 [Leica EM-TXP]
川崎技術支援部
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イオンミリング装置 [Ilion+]
川崎技術支援部
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イオンミリング装置 [IB-19520CCP]
川崎技術支援部
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